CN106199213A - 一种电子设备及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电子设备及检测方法，通过检测器确认电子设备是否处于预设状态，并在所述电子设备处于需要辐射检测系统中的处理器调成为所述处理状态的第一预设状态时，发出切换指令以控制所述处理器由所述非处理状态调整成为所述处理状态。由此可以实现可以按照用户的需求而自动调整辐射检测系统的工作状态，在有需要时再调整激活具有高功耗的辐射检测系统的主处理器，从而有效节省具有辐射检测系统的电子设备的功耗。具有节省电子设备的电力资源的技术效果。

Description

一种电子设备及检测方法

技术领域

本发明涉及电子技术领域，特别是涉及一种电子设备及检测方法。

背景技术

目前，随着电子信息技术的发展，智能电子设备例如智能手机、平板电脑、笔记本电脑的普及范围正日趋广阔，并且智能电子设备的功能也日趋多样化。例如，为防止用户处于辐射强度较大的环境下，现有的智能手机或智能平板电脑中已新增集成了具有辐射检测功能的辐射检测系统，可以为用户提供实时的所在环境辐射强度检测数据。

但是，如果智能电子设备中的辐射检测系统持续保持正常工作状态的话，则其整体功耗较大，这是由于一方面辐射信号采集和初始检测部分需要进行工作，另一方面辐射检测系统的微处理器需要基于采集到的辐射信号和初始检测数据进行大量的实时数据处理工作，由此造成整个辐射检测系统的功耗较大。

可见，现有技术中存在着电子设备中的辐射检测系统功耗较大，如果长期保持辐射检测系统处于工作状态，而不能按照需求自动调整其工作状态时，则将极大浪费电子设备的电力资源的技术问题。

发明内容

本申请提供一种电子设备及检测方法，用以解决现有技术中存在着电子设备中的辐射检测系统功耗较大，如果长期保持辐射检测系统处于工作状态，而不能按照需求自动调整其工作状态时，则将极大浪费电子设备的电力资源的技术问题。

本申请一方面提供了一种电子设备，包括：

采集器，用以采集环境中的辐射信号；

检测器，能用于检测所述电子设备是否处于预设状态，其中，如果所述电子设备处于第一预设状态，能发出第一切换指令；

处理器，包括非处理状态和处理状态，能基于所述第一切换指令由所述非处理状态切换为所述处理状态，其中，所述处理器在处于所述处理状态时，能处理所述辐射信号；

其中，在所述处理器处于所述处理状态时，所述电子设备的功耗大于所述处理器处于所述非处理状态时所述电子设备的功耗。

可选地，所述检测器包括辐射强度检测装置，用于确定所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，且在所述电子设备处于所述第一预设状态，且所述处理器处于所述非处理状态时，发出所述第一切换指令。

可选地，所述辐射强度检测装置，用于将表征所述辐射信号的辐射强度的参数信号与预设电路中的电路信号进行比较，在所述参数信号的强度大于等于所述电路信号的强度时，确定所述电子设备处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。

可选地，所述检测器包括：

运动检测装置，用于确定所述电子设备是否处于运动的第一预设状态，且在所述电子设备处于所述运动的第一预设状态时，发出所述第一切换指令。

可选地，所述辐射强度检测装置包括检测状态和非检测状态；

所述检测器还包括：

运动检测装置，用以确定所述电子设备是否处于运动状态，并在所述电子设备处于所述运动状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态时，发出第二切换指令以使所述辐射强度检测装置由所述非检测状态调整为所述检测状态。

可选地，所述电子设备还包括：

独立电源，用以为所述采集器、和检测器、和处理器提供工作电流，所述独立电源与为所述电子设备中的其它电子器件提供工作电流的电源不同；

所述检测器，用以在所述电子设备未处于所述第一预设状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态，所述处理器处于所述非处理状态时，发出待机指令以使所述独立电源为所述采集器、和检测器、和处理器提供的工作电流小于等于预设电流。

可选地，所述检测器，用以在所述电子设备处于与所述第一预设状态不同的第二预设状态，且所述处理器处于所述处理状态时，发出第二切换指令，以使所述处理器由所述处理状态调整为所述非处理状态。

可选地，所述电子设备包括：

第一采集器，设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在第一方向上的位置，用以采集相对于所述电子设备在所述第一方向上的辐射信号；

第二采集器，设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在与所述第一方向不同的第二方向上的位置，用以采集相对于所述电子设备在所述第二方向上的辐射信号；

所述处理器，用以分析相对于所述电子设备的中心在所述第一方向和/或第二方向上的辐射信号，获得与所述第一方向对应的第一辐射信号的第一辐射强度参数值，和/或获得与所述第二方向对应的第二辐射信号的第二辐射强度参数值。

