CN106454677A - 一种信号电路控制方法及显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种信号电路控制方法，在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，同时向信号控制电路输出高电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路导通；在接收到用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，同时向信号控制电路输出低电平信号，以使信号控制电路将开关控制电路截断。从而，在开启耳机功能时，隔离了串口调试电路对音频信号电路的影响；在开启DEBUG调试功能时，隔离了音频信号电路对串口调试电路的影响。进而实现了将耳机输出接口与BEBUG调试接口复用，降低显示装置的生产成本。

Description

一种信号电路控制方法及显示装置

技术领域

本发明涉及通信技术领域，特别涉及一种信号电路控制方法，同时本申请还涉及一种显示装置。

背景技术

在现有的显示装置(如电视机、显示器等)中，一般都会具备DEBUG(程序错误排除)调试功能。DEBUG功能主要在以下两种情况下会使用，其一，新产品开发阶段在需要对新产品进行测试时，研发人员可以使用DEBUG功能对新开发出来的产品进行调试，以判断新产品的功能是否存在漏洞；其二，产品故障维修阶段，在产品出现故障，需要维修时，维修人员可以使用BEBUG功能产品得故障进行定位，加快维修的速度。

在使用DEBUG功能时，需要通过DEBUG调试口将显示装置与上位机(一般为PC端)相连。在现有技术中，大多单独在显示装置上设置耳机插座作为DEBUG调试口。上述DEBUG调试口的设置方法，使得现有的显示装置上往往存在两个相同的耳机插座，一个作为显示装置上的耳机接口，另一个作为显示装置上的DEBUG调试口。

由于DEBUG调试功能一般只在新产品开发阶段和产品故障维修阶段会使用，用户在正常使用显示装置设备的过程中，根本不会使用到DEBUG调试功能；并且现有的DEBUG调试口采用耳机插座的形式，因此，完全有将显示装置上的耳机输出接口以及BEBUG调试接口复用的可能。若将耳机输出接口与BEBUG调试接口复用，将在显示装置上减少一个耳机插座，从而可降低显示装置的生产成本。

发明人在实现本申请的过程中，发现现有技术中在将耳机输出接口与BEBUG调试接口复用的过程中，至少存在以下问题：

倘若耳机输出接口与BEBUG调试接口复用，则此时耳机的音频信号电路与DEBUG调试模块的串口调试电路将同时通过复合耳机插座输出，以上两个电路之间可能会存在相互的干扰，使得信号输出质量下降，甚至影响耳机功能和DEBUG调试功能的正常使用。

因此，在将耳机输出接口与BEBUG调试接口复用时，如何将耳机的音频信号电路与DEBUG调试模块的串口调试电路隔离，进而降低二者之间输出信号的相互影响，成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明提供了一种信号电路控制方法，用以解决在将耳机输出接口与BEBUG调试接口复用时，如何将耳机的音频信号电路与DEBUG调试模块的串口调试电路隔离，进而降低二者之间输出信号的相互影响的问题，该方法应用于包含开关控制电路以及信号控制电路的显示装置中，所述开关控制电路位于所述显示装置的耳机模块与信号输出插座之间的信号电路上，所述信号控制电路分别与所述开关控制电路以及所述显示装置的主板芯片相连，所述信号输出插座与所述显示装置的DEBUG调试模块相连，所述方法至少包括：

在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，所述显示装置将所述DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，并向所述信号控制电路输出高电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路导通；

在接收到所述用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，所述显示装置将所述DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，并向所述信号控制电路输出低电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路截断。

优选的，所述信号控制电路包含有第一三极管和第二三极管；

所述开关控制电路包含有第一开关单元和第二开关单元。

优选的，所述第一三极管的基极与所述显示装置的主板芯片相连，所述第一三极管的集电极与所述显示装置的电源输出接口相连，所述第一三极管的发射极接地；

所述第二三极管的基极与所述第一三极管的集电极相连，所述第二三极管的集电极与所述耳机模块的负电压输出接口相连，所述第二三极管的发射极与所述显示装置的电源输出接口相连；

