CN106441189A - 玻璃基板的垂度测量装置及方法 - Google Patents

玻璃基板的垂度测量装置及方法 Download PDF

Info

Publication number
CN106441189A
CN106441189A CN201610844685.7A CN201610844685A CN106441189A CN 106441189 A CN106441189 A CN 106441189A CN 201610844685 A CN201610844685 A CN 201610844685A CN 106441189 A CN106441189 A CN 106441189A
Authority
CN
China
Prior art keywords
glass substrate
bracing frame
support plate
middle support
sag
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201610844685.7A
Other languages
English (en)
Inventor
李志勇
郑权
王丽红
闫冬成
李俊锋
张广涛
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dongxu Optoelectronic Technology Co Ltd
Original Assignee
Tunghsu Group Co Ltd
Tunghsu Technology Group Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tunghsu Group Co Ltd, Tunghsu Technology Group Co Ltd filed Critical Tunghsu Group Co Ltd
Priority to CN201610844685.7A priority Critical patent/CN106441189A/zh
Publication of CN106441189A publication Critical patent/CN106441189A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/32Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring the deformation in a solid

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)

Abstract

本发明公开了一种玻璃基板的垂度测量装置及方法,其中,测量装置包括相互平行设置的第一支撑架(1)和第二支撑架(2),用于支撑所述玻璃基板(3),所述第一支撑架(1)和第二支撑架(2)之间设置有中间支板(4),具有:第一工作状态,支撑所述玻璃基板(3)使其保持水平;第二工作状态,远离所述玻璃基板(3)使其中部下垂。通过上述技术方案,在两个支撑架之间设置中间支板,使玻璃基板具有水平和中部下垂两种工作状态,以完成玻璃基板垂度的测量。一方面,该测量装置设计简单,使用方便,成本低;另一方面,该测量方法能够保证玻璃基板垂度测量的准确性和可靠性。