可选地，所述电子设备还包括：

固定单元，用于当所述电子设备处于固定状态时维持所述电子设备和使用者身体至少一部分的相对位置关系。

另一方面，本申请实施例还提供了一种检测方法，应用于一电子设备，所述方法包括：

采集环境中的辐射信号；

通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，其中，如果所述电子设备处于第一预设状态时发出第一切换指令；

基于所述第一切换指令控制所述电子设备的处理器由非处理状态切换为处理状态；

其中，所述处理器在处于所述处理状态时，能处理所述辐射信号，且在所述处理器处于所述处理状态时，所述电子设备的功耗大于所述处理器处于所述非处理状态时所述电子设备的功耗。

可选地，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，其中，在所述电子设备处于所述第一预设状态，且所述处理器处于所述非处理状态时，发出所述第一切换指令。

可选地，所述通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，包括：

通过所述辐射强度检测装置将表征所述辐射信号的辐射强度的参数信号与预设电路中的电路信号进行比较，在所述参数信号的强度大于等于所述电路信号的强度时，确定所述电子设备处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。

可选地，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过运动检测装置检测所述电子设备是否处于运动的第一预设状态，其中，在所述电子设备处于所述运动的第一预设状态时，发出所述第一切换指令。

可选地，所述通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，包括：

通过运动检测装置确定所述电子设备是否处于运动状态，并在所述电子设备处于所述运动状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态时，发出第二切换指令以使所述辐射强度检测装置由所述非检测状态调整为检测状态。

可选地，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过所述检测器在所述电子设备未处于所述第一预设状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态，所述处理器处于所述非处理状态时，发出待机指令以使所述独立电源为所述采集器、和检测器、和处理器提供的工作电流小于等于预设电流；

其中，所述独立电源用以为所述采集器、和检测器、和处理器提供工作电流，所述独立电源与为所述电子设备中的其它电子器件提供工作电流的电源不同。

可选地，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过检测器检测所述电子设备是否处于与所述第一预设状态不同的第二预设状态，其中，在所述处理器处于所述处理状态时，发出第二切换指令，以使所述处理器由所述处理状态调整为所述非处理状态。

可选地，所述采集环境中的辐射信号，包括：

通过第一采集器采集相对于所述电子设备在所述第一方向上的辐射信号，其中，所述第一采集器设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在第一方向上的位置；

通过第二采集器采集相对于所述电子设备在所述第二方向上的辐射信号，其中，所述第二采集器设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在与所述第一方向不同的第二方向上的位置；

分析相对于所述电子设备的中心在所述第一方向和/或第二方向上的辐射信号，获得与所述第一方向对应的第一辐射信号的第一辐射强度参数值，和/或获得与所述第二方向对应的第二辐射信号的第二辐射强度参数值。

本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

本申请实施例中的技术方案可以通过检测器确认电子设备是否处于预设状态，并在所述电子设备处于需要辐射检测系统中的处理器调成为所述处理状态的第一预设状态时，发出切换指令以控制所述处理器由所述非处理状态调整成为所述处理状态。由此可以实现可以按照用户的需求而自动调整辐射检测系统的工作状态，在有需要时再调整激活具有高功耗的辐射检测系统的主处理器，从而有效节省具有辐射检测系统的电子设备的功耗。具有节省电子设备的电力资源的技术效果。

本申请实施例至少还具有如下技术效果或优点：

进一步地，本申请实施例中的技术方案还可以采用功耗相对于所述处理器更低的辐射强度检测装置来确定所述电子设备是否处于辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。并在所述电子设备处于所述第一预设状态时发出所述第一切换指令。由于当环境中的辐射强度高于一预设阈值时，可以表征该环境下的辐射强度有可能对用户造成影响，而此时将处理器调整为所述处理状态可以有效获得精确的辐射参数值或提醒用户做好相应的防范措施。因此，在辐射强度高于一预设阈值的环境下将处理器调整为所述处理状态，具有提高所述电子设备对于辐射检测的有效性和及时性的技术效果。

进一步地，通过将采集到的辐射信号与比较器电路中的电路进行比较，从而判断得到环境中的辐射强度是否大于等于一预设阈值的判断结果。而由于比较器电路在实际操作时具有简单易操作且判断结果较精确的特性，因此，本申请实施例中的技术方案还具有提高操作效率和提高判断结果精确性的技术效果。