所述第一开关单元位于所述信号电路的第一信号线上，所述第一开关单元与所述第二三极管的集电极相连；

所述第二开关单元位于所述信号电路的第二信号线上，所述第二开关单元与所述第二三极管的集电极相连。

优选的，所述第一开关单元包含第一MOS管和第二MOS管；

所述第二开关单元包含第三MOS管和第四MOS管。

优选的，所述第一MOS管的漏极与所述耳机模块相连，所述第一MOS管的源极与所述第二MOS管的源极相连，所述第一MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第二MOS管的漏极与所述信号输出插座相连，所述第二MOS管的源极与所述第一MOS管的源极相连，所述第二MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第三MOS管的漏极与所述耳机模块相连，所述第三MOS管的源极与所述第四MOS管的源极相连，所述第三MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第四MOS管的漏极与所述信号输出插座相连，所述第四MOS管的源极与所述第三MOS管的源极相连，所述第四MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连。

相应的，本申请提出一种显示装置，包含开关控制电路以及信号控制电路，所述开关控制电路位于所述显示装置的耳机模块与信号输出插座之间的信号电路上，所述信号控制电路分别与所述开关控制电路以及所述显示装置的主板芯片相连，所述信号输出插座与所述显示装置的DEBUG调试模块相连，所述显示装置还包括：

第一控制模块，在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，将所述DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，并向所述信号控制电路输出高电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路导通；

第二控制模块，在接收到所述用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，将所述DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，并向所述信号控制电路输出低电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路截断。

优选的，所述信号控制电路包含有第一三极管和第二三极管；

所述开关控制电路包含有第一开关单元和第二开关单元。

优选的，所述第一三极管的基极与所述显示装置的主板芯片相连，所述第一三极管的集电极与所述显示装置的电源输出接口相连，所述第一三极管的发射极接地；

所述第二三极管的基极与所述第一三极管的集电极相连，所述第二三极管的集电极与所述耳机模块的负电压输出接口相连，所述第二三极管的发射极与所述显示装置的电源输出接口相连；

所述第一开关单元位于所述信号电路的第一信号线上，所述第一开关单元与所述第二三极管的集电极相连；

所述第二开关单元位于所述信号电路的第二信号线上，所述第二开关单元与所述第二三极管的集电极相连。

优选的，所述第一开关单元包含第一MOS管和第二MOS管；

所述第二开关单元包含第三MOS管和第四MOS管。

优选的，所述第一MOS管的漏极与所述耳机模块相连，所述第一MOS管的源极与所述第二MOS管的源极相连，所述第一MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第二MOS管的漏极与所述信号输出插座相连，所述第二MOS管的源极与所述第一MOS管的源极相连，所述第二MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第三MOS管的漏极与所述耳机模块相连，所述第三MOS管的源极与所述第四MOS管的源极相连，所述第三MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第四MOS管的漏极与所述信号输出插座相连，所述第四MOS管的源极与所述第三MOS管的源极相连，所述第四MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连。

通过应用本申请的方法，在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，同时向信号控制电路输出高电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路导通；在接收到用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，同时向信号控制电路输出低电平信号，以使信号控制电路将开关控制电路截断。从而，在开启耳机功能时，隔离了串口调试电路对音频信号电路的影响；在开启DEBUG调试功能时，隔离了音频信号电路对串口调试电路的影响。进而实现了将耳机输出接口与BEBUG调试接口复用，降低显示装置的生产成本。

附图说明

图1本申请提出的一种信号电路控制方法的流程示意图；

图2本申请具体实施例提出的一种实现DEBUG调试口与耳机口复用的电路原理图；

图3本申请提出的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

如背景技术所述，用户在正常使用显示装置的过程中，根本不会用到显示装置的DEBUG调试功能，并且现有的DEBUG调试口采用耳机插座的形式，因此存在将耳机输出接口与BEBUG调试接口复用的可能。现有技术在将耳机输出接口与BEBUG调试接口复用过程中，存在最大的问题是无法将耳机的音频信号电路与DEBUG调试模块的串口调试电路隔离，使得二者之间输出的信号存在相互的影响，造成信号输出质量下降，甚至会影响耳机功能和DEBUG调试功能的正常使用。

