CN105953914A - 一种照度检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种照度检测方法，包括如下步骤：首先，采集所要检测的光；继而，将采集到的光传导至斜面分光装置；接着，利用斜面分光装置将传导进来的光在斜面上按一定比例反射出去一部分并被吸收掉，剩余部分折射到照度检测点；然后，在照度检测点进行检测，以检测出折射光的强度；最后，将检测到的折射光强度进行换算，得到所要检测的光的强度。本发明可以测量所有太阳光的强度，光衰减一致性好，且相应检测装置结构简单，成本低。
Description
技术领域
本发明涉及照度检测领域，具体地涉及一种照度检测方法。
背景技术
市面上的大多数照度传感器，其测量范围有限（如1-65535lx），而地面上晴天照度会超出测量范围（如最高可达到107780lx以上），为了能够测量晴朗的日照，必须将照度传感器的测量区间提高；为了将传感器的测量区间提高，可以将太阳光进行固定比例的衰减后（比如50%），再通过照度传感器进行照度采集，这样照度传感器的测量范围提高2倍（即测量范围为2-131070lx），由于实际自然环境中，当光照低于2lx，肉眼会感觉非常暗我们可以处理成0，即等效于测量范围为0-131070lx，这样通过照度传感器就能够测量所有太阳光的照度。将太阳光进行固定比例的衰减，很多厂家采用半透明材料，但很多半透明材料的生产工艺，都是通过在透明材料里加“扩光粉”来实现的，由此生产出的光衰减器件，其衰减率一致性非常差，使用前还需对其进行测试分选，降低了生产效率，加大了生产成本。
发明内容
本发明的目的在于为解决上述问题而提供一种能够检测所有太阳光强度，光衰减一致性好，且成本低的照度检测方法。
为此，本发明公开了一种照度检测方法，包括如下步骤：
S1：采集所要检测的光；
S2：将采集到的光传导至斜面分光装置；
S3：利用斜面分光装置将传导进来的光在斜面上按一定比例反射出去一部分并被吸收掉，剩余部分折射到照度检测点；
S4：在照度检测点进行检测，以检测出折射光的强度；
S5：将检测到的折射光强度进行换算，得到所要检测的光的强度。
进一步的，所述步骤S1中，通过一采光装置来采集所要检测的光。
进一步的，所述采光装置为半球形采光镜，以便最大限度接受检测光。
进一步的，所述步骤S2中，通过导光柱将采集到的光传导至斜面分光装置。
进一步的，所述斜面分光装置与导光柱为一体成型件，导光柱底部为斜面。
进一步的，所述步骤S3中，经过斜面分光装置分光后的折射光，再经过整光装置整光后，垂直传导至照度检测点，所述整光装置顶部斜面与斜面分光装置相互平行并构成一气隙，通过调整气隙的角度可以控制检测光的衰减率的不同。
进一步的，所述气隙的数量为1个或多个。
本发明的有益技术效果：
本发明通过调整斜面分光装置的斜面角度，可以精确控制太阳光的衰减率，实现测量所有太阳光的强度，且衰减率一致性好，从而在设备制造过程中，不需要再对每个光衰减器进行测试分选，大大减少制造工序，降低设备成本。
附图说明
图1为本发明实施例一较优实施装置的结构分解示意图；
图2为本发明实施例二较优实施装置的剖面示意图；
图3为本发明其它实施例较优实施装置的剖面示意图。
具体实施方式
现结合附图和具体实施方式对本发明一步说明。
实施例一：
本发明揭示一种照度检测方法，包括如下步骤：
S1：通过采光装置（本实施例中优选为半球形采光镜，以便最大限度接受检测光）采集所要检测的光（本实施例为太阳光）。
S2：利用导光柱将采集到的太阳光传导至斜面分光装置（本实施例中，斜面分光装置与导光柱为一体成型件，即导光柱底部为斜面）。
S3：利用导光柱底部斜面（斜面分光装置）将传导进来的太阳光在斜面上按一定比例反射出去一部分并被吸收掉，剩余的部分直接折射到照度传感器（照度检测点）。通过改变导光柱底部斜面的角度，可以精确控制太阳光的不同衰减率。
S4：利用照度传感器检测折射光的强度；
S5：将检测到的折射光的强度进行换算（即除以对应的比例系数），得到所要检测的太阳光强度。
基于上述照度检测方法，图1所示为实现本实施例的一种较佳照度检测设备，包括半球形采光镜1、底部为斜面的导光柱11、壳体3（本实施例中，壳体3内壁优选为黑色吸光面，以更好吸收反射光）、照度传感器4和电路板5。工作过程：太阳光通过采光镜1采集后，通过导光柱11导向导光柱11的底面斜面，在底部斜面上反射出去一部分并被通孔31的黑色吸光面吸收掉，剩余的一部分直接折射到照度传感器4，照度传感器4将检测到的折射光强度的传感信号通过电路板5的引线传输到对应的设备上进行换算，除以对应的比例系数，得到所要检测的太阳光强度并进行显示。
