CN106056123B - 一种基于sem的碳纳米管自动识别的图像处理方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种基于SEM(扫描电子显微镜)的碳纳米管自动识别的图像处理方法。该方法在SEM得到探针(1)和CNT(2)的图像后,对图像进行灰度化、颜色归一化、轮廓梯度计算、极值点提取,以及优化处理五个图像处理步骤,从而能够从基底(3)边缘所有识别的CNT中筛选出一根或几根长且直、杂质少的目标CNT。本发明所提出的图像处理方法具有鲁棒性强,环境适应能力强,且算法结构简单,计算快等优点。
Description
技术领域
本发明属于微纳操作技术领域,具体涉及一种基于SEM的极端环境下CNT(碳纳米管)自动识别的图像处理方法。
背景技术
纳米材料,如富勒烯、CNT、石墨烯等,在制造业、微电子、生物、医学、能源等领域得到了广泛的应用。以CNT为例,因其独特的机械、电学和热性能,应用于各种纳米器件。因而对CNT等纳米材料的识别操作方法显得尤为重要,CNT的操作方法目前可分为非机器人操作和机器人操作两种,前者可以快速高效地对CNT进行分离与排序,然而缺点是很难对单根CNT进行操作。后者可进一步区分为遥操作法和自动化法,对于遥操作方法,具有操作周期长、对工作人员操作水平与技巧要求比较高的特点,而自动化法则具有放大倍数较低,仅能对直径d=50nm以上纳米材料进行操作、算法环境适应能力差等不足之处。于是,对直径d≤50nm的纳米材料识别与操作的自动化亟待解决。综合以上技术情况,本领域需要结合扫描电子显微镜(SEM)下极端环境的特点,搭建出三维自动化操作平台,以对直径50nm以下的CNT进行识别和操作。
发明内容
本发明的目的是:结合SEM系统所得图像,通过一系列图像处理过程,实现对直径50nm以下的CNT的自动识别,以供后续操作。本发明具有鲁棒性强,环境适应能力强,并且算法结构简单,计算快等优点。
本发明通过以下技术方案实现。
一种基于SEM(扫描电子显微镜)的极端环境下碳纳米管x-y平面上的自动识别的图像处理方法,包括以下步骤:
对所得图像进行灰度化处理;
自动选择合适的阈值,将图像颜色归一化、二值化;
通过图像梯度翻转计算找到外伸CNT的自由端;
通过限定CNT自由端附近平均像素值以优化处理,筛选得到满足所需条件的目标CNT,完成自动识别过程。
优选的,所述的目标CNT自动识别的图像处理方法中,所述方法对图像自动颜色归一化的过程,进一步包括以下步骤:计算图像像素值的直方图,根据图像特点,包含像素值个数最多的分区,即包含着图像中(除CNT以及探针等以外)背景的像素值;得到背景近似像素值之后,进行归一化处理时的阈值随即确定,该阈值vthresh设为依据背景像素值vpixel改变而改变的函数,函数形式根据经验可得,一般优选vthresh=vpixel+15;运用该阈值对图像进行颜色归一化、二值化处理,背景处理为黑色,CNT以及探针等操作对象及主体处理为白色。
优选的,所述的目标CNT自动识别的图像处理方法中,所述算法对图像梯度翻转计算外伸CNT端点进一步包括以下步骤:
求取图像内部轮廓线;
优选的,所述的目标CNT自动识别的图像处理方法中,所述算法对限定CNT自由端附近平均像素值以完成优化处理的过程,进一步包括以下步骤:
以所得极值点为圆心,目标CNT长度为基准设定合理半径值做圆j;判断圆j内像素点(共n个)的像素p之和判断是否满足dmin*hmin<pj<dmax*hmax,其中d代表目标CNT的直径要求,h代表目标CNT的长度要求。于是得到最终优化点,标记该点(例为黑色三角形点),即为目标CNT自由端,即可得到反馈给探针操作臂的运动目标位置。
本发明的有益效果是:
1.本发明的方法在对图像自动颜色归一化的处理中,引入像素直方图,有效应对归一化过程中,由于放大倍数或是光照变化等原因引起的图像背景亮度差异,合理阈值选择的问题;
2.本发明的方法对限定CNT自由端附近平均像素值以完成优化处理的过程中,引入圆内像素值判断,由于背景处理为黑色,像素值为0,CNT处理为白色,像素值255,故该圆内各点像素值总和能够一定程度代表该极值点所在的CNT自由段的长度,并能据此判断该CNT与附近CNT的生长环境是否有复杂纠缠,一般情况下,希望目标CNT有足够自由段长度,并且没有CNT之间互相的交叉纠缠。
附图说明
图1为本发明的处理对象示意图;
图2为本发明的图像处理所述优化处理示意图;
图3为本发明的图像处理结果示意图;
