CN106019248A - 一种箔条干扰回波模拟方法及系统 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种箔条干扰回波模拟方法及系统，该方法包括：在箔条弹投放后，采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据；根据箔条整个工作过程的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒和平均RCS；利用平均多普勒和平均RCS对箔条干扰数据进行仿真调试，生成基带箔条干扰数据；将基带箔条干扰数据与采集的雷达发射信号进行卷积，生成基带箔条回波信号；将基带箔条回波信号进行处理，得到低中频基带箔条回波信号。该方法用于雷达抗干扰半实物仿真实验，根据箔条的相关参数产生低中频基带箔条回波信号，能够模拟箔条干扰从炸开到稳定的整个形成过程的特性，从而为雷达系统抗干扰测试提供激励，以便完成雷达抗干扰性能测试评估的要求。

Description

一种箔条干扰回波模拟方法及系统

技术领域

本申请涉及雷达性能测试与模拟器领域，尤其涉及一种箔条干扰回波模拟方法及系统。

背景技术

雷达要适应复杂战场电磁环境，必须对探测目标的特性和可能面对的各种干扰的特性进行深入研究，才可能提出相应的干扰机理、方法和战术。

随着现代战场电子环境的日趋复杂和高新科技的不断应用，无源干扰技术的优势日益凸显，箔条干扰作为目前使用最多的无源干扰样式可以在未知雷达参数的情况下，对不同方向、不同频率、不同类型和体制的雷达实施干扰。箔条弹从投放到完全散开有一定的散开时间，投放后箔条的运动特性可分为未形成干扰阶段和成熟阶段两个阶段。第一个阶段为箔条诱饵形成有效干扰之前，此时箔条的速度衰减较慢；第二个阶段为箔条形成有效干扰后，此时箔条的速度衰减较快。箔条投放后，一般在几秒的时间内，箔条在水平方向的速度降为零附近，如果考虑当地风速，则水平运动速度趋于风速，在重力及空气浮力的作用下垂直方向近似为匀速运动。

然而，现有的雷达信号仿真中的箔条回波模型多是采用随机信号模拟箔条干扰，只能模拟箔条在进入成熟阶段后的回波。这种模型虽然能够体现出箔条的部分干扰特性，但是不能充分反映箔条干扰的整个形成过程，不能充分体现箔条的干扰特性，无法反映更真实的箔条干扰性能，不能全面地衡量雷达的抗干扰性能。

发明内容

有鉴于此，本申请提供了一种箔条干扰回波模拟方法及系统，以克服现有技术中雷达信号仿真中的箔条回波模型只能模拟箔条在进入成熟阶段后的回波，无法充分体现箔条的干扰特性，从而导致无法反映更真实的箔条干扰性能，不能全面地衡量雷达的抗干扰性能的问题。

为了实现上述目的，本申请提供了以下技术方案：

一种箔条干扰回波模拟方法，包括：

在箔条弹投放后，采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据；

根据箔条的整个工作过程的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒和平均雷达散射截面积；

利用所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积对所述箔条干扰数据进行仿真调试，生成基带箔条干扰数据；

将所述基带箔条干扰数据与采集的雷达发射信号进行卷积，生成基带箔条回波信号；

将所述基带箔条回波信号进行处理，并输出得到低中频基带箔条回波信号。

优选的，所述符合预设条件的统计模型为：幅度符合瑞利分布、相位符合均匀分布、功率符合高斯分布的统计模型。

优选的，所述利用所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积对所述箔条干扰数据进行仿真调试包括：

将所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积载入FPGA中；

按照所述帧间隔实时读取所述箔条干扰数据，并将实时读取的箔条干扰数据乘上与所述实时读取的箔条干扰数据对应的所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积。

优选的，所述将所述基带箔条回波信号进行处理，并输出得到低中频基带箔条回波信号包括：

将所述基带箔条回波信号通过数字上变频处理后，经过数模转换输出得到低中频基带箔条回波信号。

优选的，所述采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据包括：

采用符合预设条件的统计模型将两个正交的高斯白噪声信号相加得到正交和信号；

将所述正交和信号通过具有高斯响应的非递归滤波器，得到箔条干扰数据。

一种箔条干扰回波模拟系统，包括：

数据生成单元，用于在箔条弹投放后，采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据；

计算单元，用于根据箔条的整个工作过程的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒和平均雷达散射截面积；

仿真调试单元，用于利用所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积对所述箔条干扰数据进行仿真调试，生成基带箔条干扰数据；