Description

玻璃基板的垂度测量装置及方法
技术领域
本发明涉及玻璃基板的生产技术领域,具体地,涉及一种玻璃基板的垂度测量装置及方法。
背景技术
玻璃基板是液晶显示面板的重要组成部分,玻璃基板的垂度是指当玻璃基板被一定间距的支撑架支撑起来时,玻璃基板中间下垂的程度,通过测量中部最低点和四个角最高点距离底部平台的距离得到。传统的玻璃基板垂度测量方法是人工测量,测量过程中,需要将先定位好的玻璃基板放置于调好距离的支撑架上,同时缓慢松开玻璃基板,使其中部慢慢下垂,待玻璃基板稳定以后完成玻璃基板的垂度测量。该测量方法中,需要测量人员具有较高的测量经验和操作水平,同时测量时的误差较大,而且人工测量时,玻璃下垂的速度无法做到准确的控制。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种玻璃基板的垂度测量装置,该测量装置设计简单,成本低。
本发明的另一个目的是提供一种玻璃基板的垂度测量方法,该方法操作简单,能够保证玻璃基板垂度测量的准确性和可靠性。
为了实现上述目的,根据本发明的第一个方面提供一种玻璃基板的垂度测量装置,包括相互平行设置的第一支撑架和第二支撑架,所述第一支撑架和所述第二支撑架用于支撑所述玻璃基板,所述第一支撑架和所述第二支撑架之间设置有中间支板,所述中间支板具有:第一工作状态,支撑所述玻璃基板使其保持水平;第二工作状态,远离所述玻璃基板使其中部下垂。
可选地,所述中间支板等间隔的设置在所述第一支撑架和所述第二支撑架中间。
可选地,所述中间支板为长条形结构,该长条形结构包括基本部和支撑部。
可选地,所述基本部横截面为矩形,所述支撑部横截面为等腰三角形,该等腰三角形的顶角形成为弧形结构。
可选地,所述中间支板的高度大于所述中间支板的宽度。
可选地,所述第一支撑架和所述第二支撑架结构相同,所述第一支撑架为长条形结构,该长条形结构的横截面为工字形。
可选地,所述玻璃基板的垂度测量装置还包括用于定位所述第一支撑架、所述中间支板以及所述第二支撑架的定位板。
可选地,所述定位板为矩形板,该矩形板的长边上形成有多个开口槽。
可选地,所述开口槽为三个,该三个开口槽分别与所述第一支撑架、所述中间支板、所述第二支撑架插接配合。
可选地,所述中间支板由防静电材料制成。
根据发明的另一个方面提供一种玻璃基板的垂度测量方法,该方法包括:将第一支撑架、第二支撑架以及中间支板等间隔地放置于平台上;将玻璃基板水平放置于所述第一支撑架、中间支板和第二支撑架上;将所述中间支板朝向一侧推倒;测量所述玻璃基板两侧边的中间最低点和四个角最高点共计六个点距离平台的高度,以计算垂度值。
可选地,该方法还包括:利用定位板插接于所述第一支撑架、第二支撑架和中间支板,以便将所述第一支撑架、第二支撑架以及中间支板等间隔地放置于平台上,然后再拆除所述定位板。
通过上述技术方案,在相互平行设置的两个支撑架之间设置中间支板,通过中间支板使玻璃基板具有水平和中部下垂两种工作状态,以完成玻璃基板垂度的测量。一方面,该测量装置设计简单,使用方便,成本低;另一方面,该测量方法操作简单,能够保证玻璃基板垂度测量的准确性和可靠性。
本发明的其他特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
附图是用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与下面的具体实施方式一起用于解释本发明,但并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1是根据本发明一个实施方式的玻璃基板垂度测量装置的第一支撑架、中间支板、第二支撑架的结构示意图;
图2是根据本发明一个实施方式的玻璃基板垂度测量装置的定位板插接于第一支撑架、第二支撑架和中间支板的示意图;
图3是根据本发明一个实施方式的玻璃基板垂度测量方法测量前位置示意图;
图4是根据本发明一个实施方式的玻璃基板垂度测量方法测量后位置示意图。
附图标记说明
1 第一支撑架 2 第二支撑架
3 玻璃基板 4 中间支板
5 定位板 6 平台
41 基本部 42 支撑部
51 开口槽
具体实施方式
以下结合附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明,并不用于限制本发明。
在本发明中,在未作相反说明的情况下,使用的方位词如“上、下”通常是指相应附图的图面方向的上、下。