因此，为了将耳机模块的音频信号电路与DEBUG调试模块的串口调试电路隔离，降低二者之间输出信号的影响，本申请提出一种信号电路控制方法，在显示装置的耳机模块与信号输出插座之间的信号电路上设置开关控制电路，并通过信号控制电路控制开关控制电路的状态。信号控制电路与显示装置的主板芯片相连，并根据主板芯片输出的信号对开关控制电路的开关状态进行调整。在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，主板芯片将DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，同时向信号控制电路输出低电平信号以使所述信号控制电路将所述开关控制电路导通；在接收到用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，主板芯片将DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，同时信号控制电路输出高电平信号，以使信号控制电路将开关控制电路截断。从而，在开启耳机功能时，隔离了串口调试电路对音频信号电路的影响；在开启DEBUG调试功能时，隔离了音频信号电路对串口调试电路的影响。

如图1所示为本申请提出的一种信号电路控制方法的流程示意图，需要说明的是，该方法应用于包含开关控制电路以及信号控制电路的显示装置中。开关控制电路位于显示装置的耳机模块与信号输出插座之间的信号电路上。信号输出插座还与显示装置的DEBUG调试模块相连。信号控制电路分别与开关控制电路以及显示装置的主板芯片相连。具体地，该方法至少包括以下步骤：

S101，在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，并向信号控制电路输出高电平信号，以使信号控制电路将开关控制电路导通。

在显示装置中，DEBUG调试模块的输出状态有高阻状态输出和低阻状态输出两种输出模式。当DEBUG调试模块的输出状态为高阻状态时，则说明并未启用DEBUG调试模块，此时DEBUG调试模块的串口调试电路无信号输出，不会对音频信号电路造成影响。当DEBUG调试模块的输出状态为低阻状态时，则说明启用了DEBUG调试模块，此时DEBUG调试模块的串口调试电路有信号输出，会对音频信号电路造成影响。

在本申请的实施例中，显示装置首先判断接收到信号的类型，并根据接收到信号的类型相应的开启耳机模式或者DEBUG调试模式。

在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，说明需要进入耳机输出模式，此时显示装置通过主板芯片对DEBUG调试模块的IO口进行调试，使其变为高阻输出状态，从而消除了DEBUG调试模块对音频信号的影响。

通过对DEBUG调试模块输出状态的调整，能够准确地控制是否输出DEBUG调试信号到信号输出插座。此外，在本申请中还需要控制是否将耳机信号输出到信号输出插座。

为了准确地控制是否将耳机信号输出到信号输出插座，在本申请的实施例中，在显示装置中设置开关控制电路和信号控制电路。开关控制电路位于显示装置的耳机模块与信号输出插座之间的信号电路上，用于控制信号电路的导通/截止状态。当开关控制电路导通时，信号电路处于导通的状态，此时信号电路能够得到正常的使用，耳机信号能够到达信号输出插座。当开关控制电路截止时，信号电路处于截止的状态，此时信号电路不能够得到正常的使用，耳机信号不能够到达信号输出插座。

信号控制电路分别与开关控制电路与主板芯片相连，用于控制开关控制电路的导通/截止状态。当接收到主板芯片输出的高电平信号时，信号控制电路会将开关控制电路导通；当接收到主板芯片输出的低电平信号时，信号控制电路会将开关控制电路截断。

所以，主芯片在将DEBUG调试模块调整为高阻状态输出的同时，还会向信号控制电路输出低电平信号。在接收到低电平信号时，信号控制电路将开关控制电路导通。此时，耳机信号能够到达信号输出插座，耳机模块启用。

通过以上的方法，在需要启用耳机模块时，主板芯片将DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，此时DEBUG调试模块的串口调试电路无信号输出，不会对音频信号电路造成影响。同时，向信号控制电路输出高电平信号，以使信号控制电路将开关控制电路导通，此时耳机模块的信号电路能够得到正常的使用，耳机信号能够到达信号输出插座。从而在启用耳机模块时，耳机模块能够进行正常的信号输出，并且输出的信号不会受到BEBUG调试模块的影响。