卷积单元，用于将所述基带箔条干扰数据与采集的雷达发射信号进行卷积，生成基带箔条回波信号；

处理单元，用于将所述基带箔条回波信号进行处理，并输出得到低中频基带箔条回波信号。

优选的，所述符合预设条件的统计模型为：幅度符合瑞利分布、相位符合均匀分布、功率符合高斯分布的统计模型。

优选的，所述仿真调试单元包括：载入单元、读取单元和乘法单元，其中，

所述载入单元，用于将所述计算单元得到的所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积载入FPGA中；

所述读取单元，用于按照所述帧间隔实时读取所述数据生成单元产生的所述箔条干扰数据；

所述乘法单元，用于将所述读取单元实时读取的箔条干扰数据乘上与所述实时读取的箔条干扰数据对应的所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积。

优选的，所述处理单元具体用于将所述基带箔条回波信号通过数字上变频处理后，经过数模转换输出得到低中频基带箔条回波信号。

优选的，所述数据生成单元包括：加法单元和滤波单元，其中，

所述加法单元，用于采用符合预设条件的统计模型将两个正交的高斯白噪声信号相加得到正交和信号；

所述滤波单元，用于将所述加法单元得到的正交和信号通过具有高斯响应的非递归滤波器，得到箔条干扰数据。

由以上技术方案可知，本申请提供了一种箔条干扰回波模拟方法及系统，该方法包括：在箔条弹投放后，采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据；根据箔条的整个工作过程的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒和平均雷达散射截面积；利用所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积对所述箔条干扰数据进行仿真调试，生成基带箔条干扰数据；将所述基带箔条干扰数据与采集的雷达发射信号进行卷积，生成基带箔条回波信号；将所述基带箔条回波信号进行处理，并输出得到低中频基带箔条回波信号。该方法可用于雷达抗干扰半实物仿真实验，以模拟代替试飞从而在降低雷达抗干扰指标测试成本的同时缩短了测试时间，大大降低了实际飞行带来的昂贵测试费用，通过根据箔条的相关参数产生低中频基带箔条回波信号，能够模拟箔条干扰从炸开到稳定的整个形成过程的特性，从而为雷达系统抗干扰测试提供激励，以便完成雷达抗干扰性能测试评估的要求。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例一提供的一种箔条干扰回波模拟方法的流程图；

图2为本申请实施例二提供的一种产生箔条干扰数据的方法流程图；

图3为本申请实施例二提供的一种对箔条干扰数据进行仿真调试的流程图；

图4为本申请实施例三提供的一种箔条干扰回波模拟系统的结构示意图；

图5为本申请实施例四提供的一种数据生成单元的结构示意图；

图6为本申请实施例四提供的一种仿真调试单元的结构示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

为克服现有技术中雷达信号仿真中的箔条回波模型只能模拟箔条在进入成熟阶段后的回波，无法充分体现箔条的干扰特性，从而导致无法反映更真实的箔条干扰性能，不能全面地衡量雷达的抗干扰性能的问题，本申请提供了一种箔条干扰回波模拟方法及系统，具体方案如下所述：

实施例一

本申请实施例一提供了一种箔条干扰回波模拟方法，如图1所示，图1为本申请实施例一提供的一种箔条干扰回波模拟方法的流程图。该方法包括：

S101：在箔条弹投放后，采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据；

具体的，符合预设条件的统计模型为：幅度符合瑞利分布、相位符合均匀分布、功率符合高斯分布的统计模型。即产生的箔条干扰数据也满足该特定的统计特性：幅度满足瑞利分布，相位满足均匀分布，功率满足高斯分布。

S102：根据箔条的整个工作过程的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒和平均RCS；

具体的，根据箔条的整个工作过程(炸开-留空-落地)的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒及平均RCS(Radar Cross Section，雷达散射截面积)。

S103：利用平均多普勒和平均RCS对箔条干扰数据进行仿真调试，生成基带箔条干扰数据；

利用平均多普勒与平均RCS对箔条干扰数据进行调试，以使箔条干扰数据的动态特性满足箔条的运动规律。

S104：将基带箔条干扰数据与采集的雷达发射信号进行卷积，生成基带箔条回波信号；

S105：将基带箔条回波信号进行处理，并输出得到的低中频基带箔条回波信号。

由以上技术方案可知，本申请实施例一提供的该可用于雷达抗干扰半实物仿真实验的箔条干扰回波模拟方法，以模拟代替试飞从而在降低雷达抗干扰指标测试成本的同时缩短了测试时间，大大降低了实际飞行带来的昂贵测试费用，通过根据箔条的相关参数(初始速度、模拟的最大RCS面积)产生低中频基带箔条回波信号，能够模拟箔条干扰从炸开到稳定的整个形成过程的特性，从而为雷达系统抗干扰测试提供激励，以便完成雷达抗干扰性能测试评估的要求，大大降低了实际飞行带来的昂贵测试费用。