如图1、图3、图4所示,本发明提供的一种玻璃基板的垂度测量装置,包括相互平行设置的第一支撑架1和第二支撑架2,第一支撑架1和第二支撑架2结构相同,可以均为横截面呈工字形或者矩形的长条形结构,为了节省材料以及减轻支撑架的自身重量,本发明中,优先选用横截面为工字形的长条形结构,这里,第一支撑架1和第二支撑架2用于支撑玻璃基板3,为了保证玻璃基板3垂度测量的准确性,可以在第一支撑架1和第二支撑架2之间设置中间支板4,中间支板4可以等间隔的设置在第一支撑架1和第二支撑架2中间。并且,中间支板4具有:第一工作状态,支撑玻璃基板3使其保持水平,第二工作状态,远离玻璃基板3使其中部下垂,这里,需要说明的是,“远离玻璃基板3”即将中间支板4朝向一侧推到,从而使玻璃基板3的中部下垂,待玻璃基板3稳定以后,测量该状态下玻璃基板3两侧边的中间最低点和四个角最高点共计六个点距离平台的高度,以计算玻璃基板的垂度值。图4中H2、H1和H3分别表示玻璃基板两侧的中间最低点和四个角最高点测量值。通过上述技术方案,在相互平行设置的两个支撑架之间设置中间支板,通过中间支板使玻璃基板具有水平和中部下垂两种工作状态,以完成玻璃基板垂度的测量。一方面,该测量装置结构简单,使用方便,成本低;另一方面,该测量方法操作简单,能够保证玻璃基板垂度测量的准确性和可靠性。
具体地,如图1和图2所示,中间支板4为长条形结构,该长条形结构包括基本部41和支撑部42,基本部41的横截面为矩形,支撑部42的横截面为等腰三角形,并且,该等腰三角形的顶角可以形成为弧形结构。这样,一方面,在中间支板4支撑玻璃基板3使其保持水平的过程中,圆弧结构可以与玻璃基板3的表面平稳接触,减少应力集中,可以避免在玻璃基板3表面留下划痕;另一方面,在将中间支板4朝向一侧推倒的过程中,该圆弧结构可以避免对划伤玻璃基板3的表面,从而影响产品质量。
进一步地,如图1所示,中间支板4的高度可以大于中间支板4的宽度,这样,在玻璃基板3中部下垂的过程中,可以防止玻璃基板3接触到中间支板4,从而影响玻璃基板3垂度测量的准确性。
另外,在本发明中,如图2所示,玻璃基板的垂度测量装置还包括用于定位第一支撑架1、中间支板4以及第二支撑架2的定位板5,定位板5可以为矩形板,该矩形板的长边上形成有三个开口槽51,该三个开口槽51分别与第一支撑架1、中间支板4、第二支撑架2插接配合。这里,需要说明的是,当玻璃基板尺寸较大时,相应地,需要调整第一支撑架1、中间支板4以及第二支撑架2之间的间距,这时,可以更换其它尺寸的定位板,以保证定位板上的开口槽与第一支撑架1、中间支板4、第二支撑架2插接配合。另外,定位板5可以插接在第一支撑架1、中间支板4、第二支撑板2的上表面,也可以插接在第一支撑架1、中间支板4、以及第二支撑板2的侧面,并且也可以使用多个定位板5对第一支撑架1、中间支板4、第二支撑板2进行定位,以保证垂度测量的准确性,定位板4的数量以及插接的位置本发明中不做具体限制。
本发明中,第一支撑架1、第二支撑架2以及定位板5可以为铝合金材质,采用铝合金材质一方面容易加工,另一方面可以减轻支撑架自身重量;在将中间支板朝向一侧推倒的过程中,中间支板与玻璃基板之间有摩擦力,因此中间支板可以由防静电材料制成,防静电材料制成的中间支板在生产过程中可以降低携带的低压静电,从而在将中间支板4推倒的过程防止由于摩擦起电而损坏玻璃基板。
如图3、图4所示,本发明中,使用该测量装置对玻璃基板垂度测量可以按照以下步骤进行:
第一步:将第一支撑架1、第二支撑架2以及中间支板4等间隔地放置于平台6上;
第二步:利用定位板5插接于第一支撑架1、第二支撑架2和中间支板4上,以便将第一支撑架1、第二支撑架2以及中间支板4等间隔地放置于平台6上;
第三步:拆除定位板5;
第四步:将玻璃基板3水平放置于第一支撑架1、中间支板4和第二支撑架2上;
第五步:将中间支板4朝向一侧推倒;
第六步:测量玻璃基板3两侧边的中间最低点H1、四个角最高点H2和H3共计六个点距离平台6的高度,根据测量结果以及第一支撑架1的高度计算出垂度值。
以上结合附图详细描述了本发明的优选实施方式,但是,本发明并不限于上述实施方式中的具体细节,在本发明的技术构思范围内,可以对本发明的技术方案进行多种简单变型,这些简单变型均属于本发明的保护范围。
另外需要说明的是,在上述具体实施方式中所描述的各个具体技术特征,在不矛盾的情况下,可以通过任何合适的方式进行组合,为了避免不必要的重复,本发明对各种可能的组合方式不再另行说明。
此外,本发明的各种不同的实施方式之间也可以进行任意组合,只要其不违背本发明的思想,其同样应当视为本发明所公开的内容。