在本申请的优选实施例中，信号控制电路包含有第一三极管和第二三极管。并且，第一三极管的基极与显示装置的主板芯片相连，第一三极管的集电极与显示装置的电源输出接口相连，第一三极管的发射极接地。第二三极管的基极与第一三极管的集电极相连，第二三极管的集电极与耳机模块的负电压输出接口相连，第二三极管的发射极与显示装置的电源输出接口相连。

第一三极管的基极与显示装置的主板芯片相连，因此用于接收主板芯片发送的信号。第一三极管的集电极与显示装置的电源输出接口相连，因此此处能够输出高电压(同时为正电压)。第二三极管的集电极与耳机模块的负电压输出接口相连，因此此处能够输出负电压。第二三极管的发射极与显示装置的电源输出接口相连，因此此处能够输出高电压(同时为正电压)。

开关控制电路包含有第一开关单元和第二开关单元。并且，第一开关单元位于耳机模块信号电路的第一信号线上，第一开关单元与第二三极管的集电极相连。第二开关单元位于耳机模块信号电路的第二信号线上，第二开关单元与第二三极管的集电极相连。

需要说明的是，上述信号控制电路用于控制开关控制电路的导通/截止状态。并且具体的控制流程如下：当主板芯片向第一三极管的基极输出高电平信号时，第一三极管将处于导通的状态。由于第一三极管被导通，并且其发射极接地，因此，此时第一三极管输出到第二三极管基极处的电压为零，第二三极管导通。第二三极管导通后，其发射极处的高电压将会通过第二三极管的基极分别加载到第一开关单元和第二开关单元上。当加载到开关单元上的电压为高电压(同时为正电压)时，开关单元将会处于导通的状态。

当主板芯片向第一三极管的基极输出低电平信号时，第一三极管将处于截止的状态。由于第一三极管截止，并且其集电极与显示装置的电源输出接口相连，此时电源输出接口输出的高电压可以通过第一三极管的集电极加载到第二三极管上，使得第二三极管截止。第二三极管截止后，其发射极处的高电压将无法到达基极。并且，由于第二三极管的集电极与耳机模块的负电压输出接口相连，因此此时耳机模块的负电压输出接口将通过第二三极管的集电极分别向第一开关单元和第二开关单元上加载负电压。当加载到开关单元上的电压为负电压时，将会处于截止的状态。

通过上述的优选实施例，信号控制电路能够根据主板芯片的电压信号，向第一开关单元和第二开关单元加载不同的电压。从而实现了对开关单元导通/截止的控制。

需要说明的是，上述信号控制电路的组成方式，只是本申请中的一个优选实施方式，在基于本申请的构思下，本领域技术人员还可以采用其他信号控制电路的组成方式，这并不会影响到本申请的保护范围。

对于显示装置而言，其耳机模块的输出信号为交流信号，包括有正向信号和返向信号。因此，在截断耳机信号时，需要同时截断两个方向的信号，才能够避免耳机信号对DEBUG调试模块输出的影响。

为了能够同时截断正向信号和返向信号，在本申请的优选实施例中，使用MOS管(优选的型号为：2N7002N-channel MOSFET)作为开关控制电路组成元件。MOS管，是金属(metal)—氧化物(oxide)—半导体(semiconductor)场效应晶体管，是电压控制元件。当其栅极的电压远大于源极的电压时，MOS管导通；当其栅极的电压等于或小于源极的电压时，MOS管截止。并且，由于内部寄生二极管作用，电流从源级到漏极是导通的。

开关控制电路的具体的电路组成为第一开关单元包含第一MOS管和第二MOS管；第二开关单元包含第三MOS管和第四MOS管。

并且，各MOS管接入电路的方式如下：

第一MOS管的漏极与耳机模块相连，第一MOS管的源极与第二MOS管的源极相连，第一MOS管的栅极与第二三极管的集电极相连；

第二MOS管的漏极与信号输出插座相连，第二MOS管的源极与第一MOS管的源极相连，第二MOS管的栅极与第二三极管的集电极相连；

第三MOS管的漏极与耳机模块相连，第三MOS管的源极与第四MOS管的源极相连，第三MOS管的栅极与第二三极管的集电极相连；

第四MOS管的漏极与信号输出插座相连，第四MOS管的源极与第三MOS管的源极相连，第四MOS管的栅极与第二三极管的集电极相连。

需要说明的是，在上述的连接方式中，每条信号线上均有两个MOS管，并且这两个MOS管接入电路的方向恰好相反，因此在需要切断耳机信号输出时，同一信号线上的两个MOS管，正好能够将两个方向上的电流截止。