进一步地，本申请实施例中的技术方案还可以通过运动检测装置确定电子设备是否处于运动的第一预设状态,从而在电子设备处于用户随时可能使用或正处于使用的状态下，将所述处理器调整为所述处理状态。因此，本申请实施例中的技术方案还可以从用户使用状态方面保证电子设备对辐射检测的有效性和及时性的技术效果。

进一步地，在本申请实施例的技术方案中，可以首先通过检测电子设备是否处于运动状态，从而在确定出所述电子设备处于用户随时可能使用或正处于使用的状态下时启动所述辐射强度检测装置，进而可以通过所述辐射强度检测装置检测判断电子设备所处的环境中的辐射强度是否大于等于一预设阈值，由此可以实现在需要向用户提醒当前辐射强度较大的情况下，开启所述处理器通过辐射检测为用户提供相应的服务。可见，本申请实施例汇总的技术方案还具有进一步提高辐射检测系统的电力资源和处理资源利用效率的技术效果。

进一步地，由于用户在不同的环境状态下并不会始终需要辐射检测系统保持工作状态，而在这些不需要辐射检测系统保持工作状态的环境状态中，用户则可能需要电子设备保持其它工作组件处于正常工作的状态。因此，当采用独立电源对包括所述采集器、所述检测器、及所述处理器的辐射检测系统进行供电时，可以在关闭所述独立电源的过程中仍保持对电子设备的其它电子组件进行正常供电，从而保证用户在不需要开启所述辐射监测系统时而正常使用电子设备的其它功能。因此本申请实施例中的技术方案还具有进一步提高电子设备的适用性的技术效果。

进一步地，当通过检测器检测获得电子设备处于不需要辐射检测系统中的处理器调整成为所述处理状态的结果时，本申请实施例中的技术方案可以通过所述检测器发出待机指令，从而使得处理器从高功耗的处理状态调整为低功耗的非处理状态。因此，本申请实施例中的技术方案还具有进一步降低辐射检测系统的功耗的技术效果。

进一步地，在本申请实施例的技术方案中还可以通过设置在电子设备中的多个采集器，分别采集与采集器所处位置相对应的方向上的辐射信号，从而使得所述电子设备中的辐射检测系统可以获得来自不同方向上的辐射信号，从而具有判断出某一方向上的辐射信号的辐射强度的功能。可见，本申请实施例中的技术方案还具有进一步扩大辐射检测功能适用范围的技术效果。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种电子设备结构图；

图2为本发明实施例提供的一种检测方法的流程图。

具体实施方式

本申请提供一种电子设备及检测方法，用以解决现有技术中存在着电子设备中的辐射检测系统功耗较大，如果长期保持辐射检测系统处于工作状态，而不能按照需求自动调整其工作状态时，则将极大浪费电子设备的电力资源的技术问题。

本申请实施例中的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：

本申请实施例中的技术方案可以通过检测器确认电子设备是否处于预设状态，并在所述电子设备处于需要辐射检测系统中的处理器调成为所述处理状态的第一预设状态时，发出切换指令以控制所述处理器由所述非处理状态调整成为所述处理状态。由此可以实现可以按照用户的需求而自动调整辐射检测系统的工作状态，在有需要时再调整激活具有高功耗的辐射检测系统的主处理器，从而有效节省具有辐射检测系统的电子设备的功耗。具有节省电子设备的电力资源的技术效果。

下面通过附图以及具体实施例对本申请技术方案做详细的说明，应当理解本申请实施例以及实施例中的具体特征是对本申请技术方案的详细的说明，而不是对本申请技术方案的限定，在不冲突的情况下，本申请实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。

本文中术语“和/或”，仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

实施例一

请参考图1，本申请实施例一提供一种电子设备，包括：

采集器101，用以采集环境中的辐射信号；

检测器102，能用于检测所述电子设备是否处于预设状态，其中，如果所述电子设备处于第一预设状态，能发出第一切换指令；

处理器103，包括非处理状态和处理状态，能基于所述第一切换指令由所述非处理状态切换为所述处理状态，其中，所述处理器在处于所述处理状态时，能处理所述辐射信号；

其中，在所述处理器103处于所述处理状态时，所述电子设备的功耗大于所述处理器处于所述非处理状态时所述电子设备的功耗。

所述辐射信号可以是指具有辐射的信号，也可以是指表征辐射强度的信号，只要是可用以实现确定环境中的辐射强度的信号都可以作为所述辐射信号。由于在现有技术中可以通过多种方式实现采集上述可确定环境中的辐射强度的信号，因此，所述采集器的具体形式也可以根据需求而自行设置。只要是可用以采集可确定环境中的辐射强度的信号的装置，都可以作为所述采集器。