实施例二

本申请实施例二提供了一种更具体的箔条干扰回波模拟方法，本方案是在回波模拟器的结构上完成动态变化的低中频基带箔条回波信号的产生。在箔条干扰回波模拟过程中，利用统计方法产生箔条干扰数据，在DRFM(DigitalRadio Frequency Memory，数字射频存储)板上将箔条干扰数据与ADC(Analogto Digtal Convert，模数转换器)采样的低中频雷达发射信号进行卷积，并对卷积后的基带箔条回波信号进行多普勒和幅度调制，模拟箔条干扰产生过程中相关参数变化，通过DAC(Digital to Analog Convert，数模转换器)进行数模转换后输出，实时产生动态变化的低中频基带箔条回波信号，具体实施方案如图1所示，包括：

S101：在箔条弹投放后，采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据；

具体的，在本申请中，符合预设条件的统计模型为：幅度符合瑞利分布、相位符合均匀分布、功率符合高斯分布的统计模型，即产生的箔条干扰数据也满足该特定的统计特性：幅度满足瑞利分布，相位满足均匀分布，功率满足高斯分布。

如图2所示，图2为本申请实施例二提供的一种产生箔条干扰数据的方法流程图，包括：

S1011：采用符合预设条件的统计模型将两个正交的高斯白噪声信号相加得到正交和信号；

S1012：将正交和信号通过具有高斯响应的非递归滤波器，得到箔条干扰数据。

本申请采用非递归滤波法产生相关高斯随机数，将高斯白噪声通过一个具有高斯响应的非递归滤波器，其输出信号的功率谱为高斯功率谱，并且输出信号的幅度仍满足高斯型的概率密度函数。而两个正交的高斯白噪声信号相加得到的和信号包络服从瑞利分布，高斯白噪声的线性组合仍是高斯白噪声。因此，将两路正交的高斯白噪声信号求和，然后通过高斯响应的非递归滤波器，输出功率谱为高斯功率谱，幅度满足瑞利型的概率密度函数的随机信号，这组随机信号即可看作是箔条数据序列，即箔条干扰数据。

S102：根据箔条的整个工作过程的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒和平均RCS；

具体的，根据箔条的整个工作过程(即炸开-留空-落地)的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒及平均RCS(Radar Cross Section，雷达散射截面积)。

由于箔条云中的各个箔条的速度不是一致的，而是在一定范围内遵守一定的分布规律，因此箔条云的多普勒现象不仅包含频移现象，还包括频谱展宽现象，也就是说箔条云回波的频率按一定分布覆盖了一个频段，而不与雷达发射信号的中频相同。

由于不同箔条的转角和转速的具体数值不同，所以单根箔条的运动是平动和转动的组合，但是单根箔条的转动不产生频谱展宽和频移，当许多箔条在一起形成箔条云时，箔条云的整体运动方式是在垂直下降的运动上附加一个风速，形成了箔条云的多普勒效应。

箔条弹从发射到散开的整个过程共经历两个阶段:扩散阶段和稳定阶段。在扩散阶段，箔条弹已经炸开，但还没有完全扩散，在这个阶段箔条云密度减小，雷达后向散射截面增大，箔条空间分布不均匀且时变；在稳定阶段，箔条完全散开，其有效反射截面积达到最大。指数分布是RCS概率分布的良好近似。在仿真中，箔条云在散开时间内任意时刻的平均RCS服从指数分布，可以采用随机函数生成。

考虑从炸开到稳定的过程，就是对箔条干扰的整个工作过程进行模拟，针对单个PRF(Pulse Repetition Frequency，脉冲重复频率)，箔条干扰数据应服从固有的统计特性，同时认为此时的RCS为常数，但是对于不同的PRF，RCS是按照一定规律变化的，针对不同的PRF要添加不同的RCS。另外，在稳定之前，箔条云的速度是急剧变化的，因此多普勒频率fd和带宽也是急剧变化的。