通过上述的优选实施例，通过在每条信号线上接入两个方向相反的MOS管，实现了对信号电路上的交流信号进行截止。

S102，在接收到用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，并向信号控制电路输出低电平信号，以使信号控制电路将开关控制电路截断。

在本申请的实施例中，在接收到用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，则说明需要进入BEBUG调试模式，此时通过主板芯片对DEBUG调试模块的IO口进行调试，使其变为低阻输出状态，以开启BEBUG调试功能。

主芯片在将DEBUG调试模块调整为高阻状态输出的同时，还会向信号控制电路输出低电平信号。在接收到低电平信号时，信号控制电路将开关控制电路截断。此时，耳机信号不能够到达信号输出插座，不会对DEBUG模块的信号输出造成影响。

通过以上的方法，在需要启用DEBUG调试模块时，主板芯片将DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，此时DEBUG调试模块的串口调试电路启用，DEBUG调试功能开启。同时，向信号控制电路输出低电平信号，以使信号控制电路将开关控制电路截断，此时DEBUG调试模块的信号电路能够得到正常的使用，DEBUG调试信号能够到达信号输出插座。从而在启用DEBUG调试模块时，DEBUG调试模块能够进行正常的信号输出，并且输出的信号不会受到耳机模块的影响。

通过以上流程的描述可知，在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，同时向信号控制电路输出高电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路导通；在接收到用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，同时向信号控制电路输出低电平信号，以使信号控制电路将开关控制电路截断。从而，在开启耳机功能时，隔离了串口调试电路对音频信号电路的影响；在开启DEBUG调试功能时，隔离了音频信号电路对串口调试电路的影响。进而实现了将耳机输出接口与BEBUG调试接口复用，降低显示装置的生产成本。

为了进一步阐述本发明的技术思想，现结合具体的应用场景，对本发明的技术方案进行说明。

如图2所示为本申请提出的一种实现DEBUG调试口与耳机口复用的电路原理图。由图可知，DEBUG调试模块的输出信号线与耳机的输出信号线同时与信号输出端口连接。此电路同时包含有信号控制电路和开关控制电路。

信号控制电路包含有第一三极管和第二三极管。并且，第一三极管的基极与显示装置的主板芯片相连，第一三极管的集电极与显示装置的电源输出接口相连，第一三极管的发射极接地。第二三极管的基极与第一三极管的集电极相连，第二三极管的集电极与耳机模块的负电压输出接口相连，第二三极管的发射极与显示装置的电源输出接口相连。

开关控制电路由四个N道沟MOS管组成，每个MOS管的栅极均与第二三极管的集电极相连，并且每条耳机信号线上正好有两个接入方向相反的MOS管。

基于以上的电路原理图，在本申请中具体的操作流程如下：

(1)当选择用户界面(耳机模式)时，主芯片(GPIO_SWITCH)引脚向第一三极管输出高电平信号，通过第一三极管的驱动，使得第二三极管导通，从而mos管为VCC(12V)电压，四个N沟道MOS管导通，音频信号从DRV632输出端(网络编号：LO1L_PA，LO1R_PA)经过MOS管至DEBUG耳机复用插座，同事串口调试IO口,通过主芯片叫IO口改为高阻状态输出，隔离对音频信号的影响，此时耳机功能开启。

(2)当选择DEBUG界面(DEBUG调试模式)时，主芯片(GPIO_SWITCH)引脚向第一三极管输出低电平，通过第一三极管的驱动，使得第二三极管导通，从而mos管为-3.3V电压，四个N沟道MOS管截止，音频信号被MOS管截止无法到达DEBUG耳机复用插座，隔离对串口信号的影响，此时串口电平直接输出至DEBUG耳机复用插座，调试功能开启。