所述预设状态可以是指电子设备的运行状态，例如所述电子设备处于待机模式状态，又或是所述电子设备处于接听电话的通话状态，等等；所述预设状态又可以是指电子设备当前所处的环境状态，例如所述电子设备处于封闭式环境状态，又或是所述电子设备处于环境温度高于预设温度值的状态，等等；所述预设状态还可以是指电子设备当前相对于某一实体参照物的运动状态，例如所述电子设备处于相对于用户为静止放置的静止状态，又或是电子设备处于相对于一桌面为垂直下落的运动状态，等等。

而所述第一预设状态则可以是用户需要辐射检测系统中的处理器调整成为所述处理状态。在实际操作时可以由系统预设，也可以由用户自行选择设置。例如，当用户需要辐射检测系统中的处理器在电子设备处于室温为15摄氏度至25摄氏度的环境状态时，调整成为所述处理状态，那么所述第一预设状态则可以为室温为15摄氏度至25摄氏度的环境状态。又例如，当用户需要辐射检测系统中的处理器在电子设备处于电源现存量相对于电源蓄满时的电量为50％以上的运行状态时，调整成为所述处理状态，那么所述第一预设状态则可以为电子设备的电源现存量相对于电源蓄满时的电量为50％以上的运行状态。

当然，除了所述第一预设状态之外，所述预设状态中还可以包括用户需要电子设备执行其它步骤或程序的预设状态，从而可以进一步执行适应于提高辐射检测系统的电力利用效率的方案。

具体来讲，处理器103具体可以是通用的中央处理器(CPU)，可以是特定应用集成电路(英文：Application Specific Integrated Circuit，简称：ASIC)，可以是一个或多个用于控制程序执行的集成电路。

进一步的，所述电子设备还可以包括存储器，存储器的数量可以是一个或多个。存储器可以包括只读存储器(英文：Read Only Memory，简称：ROM)、随机存取存储器(英文：Random Access Memory，简称：RAM)和磁盘存储器。

由此可见，本申请实施例中的技术方案可以通过检测器确认电子设备是否处于预设状态，并在所述电子设备处于需要辐射检测系统中的处理器调成为所述处理状态的第一预设状态时，发出切换指令以控制所述处理器由所述非处理状态调整成为所述处理状态。由此可以实现可以按照用户的需求而自动调整辐射检测系统的工作状态，在有需要时再调整激活具有高功耗的辐射检测系统的主处理器，从而有效节省具有辐射检测系统的电子设备的功耗。具有节省电子设备的电力资源的技术效果。

可选地，所述检测器包括辐射强度检测装置，用于确定所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，且在所述电子设备处于所述第一预设状态，且所述处理器处于所述非处理状态时，发出所述第一切换指令。

也就是说，在本申请实施例的技术方案中，将在所述电子设备处于辐射强度大于等于一预设阈值的情况下，将辐射检测系统中的处理器调整成为所述处理状态。

当然，所述辐射强度检测装置在运行时的功耗可以小于所述处理器处于所述处理状态时的功耗，因此，所述辐射强度检测装置可以只是粗略检测环境中的辐射强度所处大致范围的装置。这样可以在所述辐射强度检测装置正常工作而所述处理器处于非处理状态时，保证所述电子设备仍处于低功耗的运行状态。

可见，本申请实施例中的技术方案还可以采用功耗相对于所述处理器更低的辐射强度检测装置来确定所述电子设备是否处于辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。并在所述电子设备处于所述第一预设状态时发出所述第一切换指令。由于当环境中的辐射强度高于一预设阈值时，可以表征该环境下的辐射强度有可能对用户造成影响，而此时将处理器调整为所述处理状态可以有效获得精确的辐射参数值或提醒用户做好相应的防范措施。因此，在辐射强度高于一预设阈值的环境下将处理器调整为所述处理状态，具有提高所述电子设备对于辐射检测的有效性和及时性的技术效果。

可选地，所述辐射强度检测装置，用于将表征所述辐射信号的辐射强度的参数信号与预设电路中的电路信号进行比较，在所述参数信号的强度大于等于所述电路信号的强度时，确定所述电子设备处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。

所述辐射信号可以是基于辐射所转化的电压信号、电流信号或电阻信号等，同理，所述电路信号可以是与所述预设阈值相对应的，且与所述辐射转化的信号相对应的电压信号、电流信号或电阻信号等，由此才可实现将辐射信号与电路信号进行比较。

在实际操作时，由于采集到的所述辐射信号通常其强度较小，为了便于实际比较操作，可以将采集到的辐射信号通过放大电路进行放大，再与比较器电路中的电路信号进行比较，由此可以增加比较结果的准确性。

