CN106019355A - 辐射粒子探测器读出电路及辐射粒子信号计数的方法 - Google Patents
辐射粒子探测器读出电路及辐射粒子信号计数的方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN106019355A CN106019355A CN201610532188.3A CN201610532188A CN106019355A CN 106019355 A CN106019355 A CN 106019355A CN 201610532188 A CN201610532188 A CN 201610532188A CN 106019355 A CN106019355 A CN 106019355A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- radiating particle
- timing
- time
- signal
- reset
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/18—Measuring radiation intensity with counting-tube arrangements, e.g. with Geiger counters
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
本申请公开了一种辐射粒子探测器读出电路及应用所述辐射粒子探测器读出电路进行辐射粒子信号计数的方法，本发明提供的辐射粒子探测器读出电路采用复位后首个辐射粒子信号到达时间测量技术对辐射粒子信号进行计数，就是复位辐射粒子探测器读出电路后，对探测器探测得到的首个辐射粒子信号进行到达时间的测量，得到首个辐射粒子信号的到达时间后，按照上述过程重复进行后，将得到的多个首个辐射粒子信号的到达时间进行平均，得到首个辐射粒子信号的平均到达时间。根据首个辐射粒子到达平均时间与计数率之间的关系，得到辐射粒子信号的计数率。本发明在对辐射粒子信号计数时，对信号的堆积不敏感，提高辐射粒子信号的计数率性能。本发明提供的电路的结构简单且便于高密度集成。
Description
技术领域
本申请涉及半导体领域的辐射粒子测量技术，特别涉及一种辐射粒子探测器读出电路及应用所述辐射粒子探测器读出电路进行辐射粒子信号计数的方法。
背景技术
在基于辐射射线的安全检查、工业和医学成像等领域，需要估算辐射射线的强度，辐射射线由辐射粒子组成，辐射粒子包括阿尔法(α)、贝塔(β)、X、伽马射线或中子等。以X射线成像应用为例，在一个X射线成像系统中，通过探测x射线经过物体后出射的强度，可以反推出X射线在物理中的衰减程度，从而重建出被检测物体的内部结构。X射线与辐射探测器发生作用后通常被转化为电流信号，传统上测量X射线的强度是通过将固定时间内所有X射线的光子产生的电流信号全部积分来获得。近年来，采用辐射粒子信号计数的方式越来越受到关注，即将单个辐射粒子信号在探测器中产生的电流脉冲信号由辐射粒子探测器读出电路进行放大和成形，经过一个或多个甄别器后，根据信号幅度触发相对应的计数器进行计数。后续在固定时间内由计数器记录下辐射粒子信号的数目就得到辐射粒子信号的计数率，辐射粒子信号的计数率与辐射射线的强度成正比，从而可以得到辐射射线的强度。与传统的积分方式确定辐射射线的强度相比，辐射粒子信号计数的方式不受电子学噪声的影响，具有更好的对比度，可以提供双能和多能谱用于物质识别等。
采用辐射粒子信号计数的方式确定辐射射线的强度，对辐射粒子探测器读出电路的准确计数要求比较高，比如在电子计算机断层扫描(CT)成像系统中探测器的最高平均计数率高达109/mm2.s。探测器和读出电路都会有一定的响应时间，在这段时间内如果有新的辐射粒子入射，那么探测器和读出电路很有可能无法区分这两个辐射粒子信号，而由于信号堆积的原因将多个辐射粒子信号当成一个信号，从而造成后续的辐射粒子探测器读出电路的计数损失。更进一步地，由于辐射粒子信号的到达是随机的，使得信号的堆积变得更加严重，比如X射线成像系统中常用的X光机产生的X射线信号随时间的分布可以用泊松过程描述，假定探测到x射线信号的平均计数率为106cps，即便探测器和X粒子读出电路的响应时间只有信号周期的1/10，即100纳秒，则发生信号堆积的概率仍然有10％。在信号堆积更严重的情况下，探测器实际输出的计数率甚至要低于探测器在低计数率下的输出值。为了使得探测器的计数率性能提升，1986年Elmo J.DiIanni等人提出了一种基于Time-to-first-count的方法，可以大大提高死时间很长的盖革管探测器的计数率性能。其基本原理是控制盖革管探测器的高压，使得盖革管探测器从某个时刻开始工作，直到探测到第一个辐射粒子信号就降低高压，并由设置的辐射粒子输出电路记录下到达时间t。重复该过程，测得首个辐射粒子到达的平均时间t。根据泊松过程可以得知，辐射粒子信号的平均计数率R＝K/t，其中k为常数，通过这种方法，就可以将盖革管探测器的计数率从103cps提高到105cps，由于高压控制也有一定的死时间，再提高辐射粒子信号的计数率性能就比较困难了。