通过以上具体实施方式的描述可知，在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，同时向信号控制电路输出高电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路导通；在接收到用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，同时向信号控制电路输出低电平信号，以使信号控制电路将开关控制电路截断。从而，在开启耳机功能时，隔离了串口调试电路对音频信号电路的影响；在开启DEBUG调试功能时，隔离了音频信号电路对串口调试电路的影响。进而实现了将耳机输出接口与BEBUG调试接口复用，降低显示装置的生产成本。

为了达到以上技术目的，如图3所示为本申请提出的一种显示装置，包含开关控制电路以及信号控制电路，所述开关控制电路位于所述显示装置的耳机模块与信号输出插座之间的信号电路上，所述信号控制电路分别与所述开关控制电路以及所述显示装置的主板芯片相连，所述信号输出插座与所述显示装置的DEBUG调试模块相连，所述显示装置还包括：

第一控制模块301，在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，将所述DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，并向所述信号控制电路输出高电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路导通；

第二控制模块302，在接收到所述用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，将所述DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，并向所述信号控制电路输出低电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路截断。

在具体的应用场景中，所述信号控制电路包含有第一三极管和第二三极管；

所述开关控制电路包含有第一开关单元和第二开关单元。

在具体的应用场景中，所述第一三极管的基极与所述显示装置的主板芯片相连，所述第一三极管的集电极与所述显示装置的电源输出接口相连，所述第一三极管的发射极接地；

所述第二三极管的基极与所述第一三极管的集电极相连，所述第二三极管的集电极与所述耳机模块的负电压输出接口相连，所述第二三极管的发射极与所述显示装置的电源输出接口相连；

所述第一开关单元位于所述信号电路的第一信号线上，所述第一开关单元与所述第二三极管的集电极相连；

所述第二开关单元位于所述信号电路的第二信号线上，所述第二开关单元与所述第二三极管的集电极相连。

在具体的应用场景中，所述第一开关单元包含第一MOS管和第二MOS管；

所述第二开关单元包含第三MOS管和第四MOS管。

在具体的应用场景中，所述第一MOS管的漏极与所述耳机模块相连，所述第一MOS管的源极与所述第二MOS管的源极相连，所述第一MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第二MOS管的漏极与所述信号输出插座相连，所述第二MOS管的源极与所述第一MOS管的源极相连，所述第二MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第三MOS管的漏极与所述耳机模块相连，所述第三MOS管的源极与所述第四MOS管的源极相连，所述第三MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第四MOS管的漏极与所述信号输出插座相连，所述第四MOS管的源极与所述第三MOS管的源极相连，所述第四MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连。

通过以上具体设备的描述可知，在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，同时向信号控制电路输出高电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路导通；在接收到用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，显示装置将DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，同时向信号控制电路输出低电平信号，以使信号控制电路将开关控制电路截断。从而，在开启耳机功能时，隔离了串口调试电路对音频信号电路的影响；在开启DEBUG调试功能时，隔离了音频信号电路对串口调试电路的影响。进而实现了将耳机输出接口与BEBUG调试接口复用，降低显示装置的生产成本。

通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可以通过硬件实现，也可以借助软件加必要的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本发明的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施场景所述的方法。

本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施场景的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本发明所必须的。

本领域技术人员可以理解实施场景中的装置中的模块可以按照实施场景描述进行分布于实施场景的装置中，也可以进行相应变化位于不同于本实施场景的一个或多个装置中。上述实施场景的模块可以合并为一个模块，也可以进一步拆分成多个子模块。

上述本发明序号仅仅为了描述，不代表实施场景的优劣。

以上公开的仅为本发明的几个具体实施场景，但是，本发明并非局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落入本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种信号电路控制方法，其特征在于，应用于包含开关控制电路以及信号控制电路的显示装置中，所述开关控制电路位于所述显示装置的耳机模块与信号输出插座之间的信号电路上，所述信号控制电路分别与所述开关控制电路以及所述显示装置的主板芯片相连，所述信号输出插座与所述显示装置的DEBUG调试模块相连，所述方法至少包括：