可见，通过将采集到的辐射信号与比较器电路中的电路进行比较，从而判断得到环境中的辐射强度是否大于等于一预设阈值的判断结果。而由于比较器电路在实际操作时具有简单易操作且判断结果较精确的特性，因此，本申请实施例中的技术方案还具有提高操作效率和提高判断结果精确性的技术效果。

可选地，所述检测器包括：

运动检测装置，用于确定所述电子设备是否处于运动的第一预设状态，且在所述电子设备处于所述运动的第一预设状态时，发出所述第一切换指令。

当所述电子设备处于运动的第一预设状态时，可以表征所述电子设备正被用户所携带或正处于使用过程中，而在上述情况下，电子设备通常处于用户随时可能使用或正处于使用的状态下，因此在上述情况下将所述处理器调整为所述处理状态也可以保证电子设备对于辐射检测的有效性和及时性。

而在实际操作过程中，可以通过多种装置检测所述电子设备是否处于运动的第一预设状态，例如：加速度感应器、角速度感应器，重力感应器，等等。在实际操作过程中可以根据需要而自行设置。

由此可见，本申请实施例中的技术方案还可以通过运动检测装置确定电子设备是否处于运动的第一预设状态,从而在电子设备处于用户随时可能使用或正处于使用的状态下，将所述处理器调整为所述处理状态。因此，本申请实施例中的技术方案还可以从用户使用状态方面保证电子设备对辐射检测的有效性和及时性的技术效果。

可选地，所述辐射强度检测装置包括检测状态和非检测状态；

所述检测器还包括：

运动检测装置，用以确定所述电子设备是否处于运动状态，并在所述电子设备处于所述运动状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态时，发出第二切换指令以使所述辐射强度检测装置由所述非检测状态调整为所述检测状态。

也就是说，在本申请实施例的技术方案中，可以首先通过检测电子设备是否处于运动状态，从而在确定出所述电子设备处于用户随时可能使用或正处于使用的状态下时启动所述辐射强度检测装置，进而可以通过所述辐射强度检测装置检测判断电子设备所处的环境中的辐射强度是否大于等于一预设阈值，由此可以实现在需要向用户提醒当前辐射强度较大的情况下，开启所述处理器通过辐射检测为用户提供相应的服务。可见，本申请实施例汇总的技术方案还具有进一步提高辐射检测系统的电力资源和处理资源利用效率的技术效果。

可选地，所述电子设备还包括：

独立电源，用以为所述采集器、和检测器、和处理器提供工作电流，所述独立电源与为所述电子设备中的其它电子器件提供工作电流的电源不同；

所述检测器，用以在所述电子设备未处于所述第一预设状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态，所述处理器处于所述非处理状态时，发出待机指令以使所述独立电源为所述采集器、和检测器、和处理器提供的工作电流小于等于预设电流。

由于用户在不同的环境状态下并不会始终需要辐射检测系统保持工作状态，而在这些不需要辐射检测系统保持工作状态的环境状态中，用户则可能需要电子设备保持其它工作组件处于正常工作的状态。因此，当采用独立电源对包括所述采集器、所述检测器、及所述处理器的辐射检测系统进行供电时，可以在关闭所述独立电源的过程中仍保持对电子设备的其它电子组件进行正常供电，从而保证用户在不需要开启所述辐射监测系统时而正常使用电子设备的其它功能。因此本申请实施例中的技术方案还具有进一步提高电子设备的适用性的技术效果。

可选地，所述检测器，用以在所述电子设备处于与所述第一预设状态不同的第二预设状态，且所述处理器处于所述处理状态时，发出第二切换指令，以使所述处理器由所述处理状态调整为所述非处理状态。

也就是说，当通过检测器检测获得电子设备处于不需要辐射检测系统中的处理器调整成为所述处理状态的结果时，本申请实施例中的技术方案可以通过所述检测器发出待机指令，从而使得处理器从高功耗的处理状态调整为低功耗的非处理状态。因此，本申请实施例中的技术方案还具有进一步降低辐射检测系统的功耗的技术效果。

可选地，所述电子设备包括：

第一采集器，设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在第一方向上的位置，用以采集相对于所述电子设备在所述第一方向上的辐射信号；

第二采集器，设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在与所述第一方向不同的第二方向上的位置，用以采集相对于所述电子设备在所述第二方向上的辐射信号；

所述处理器，用以分析相对于所述电子设备的中心在所述第一方向和/或第二方向上的辐射信号，获得与所述第一方向对应的第一辐射信号的第一辐射强度参数值，和/或获得与所述第二方向对应的第二辐射信号的第二辐射强度参数值。