另一方面，随着探测器技术的发展，出现了像素型半导体探测器，特别是碲化镉(CdTe)或碲锌镉(CZT)等室温半导体探测器，本身可以实现很高计数率的辐射粒子探测。像素型半导体探测器通过采用百微米级小尺寸的像素电极，单个电流脉冲的持续时间可以缩短到几个到几十个纳秒；而且随着像素尺寸的减小，分摊到单个像素的计数率也会变低，因此像素型半导体探测器本身可以获得非常高的计数率特性，对应的就需要高计数率且高密度的辐射粒子探测器读出电路。
通常，高计数率的辐射粒子探测器读出电路采用高阶的准高斯成形电路，使得输出波形比较对称从而便于计数，同时还需要基线恢复期等电路，使得基线不随信号频率漂移，这使得辐射粒子探测器读出电路比较复杂，不适合集成在诸如百微米尺寸的像素型辐射粒子的计数电路中。
发明内容
有鉴于此，本申请提供一种辐射粒子探测器读出电路，该电路的结构简单且便于集成，在进行辐射粒子信号的计数时对信号的堆积不敏感，提高辐射粒子信号的计数率性能。
本申请还提供一种应用所述辐射粒子探测器读出电路进行辐射粒子计数的方法，该方法能够在对辐射粒子信号计数时，对信号的堆积不敏感，提高辐射粒子信号的计数率性能。
根据上述目的，本申请采用如下方案：
一种辐射粒子探测器读出电路，包括：前端放大器单元(101)及时间测量电路(102)，前端放大器单元(101)的输入端连接探测辐射粒子的探测器，输出端连接时间测量电路(102)，前端放大器单元(101)具有复位开关，时间测量电路(102)包括串联的定时甄别器及控制逻辑器，其中，
前端放大器单元(101)的复位开关复位，且时间测量电路(102)的控制逻辑器计时清零后开始计时，前端放大器单元(101)接收由探测器探测得到的辐射粒子信号，进行放大成形后，发送给时间测量电路(102)；
当由前端放大器单元(101)发送的成形的信号幅度超过时间测量电路(102)中的定时甄别器设定的阈值时，时间测量电路(102)中的定时甄别器的输出发生反转，由时间测量电路(102)中的控制逻辑器确定首个辐射粒子信号的到达时间停止计时，得到首个辐射粒子信号到达时间。
一种应用所述的读出电路进行辐射粒子信号计数的方法，包括：
A、辐射粒子探测器读出电路闭合复位开关且计时清零；
B、辐射粒子探测器读出电路打开复位开关并计时开始；
C、辐射粒子探测器读出电路读出首个辐射粒子到达时间，计时停止；
D、重复执行步骤B～C，得到多个首个辐射粒子到达时间；
E、对得到的多个首个辐射粒子到达时间平均，得到首个辐射粒子的平均到达时间；
F、根据首个辐射粒子的平均到达时间与辐射粒子信号计数率的对应关系，计算得到辐射粒子信号的计数率。
从上述方案可以看出，本发明实施例提供的辐射粒子探测器读出电路采用复位后首个辐射粒子信号到达时间测量技术对辐射粒子信号进行计数，就是复位辐射粒子探测器读出电路后，对探测器探测得到的首个辐射粒子信号进行到达时间的测量，得到首个辐射粒子信号的到达时间后，按照上述过程重复进行后，将得到的多个首个辐射粒子信号的到达时间进行平均，得到首个辐射粒子信号的平均到达时间。根据首个辐射粒子到达平均时间与计数率之间的关系，得到辐射粒子信号的计数率。由于首个辐射粒子信号到达时间的测量主要发生在辐射粒子的上升沿，因此对辐射粒子信号的堆积，特别是辐射粒子信号尾部引起的堆积不敏感且提高辐射粒子信号的技术率性能。且本发明实施例提供的辐射粒子探测器读出电路也不需要复杂的高阶成形和基线恢复器等，结构简单，便于集成在像素型辐射粒子信号的计数电路中。
附图说明
图1为本发明实施例提供的辐射粒子探测器读出电路结构示意图；
图2为本发明实施例提供的应用辐射粒子探测器读出电路进行辐射粒子信号计数的方法流程图；
图3为本发明实施例提供的辐射粒子探测器读出电路实例一结构示意图；
图4为本发明实施例提供的辐射粒子探测器读出电路实例二结构示意图。
附图标号说明
101前端放大器单元
102时间测量电路
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术手段和优点更加清楚明白，以下结合附图对本申请做进一步详细说明。
本发明实施例基于随机过程中首个辐射粒子到达时间与计数率之间的关系，通过设置的辐射粒子探测器读出电路中的前端放大器的复位功能控制对首个辐射粒子到达时间的测量并进行多次后，根据首个辐射粒子到达时间的平均值得到首个辐射粒子的平均到达时间。采用在辐射粒子探测中常见的泊松过程，辐射粒子信号的计数率其中k为常数，t为首个辐射粒子到达的平均时间，计算得到辐射粒子信号的计数率。