S103：利用平均多普勒和平均RCS对箔条干扰数据进行仿真调试，生成基带箔条干扰数据；

利用平均多普勒与平均RCS对箔条干扰数据进行调试，以使箔条干扰数据的动态特性满足箔条的运动规律。

如图3所示，图3为本申请实施例二提供的一种对箔条干扰数据进行仿真调试的流程图。该过程包括：

S1031：将平均多普勒和平均RCS载入FPGA中；

将根据箔条的整个工作过程(炸开-留空-落地)的运动规律、按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒及平均RCS直接下载到FPGA(Field-Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)中。

S1032：按照帧间隔实时读取箔条干扰数据，并将实时读取的箔条干扰数据乘上与实时读取的箔条干扰数据对应的平均多普勒和平均RCS。

S104：将基带箔条干扰数据与采集的雷达发射信号进行卷积，生成基带箔条回波信号；

S105：将基带箔条回波信号进行处理，并输出得到的低中频基带箔条回波信号。

具体的，将基带箔条回波信号通过数字上变频处理后，经过数模转换输出得到低中频基带箔条回波信号。

由以上技术方案可知，本申请实施例二提供的该可用于雷达抗干扰半实物仿真实验箔条干扰回波模拟方法，以模拟代替试飞从而在降低雷达抗干扰指标测试成本的同时缩短了测试时间，大大降低了实际飞行带来的昂贵测试费用，通过根据箔条的相关参数(初始速度、模拟的最大RCS面积)产生低中频基带箔条回波信号，能够模拟箔条干扰从炸开到稳定的整个形成过程的特性，从而为雷达系统抗干扰测试提供激励，以便完成雷达抗干扰性能测试评估的要求，大大降低了实际飞行带来的昂贵测试费用。此外，其能够根据用户的设置调整箔条干扰的相关参数，模拟多种类型的箔条干扰信号，对雷达的抗干扰性能进行全方位的测试，并可利用产生的回波数据验证雷达信号、处理算法的正确性，定位仿真中出现的异常，将节省大量的人力和时间，其适用范围广，可适用于系统开环、闭环试验要求。

实施例三

在实施例一的基础上，本申请实施例三提供了一种箔条干扰回波模拟系统，如图4所示，图4为本申请实施例三提供的一种箔条干扰回波模拟系统的结构示意图，包括：数据生成单元201、计算单元202、仿真调试单元203、卷积单元204和处理单元205，其中，数据生成单元201，用于在箔条弹投放后，采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据；

其中，符合预设条件的统计模型为：幅度符合瑞利分布、相位符合均匀分布、功率符合高斯分布的统计模型。

计算单元202，用于根据箔条的整个工作过程的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒和平均雷达散射截面积；

仿真调试单元203，用于利用平均多普勒和平均雷达散射截面积对箔条干扰数据进行仿真调试，生成基带箔条干扰数据；

卷积单元204，用于将基带箔条干扰数据与采集的雷达发射信号进行卷积，生成基带箔条回波信号；

处理单元205，用于将基带箔条回波信号进行处理，并输出得到的低中频基带箔条回波信号。

实施例四

本申请实施例四提供了一种更具体的箔条干扰回波模拟系统，主体如图4所示，包括：数据生成单元201、计算单元202、仿真调试单元203、卷积单元204和处理单元205，其中，

数据生成单元201，用于在箔条弹投放后，采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据；

其中，符合预设条件的统计模型为：幅度符合瑞利分布、相位符合均匀分布、功率符合高斯分布的统计模型。

如图5所示，图5为本申请实施例四提供的一种数据生成单元的结构示意图，包括：加法单元2011和滤波单元2012，其中，

加法单元2011，用于采用符合预设条件的统计模型将两个正交的高斯白噪声信号相加得到正交和信号；

滤波单元2012，用于将加法单元2011得到的正交和信号通过具有高斯响应的非递归滤波器，得到箔条干扰数据。

计算单元202，用于根据箔条的整个工作过程的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒和平均雷达散射截面积；