在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，所述显示装置将所述DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，并向所述信号控制电路输出高电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路导通；

在接收到所述用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，所述显示装置将所述DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，并向所述信号控制电路输出低电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路截断。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于：

所述信号控制电路包含有第一三极管和第二三极管；

所述开关控制电路包含有第一开关单元和第二开关单元。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于：

所述第一三极管的基极与所述显示装置的主板芯片相连，所述第一三极管的集电极与所述显示装置的电源输出接口相连，所述第一三极管的发射极接地；

所述第二三极管的基极与所述第一三极管的集电极相连，所述第二三极管的集电极与所述耳机模块的负电压输出接口相连，所述第二三极管的发射极与所述显示装置的电源输出接口相连；

所述第一开关单元位于所述信号电路的第一信号线上，所述第一开关单元与所述第二三极管的集电极相连；

所述第二开关单元位于所述信号电路的第二信号线上，所述第二开关单元与所述第二三极管的集电极相连。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于：

所述第一开关单元包含第一MOS管和第二MOS管；

所述第二开关单元包含第三MOS管和第四MOS管。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于：

所述第一MOS管的漏极与所述耳机模块相连，所述第一MOS管的源极与所述第二MOS管的源极相连，所述第一MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第二MOS管的漏极与所述信号输出插座相连，所述第二MOS管的源极与所述第一MOS管的源极相连，所述第二MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第三MOS管的漏极与所述耳机模块相连，所述第三MOS管的源极与所述第四MOS管的源极相连，所述第三MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第四MOS管的漏极与所述信号输出插座相连，所述第四MOS管的源极与所述第三MOS管的源极相连，所述第四MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连。

6.一种显示装置，其特征在于，包含开关控制电路以及信号控制电路，所述开关控制电路位于所述显示装置的耳机模块与信号输出插座之间的信号电路上，所述信号控制电路分别与所述开关控制电路以及所述显示装置的主板芯片相连，所述信号输出插座与所述显示装置的DEBUG调试模块相连，所述显示装置还包括：

第一控制模块，在接收到用户输入的开启耳机模式信号时，将所述DEBUG调试模块调整为高阻状态输出，并向所述信号控制电路输出高电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路导通；

第二控制模块，在接收到所述用户输入的开启BEBUG调试模式信号时，将所述DEBUG调试模块调整为低阻状态输出，并向所述信号控制电路输出低电平信号，以使所述信号控制电路将所述开关控制电路截断。

7.如权利要求6所述的显示装置，其特征在于：

所述信号控制电路包含有第一三极管和第二三极管；

所述开关控制电路包含有第一开关单元和第二开关单元。

8.如权利要求7所述的显示装置，其特征在于：

所述第一三极管的基极与所述显示装置的主板芯片相连，所述第一三极管的集电极与所述显示装置的电源输出接口相连，所述第一三极管的发射极接地；

所述第二三极管的基极与所述第一三极管的集电极相连，所述第二三极管的集电极与所述耳机模块的负电压输出接口相连，所述第二三极管的发射极与所述显示装置的电源输出接口相连；

所述第一开关单元位于所述信号电路的第一信号线上，所述第一开关单元与所述第二三极管的集电极相连；

所述第二开关单元位于所述信号电路的第二信号线上，所述第二开关单元与所述第二三极管的集电极相连。

9.如权利要求8所述的显示装置，其特征在于：

所述第一开关单元包含第一MOS管和第二MOS管；

所述第二开关单元包含第三MOS管和第四MOS管。

10.如权利要求9所述的显示装置，其特征在于：

所述第一MOS管的漏极与所述耳机模块相连，所述第一MOS管的源极与所述第二MOS管的源极相连，所述第一MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第二MOS管的漏极与所述信号输出插座相连，所述第二MOS管的源极与所述第一MOS管的源极相连，所述第二MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第三MOS管的漏极与所述耳机模块相连，所述第三MOS管的源极与所述第四MOS管的源极相连，所述第三MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连；

所述第四MOS管的漏极与所述信号输出插座相连，所述第四MOS管的源极与所述第三MOS管的源极相连，所述第四MOS管的栅极与所述第二三极管的集电极相连。