实施例二：
本发明揭示一种照度检测方法，包括如下步骤：
S1：通过采光装置（本实施例中优选为半球形采光镜，以便最大限度接受检测光）采集所要检测的光（本实施例为太阳光）。
S2：利用导光柱将采集到的太阳光传导至斜面分光装置（本实施例中，斜面分光装置与导光柱为一体成型件，即导光柱底部为斜面）。
S3：利用导光柱底部斜面（斜面分光装置）将传导进来的太阳光在斜面上按一定比例反射出去一部分并被吸收掉，剩余的部分折射到整光装置（本实施例中为整光镜，底部为平面）的顶部斜面，经过整光镜整光后垂直传导到照度传感器（照度检测点），整光镜顶部斜面与导光柱底部斜面相互平行并构成一气隙，通过改变气隙的角度，可以精确控制太阳光的不同衰减率。
气隙的数量不限于1个，在其它实施例中可以为2个或2个以上，当气隙数量为2个时，如图3所示，整光镜2（第一整光镜）顶部斜面与导光柱11底部斜面相互平行并构成第一气隙，整光镜2底部为斜面且与整光镜6（第二整光镜）顶部斜面相互平行并构成第二气隙，整光镜6的底部为平面，采集光经过导光柱11传导至导光柱底部斜面，一部分反射出去并被吸收掉，剩余部分通过第一气隙折射至整光镜2的顶部斜面，经过整光镜2整光后垂直传导至整光镜2的底部斜面，一部分反射出去并被吸收掉，剩余部分再通过第二气隙折射至整光镜6的顶部斜面，经过整光镜6整光后垂直传播至照度传感器。气隙数量为2个以上时，以此类推。
S4：利用照度传感器检测折射光的强度；
S5：将检测到的折射光的强度进行换算（即除以对应的比例系数），得到所要检测的太阳光强度。
基于上述照度检测方法，图2所示为实现本实施例的一种较佳照度检测设备，本设备除了包含实施例一的设备的所有部件结构外，在导光柱11与传感器4之间还设有整光镜2（整光装置），导光柱11的底面斜面与整光镜2的顶部斜面相互平行，并构成一个气隙。工作过程：太阳光通过采光镜1采集后，通过导光柱11导向导光柱11的底面斜面，在底部斜面上反射出去一部分并被通孔31的黑色吸光面吸收掉，剩余的部分经过气隙折射到整光镜2的顶部斜面上，通过整光镜2的顶部斜面再次折射后恢复原来的垂直向下传播到照度传感器4，照度传感器4将检测到的折射光强度的传感信号通过电路板5的引线传输到对应的设备上进行换算，除以对应的比例系数，得到所要检测的太阳光强度并进行显示。
尽管结合优选实施方案具体展示和介绍了本发明，但所属领域的技术人员应该明白，在不脱离所附权利要求书所限定的本发明的精神和范围内，在形式上和细节上可以对本发明做出各种变化，均为本发明的保护范围。
Claims (8)
1.一种照度检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
S1：采集所要检测的光；
S2：将采集到的光传导至斜面分光装置；
S3：利用斜面分光装置将传导进来的光在斜面上按一定比例反射出去一部分并被吸收掉，剩余部分折射到照度检测点；
S4：在照度检测点进行检测，以检测出折射光的强度；
S5：将检测到的折射光强度进行换算，得到所要检测的光的强度。
2.根据权利要求1所述的照度检测方法，其特征在于：所述步骤S1中，通过一采光装置来采集所要检测的光。
3.根据权利要求2所述的照度检测方法，其特征在于：所述采光装置为半球形采光镜，以便最大限度接受检测光。
4.根据权利要求1所述的照度检测方法，其特征在于：所述步骤S2中，通过导光柱将采集到的光传导至斜面分光装置。
5.根据权利要求4所述的照度检测方法，其特征在于：所述斜面分光装置与导光柱为一体成型件，导光柱底部为斜面。
6.根据权利要求1所述的照度检测方法，其特征在于：所述步骤S3中，通过改变斜面分光装置的斜面角度来改变反射光的比例，从而控制检测光的衰减率的不同。
7.根据权利要求1所述的照度检测方法，其特征在于：所述步骤S3中，经过斜面分光装置分光后的折射光，再经过整光装置整光后，垂直传导至照度检测点，所述整光装置顶部斜面与斜面分光装置相互平行并构成一气隙，通过调整气隙的角度可以控制检测光的衰减率的不同。
8.根据权利要求7所述的照度检测方法，其特征在于：所述气隙的数量为1个或多个。
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