与现有技术盖革管采用高压控制不同，本发明实施例在探测器探测到辐射粒子后，通过复位控制实现对首个辐射粒子到达时间的测量，这里称之为复位后首个信号到达时间的测量技术。复位控制的死时间相比于现有现有技术要小的多，大约在10-100ns，因此可以实现106-107cps甚至更高辐射粒子信号的计数率测量。当然这种实现方式要求探测器本身的死时间比较小，比如需要采用像素型半导体探测器。复位后的首个辐射粒子信号到达时间是随机变化的，必须通过测量来降低统计涨落，相应地也要求辐射粒子输出电路可以实现重复测量。由于辐射粒子信号到达时间的测量主要发生在辐射粒子信号的上升沿，因此本发明实施例对辐射粒子信号的堆积，特别是信号尾部引起的堆积以及由辐射粒子探测器读出电路进行计数测量引起的基线涨落不敏感，本发明实施例提供的辐射粒子探测器读出电路也不需要复杂的高阶成形和基线恢复器等，结构简单，便于集成在像素型辐射粒子信号的计数电路中。
图1为本发明实施例提供的辐射粒子探测器读出电路结构示意图，如图所示，包括：前端放大器单元101及时间测量电路102，前端放大器单元101的输入端连接探测器，输出端连接时间测量电路102，前端放大器单元101具有复位开关，时间测量电路102包括串联的定时甄别器及控制逻辑器，其中，
前端放大器单元101的复位开关复位，且时间测量电路102的控制逻辑器计时清零后开始计时，前端放大器单元101接收由探测器探测得到的辐射粒子信号，进行放大和成形后，发送给时间测量电路102；当由前端放大器单元101发送的成形的信号幅度超过时间测量电路102中的定时甄别器的设定的阈值时，时间测量电路102中的定时甄别器的输出发生反转，由时间测量电路102中的控制逻辑器当做首个辐射粒子信号的到达时间停止计时，得到首个辐射粒子信号到达时间。
在该电路中，得到首个辐射粒子信号到达时间后，前端放大器单元101的复位开关再次复位后，时间测量电路102的控制逻辑器再次开始计时，重复上述过程，得到多个首个辐射粒子信号到达时间。
将得到的多个首个辐射粒子信号到达时间进行平均后，得到首个辐射粒子信号的平均到达时间后，根据首个辐射粒子信号的平均到达时间与辐射粒子信号的计数率的对应关系，得到辐射粒子信号的计数率，这个过程是由后续的辐射粒子信号的计数子电路完成，该辐射粒子信号的计数子电路连接在时间测量电路102的输出端。
在该电路中，前端放大器单元101的复位开关用于开闭复位信号，复位信号处于复位状态时，前端放大器单元101不会输出。
在该电路中，所述探测器采用像素型半导体探测器。
在该电路中，所述控制逻辑器包括清零输入端和计时输入端，清零输入端用于输入清零信号，用于计时的清零；计时输入端用于对控制逻辑器的控制计时的开始和停止。
图2为本发明实施例提供的应用辐射粒子探测器读出电路进行辐射粒子信号计数的方法流程图，其具体步骤为：
步骤201、辐射粒子探测器读出电路闭合复位开关且计时清零；
步骤202、辐射粒子探测器读出电路打开复位开关并计时开始；
在该步骤中，辐射粒子探测器读出电路等待首个辐射粒子信号的到达；
步骤203、辐射粒子探测器读出电路读出首个辐射粒子到达时间，计时停止；
在该步骤中，具体地，当有辐射粒子信号达到且幅度超过设置的阈值时，时间测量电路102中的定时甄别器发生翻转，时间测量电路102的计时停止；
步骤204、重复执行步骤202～203，得到多个首个辐射粒子到达时间；
步骤205、对得到的多个首个辐射粒子到达时间平均，得到首个辐射粒子的平均到达时间；
步骤206、采用辐射粒子信号的计数率R＝K/t，其中k为常数，t为首个辐射粒子到达的平均时间，计算得到辐射粒子信号的计数率。
在本发明实施例中，图1所示的电路具体可以采用离散器件或集成电路来实现。为了提高单位面积的辐射粒子信号计数率，往往需要高密度的辐射粒子探测器读出电路，因此采用集成电路实现的可能性更大且应用范围也越广。以下举两个具体例子说明。