Claims (12)

1.一种玻璃基板的垂度测量装置,包括相互平行设置的第一支撑架(1)和第二支撑架(2),所述第一支撑架(1)和所述第二支撑架(2)用于支撑所述玻璃基板(3),其特征在于,所述第一支撑架(1)和所述第二支撑架(2)之间设置有中间支板(4),所述中间支板(4)具有:第一工作状态,支撑所述玻璃基板(3)使其保持水平;第二工作状态,远离所述玻璃基板(3)使其中部下垂。
2.根据权利要求1所述的玻璃基板的垂度测量装置,其特征在于,所述中间支板(4)等间隔的设置在所述第一支撑架(1)和所述第二支撑架(2)中间。
3.根据权利要求1或2所述的玻璃基板的垂度测量装置,其特征在于,所述中间支板(4)为长条形结构,该长条形结构包括基本部(41)和支撑部(42)。
4.根据权利要求3所述的玻璃基板的垂度测量装置,其特征在于,所述基本部(41)横截面为矩形,所述支撑部(42)横截面为等腰三角形,该等腰三角形的顶角形成为弧形结构。
5.根据权利要求4所述的玻璃基板的垂度测量装置,其特征在于,所述中间支板(4)的高度大于所述中间支板(4)的宽度。
6.根据权利要求1所述的玻璃基板的垂度测量装置,其特征在于,所述第一支撑架(1)和所述第二支撑架(2)结构相同,所述第一支撑架(1)为长条形结构,该长条形结构的横截面为工字形。
7.根据权利要求1所述的玻璃基板的垂度测量装置,其特征在于,所述玻璃基板的垂度测量装置还包括用于定位所述第一支撑架(1)、所述中间支板(4)以及所述第二支撑架(2)的定位板(5)。
8.根据权利要求7所述的玻璃基板的垂度测量装置,其特征在于,所述定位板(5)为矩形板,该矩形板的长边上形成有多个开口槽(51)。
9.根据权利要求8所述的玻璃基板的垂度测量装置,其特征在于,所述开口槽(51)为三个,该三个开口槽(51)分别与所述第一支撑架(1)、所述中间支板(4)、所述第二支撑架(2)插接配合。
10.根据权利要求1所述的玻璃基板的垂度测量装置,其特征在于,所述中间支板(4)由防静电材料制成。
11.一种玻璃基板的垂度测量方法,其特征在于,该方法包括:
将第一支撑架(1)、第二支撑架(2)以及中间支板(4)等间隔地放置于平台(6)上;
将玻璃基板(3)水平放置于所述第一支撑架(1)、中间支板(4)和第二支撑架(2)上;
将所述中间支板(4)朝向一侧推倒;
测量所述玻璃基板(3)两侧边的中间最低点和四个角最高点共计六个点距离平台(6)的高度,以计算垂度值。
12.根据权利要求11所述的玻璃基板的垂度测量方法,其特征在于,该方法还包括:
利用定位板(5)插接于所述第一支撑架(1)、第二支撑架(2)和中间支板(4),以便将所述第一支撑架(1)、第二支撑架(2)以及中间支板(4)等间隔地放置于平台(6)上,然后再拆除所述定位板(5)。
CN201610844685.7A 2016-09-22 2016-09-22 玻璃基板的垂度测量装置及方法 Pending CN106441189A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610844685.7A CN106441189A (zh) 2016-09-22 2016-09-22 玻璃基板的垂度测量装置及方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610844685.7A CN106441189A (zh) 2016-09-22 2016-09-22 玻璃基板的垂度测量装置及方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN106441189A true CN106441189A (zh) 2017-02-22

