CN106373169A - 一种基于参数驱动的印制电路板位图复制方法及其系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种基于参数驱动的印制电路板位图复制方法,其特征在于:其包括以下步骤:1)绘制单一几何图形;2)选择一个点作为原点,创建坐标系,输入或生成该几何图形的参数方程;3)设定目标区的中心点,将所述几何图形的参数方程的原点设为所述目标区中心点,从而获得所述目标区的参数方程;4)根据所述目标区的参数方程创建新的几何图形。本发明的参数驱动的位图复制系统采用参数驱动的方式,用户输入目标区的中心点及缩放比例等参数,即可简单方便地将所绘制的位图复制、缩放至其他位置,简单且高效,而且精度高。
Description
技术领域
本发明涉及一种基于参数驱动的印制电路板位图复制方法及其系统。
背景技术
在进行大规模电路设计的过程中,经常会用到图形绘制软件,其中包含对位图的各种处理,例如:绘制、复制、缩放等等。目前处理的方法存在精度不高,不能缩放等问题。为此,发明人希望提供另外一种复制和缩放的方法及系统,解决上述问题。
发明内容
为了克服上述问题,本发明提供一种精度高、适合复制缩放的基于参数驱动的印制电路板位图复制方法及其系统。
本发明的技术方案是提供一种基于参数驱动的印制电路板位图复制方法,其特征在于:其包括以下步骤:
1)绘制单一几何图形;
2)选择一个点作为原点,创建坐标系,输入或生成该几何图形的参数方程;
3)设定目标区的中心点,将所述几何图形的参数方程的原点设为所述目标区中心点,从而获得所述目标区的参数方程;
4)根据所述目标区的参数方程创建新的几何图形。
优选的,所述几何图形为下列图形之一:直线、圆、圆环、椭圆以及圆或圆环或椭圆的局部或以上组合。
优选的,所述步骤2)中,所述几何图形的参数方程还包括该几何图形的起点和终点。
优选的,所述步骤3)中还包括设定缩放比例,所述目标区的参数方程中加入所述缩放比例,以使得步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形按所述缩放比例进行缩放。
优选的,如果所述几何图形为直线,所述缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的长度比;
如果所述几何图形为圆,所述缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的半径比;
如果所述几何图形为圆环,所述缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的外径比;
如果所述几何图形为椭圆,所述缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的长半轴比。
优选的,1)如果所述几何图形为直线,该几何图形的参数方程为:ax=y,其中x为横坐标,y为纵坐标,a为斜率,起点为(0,0),终点为(x0,y0);
2)如果所述几何图形为圆,该几何图形的参数方程为:x2+y2=R2,其中x为横坐标,y为纵坐标,R为半径;
3)如果所述几何图形为圆环,该几何图形的内圆参数方程为:x2+y2=R0 2,其中x为横坐标,y为纵坐标,R0为内圆半径,该几何图形的外圆参数方程为:x2+y2=R1 2,其中x为横坐标,y为纵坐标,R1为外圆半径;
4)如果所述几何图形为椭圆,该几何图形的参数方程为:(x/a)2+(y/b)2=1,其中x为横坐标,y为纵坐标,a、b分别为长半轴、短半轴或短半轴、长半轴。
优选的,所述几何图形的参数方程中,每个点的坐标值精确至小数点后4位,小数点后第5位四舍五入。
本发明还提供一种基于参数驱动的印制电路板位图复制系统,其是实现如上述基于参数驱动的印制电路板位图复制方法的系统,其包括界面显示装置、输入装置及运算模块。
本发明的参数驱动的位图复制系统采用参数驱动的方式,用户输入目标区的中心点及缩放比例等参数,即可简单方便地将所绘制的位图复制、缩放至其他位置,简单且高效,而且精度高。
具体实施方式
下面对本发明的具体实施方式作进一步详细的描述。
本发明提供一种基于参数驱动的印制电路板位图复制方法,
其包括以下步骤:
1)绘制几何图形,包括:直线、圆、圆环、椭圆;或者圆、圆环、椭圆的局部;
2)选择一个点作为原点,创建坐标系,输入或生成该几何图形的参数方程,针对直线、圆、圆环、椭圆的局部等,几何图形的参数方程还应该包括该几何图形的起点和终点;对于几何图形,系统可以自动生成参数方程,对于复杂结构,提供参数方程也可以;
3)设定目标区的中心点(第一个参数)和/或缩放比例(第二个参数),将几何图形的参数方程的原点设为目标区中心点,从而获得目标区的参数方程;该参数方程和步骤2)中的参数方程一致,差别在于原点不同,增加缩放比例。
3.1)如果几何图形为直线,该几何图形的参数方程为:ax=y,其中x为横坐标,y为纵坐标,a为斜率,起点为(0,0),终点为(x0,y0);
3.2)如果几何图形为圆,该几何图形的参数方程为:x2+y2=R2,其中x为横坐标,y为纵坐标,R为半径;