图3为本发明实施例提供的辐射粒子探测器读出电路实例一结构示意图，其中，前端放大器单元101由前端放大器A1、核心放大器A2构成的CR-RC成形单元串联组成，前端放大器A1具有复位开关，为了使得信号传输稳定，在前端放大器A1并联有第一电容器，在前端放大器A1与CR-RC成形单元之间串联有第二电容器，核心放大器A2并联有第一电阻和第三电容器；定时甄别器A3串联在控制逻辑器与前端放大器器单元101之间。控制逻辑器包括1个D触发器DFF1、1个反相器INV1、1个与门AND1、另1个与门AND2、1个计时计数器CNT1及另1个计次计数器CNT2，具体地，D触发器DFF1的一输入端连接定时甄别器A3的输出端，另一输入端接地，输出端经反相器INV1后接入与门AND2的一输入端，与门AND2的另一输入端与与门AND1的输出端连接，与门AND1的两个输入端分别为复位端及时钟端，与门AND2的输出端与计时计数器CNT1连接，在D触发器DFF1的输出端与反相器INV1之间连接计次计数器CNT2，计时计数器CNT1和计次计数器CNT2分别具有清零端，D触发器DFF1具有复位端。其中，复位和清零信号均为低电平有效。在该电路中，为了降低在计算辐射粒子信号计数率的统计涨落，就需要将多次测量复位首个信号到达时间，其中的计时计数器CNT1和计次计数器CNT2就是分别用来记录累积的复位后首个信号到达时间和测量次数，以便计算其平均值。
具体地，图3所述的电路工作过程为：
1)在测量起始时，清零信号都置低，将计时计数器CNT1和计次计数器CNT2清零。将复位信号也置低，前端放大器A1的复位开关闭合，D触发器DFF1输出为低，与门ADN1的时钟信号被复位信号屏蔽，计时计数器CNT1和计次计数器CNT2清零后将清零信号置高，且在一个计数率测量周期中一直为高；
2)将复位信号置高，前端放大器A1的复位开关被打开，时钟信号驱动计数器CNT1开始计时；等待由首个辐射粒子信号到达且幅度超过定时甄别器A3设定的阈值，定时甄别器A3输出一个上升沿将D触发器DFF1的输出置高，屏蔽时钟信号，计时计数器CNT1停止计时；同时计次计数器CNT2值加1；
3)在得到第一个首个辐射粒子信号结束后置低复位信号，将D触发器DFF1复位，复位置低的时间通常为10-100ns；
4)重复2)～3)过程，重复次数由统计涨落和测量周期决定。将最终得到的计时计数器CNT1和计次计数器CNT2值输出，用于计算复位后首个辐射粒子信号到达时间的平均值后，根据个辐射粒子信号到达时间的平均值计算辐射粒子信号计数率。
图4为本发明实施例提供的辐射粒子探测器读出电路实例二结构示意图，在相当多的应用中，还需要分能区的辐射粒子信号计数率探测，可以通过多阈值的辐射粒子探测器读出电路来完成。在该电路中，前端放大器单元101可以共用，其结构如图3所示的结构，甄别器A3和相应的控制逻辑器可以设置重复多个，分别设置有不同的阈值，分别与前端放大器单元101相连，其工作原理和图3类似，只不过具有多个阈值，输出超过设定不同阈值的首个辐射粒子的平均到达时间。
以上所述的具体实施例，对本发明的目的、技术方案和有益效果进行了进一步详细说明，所应理解的是，以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种辐射粒子探测器读出电路，其特征在于，包括：前端放大器单元(101)及时间测量电路(102)，前端放大器单元(101)的输入端连接探测辐射粒子的探测器，输出端连接时间测量电路(102)，前端放大器单元(101)具有复位开关，时间测量电路(102)包括串联的定时甄别器及控制逻辑器，其中，
前端放大器单元(101)的复位开关复位，且时间测量电路(102)的控制逻辑器计时清零后开始计时，前端放大器单元(101)接收由探测器探测得到的辐射粒子信号，进行放大成形后，发送给时间测量电路(102)；
当由前端放大器单元(101)发送的成形的信号幅度超过时间测量电路(102)中的定时甄别器设定的阈值时，时间测量电路(102)中的定时甄别器的输出发生反转，由时间测量电路(102)中的控制逻辑器确定首个辐射粒子信号的到达时间停止计时，得到首个辐射粒子信号到达时间。
2.如权利要求1所述的读出电路，其特征在于，所述电路还包括：
得到首个辐射粒子信号到达时间后，前端放大器单元(101)的复位开关再次复位，时间测量电路(102)的控制逻辑器再次开始计时，重复执行：
前端放大器单元(101)接收由探测器探测得到的辐射粒子信号，进行放大成形后，发送给时间测量电路(102)；当由前端放大器单元(101)发送的成形的信号幅度超过时间测量电路(102)中的定时甄别器设定的阈值时，时间测量电路(102)中的定时甄别器的输出发生反转，由时间测量电路(102)中的控制逻辑器确定首个辐射粒子信号的到达时间停止计时；
得到多个首个辐射粒子信号到达时间。
3.如权利要求2所述的读出电路，其特征在于，所述电路还包括辐射粒子信号计数子电路，用于将得到的多个首个辐射粒子信号到达时间进行平均，根据首个辐射粒子信号的平均到达时间与辐射粒子信号计数率的对应关系，得到辐射粒子信号计数率。
4.如权利要求1、2或3所述的读出电路，其特征在于，所述前端放大器单元(101)的复位开关用于开闭复位信号，复位信号处于复位状态时，前端放大器单元101不会输出；
所述控制逻辑器包括清零输入端和计时输入端，清零输入端输入清零信号，用于计时的清零；计时输入端用于对控制逻辑器的控制计时的开始和停止。