其中各附图标记所代表的含义为:1-探针、2-CNT、3-基质、4-优化过程所借助圆j、5-目标CNT的自由端。
具体实施方式
参见附图1,一种基于SEM的极端环境下碳纳米管x-y平面上的自动识别的图像处理方法,它处理对象图像包括:探针(1)、CNT(2)、CNT生长基质(3)。
所述方法的处理流程包括:对图像进行灰度化;颜色归一化、二值化;轮廓梯度计算;极值点提取;以及优化处理五个图像处理步骤。
所述的目标CNT自动识别的图像处理流程中,所述算法对图像自动颜色归一化的过程,为了应对由于放大倍数或是光照变化等原因引起的图像背景亮度差异,本发明提出的方法是:计算图像像素值的直方图,根据图像特点,包含像素值个数最多的分区,即包含着图像中(除CNT以及探针等以外)背景的像素值;得到背景近似像素值之后,进行归一化处理时的阈值随即确定,该阈值vthresh设为依据背景像素值vpixel改变而改变的函数,函数形式根据经验可得,一般优选vthresh=vpixel+15;运用该阈值对图像进行颜色归一化、二值化处理,背景处理为黑色,CNT以及探针等操作对象及主体处理为白色。
所述的目标CNT自动识别的图像处理流程中,所述方法对图像梯度翻转计算外伸CNT端点进一步包括以下步骤:
求取图像内部轮廓线;对轮廓上各点进行梯度计算,按照公式判断如果ki*ki-1<0,表示轮廓翻转,该点为角点;进一步判断ki与ki-1正方向之间夹角α是否满足135°<α<180°,即如果则标记该点(例为圆点),所得该类点即为极值点,大部分为CNT的自由端点。
所述的目标CNT自动识别的图像处理方法中,所述方法对限定CNT自由端附近平均像素值以完成优化处理的过程,进一步包括以下步骤:
参见附图2,以所得极值点为圆心,目标CNT长度为基准设定合理半径值做圆j(4);由于背景处理为黑色,像素值为0,CNT处理为白色,像素值255,故该圆内各点像素值总和能够一定程度代表该极值点所在的CNT自由段的长度,以及该CNT与附近CNT的生长环境是否有复杂纠缠,一般情况下希望目标CNT有足够自由段长度,并且没有CNT之间互相的交叉纠缠。故具体操作是:判断圆j(4)内像素点(共n个)的像素p之和判断是否满足dmin*hmin<pj<dmax*hmax,其中d代表目标CNT的直径要求,h代表目标CNT的长度要求。
参见附图3,经过以上所述处理流程后,得到最终优化点,标记该点(例为三角形点),即为目标CNT自由端(5),即可得到反馈给探针操作臂的运动目标位置。
以上所述仅为本发明的几种具体实施例,以上实施例仅用于对本发明的技术方案和发明构思做说明而非限制本发明的权利要求范围。凡本技术领域中技术人员在本专利的发明构思基础上结合现有技术,通过逻辑分析、推理或有限实验可以得到的其他技术方案,也应该被认为落在本发明的权利要求保护范围之内。
Claims (5)
1.一种基于SEM(扫描电子显微镜)的碳纳米管自动识别的图像处理方法,包括以下步骤:
对SEM所得图像进行灰度化处理;
选择阈值,将图像颜色归一化和二值化;
通过图像梯度翻转计算找到外伸CNT(碳纳米管)(2)的自由端;
通过限定CNT(2)自由端附近平均像素值以优化处理,筛选得到满足所需条件的目标CNT(5),完成自动识别过程;
其中,所述图像梯度翻转计算找到外伸CNT的自由端进一步包括以下步骤:
求取图像内部轮廓线;
如果ki*ki-1<0,表示轮廓翻转,该ki对应的点为角点;
所述通过限定CNT自由端附近平均像素值以优化处理的过程,进一步包括以下步骤:
以所述极值点为圆心,目标CNT长度为基准设定合理半径值做圆j(4);
2.根据权利要求1所述的图像处理方法,其特征在于,所述将图像颜色归一化进一步包括以下步骤:
计算图像像素值的直方图,从包含像素值个数最多的分区获得除CNT(2)以及探针(1)以外背景的像素值;
得到背景的像素值之后,随即确定进行归一化处理时的阈值,该阈值vthresh设为依据背景像素值vpixel改变而改变的函数;
运用该阈值对图像进行颜色归一化和二值化处理,背景处理为黑色,CNT(2)、探针及主体处理为白色(1)。
3.根据权利要求2所述的图像处理方法,其特征在于,所述函数形式为vthresh=vpixel+15。
4.根据权利要求1所述的图像处理方法,其特征在于,所述极值点标记为圆点。
5.根据权利要求1所述的图像处理方法,其特征在于,所述目标CNT自由端标记为三角形点。
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