3.3)如果几何图形为圆环,该几何图形的内圆参数方程为:x2+y2=R0 2,其中x为横坐标,y为纵坐标,R0为内圆半径,该几何图形的外圆参数方程为:x2+y2=R1 2,其中x为横坐标,y为纵坐标,R1为外圆半径;
3.4)如果几何图形为椭圆,该几何图形的参数方程为:(x/a)2+(y/b)2=1,其中x为横坐标,y为纵坐标,a、b分别为长半轴、短半轴或短半轴、长半轴。
4)根据目标区的参数方程复制几何图形。
其中,如果几何图形为直线,缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的长度比;
如果几何图形为圆,缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的半径比;
如果几何图形为圆环,缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的外径比;
如果几何图形为椭圆,缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的长半轴比。
几何图形的参数方程中,每个点的坐标值精确至小数点后4位,小数点后第5位四舍五入,从而大大提供复制的精度。
本发明相关的系统其包括界面显示装置、输入装置及运算模块,在运算模块上执行上述方法,输入装置绘制图形和输入参数,显示装置显示图形界面。
以上实施例仅为本发明其中的一种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (8)
1.一种基于参数驱动的印制电路板位图复制方法,其特征在于:其包括以下步骤:
1)绘制几何图形;
2)选择一个点作为原点,创建坐标系,输入或生成该几何图形的参数方程;
3)设定目标区的中心点,将所述几何图形的参数方程的原点设为所述目标区中心点,从而获得所述目标区的参数方程;
4)根据所述目标区的参数方程创建新的几何图形。
2.根据权利要求1所述的基于参数驱动的印制电路板位图复制方法,其特征在于:所述几何图形为下列图形之一:直线、圆、圆环、椭圆以及圆或圆环或椭圆的局部或以上组合。
3.根据权利要求1所述的基于参数驱动的印制电路板位图复制方法,其特征在于:所述步骤2)中,所述几何图形的参数方程还包括该几何图形的起点和终点。
4.根据权利要求1所述的基于参数驱动的印制电路板位图复制方法,其特征在于:所述步骤3)中还包括设定缩放比例,所述目标区的参数方程中加入所述缩放比例,以使得步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形按所述缩放比例进行缩放。
5.根据权利要求4所述的基于参数驱动的印制电路板位图复制方法,其特征在于:如果所述几何图形为直线,所述缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的长度比;
如果所述几何图形为圆,所述缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的半径比;
如果所述几何图形为圆环,所述缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的外径比;
如果所述几何图形为椭圆,所述缩放比例为步骤4)中复制的几何图形与步骤1)中绘制的几何图形的长半轴比。
6.根据权利要求1所述的基于参数驱动的印制电路板位图复制方法,其特征在于:
1)如果所述几何图形为直线,该几何图形的参数方程为:ax=y,其中x为横坐标,y为纵坐标,a为斜率,起点为(0,0),终点为(x0,y0);
2)如果所述几何图形为圆,该几何图形的参数方程为:x2+y2=R2,其中x为横坐标,y为纵坐标,R为半径;
3)如果所述几何图形为圆环,该几何图形的内圆参数方程为:x2+y2=R0 2,其中x为横坐标,y为纵坐标,R0为内圆半径,该几何图形的外圆参数方程为:x2+y2=R1 2,其中x为横坐标,y为纵坐标,R1为外圆半径;
4)如果所述几何图形为椭圆,该几何图形的参数方程为:(x/a)2+(y/b)2=1,其中x为横坐标,y为纵坐标,a、b分别为长半轴、短半轴或短半轴、长半轴。
7.根据权利要求1所述的基于参数驱动的印制电路板位图复制方法,其特征在于:所述几何图形的参数方程中,每个点的坐标值精确至小数点后4位,小数点后第5位四舍五入。
8.一种基于参数驱动的印制电路板位图复制系统,其是实现如权利要求1至7所述基于参数驱动的印制电路板位图复制方法的系统,其特征在于:其包括界面显示装置、输入装置及运算模块。
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- 2016-08-30 CN CN201610767291.6A patent/CN106373169A/zh active Pending
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