仿真调试单元203，用于利用平均多普勒和平均雷达散射截面积对箔条干扰数据进行仿真调试，生成基带箔条干扰数据；

如图6所示，图6为本申请实施例四提供的一种仿真调试单元的结构示意图，包括：载入单元2031、读取单元2032和乘法单元2033，其中，

载入单元2031，用于将计算单元202得到的平均多普勒和平均雷达散射截面积载入FPGA中；

读取单元2032，用于按照帧间隔实时读取数据生成单元201产生的箔条干扰数据；

乘法单元2033，用于将读取单元2032实时读取的箔条干扰数据乘上与实时读取的箔条干扰数据对应的平均多普勒和平均雷达散射截面积。

卷积单元204，用于将基带箔条干扰数据与采集的雷达发射信号进行卷积，生成基带箔条回波信号；

处理单元205，用于将基带箔条回波信号进行处理，输出得到低中频基带箔条回波信号。

处理单元具体用于将基带箔条回波信号通过数字上变频处理后，经过数模转换输出得到低中频基带箔条回波信号。

具体的，本实施例中与其他实施例相同或相似的地方可相互参考，在本申请中不再赘述。

由以上技术方案可知，本申请实施例四提供的该可用于雷达抗干扰半实物仿真实验的箔条干扰回波模拟系统，以模拟代替试飞从而在降低雷达抗干扰指标测试成本的同时缩短了测试时间，大大降低了实际飞行带来的昂贵测试费用，通过根据箔条的相关参数(初始速度、模拟的最大RCS面积)产生低中频基带箔条回波信号，能够模拟箔条干扰从炸开到稳定的整个形成过程的特性，从而为雷达系统抗干扰测试提供激励，以便完成雷达抗干扰性能测试评估的要求，大大降低了实际飞行带来的昂贵测试费用。此外，其能够根据用户的设置调整箔条干扰的相关参数，模拟多种类型的箔条干扰信号，对雷达的抗干扰性能进行全方位的测试，并可利用产生的回波数据验证雷达信号、处理算法的正确性，定位仿真中出现的异常，将节省大量的人力和时间，其适用范围广，可适用于系统开环、闭环试验要求。

最后，还需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。

对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本申请。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本申请的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本申请将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种箔条干扰回波模拟方法，其特征在于，包括：

在箔条弹投放后，采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据；

根据箔条的整个工作过程的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒和平均雷达散射截面积；

利用所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积对所述箔条干扰数据进行仿真调试，生成基带箔条干扰数据；

将所述基带箔条干扰数据与采集的雷达发射信号进行卷积，生成基带箔条回波信号；

将所述基带箔条回波信号进行处理，并输出得到低中频基带箔条回波信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述符合预设条件的统计模型为：幅度符合瑞利分布、相位符合均匀分布、功率符合高斯分布的统计模型。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积对所述箔条干扰数据进行仿真调试包括：

将所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积载入FPGA中；

按照所述帧间隔实时读取所述箔条干扰数据，并将实时读取的箔条干扰数据乘上与所述实时读取的箔条干扰数据对应的所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述基带箔条回波信号进行处理，并输出得到低中频基带箔条回波信号包括：

将所述基带箔条回波信号通过数字上变频处理后，经过数模转换输出得到低中频基带箔条回波信号。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据包括：

采用符合预设条件的统计模型将两个正交的高斯白噪声信号相加得到正交和信号；

将所述正交和信号通过具有高斯响应的非递归滤波器，得到箔条干扰数据。

6.一种箔条干扰回波模拟系统，其特征在于，包括：

数据生成单元，用于在箔条弹投放后，采用符合预设条件的统计模型产生箔条干扰数据；

计算单元，用于根据箔条的整个工作过程的运动规律，按照帧间隔计算出箔条回波的平均多普勒和平均雷达散射截面积；

仿真调试单元，用于利用所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积对所述箔条干扰数据进行仿真调试，生成基带箔条干扰数据；

卷积单元，用于将所述基带箔条干扰数据与采集的雷达发射信号进行卷积，生成基带箔条回波信号；

处理单元，用于将所述基带箔条回波信号进行处理，并输出得到低中频基带箔条回波信号。

7.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述符合预设条件的统计模型为：幅度符合瑞利分布、相位符合均匀分布、功率符合高斯分布的统计模型。

8.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述仿真调试单元包括：载入单元、读取单元和乘法单元，其中，

所述载入单元，用于将所述计算单元得到的所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积载入FPGA中；

所述读取单元，用于按照所述帧间隔实时读取所述数据生成单元产生的所述箔条干扰数据；

所述乘法单元，用于将所述读取单元实时读取的箔条干扰数据乘上与所述实时读取的箔条干扰数据对应的所述平均多普勒和所述平均雷达散射截面积。

9.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述处理单元具体用于将所述基带箔条回波信号通过数字上变频处理后，经过数模转换输出得到低中频基带箔条回波信号。

10.根据权利要求6所述的系统，其特征在于，所述数据生成单元包括：加法单元和滤波单元，其中，

所述加法单元，用于采用符合预设条件的统计模型将两个正交的高斯白噪声信号相加得到正交和信号；

所述滤波单元，用于将所述加法单元得到的正交和信号通过具有高斯响应的非递归滤波器，得到箔条干扰数据。