CN106019194A - 一种漏电检测电路的测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种可以自动测试漏电检测电路是否正常的漏电检测电路的测试方法,所述的漏电检测电路包括:漏电感应线圈及与之相配合的漏电保护专用芯片,所述的漏电感应线圈内置在漏电感应磁环内,该测试方法为:在漏电感应磁环上绕设模拟漏电线圈,测试时,给模拟漏电线圈加载脉冲电压、以产生感应磁场,如果漏电感应线圈产生了感应电压,进而,该感应电压触发所述的漏电保护专用芯片产生了漏电信号,则:所述的漏电检测电路正常;反之,所述的漏电检测电路异常。本发明所述的测试方法可广泛地应用在各种内置有漏电检测电路的漏电保护电路中。
Description
技术领域
本发明涉及到一种测试用于检测交流电源是否漏电的漏电检测电路是否能正常工作的方法。
背景技术
众所周知,在交流接入设备的交流输入线路上通常都设置有用于检测交流接入设备的线路上是否漏电的漏电检测电路。当漏电检测电路检测到交流接入设备的线路上漏电时,通常就会切断电源,以保证该交流接入设备始终处于安全用电状态,从而可有效地杜绝人员触电事故的发生。然而,由于目前的漏电检测电路都没有加装可以自动测试其是否能正常工作的测试电路,使得交流接入设备始终存在安急隐患。事实上,尽管专用的漏电保护开关中设置有人工测试电路,按下测试按钮,就可以测试其中的漏电保护电路是否正常,然而,在实际使用过程中,很少有人在每次交流接入设备开启前使用该测试电路。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是:提供一种可以自动测试漏电检测电路是否正常的漏电检测电路的测试方法。
为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案为:一种漏电检测电路的测试方法,所述的漏电检测电路包括:漏电感应线圈及与之相配合的漏电保护专用芯片,漏电感应线圈内置在漏电感应磁环内,所述的测试方法为:在漏电感应磁环上绕设模拟漏电线圈,测试时,给模拟漏电线圈加载脉冲电压、以产生感应磁场,如果漏电感应线圈产生了感应电压,进而,该感应电压触发所述的漏电保护专用芯片产生了漏电信号,则:所述的漏电检测电路正常;反之,所述的漏电检测电路异常。
作为一种优选方案,在所述的一种漏电检测电路的测试方法中,绕设在漏电感应磁环上的模拟漏电线圈的圈数在3圈以上。
作为一种优选方案,在所述的一种漏电检测电路的测试方法中,绕设在漏电感应磁环上的模拟漏电线圈的圈数在5至8圈之间。
本发明的有益效果是:本发明通过设置在漏电感应磁环上绕设模拟漏电线圈,在任何时候,当需要测试漏电检测电路时,只需要主动给模拟漏电线圈加载脉冲电压,然后,通过检测漏电保护专用芯片是否产生漏电信号就可以很方便地判断出相应的漏电检测电路是否正常,一旦异常,就可通知相应人员及时对线路进行检修,使得整个交流接入设备线路的安全性得到了有效的保障。
附图说明
图1是本发明所述的测试方法所采用的一种测试电路的电原理图。
具体实施方式
下面结合附图,详细描述本发明所述的一种漏电检测电路的测试方法的具体实施方案。
本发明所述的一种漏电检测电路的测试方法,如图1所示,所述的漏电检测电路包括:漏电感应线圈RL1及与之相配合的型号为ML54123的漏电保护专用芯片U1,所述的漏电感应线圈RL1内置在漏电感应磁环内(属于本领域的惯常技术,图中未示出),所述的测试方法为:在漏电感应磁环上绕设模拟漏电线圈L3,模拟漏电线圈L3的圈数通常在5至8圈之间,在测试时,给模拟漏电线圈L3加载脉冲电压,即:在R9的CTR端加载脉冲电压(通常为连续的方波,持续时间通常在1秒以上)以产生感应磁场,如果漏电感应线圈RL1产生了感应电压,进而该感应电压触发漏电保护专用芯片U1产生了漏电信号,即:其输出脚(7脚)变成高电平,此时,与输出脚(7脚)相连的外围电路的输出端OUT也变成高电平时,则:所述的漏电检测电路正常;反之,所述的漏电检测电路异常。测试之后,需要对漏电保护专用芯片U1进行复位,具体方法为:漏电保护专用芯片U1的8脚连接有复位外围电路,通过给该复位外围电路的输入端即电阻R18的相应端输入高电压,使得三极管Q4导通,漏电保护专用芯片U1的8脚变成高电平,漏电保护专用芯片U1复位。复位后,就可撤消加载在电阻R18的相应端IN的电压,所述的漏电检测电路进入正常工作模式。
综上所述,仅为本发明的较佳实施例而已,并非用来限定本发明实施的范围,凡依本发明权利要求范围所述的形状、构造、特征及精神所作的均等变化与修饰,均应包括在本发明的权利要求范围内。
Claims (3)
1.一种漏电检测电路的测试方法,所述的漏电检测电路包括:漏电感应线圈及与之相配合的漏电保护专用芯片,所述的漏电感应线圈内置在漏电感应磁环内,该测试方法为:在漏电感应磁环上绕设模拟漏电线圈,测试时,给模拟漏电线圈加载脉冲电压、以产生感应磁场,如果漏电感应线圈产生了感应电压,进而,该感应电压触发所述的漏电保护专用芯片产生了漏电信号,则:所述的漏电检测电路正常;反之,所述的漏电检测电路异常。
2.如权利要求1所述的一种漏电检测电路的测试方法,其特征在于:绕设在漏电感应磁环上的模拟漏电线圈的圈数在3圈以上。
3.如权利要求2所述的一种漏电检测电路的测试方法,其特征在于:绕设在漏电感应磁环上的模拟漏电线圈的圈数在5至8圈之间。
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