也就是说，在本申请实施例的技术方案中还可以通过设置在电子设备中的多个采集器，分别采集与采集器所处位置相对应的方向上的辐射信号，从而使得所述电子设备中的辐射检测系统可以获得来自不同方向上的辐射信号，从而具有判断出某一方向上的辐射信号的辐射强度的功能。可见，本申请实施例中的技术方案还具有进一步扩大辐射检测功能适用范围的技术效果。

可选地，所述电子设备还包括：

固定单元，用于当所述电子设备处于固定状态时维持所述电子设备和使用者身体至少一部分的相对位置关系。

也就是说，所述电子设备可以作为一穿戴式设备而被用户所使用。

实施例二

请参考图2，本申请实施例二提供一种检测方法，应用于一电子设备，所述方法包括：

步骤201：采集环境中的辐射信号；

步骤202：通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，其中，如果所述电子设备处于第一预设状态时发出第一切换指令；

步骤203：基于所述第一切换指令控制所述电子设备的处理器由非处理状态切换为处理状态；

其中，所述处理器在处于所述处理状态时，能处理所述辐射信号，且在所述处理器处于所述处理状态时，所述电子设备的功耗大于所述处理器处于所述非处理状态时所述电子设备的功耗。

可选地，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，其中，在所述电子设备处于所述第一预设状态，且所述处理器处于所述非处理状态时，发出所述第一切换指令。

可选地，所述通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，包括：

通过所述辐射强度检测装置将表征所述辐射信号的辐射强度的参数信号与预设电路中的电路信号进行比较，在所述参数信号的强度大于等于所述电路信号的强度时，确定所述电子设备处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。

可选地，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过运动检测装置检测所述电子设备是否处于运动的第一预设状态，其中，在所述电子设备处于所述运动的第一预设状态时，发出所述第一切换指令。

可选地，所述通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，包括：

通过运动检测装置确定所述电子设备是否处于运动状态，并在所述电子设备处于所述运动状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态时，发出第二切换指令以使所述辐射强度检测装置由所述非检测状态调整为检测状态。

可选地，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过所述检测器在所述电子设备未处于所述第一预设状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态，所述处理器处于所述非处理状态时，发出待机指令以使所述独立电源为所述采集器、和检测器、和处理器提供的工作电流小于等于预设电流；

其中，所述独立电源用以为所述采集器、和检测器、和处理器提供工作电流，所述独立电源与为所述电子设备中的其它电子器件提供工作电流的电源不同。

可选地，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过检测器检测所述电子设备是否处于与所述第一预设状态不同的第二预设状态，其中，在所述处理器处于所述处理状态时，发出第二切换指令，以使所述处理器由所述处理状态调整为所述非处理状态。

可选地，所述采集环境中的辐射信号，包括：

通过第一采集器采集相对于所述电子设备在所述第一方向上的辐射信号，其中，所述第一采集器设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在第一方向上的位置；

通过第二采集器采集相对于所述电子设备在所述第二方向上的辐射信号，其中，所述第二采集器设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在与所述第一方向不同的第二方向上的位置；

分析相对于所述电子设备的中心在所述第一方向和/或第二方向上的辐射信号，获得与所述第一方向对应的第一辐射信号的第一辐射强度参数值，和/或获得与所述第二方向对应的第二辐射信号的第二辐射强度参数值。

前述图1实施例中的电子设备中的各种变化方式和具体实例同样适用于本实施例的检测方法，通过前述对电子设备的详细描述，本领域技术人员可以清楚的知道本实施例中检测方法的实施方法，所以为了说明书的简洁，在此不再详述。

由此可见，本申请实施例中的技术方案可以通过检测器确认电子设备是否处于预设状态，并在所述电子设备处于需要辐射检测系统中的处理器调成为所述处理状态的第一预设状态时，发出切换指令以控制所述处理器由所述非处理状态调整成为所述处理状态。由此可以实现可以按照用户的需求而自动调整辐射检测系统的工作状态，在有需要时再调整激活具有高功耗的辐射检测系统的主处理器，从而有效节省具有辐射检测系统的电子设备的功耗。具有节省电子设备的电力资源的技术效果。

本申请实施例至少还具有如下技术效果或优点：

进一步地，本申请实施例中的技术方案还可以采用功耗相对于所述处理器更低的辐射强度检测装置来确定所述电子设备是否处于辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。并在所述电子设备处于所述第一预设状态时发出所述第一切换指令。由于当环境中的辐射强度高于一预设阈值时，可以表征该环境下的辐射强度有可能对用户造成影响，而此时将处理器调整为所述处理状态可以有效获得精确的辐射参数值或提醒用户做好相应的防范措施。因此，在辐射强度高于一预设阈值的环境下将处理器调整为所述处理状态，具有提高所述电子设备对于辐射检测的有效性和及时性的技术效果。