Family

ID=58166273

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610844685.7A Pending CN106441189A (zh) 2016-09-22 2016-09-22 玻璃基板的垂度测量装置及方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN106441189A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106949841A (zh) * 2017-04-25 2017-07-14 昆山国显光电有限公司 自动点检卡匣支撑下垂量的测量装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2186275Y (zh) * 1994-03-30 1994-12-28 李克识 面砖粘贴板
CN1798956A (zh) * 2003-06-02 2006-07-05 坦格拉斯有限公司 用于测量在环形模具上弯曲的玻璃板的下垂度的方法
CN201368711Y (zh) * 2009-01-19 2009-12-23 北新集团建材股份有限公司 滚道安装检测工具
CN203534535U (zh) * 2013-10-31 2014-04-09 东旭集团有限公司 一种玻璃片下垂度自动测量仪
CN206019616U (zh) * 2016-09-22 2017-03-15 东旭科技集团有限公司 玻璃基板的垂度测量装置

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN2186275Y (zh) * 1994-03-30 1994-12-28 李克识 面砖粘贴板
CN1798956A (zh) * 2003-06-02 2006-07-05 坦格拉斯有限公司 用于测量在环形模具上弯曲的玻璃板的下垂度的方法
CN201368711Y (zh) * 2009-01-19 2009-12-23 北新集团建材股份有限公司 滚道安装检测工具
CN203534535U (zh) * 2013-10-31 2014-04-09 东旭集团有限公司 一种玻璃片下垂度自动测量仪
CN206019616U (zh) * 2016-09-22 2017-03-15 东旭科技集团有限公司 玻璃基板的垂度测量装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
李青等: "玻璃基板垂度自动测量装置的设计", 《制造业自动化》 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106949841A (zh) * 2017-04-25 2017-07-14 昆山国显光电有限公司 自动点检卡匣支撑下垂量的测量装置
CN106949841B (zh) * 2017-04-25 2019-08-30 昆山国显光电有限公司 自动点检卡匣支撑下垂量的测量装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105571476B (zh) 平板检测装置
GB2521524A (en) Chromatographic materials
CN206019616U (zh) 玻璃基板的垂度测量装置
KR101479943B1 (ko) 기판과 마스크의 얼라인 시스템 및 얼라인 방법
TW200944482A (en) Fragile substrate scribing apparatus and method
CN106441189A (zh) 玻璃基板的垂度测量装置及方法
CN205246965U (zh) 一种显微镜玻片夹持装置
CN103693438B (zh) 用于基板的支撑装置及其运送基板的方法
CN107328332A (zh) 一种可调节管路空间结构的检具
CN207963861U (zh) 一种工作台水平性检测设备
KR20190119775A (ko) 탈착 특성 측정 시험 장치 및 그 방법
TW201023977A (en) Method for controlling seal dispenser apparatus
JP2010151557A (ja) 熱膨張係数の測定方法
TW201515773A (zh) 對稱去角基板的方法及設備
CN105783667B (zh) 一种间隙测量尺
CN206523403U (zh) 一种手机显示屏的水滴角测试仪
CN107101552A (zh) 一种靶材余量测量装置
CN206609448U (zh) 恒温对流箱以及终端定位治具
CN204774238U (zh) 一种小学语文教学使用的展示装置
CN208780424U (zh) 吊顶龙骨试验架
US9778497B2 (en) Bearing platform and COF repair bonder
CN105952368B (zh) 一种梁距可调节的梯子
CN109725019A (zh) 基板玻璃热收缩的检测装置、测量系统及测量方法
CN108183083A (zh) 面板的定位装置
CN207542223U (zh) 一种晶圆盘定位装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
TA01 Transfer of patent application right
TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20200914

Address after: 050035 No. 9, the Yellow River Avenue, hi tech Zone, Hebei, Shijiazhuang

Applicant after: DONGXU OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY Co.,Ltd.

Address before: The 100070 Beijing Seahawks Fengtai District Science City Road No. 9 Building No. 2 room 266 (Park)

Applicant before: TUNGHSU TECHNOLOGY GROUP Co.,Ltd.

Applicant before: TUNGHSU GROUP Co.,Ltd.

RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20170222