5.如权利要求1、2或3所述的读出电路，其特征在于，所述探测器采用像素型半导体探测器。
6.如权利要求2所述的读出电路，其特征在于，所述前端放大器单元(101)由前端放大器A1、核心放大器A2构成的CR-RC成形单元串联组成，前端放大器A1具有复位开关，在前端放大器A1并联有第一电容器，在前端放大器A1与CR-RC成形单元之间串联有第二电容器，核心放大器A2并联有第一电阻和第三电容器；
所述定时甄别器A3串联在控制逻辑器与前端放大器器单元(101)之间；
控制逻辑器包括D触发器DFF1、反相器INV1、与门AND1、与门AND2、计时计数器CNT1及计次计数器CNT2，其中，D触发器DFF1的一输入端连接定时甄别器A3的输出端，另一输入端接地，输出端经反相器INV1后接入与门AND2的一输入端，与门AND2的另一输入端与与门AND1的输出端连接，与门AND1的两个输入端分别为复位端及时钟端，与门AND2的输出端与计时计数器CNT1连接，在D触发器DFF1的输出端与反相器INV1之间连接计次计数器CNT2，计时计数器CNT1和计次计数器CNT2分别具有清零端，D触发器DFF1具有复位端，复位和清零信号均为低电平有效。
7.如权利要求6所述的读出电路，其特征在于，根据所述定时甄别器A3设置的阈值不同，所述定时甄别器A3及对应的控制逻辑器有多组，分别在核心放大器A2的输出端。
8.一种应用权利要求1所述的读出电路进行辐射粒子信号计数的方法，其特征在于，包括：
A、辐射粒子探测器读出电路闭合复位开关且计时清零；
B、辐射粒子探测器读出电路打开复位开关并计时开始；
C、辐射粒子探测器读出电路读出首个辐射粒子到达时间，计时停止；
D、重复执行步骤B～C，得到多个首个辐射粒子到达时间；
E、对得到的多个首个辐射粒子到达时间平均，得到首个辐射粒子的平均到达时间；
F、根据首个辐射粒子的平均到达时间与辐射粒子信号计数率的对应关系，计算得到辐射粒子信号的计数率。
9.如权利要求8所述的方法，其特征在于，所述首个辐射粒子的平均到达时间与辐射粒子信号计数率的对应关系根据辐射粒子的计数率计算，其中k为常数，为首个辐射粒子到达的平均时间。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201610532188.3A CN106019355B (zh) | 2016-07-07 | 2016-07-07 | 辐射粒子探测器读出电路及辐射粒子信号计数的方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201610532188.3A CN106019355B (zh) | 2016-07-07 | 2016-07-07 | 辐射粒子探测器读出电路及辐射粒子信号计数的方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN106019355A true CN106019355A (zh) | 2016-10-12 |
| CN106019355B CN106019355B (zh) | 2018-08-28 |
Family
ID=57108282
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201610532188.3A Active CN106019355B (zh) | 2016-07-07 | 2016-07-07 | 辐射粒子探测器读出电路及辐射粒子信号计数的方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN106019355B (zh) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108152166A (zh) * | 2017-11-24 | 2018-06-12 | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 | 一种弹状流型气液两相流气相体积测量装置及测量方法 |
| CN111896991A (zh) * | 2020-07-28 | 2020-11-06 | 清华大学 | 一种辐射成像探测方法和装置 |
| CN112564641A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-03-26 | 重庆中易智芯科技有限责任公司 | 一种具有漏电流补偿的辐射探测器前端读出电路 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20020121603A1 (en) * | 1997-05-07 | 2002-09-05 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Method and apparatus to prevent signal pile-up |