进一步地，通过将采集到的辐射信号与比较器电路中的电路进行比较，从而判断得到环境中的辐射强度是否大于等于一预设阈值的判断结果。而由于比较器电路在实际操作时具有简单易操作且判断结果较精确的特性，因此，本申请实施例中的技术方案还具有提高操作效率和提高判断结果精确性的技术效果。

进一步地，本申请实施例中的技术方案还可以通过运动检测装置确定电子设备是否处于运动的第一预设状态,从而在电子设备处于用户随时可能使用或正处于使用的状态下，将所述处理器调整为所述处理状态。因此，本申请实施例中的技术方案还可以从用户使用状态方面保证电子设备对辐射检测的有效性和及时性的技术效果。

进一步地，在本申请实施例的技术方案中，可以首先通过检测电子设备是否处于运动状态，从而在确定出所述电子设备处于用户随时可能使用或正处于使用的状态下时启动所述辐射强度检测装置，进而可以通过所述辐射强度检测装置检测判断电子设备所处的环境中的辐射强度是否大于等于一预设阈值，由此可以实现在需要向用户提醒当前辐射强度较大的情况下，开启所述处理器通过辐射检测为用户提供相应的服务。可见，本申请实施例汇总的技术方案还具有进一步提高辐射检测系统的电力资源和处理资源利用效率的技术效果。

进一步地，由于用户在不同的环境状态下并不会始终需要辐射检测系统保持工作状态，而在这些不需要辐射检测系统保持工作状态的环境状态中，用户则可能需要电子设备保持其它工作组件处于正常工作的状态。因此，当采用独立电源对包括所述采集器、所述检测器、及所述处理器的辐射检测系统进行供电时，可以在关闭所述独立电源的过程中仍保持对电子设备的其它电子组件进行正常供电，从而保证用户在不需要开启所述辐射监测系统时而正常使用电子设备的其它功能。因此本申请实施例中的技术方案还具有进一步提高电子设备的适用性的技术效果。

进一步地，当通过检测器检测获得电子设备处于不需要辐射检测系统中的处理器调整成为所述处理状态的结果时，本申请实施例中的技术方案可以通过所述检测器发出待机指令，从而使得处理器从高功耗的处理状态调整为低功耗的非处理状态。因此，本申请实施例中的技术方案还具有进一步降低辐射检测系统的功耗的技术效果。

进一步地，在本申请实施例的技术方案中还可以通过设置在电子设备中的多个采集器，分别采集与采集器所处位置相对应的方向上的辐射信号，从而使得所述电子设备中的辐射检测系统可以获得来自不同方向上的辐射信号，从而具有判断出某一方向上的辐射信号的辐射强度的功能。可见，本申请实施例中的技术方案还具有进一步扩大辐射检测功能适用范围的技术效果。

尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (17)

1.一种电子设备，包括：

采集器，用以采集环境中的辐射信号；

检测器，能用于检测所述电子设备是否处于预设状态，其中，如果所述电子设备处于第一预设状态，能发出第一切换指令；

处理器，包括非处理状态和处理状态，能基于所述第一切换指令由所述非处理状态切换为所述处理状态，其中，所述处理器在处于所述处理状态时，能处理所述辐射信号；

其中，在所述处理器处于所述处理状态时，所述电子设备的功耗大于所述处理器处于所述非处理状态时所述电子设备的功耗。

2.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述检测器包括辐射强度检测装置，用于确定所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，且在所述电子设备处于所述第一预设状态，且所述处理器处于所述非处理状态时，发出所述第一切换指令。

3.如权利要求2所述的电子设备，其特征在于，所述辐射强度检测装置，用于将表征所述辐射信号的辐射强度的参数信号与预设电路中的电路信号进行比较，在所述参数信号的强度大于等于所述电路信号的强度时，确定所述电子设备处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。

4.如权利要求1所述的电子设备，其特征在于，所述检测器包括：

运动检测装置，用于确定所述电子设备是否处于运动的第一预设状态，且在所述电子设备处于所述运动的第一预设状态时，发出所述第一切换指令。

5.如权利要求2所述的电子设备，其特征在于，所述辐射强度检测装置包括检测状态和非检测状态；

所述检测器还包括：

运动检测装置，用以确定所述电子设备是否处于运动状态，并在所述电子设备处于所述运动状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态时，发出第二切换指令以使所述辐射强度检测装置由所述非检测状态调整为所述检测状态。

6.如权利要求5所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括：

独立电源，用以为所述采集器、和检测器、和处理器提供工作电流，所述独立电源与为所述电子设备中的其它电子器件提供工作电流的电源不同；

所述检测器，用以在所述电子设备未处于所述第一预设状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态，所述处理器处于所述非处理状态时，发出待机指令以使所述独立电源为所述采集器、和检测器、和处理器提供的工作电流小于等于预设电流。

7.如权利要求1-6任一权利要求所述的电子设备，其特征在于，所述检测器，用以在所述电子设备处于与所述第一预设状态不同的第二预设状态，且所述处理器处于所述处理状态时，发出第二切换指令，以使所述处理器由所述处理状态调整为所述非处理状态。

8.如权利要求7所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

第一采集器，设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在第一方向上的位置，用以采集相对于所述电子设备在所述第一方向上的辐射信号；

第二采集器，设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在与所述第一方向不同的第二方向上的位置，用以采集相对于所述电子设备在所述第二方向上的辐射信号；

所述处理器，用以分析相对于所述电子设备的中心在所述第一方向和/或第二方向上的辐射信号，获得与所述第一方向对应的第一辐射信号的第一辐射强度参数值，和/或获得与所述第二方向对应的第二辐射信号的第二辐射强度参数值。

9.如权利要求8所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备还包括：

固定单元，用于当所述电子设备处于固定状态时维持所述电子设备和使用者身体至少一部分的相对位置关系。

10.一种检测方法，应用于一电子设备，所述方法包括：

采集环境中的辐射信号；

通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，其中，如果所述电子设备处于第一预设状态时发出第一切换指令；

基于所述第一切换指令控制所述电子设备的处理器由非处理状态切换为处理状态；

其中，所述处理器在处于所述处理状态时，能处理所述辐射信号，且在所述处理器处于所述处理状态时，所述电子设备的功耗大于所述处理器处于所述非处理状态时所述电子设备的功耗。

11.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，其中，在所述电子设备处于所述第一预设状态，且所述处理器处于所述非处理状态时，发出所述第一切换指令。

12.如权利要求11所述的方法，其特征在于，所述通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，包括：

通过所述辐射强度检测装置将表征所述辐射信号的辐射强度的参数信号与预设电路中的电路信号进行比较，在所述参数信号的强度大于等于所述电路信号的强度时，确定所述电子设备处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态。

13.如权利要求10所述的方法，其特征在于，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过运动检测装置检测所述电子设备是否处于运动的第一预设状态，其中，在所述电子设备处于所述运动的第一预设状态时，发出所述第一切换指令。

14.如权利要求12所述的方法，其特征在于，所述通过辐射强度检测装置检测所述电子设备是否处于所述辐射信号的辐射强度大于等于预设阈值的第一预设状态，包括：

通过运动检测装置确定所述电子设备是否处于运动状态，并在所述电子设备处于所述运动状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态时，发出第二切换指令以使所述辐射强度检测装置由所述非检测状态调整为检测状态。

15.如权利要求14所述的方法，其特征在于，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过所述检测器在所述电子设备未处于所述第一预设状态，且所述辐射强度检测装置处于非检测状态，所述处理器处于所述非处理状态时，发出待机指令以使所述独立电源为所述采集器、和检测器、和处理器提供的工作电流小于等于预设电流；

其中，所述独立电源用以为所述采集器、和检测器、和处理器提供工作电流，所述独立电源与为所述电子设备中的其它电子器件提供工作电流的电源不同。

16.如权利要求10-15任一权利要求所述的方法，其特征在于，所述通过检测器检测所述电子设备是否处于预设状态，包括：

通过检测器检测所述电子设备是否处于与所述第一预设状态不同的第二预设状态，其中，在所述处理器处于所述处理状态时，发出第二切换指令，以使所述处理器由所述处理状态调整为所述非处理状态。

17.如权利要求16所述的方法，其特征在于，所述采集环境中的辐射信号，包括：

通过第一采集器采集相对于所述电子设备在所述第一方向上的辐射信号，其中，所述第一采集器设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在第一方向上的位置；

通过第二采集器采集相对于所述电子设备在所述第二方向上的辐射信号，其中，所述第二采集器设置在所述电子设备中，且相对于所述电子设备的中心在与所述第一方向不同的第二方向上的位置；

分析相对于所述电子设备的中心在所述第一方向和/或第二方向上的辐射信号，获得与所述第一方向对应的第一辐射信号的第一辐射强度参数值，和/或获得与所述第二方向对应的第二辐射信号的第二辐射强度参数值。