| US20060012250A1 (en) * | 2002-11-25 | 2006-01-19 | Commissariat A L'enegie Atomique | Enhanced processing circuit for spectrometry system and spectrometry system using same |
| CN101918859A (zh) * | 2007-10-18 | 2010-12-15 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 脉冲缩短的粒子计数装置 |
| CN102565836A (zh) * | 2010-11-10 | 2012-07-11 | 西门子公司 | 用于pet应用中的单独闪烁体读出的高密度比例模式apd阵列 |
| CN104656114A (zh) * | 2013-11-15 | 2015-05-27 | 株式会社理学 | 辐射线检测器、使用其的x射线分析装置及辐射线检测方法 |
| CN105277964A (zh) * | 2015-10-30 | 2016-01-27 | 中国船舶重工集团公司第七一九研究所 | 一种脉冲信号计数率的计算方法 |
-
2016
- 2016-07-07 CN CN201610532188.3A patent/CN106019355B/zh active Active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20020121603A1 (en) * | 1997-05-07 | 2002-09-05 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Method and apparatus to prevent signal pile-up |
| US20060012250A1 (en) * | 2002-11-25 | 2006-01-19 | Commissariat A L'enegie Atomique | Enhanced processing circuit for spectrometry system and spectrometry system using same |
| CN101918859A (zh) * | 2007-10-18 | 2010-12-15 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 脉冲缩短的粒子计数装置 |
| CN102565836A (zh) * | 2010-11-10 | 2012-07-11 | 西门子公司 | 用于pet应用中的单独闪烁体读出的高密度比例模式apd阵列 |
| CN104656114A (zh) * | 2013-11-15 | 2015-05-27 | 株式会社理学 | 辐射线检测器、使用其的x射线分析装置及辐射线检测方法 |
| CN105277964A (zh) * | 2015-10-30 | 2016-01-27 | 中国船舶重工集团公司第七一九研究所 | 一种脉冲信号计数率的计算方法 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN108152166A (zh) * | 2017-11-24 | 2018-06-12 | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 | 一种弹状流型气液两相流气相体积测量装置及测量方法 |
| CN108152166B (zh) * | 2017-11-24 | 2020-05-15 | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 | 一种弹状流型气液两相流气相体积测量装置及测量方法 |
| CN111896991A (zh) * | 2020-07-28 | 2020-11-06 | 清华大学 | 一种辐射成像探测方法和装置 |
| CN112564641A (zh) * | 2020-12-02 | 2021-03-26 | 重庆中易智芯科技有限责任公司 | 一种具有漏电流补偿的辐射探测器前端读出电路 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN106019355B (zh) | 2018-08-28 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US9677931B2 (en) | Detection of radiation quanta using an optical detector pixel array and pixel cell trigger state sensing circuits | |
| US6590215B2 (en) | Readout circuit for a charge detector | |
| US11506803B2 (en) | Method and device for processing nuclear energy spectrum | |
| US8890085B2 (en) | Method and apparatus for analog pulse pile-up rejection | |
| CN104360376A (zh) | 具有放射源核素识别功能的伽马相机及核素识别方法 | |
| US20070279037A1 (en) | Spectrometry Diagnostic Electronic Circuit and Associated Counting System | |
| CN111175804B (zh) | 一种脉冲辐射探测电路及装置 | |
| CN112997102B (zh) | 辐射检测系统和方法 | |
| CN103605148A (zh) | 一种高计数率下的伽马能谱测量方法 | |
| CN106019355A (zh) | 辐射粒子探测器读出电路及辐射粒子信号计数的方法 | |
| EP3812797B1 (en) | Processing apparatus, system, x-ray measurement method, and program | |
| Pritchard et al. | 6 LiF: ZnS (Ag) neutron detector performance optimized using waveform recordings and ROC curves | |
| CN109407139B (zh) | 组合闪烁晶体及包括组合闪烁晶体的辐射探测装置和系统 | |
| CN105141294A (zh) | 双预置甄别门控型恒比定时甄别器及数字恒比定时甄别方法 | |
| CN106842277A (zh) | 一种堆积事件处理方法及装置 | |
| CN102621170A (zh) | 一种在能谱仪探测中自动确定测量时间的方法 | |
| CN115420226A (zh) | 基于脉冲宽度的射线作用位置定位装置及定位方法 | |
| US20160209522A1 (en) | A system for acquisition of tomographic measurement data | |
| CN211979206U (zh) | 一种脉冲辐射探测电路及装置 | |
| TW201040570A (en) | Method and apparatus of all function environmental gamma radiation monitor | |
| EP3676640B1 (en) | Methods and systems for calibration of particle detectors | |
| Johnson et al. | Optimization of a fast neutron scintillator for real-time pulse shape discrimination in the transient reactor test facility (TREAT) hodoscope | |
| Flaska et al. | Optimization of an offline pulse-shape discrimination technique for the liquid scintillator BC-501A | |
| CN111239797A (zh) | 一种基于辐射粒子事件的采集器及快速核素识别方法 | |
| Dong et al. | Physical design of photon-counting mode γ-ray large object radiation imaging system |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |