CN105933491A - 测试方法、测试装置、测试天线及测试系统 - Google Patents

Abstract

本公开是关于测试方法、测试装置、测试天线及测试系统。该方法包括：当终端与测试天线相联通时，向所述终端发送测试信号；接收所述终端针对所述测试信号发送的反馈信息；根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度；根据所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。该技术方案，通过向终端发送测试信号，可以接收终端针对测试信号发送的反馈信息，进而根据反馈信息获取N个枝节分别对应的接收灵敏度能够准确地确定出终端的干扰源位置。

Description

测试方法、测试装置、测试天线及测试系统

技术领域

本公开涉及终端技术领域，尤其涉及测试方法、测试装置、测试天线及测试系统。

背景技术

目前，为了检测手机等终端的性能，常常需要检测终端的接收灵敏度(其中，接收灵敏度就是接收机能够正确地把有用信号拿出来的最小信号接收功率)，而接收灵敏度是一个比较容易受干扰的参数，因而，如何准确地检测该终端的接收灵敏度就变得非常困难。

发明内容

本公开实施例提供了测试方法、测试装置、测试天线及测试系统。所述技术方案如下：

根据本公开实施例的第一方面，提供一种测试方法，包括：

步骤S11，当终端与测试天线相联通时，向所述终端发送测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

步骤S12，接收所述终端针对所述测试信号发送的反馈信息，其中，所述终端在通过所述测试天线接收所述测试信号之后，生成所述反馈信息；

步骤S13，根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度；

步骤S14，根据所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

在一个实施例中，上述步骤S12可被执行为：

当所述终端与所述测试天线的一枝节相联通时，接收所述终端发送的所述一枝节对应的反馈信息；

上述步骤S13可被执行为：

当所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述方法还包括：

在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

将所述通断指令发送至所述终端，以使所述终端根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行步骤S11至步骤S13，直至获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，上述步骤S14可被执行为：

确定所述N个子区域中的接收灵敏度最差的区域；

将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，再次执行步骤S11-步骤S14，直到确定所述干扰源位置。

在一个实施例中，所述将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，再次执行步骤S11-步骤S14，直到确定干扰源位置，包括：

当所述待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目时，停止执行步骤S11-步骤S14；

确定所述硬件的所在位置为所述干扰源位置。

根据本公开实施例的第二方面，提供另一种测试方法，包括：

步骤S21，在与测试天线相联通时，通过所述测试天线接收测试端发送测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

步骤S22，生成针对所述测试信号的反馈信息；

步骤S23，向所述测试端发送所述反馈信息，以使所述测试端根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据所述述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

在一个实施例中，所述步骤S21可被执行为：

当与所述测试天线的一枝节相联通时，通过所述一枝节接收所述测试信号；

所述步骤S23可被执行为：

向所述测试端发送所述一枝节对应的反馈信息，其中，所述测试端在所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述终端通过单刀N掷开关与所述测试天线相连，所述单刀N掷开关的N个输入端分别与所述N个枝节相连，所述单刀N掷开关的输出端与所述终端的射频测试口相连；

所述步骤S21还可以被执行为：

当所述N个输入端中的一个输入端的连接支路与所述N个枝节中的与所述一个输入端相连的枝节相联通时，通过所述射频测试口获取所述测试天线接收到的所述测试信号。

在一个实施例中，所述方法还包括：

接收所述测试端发送的通断指令，其中，所述测试端在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成所述通断指令；

根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行步骤S21至步骤S23，以使所述测试端获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述单刀N掷开关还包括：一个预留的GPIO口，所述GPIO口与所述终端的主板相连接，

所述接收所述测试端发送的通断指令，包括：

通过所述主板接收所述通断指令；

所述根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，包括：

通过所述主板将所述通断指令发送至所述GPIO口，其中，所述通断指令用于控制所述单刀N掷开关中的与所述通断指令相应的目标输入端的目标连接支路导通，使得所述目标输入端和与所述目标输入端相连的所述其他枝节之间的通路处于闭合状态，从而使得所述其他枝节与所述终端相联通。

根据本公开实施例的第三方面，提供一种测试装置，包括：

第一发送模块，用于当终端与测试天线相联通时，向所述终端发送测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

接收模块，用于接收所述终端针对所述测试信号发送的反馈信息，其中，所述终端在通过所述测试天线接收所述测试信号之后，生成所述反馈信息；

获取模块，用于根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度；

确定模块，用于根据所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

在一个实施例中，所述接收模块包括：

接收子模块，用于当所述终端与所述测试天线的一枝节相联通时，接收所述终端发送的所述一枝节对应的反馈信息；

所述获取模块包括：

获取子模块，用于当所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述装置还包括：

生成模块，用于在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

第二发送模块，用于将所述通断指令发送至所述终端，以使所述终端根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行所述第一发送模块、所述接收模块和所述获取模块中的步骤，直至获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述确定模块包括：

确定子模块，用于确定所述N个子区域中的接收灵敏度最差的区域；

执行子模块，用于将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，再次执行所述第一发送模块、所述接收模块、所述获取模块和所述确定模块中的步骤，直到确定所述干扰源位置。

在一个实施例中，所述执行子模块包括：

处理单元，用于当所述待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目时，停止执行所述第一发送模块、所述接收模块、所述获取模块和所述确定模块中的步骤；

确定单元，用于确定所述硬件的所在位置为所述干扰源位置。

根据本公开实施例的第四方面，提供另一种测试装置，包括：

第一接收模块，用于在与测试天线相联通时，通过所述测试天线接收测试端发送的测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

生成模块，用于生成针对所述测试信号的反馈信息；

发送模块，用于向所述测试端发送所述反馈信息，以使所述测试端根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据所述述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

在一个实施例中，所述第一接收模块包括：

第一接收子模块，用于当与所述测试天线的一枝节相联通时，通过所述一枝节接收所述测试信号；

所述发送模块包括：

第一发送子模块，用于向所述测试端发送所述一枝节对应的反馈信息，其中，所述测试端在所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述终端通过单刀N掷开关与所述测试天线相连，所述单刀N掷开关的N个输入端分别与所述N个枝节相连，所述单刀N掷开关的输出端与所述终端的射频测试口相连；

所述第一接收子模块还用于：

当所述N个输入端中的一个输入端的连接支路与所述N个枝节中的与所述一个输入端相连的枝节相联通时，通过所述射频测试口获取所述测试天线接收到的所述测试信号。

在一个实施例中，所述装置还包括：

第二接收模块，用于接收所述测试端发送的通断指令，其中，所述测试端在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成所述通断指令；

控制模块，用于根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行步骤S21至步骤S23，以使所述测试端获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述单刀N掷开关还包括：一个预留的GPIO口，所述GPIO口与所述终端的主板相连接，

所述接收模块包括：

第二接收子模块，用于通过所述主板接收所述通断指令；

所述控制模块包括：

第二发送子模块，用于通过所述主板将所述通断指令发送至所述GPIO口，其中，所述通断指令用于控制所述单刀N掷开关中的与所述通断指令相应的目标输入端的目标连接支路导通，使得所述目标输入端和与所述目标输入端相连的所述其他枝节之间的通路处于闭合状态，从而使得所述其他枝节与所述终端相联通。

根据本公开实施例的第五方面，提供一种测试天线，包括：

所述测试天线为具有N个枝节的单极子天线，所述N个枝节通过单刀N掷开关与终端相连，其中，N为大于等于2的正整数。

在一个实施例中，所述单极子天线具有四个枝节，所述四个枝节正交排列。

在一个实施例中，所述单刀N掷开关的N个输入端分别与所述N个枝节相连，所述单刀N掷开关的输出端与所述终端的射频测试口相连，

所述单极子天线用于：

当所述N个枝节中的一个枝节与所述一个枝节相连的输入端的连接支路相联通时，通过所述一枝节接收测试端发送至所述终端的测试信号，并将所述测试信号通过所述连接支路发送至所述射频测试口，以使所述终端接收所述测试信号。

根据本公开实施例的第六方面，提供一种测试系统，包括：

测试端，用于当终端与测试天线相联通时，向所述终端发送的测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

测试天线，与所述终端相连接，用于接收所述测试信号；

所述终端，用于在与所述测试天线相联通时，获取所述测试天线接收到的所述测试信号，生成针对所述测试信号的反馈信息，并向所述测试端发送所述反馈信息；

所述测试端，还用于接收所述反馈信息，并根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，进而根据所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

在一个实施例中，所述终端还用于：

当与所述测试天线的一枝节相联通时，通过所述一枝节接收所述测试信号，并向所述测试端发送所述一枝节对应的反馈信息；

所述测试端还用于：

接收所述终端发送的所述一枝节对应的反馈信息；

当所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述系统还包括：

单刀N掷开关，所述单刀N掷开关包括N个输入端和一个输出端，其中，所述N个输入端分别与所述N个枝节相连，所述输出端与所述终端的射频测试口相连；

所述终端还用于：

当所述N个输入端中的一个输入端的连接支路与所述N个枝节中的与所述一个输入端相连的枝节相联通时，通过所述射频测试口获取所述测试天线接收到的所述测试信号。

在一个实施例中，所述测试端还用于：

在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

将所述通断指令发送至所述终端；

所述终端还用于：

接收所述测试端发送的通断指令；

根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，以使所述测试端获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述单刀N掷开关还包括：一个预留的GPIO口，所述GPIO口与所述终端的主板相连接，

所述终端还用于：

通过所述主板接收所述通断指令；

所述终端还用于：

通过所述主板将所述通断指令发送至所述GPIO口，其中，所述通断指令用于控制所述单刀N掷开关中的与所述通断指令相应的目标输入端的目标连接支路导通，使得所述目标输入端和与所述目标输入端相连的所述其他枝节之间的通路处于闭合状态，以控制所述其他枝节与所述终端相连通。

在一个实施例中，所述测试端还用于：

确定所述N个子区域中的接收灵敏度最差的区域；

将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，并再次获取所述接收灵敏度最差的区域对应的N子区域中的接收灵敏度最差的区域，直到确定所述干扰源位置。

在一个实施例中，当所述待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目时，确定所述硬件的所在位置为所述干扰源位置。

根据本公开实施例的第七方面，提供了又一种测试装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

当终端与测试天线相联通时，向所述终端发送的测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

接收所述终端针对所述测试信号发送的反馈信息，其中，所述终端在通过所述测试天线接收所述测试信号之后，生成所述反馈信息；

根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度；

根据所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

根据本公开实施例的第八方面，提供了再一种测试装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

在与测试天线相联通时，通过所述测试天线接收测试端发送的测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

生成针对所述测试信号的反馈信息；

向所述测试端发送所述反馈信息，以使所述测试端根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据所述述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本公开的实施例提供的技术方案，通过向终端发送测试信号，可以接收终端针对测试信号发送的反馈信息，进而根据反馈信息获取N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据该N个枝节分别对应的接收灵敏度，准确地确定出终端的干扰源位置，而在确定出干扰源位置之后，测试端可以进一步根据该干扰源位置准确地获取到该终端中影响终端的接收灵敏度的具体干扰源，并在检测到具体干扰源之后，通过剔除该干扰源对检测到的接收灵敏度的影响，即可得到该终端的准确的接收灵敏度。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

图1是根据一示例性实施例示出的一种测试方法的流程图。

图2是根据一示例性实施例示出的另一种测试方法的流程图。

图3是根据一示例性实施例一示出的又一种测试方法的流程图。

图4是根据一示例性实施例示出的一种测试装置的框图。

图5是根据一示例性实施例示出的另一种测试装置的框图。

图6是根据一示例性实施例示出的又一种测试装置的框图。

图7是根据一示例性实施例示出的再一种测试装置的框图。

图8是根据一示例性实施例示出的再一种测试装置的框图。

图9是根据一示例性实施例示出的再一种测试装置的框图。

图10是根据一示例性实施例示出的再一种测试装置的框图。

图11是根据一示例性实施例示出的再一种测试装置的框图。

图12A是根据一示例性实施例示出的一种测试天线在终端上的位置结构示意图。

图12B是根据一示例性实施例示出的另一种测试在终端上的位置结构示意图。

图13是根据一示例性实施例示出的一种测试系统的框图。

图14是根据一示例性实施例示出的另一种测试系统的框图。

图15是根据一示例性实施例示出的适用于测试装置的框图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本公开相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本公开的一些方面相一致的装置和方法的例子。

目前，为了检测手机等终端的性能，常常需要检测终端的接收灵敏度，而接收灵敏度是一个比较容易受干扰的参数，例如：终端的屏幕液晶显示器的关闭/打开有可能影响接收灵敏度，DDR(Double Data Rate，双倍速率同步动态随机存储器)时钟的倍频可能造成接收灵敏度下降，尤其是在数据传输的情况下可能会造成频偏，进一步影响接收灵敏度，甚至CPU(CentralProcessing Unit，中央处理器)工作频率也有可能会影响接收灵敏度等，因而，如何准确地检测该终端的接收灵敏度就变得非常困难，而要准确地检测该终端的接收灵敏度就需要检测到影响终端的接收灵敏度的干扰源，但相关技术中，并没有准确地检测出影响终端的接收灵敏度的干扰源的技术方案。

为了解决上述技术问题，本公开实施例提供了一种测试方法，该方法可用于用户位置变化的确定程序、系统或装置中，且该方法对应的执行主体可以是测试端，如图1所示，该方法包括步骤S11至步骤S14：

步骤S11，当终端与测试天线相联通时，向终端发送测试信号，其中，测试天线具有N个枝节，N个枝节分别对应终端的待检测区域的N个子区域放置。

为了测试终端的接收灵敏度的干扰源，需要测试每个枝节对应的该终端的接收灵敏度，因而，该测试信号的辐射功率是不断变化的；

而该测试端相当于一个屏幕盒，该终端可以位于该测试端内部，从而使得测试端能够屏蔽外界环境对该终端的接收灵敏度的影响，同时测试端还可以向终端发送用于测试终端的接收灵敏度的辐射功率不断变化的测试信号；

或者

测试端仅用于向终端发送用于测试终端的接收灵敏度的辐射功率不断变化的测试信号，而与此同时，终端位于一个能够屏蔽外界环境对该终端的接收灵敏度的影响的屏蔽盒内。

另外，为了准确地检测出每个枝节对应的接收灵敏度，该测试天线放置在该终端的背面，且位于该待检测区域的中心位置。

最后，在执行步骤S11之前，终端在与测试天线相联通之后，会向测试端发送一提示信息，以提示测试端，终端已于测试天线相联通，可以发送用于测试终端的接收灵敏度的测试信号了。

步骤S12，接收终端针对测试信号发送的反馈信息，其中，终端在通过测试天线接收测试信号之后，生成反馈信息。

其中，该反馈信息包括：终端的射频测试口是否接收到该测试信号，以及若接收到该测试信号，则该测试信号的误码率等。

步骤S13，根据反馈信息获取N个枝节分别对应的接收灵敏度。

测试端在接收到该反馈信息之后，若解析到该反馈信息为未接收到该测试信号、或者接收到该测试信号但误码率高于预设比例，则可以确定之前发送的测试信号的辐射功率已经接近该终端的临界接收功率，因而，能够根据该反馈信息获取该N个枝节分别对应的接收灵敏度。

另外，由于每个枝节又是一个独立的小天线，因而，每个枝节对应的接收灵敏度就是通过该枝节测试终端时，获得的该终端当前的接收灵敏度。

步骤S14，根据N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定终端的干扰源位置。

在没有干扰源干扰的情况下，这N个子区域的环境因素基本是相同的，因而，N个枝节中每个枝节对应的该终端的接收灵敏度应该是相近的，这就使得测试端能够根据该N个枝节分别对应的接收灵敏度，可以准确地确定出终端的干扰源位置，而在确定出干扰源位置之后，测试端可以进一步根据该干扰源位置准确地获取到该终端中影响终端的接收灵敏度的具体干扰源，并在检测到具体干扰源之后，通过剔除该干扰源对检测到的接收灵敏度的影响，即可得到该终端的准确的接收灵敏度。

在一个实施例中，上述图1中的步骤S12可被执行为：

当终端与测试天线的一枝节相联通时，接收终端发送的一枝节对应的反馈信息；

终端在同一时间仅与该测试天线的一枝节相联通，而与其他枝节都是断开的，以便于测试端每次接收终端发送的反馈信息仅是该一枝节对应的反馈信息，并通过该一枝节测试在该一枝节对应的子区域内的硬件的影响下，终端的接收灵敏度(也即该一枝节的接收灵敏度)；

另外，该一枝节可以是N个枝节中的任一枝节p，具体是哪个枝节可以根据程序自由设定。

上述图1中的步骤S13可被执行为：

当反馈信息为未接收到测试信号或者为测试信号的误码率高于预设误码率时，根据测试信号的辐射功率，获取一枝节对应的接收灵敏度。

当反馈信息为未接收到测试信号或者为测试信号的误码率高于预设误码率时，测试端可以确定之前发送的测试信号的辐射功率已经接近在该一枝节对应的子区域内的硬件的影响下，终端的接收灵敏度，因而，可以根据测试信号的辐射功率，准确地获取一枝节对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，上述方法还可包括：

在获取到一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

将通断指令发送至终端，以使终端根据通断指令，控制N个枝节中的其他枝节与终端相连通，并重复执行步骤S11至步骤S13，直至获取到N个枝节分别对应的接收灵敏度。

在获取到该一枝节对应的接收灵敏度时，可以准备测试在下一个子区域内的硬件的影响下，终端的接收灵敏度，因而可以生成该通断指令，并将通断指令发送至终端，以使终端根据通断指令，控制N个枝节中的其他枝节与终端相连通，从而实现在当前的待检测区域下，终端可以通过依次与不同的枝节相连通，来获取N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据该N个枝节对应的接收灵敏度，准确地确定出该终端的干扰源位置；

另外，其他枝节是这N个枝节中的除了之前已与该一枝节p接通的枝节之外的任一枝节q，且其他枝节与终端的接通顺序可以自由设定，其中，p和q是小于或等于N的正整数。

在一个实施例中，上述图1中的步骤S14可被执行为：

确定N个子区域中的接收灵敏度最差的区域。

接收灵敏度最差的区域就是接收灵敏度最高的区域，另外，初次检测N个枝节分别对应的接收灵敏度时，该待检测区域为该终端的整个背面(如图12A所示，该待检测区域为区域1至区域4)

将确定的接收灵敏度最差的区域作为待检测区域，再次执行步骤S11-步骤S14，直到确定干扰源位置。

在没有干扰源干扰的情况下，这N个子区域的环境因素基本是相同的，因而，N个枝节中每个枝节对应的该终端的接收灵敏度应该是相近的，且接收灵敏度最差的区域很可能就是该干扰源的所在区域，所以可以将该接收灵敏度最差的区域作为下一个待检测区域，以再次执行步骤S11-步骤S14，从而不断缩下待检测区域，直至获取到该干扰源位置，如图12A和图12B所示，在初次测试干扰源位置时，待检测区域就是区域1至区域4，此时，测试天线的位置应该放置在终端的中心位置处(即A点，也是图12A中通孔的中心处)，而在经过一个检测周期后，若发现区域1为接收灵敏度最差的区域，则将该接收灵敏度最差的区域1作为下一个待检测区域，此时，测试天线的位置应该放置在区域1的中心位置处(即B点，也是图12B中通孔的中心处)，以确保检测结果的准确性，依次类推，直到获得干扰源位置。

在一个实施例中，上述步骤“将确定的接收灵敏度最差的区域作为待检测区域，再次执行步骤S11-步骤S14，直到确定干扰源位置”可被执行为：

当待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目时，停止执行步骤S11-步骤S14；

确定硬件的所在位置为干扰源位置。

由于终端上的每个子区域上的影响接收灵敏度的因素是固定的，因而，在该待检测区域不断缩小的过程中，如果该待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目(如1个或者2个)，则无需再执行步骤S11-步骤S14了，因为该待检测区域中的硬件已经确定下来了，而这些硬件就是影响终端接收灵敏度的干扰源，因而，可以确定该硬件所在的位置为该干扰源位置，从而实现了准确地确定出干扰源位置和终端中的干扰源，进一步地测试端可以根据预先统计出的该硬件对终端的接收灵敏度的预设影响和该接收灵敏度最差的区域所在的最小的待检测区域中的其他子区域对应的枝节所对应的接收灵敏度，就可以准确地确定出该终端的接收灵敏度。

如图2所示，本公开实施例提供了另一种测试方法，用于终端，包括：

步骤S21，在与测试天线相联通时，通过测试天线接收测试端发送测试信号，其中，测试天线具有N个枝节，N个枝节分别对应终端的待检测区域的N个子区域放置。

测试端为了测试终端的接收灵敏度的干扰源，需要向终端发送辐射功率不断变化的测试信号，因而，不同时刻接收到的测试信号可能是不同的。

步骤S22，生成针对测试信号的反馈信息。

其中，该反馈信息包括：终端的射频测试口是否接收到该测试信号，以及若接收到该测试信号，则该测试信号的误码率等。

步骤S23，向测试端发送反馈信息，以使测试端根据反馈信息获取N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定终端的干扰源位置。

通过向测试端发送反馈信息，可以使测试端根据解析到该反馈信息是否为未接收到该测试信号、或者为接收到该测试信号但误码率高于预设比例，自动地获取到该N个枝节分别对应的接收灵敏度，进而准确地确定出终端的干扰源位置。

在一个实施例中，上述图2中的步骤S21可被执行为：

当与测试天线的一枝节相联通时，通过一枝节接收测试信号；

终端在同一时间仅与该测试天线的一枝节相联通，而与其他枝节都是断开的，使得测试端每次接收到的反馈信息均是一枝节对应的反馈信息，并使测试端能够通过该一枝节测试在该一枝节对应的子区域内的硬件的影响下，终端的接收灵敏度(也即该一枝节的接收灵敏度)。

上述图2中的步骤S23可被执行为：

向测试端发送一枝节对应的反馈信息，其中，测试端在反馈信息为未接收到测试信号或者为测试信号的误码率高于预设误码率时，根据测试信号的辐射功率，获取一枝节对应的接收灵敏度。

通过向测试端发送该一枝节对应的反馈信息，使得测试端能够在反馈信息为未接收到测试信号或者为测试信号的误码率高于预设误码率时，根据测试信号的辐射功率，准确地获取一枝节对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，终端通过单刀N掷开关与测试天线相连，单刀N掷开关的N个输入端分别与N个枝节相连，单刀N掷开关的输出端与终端的射频测试口相连；

单刀N掷开关内部有N个连接支路，其中，每个输入端都连接一个连接支路，且单刀N掷开关的通断方式为：

该单刀N掷开关内的N个连接支路依次与其相连接的枝节相连通，且同一时刻，该单刀N掷开关中仅有一个连接支路导通，以与其相连接的枝节相连通，而该单刀N掷开关中的其他连接支路均断开，无法与其相连接的枝节相连通。

上述图2中的步骤S21还可以被执行为：

当N个输入端中的一个输入端的连接支路与N个枝节中的与一个输入端相连的枝节相联通时，通过射频测试口获取测试天线接收到的测试信号。

当N个输入端中的一个输入端的连接支路导通、以与该N个枝节中的与该一个输入端相连的枝节相联通时，该枝节会接收测试端发送的测试信号，并通过已导通的该输入端的连接支路将该测试信号发送至终端，使得终端通过该射频测试口获取该测试天线接收到的测试信号，这为终端对该射频测试口接收到的该测试信号进行解码奠定了基础，使得该终端能够生成正确的反馈信息。

另外，需要说明的是：

而该射频测试口通常与终端中自带的天线相连接，而在测试接收灵敏度的过程中与其自带的天线断开了，以通过该单刀N掷开关与外置的测试天线相连接，这样便于准确地测试到每个枝节所对应的接收灵敏度。

如图3所示，在一个实施例中，上述方法还可包括：

步骤S31，接收测试端发送的通断指令，其中，测试端在获取到一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

步骤S32，根据通断指令，控制N个枝节中的其他枝节与终端相连通，并重复执行步骤S21至步骤S23，以使测试端获取到N个枝节分别对应的接收灵敏度。

在接收到该通断指令时，可以控制N个枝节中的其他枝节与终端相连通，从而实现在当前的待检测区域下，终端可以通过依次与不同的枝节相连通，来获取N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据该N个枝节对应的接收灵敏度，准确地确定出该终端的干扰源位置。

在一个实施例中，单刀N掷开关还包括：一个预留的GPIO口，GPIO口与终端的主板相连接，

接收测试端发送的通断指令，包括：

通过主板接收通断指令；

根据通断指令，控制N个枝节中的其他枝节与终端相连通，包括：

通过主板将通断指令发送至GPIO口(General Purpose Input Output，通用输入/输出)，其中，通断指令用于控制单刀N掷开关中的与通断指令相应的目标输入端的目标连接支路导通，使得目标输入端和与目标输入端相连的其他枝节之间的通路处于闭合状态，从而使得其他枝节与终端相联通。

该单刀N掷开关除了具有N个输入端，分别与N个枝节相连接，一个输出端与射频测试口相连接外，至少还有一个GPIO口，与主板(CPU，中央处理器)上的一个端口相连接，而通过该主板将该通断指令发送至该GPIO口，使得该单刀N掷开关能够根据该通断指令导通其内部的N个连接支路中的与该通断指令相应的目标输入端的目标连接支路，这样目标输入端和与所目标输入端相连的其他枝节之间的通路就处于闭合状态，从而使得该其他枝节能够与终端相联通。

对应本公开实施例提供的上述测试方法，本公开实施例还提供一种测试装置，如图4所示，该装置包括：

第一发送模块41，用于当终端与测试天线相联通时，向终端发送测试信号，其中，测试天线具有N个枝节，N个枝节分别对应终端的待检测区域的N个子区域放置；

接收模块42，用于接收终端针对测试信号发送的反馈信息，其中，终端在通过测试天线接收测试信号之后，生成反馈信息；

获取模块43，用于根据反馈信息获取N个枝节分别对应的接收灵敏度；

确定模块44，用于根据N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定终端的干扰源位置。

如图5所示，在一个实施例中，接收模块42包括：

接收子模块421，用于当终端与测试天线的一枝节相联通时，接收终端发送的一枝节对应的反馈信息；

获取模块43包括：

获取子模块431，用于当反馈信息为未接收到测试信号或者为测试信号的误码率高于预设误码率时，根据测试信号的辐射功率，获取一枝节对应的接收灵敏度。

如图6所示，在一个实施例中，装置还包括：

生成模块61，用于在获取到一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

第二发送模块62，用于将通断指令发送至终端，以使终端根据通断指令，控制N个枝节中的其他枝节与终端相连通，并重复执行第一发送模块、接收模块和获取模块中的步骤，直至获取到N个枝节分别对应的接收灵敏度。

如图7所示，在一个实施例中，确定模块44包括：

确定子模块441，用于确定N个子区域中的接收灵敏度最差的区域；

执行子模块442，用于将确定的接收灵敏度最差的区域作为待检测区域，再次执行第一发送模块、接收模块、获取模块和确定模块中的步骤，直到确定干扰源位置。

在一个实施例中，执行子模块442包括：

处理单元，用于当待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目时，停止执行第一发送模块、接收模块、获取模块和确定模块中的步骤；

确定单元，用于确定硬件的所在位置为干扰源位置。

对应本公开实施例提供的上述测试方法，本公开实施例还提供一种测试装置，如图8所示，该装置包括：

第一接收模块81，被配置为在与测试天线相联通时，通过测试天线接收测试端发送的测试信号，其中，测试天线具有N个枝节，N个枝节分别对应终端的待检测区域的N个子区域放置；

生成模块82，被配置为生成针对测试信号的反馈信息；

发送模块83，被配置为向测试端发送反馈信息，以使测试端根据反馈信息获取N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定终端的干扰源位置。

如图9所示，在一个实施例中，第一接收模块81包括：

第一接收子模块811，被配置为当与测试天线的一枝节相联通时，通过一枝节接收测试信号；

发送模块83包括：

第一发送子模块831，被配置为向测试端发送一枝节对应的反馈信息，其中，测试端在反馈信息为未接收到测试信号或者为测试信号的误码率高于预设误码率时，根据测试信号的辐射功率，获取一枝节对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，终端通过单刀N掷开关与测试天线相连，单刀N掷开关的N个输入端分别与N个枝节相连，单刀N掷开关的输出端与终端的射频测试口相连；

第一接收子模块811还被配置为：

当N个输入端中的一个输入端的连接支路与N个枝节中的与一个输入端相连的枝节相联通时，通过射频测试口获取测试天线接收到的测试信号。

如图10所示，在一个实施例中，装置还包括：

第二接收模块100，被配置为接收测试端发送的通断指令，其中，测试端在获取到一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

控制模块101，被配置为根据通断指令，控制N个枝节中的其他枝节与终端相连通，并重复执行步骤S21至步骤S23，以使测试端获取到N个枝节分别对应的接收灵敏度。

如图11所示，在一个实施例中，单刀N掷开关还包括：一个预留的GPIO口，GPIO口与终端的主板相连接，

接收模块100包括：

第二接收子模块1001，被配置为通过主板接收通断指令；

控制模块101包括：

第二发送子模块1011，被配置为通过主板将通断指令发送至GPIO口，其中，通断指令被配置为控制单刀N掷开关中的与通断指令相应的目标输入端的目标连接支路导通，使得目标输入端和与目标输入端相连的其他枝节之间的通路处于闭合状态，从而使得其他枝节与终端相联通。

如图12A和图12B所示，根据本公开实施例的第五方面，还提供一种测试天线，包括：

测试天线为具有N个枝节的单极子天线，N个枝节通过单刀N掷开关与终端相连，其中，N为大于等于2的正整数，该单刀N掷开关包括N个输入端和一个输出端，每个输入端均对应其内部的N个连接支路中的一个连接支路，该N个输入端分别与N个枝节相连接，且该输出端与终端的射频测试口相连接；

其次，图12A和图12B中的黑色条状为该单极子天线的枝节，该枝节可以是裸露在外的金属条或者金属丝，而与该黑色条状相连接的每根细线为包裹着绝缘皮的导线，用于穿过图12A和图12B中的通孔(即圆圈)与单刀N掷开关中N个输入端中的一个输入端相连接，这样当该单刀N掷开关内部中的任一个输入端的连接支路导通时，与其相连接的枝节就与该连接支路相联通，且如果该单极子天线的N个枝节是焊接在PCB(印制电路板)板上的，则该通孔就是PCB上的能够穿过导线的通孔。

另外，该测试天线连接在终端的外部，与单刀N掷开关相连接，并通过该单刀N掷开关与该终端相连接，用于在该单刀N掷开关内部的N个连接支路依次进行通断时，依次与该N个枝节相连通，从而通过与当前导通的连接支路相连接的枝节接收测试端发送给终端的测试信号。

最后，该N个枝节可以分别对应终端的待检测区域中的不同子区域，且这N个枝节中相邻枝节的角度可以为360°与N的商，如图12A和1B所示，当待检测区域为整个终端的背面时，4个枝节对分别对应区域1至区域4，当待检测区域为终端的背面的区域1时，4个枝节对分别对应区域11至区域14，这样不同的子区域就是对等的，便于确保检测结果的准确性。

在一个实施例中，单极子天线具有四个枝节，四个枝节正交排列，且四个枝节分别与单刀N掷开关中的四个连接支路相连接。

单极子天线包括四个枝节，且这4个枝节分别对应终端的待检测区域的4个子区域放置，而这种放置方式，能够检测终端的4个子区域内是否存在影响接收灵敏度的干扰源；而这四个枝节正交排列，使得这4个枝节对应的子区域是对等的，可以使干扰源的检测结果更加准确。

在一个实施例中，单刀N掷开关的N个输入端分别与N个枝节相连，单刀N掷开关的输出端与终端的射频测试口相连，

单极子天线用于：

当N个枝节中的一个枝节与一个枝节相连的输入端的连接支路相联通时，通过一枝节接收测试端发送至终端的测试信号，并将测试信号通过连接支路发送至射频测试口，以使终端接收测试信号。

当N个枝节中的一个枝节与一个枝节相连的输入端的连接支路相联通时，通过一枝节接收测试端发送至终端的测试信号，并将测试信号通过连接支路发送至射频测试口，以使终端能够接收该测试信号，并针对该测试信号生成准确的反馈信息。

如图13所示，根据本公开实施例的第六方面，提供一种测试系统，包括：

测试端131，用于当终端133与测试天线132相联通时，向终端133发送的测试信号，其中，测试天线132具有N个枝节，N个枝节分别对应终端133的待检测区域的N个子区域放置；

测试天线132，与终端133相连接，用于接收测试信号；

终端133，用于在与测试天线132相联通时，获取测试天线132接收到的测试信号，生成针对测试信号的反馈信息，并向测试端131发送反馈信息；

测试端131，还用于接收反馈信息，并根据反馈信息获取N个枝节分别对应的接收灵敏度，进而根据N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定终端133的干扰源位置。

在没有干扰源干扰的情况下，这N个子区域的环境因素基本是相同的，因而，N个枝节中每个枝节对应的该终端133的接收灵敏度应该是相近的，因而终端133在获取测试天线132接收到的测试信号时，通过生成针对测试信号的反馈信息，并向测试端131发送反馈信息，使得测试端131能够根据反馈信息获取N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据该N个枝节分别对应的接收灵敏度，准确地确定出终端133的干扰源位置，而在确定出干扰源位置之后，测试端131可以进一步根据该干扰源位置准确地获取到该终端133中影响终端133的接收灵敏度的具体干扰源，并在检测到具体干扰源之后，通过剔除该干扰源对检测到的接收灵敏度的影响，即可得到该终端133的准确的接收灵敏度。

在一个实施例中，终端133还用于：

当与测试天线132的一枝节相联通时，通过一枝节接收测试信号，并向测试端131发送一枝节对应的反馈信息；

终端133在同一时间仅与该测试天线132的一枝节相联通，而与其他枝节都是断开的，以便于测试端131每次接收终端133发送的反馈信息仅是该一枝节对应的反馈信息，并通过该一枝节测试在该一枝节对应的子区域内的硬件的影响下，终端133的接收灵敏度(也即该一枝节的接收灵敏度)。

测试端131还用于：

接收终端133发送的一枝节对应的反馈信息；

当反馈信息为未接收到测试信号或者为测试信号的误码率高于预设误码率时，根据测试信号的辐射功率，获取一枝节对应的接收灵敏度。

当反馈信息为未接收到测试信号或者为测试信号的误码率高于预设误码率时，测试端131可以确定之前发送的测试信号的辐射功率已经接近在该一枝节对应的子区域内的硬件的影响下，终端133的接收灵敏度，因而，可以根据测试信号的辐射功率，准确地获取一枝节对应的接收灵敏度。

如图14所示，在一个实施例中，系统还包括：

单刀N掷开关141，单刀N掷开关141包括N个输入端和一个输出端，其中，N个输入端分别与N个枝节相连，输出端与终端133的射频测试口相连；

单刀N掷开关141内部有N个连接支路，其中，每个输入端都连接一个连接支路，且单刀N掷开关141的通断方式为：

该单刀N掷开关141内的N个连接支路依次与其相连接的枝节相连通，且同一时刻，该单刀N掷开关141中仅有一个连接支路导通，以与其相连接的枝节相连通，而该单刀N掷开关141中的其他连接支路均断开，无法与其相连接的枝节相连通。

终端133还用于：

当N个输入端中的一个输入端的连接支路与N个枝节中的与一个输入端相连的枝节相联通时，通过射频测试口获取测试天线132接收到的测试信号。

当N个输入端中的一个输入端的连接支路导通、以与该N个枝节中的与该一个输入端相连的枝节相联通时，该枝节会接收测试端131发送的测试信号，并通过已导通的该输入端的连接支路将该测试信号发送至终端133，使得终端133通过该射频测试口获取该测试天线132接收到的测试信号，这为终端133对该射频测试口接收到的该测试信号进行解码奠定了基础，使得该终端133能够生成正确的反馈信息。

另外，需要说明的是：

而该射频测试口通常与终端133中自带的天线相连接，而在测试接收灵敏度的过程中与其自带的天线断开了，以通过该单刀N掷开关141与外置的测试天线132相连接，这样便于准确地测试到每个枝节所对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，测试端131还用于：

在获取到一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

将通断指令发送至终端133；

终端133还用于：

接收测试端131发送的通断指令；

根据通断指令，控制N个枝节中的其他枝节与终端133相连通，以使测试端131获取到N个枝节分别对应的接收灵敏度。

在接收到该通断指令时，可以控制N个枝节中的其他枝节与终端133相连通，从而实现在当前的待检测区域下，终端133可以通过依次与不同的枝节相连通，来获取N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据该N个枝节对应的接收灵敏度，准确地确定出该终端133的干扰源位置。

在一个实施例中，单刀N掷开关141还包括：一个预留的GPIO口，GPIO口与终端133的主板相连接，

终端133还用于：

通过主板接收通断指令；

终端133还用于：

通过主板将通断指令发送至GPIO口，其中，通断指令用于控制单刀N掷开关141中的与通断指令相应的目标输入端的目标连接支路导通，使得目标输入端和与目标输入端相连的其他枝节之间的通路处于闭合状态，以控制其他枝节与终端133相连通。

该单刀N掷开关141除了具有N个输入端，分别与N个枝节相连接，一个输出端与射频测试口相连接外，至少还有一个GPIO口，与主板(CPU，中央处理器)上的一个端口相连接，而通过该主板将该通断指令发送至该GPIO口，使得该单刀N掷开关141能够根据该通断指令导通其内部的N个连接支路中的与该通断指令相应的目标输入端的目标连接支路，这样目标输入端和与所目标输入端相连的其他枝节之间的通路就处于闭合状态，从而使得该其他枝节能够与终端133相联通。

在一个实施例中，测试端131还用于：

确定N个子区域中的接收灵敏度最差的区域；

将确定的接收灵敏度最差的区域作为待检测区域，并再次获取接收灵敏度最差的区域对应的N子区域中的接收灵敏度最差的区域，直到确定干扰源位置。

在没有干扰源干扰的情况下，这N个子区域的环境因素基本是相同的，因而，N个枝节中每个枝节对应的该终端133的接收灵敏度应该是相近的，且接收灵敏度最差的区域很可能就是该干扰源的所在区域，所以可以将该接收灵敏度最差的区域作为下一个待检测区域，以再次执行步骤S11-步骤S14，从而不断缩下待检测区域，直至获取到该干扰源位置，如图12A和图12B所示，在初次测试干扰源位置时，待检测区域就是区域1至区域4，此时，测试天线132的位置应该放置在终端133的中心位置处(即A点，也是图12A中通孔的中心处)，而在经过一个检测周期后，若发现区域1为接收灵敏度最差的区域，则将该接收灵敏度最差的区域1作为下一个待检测区域，此时，测试天线132的位置应该放置在区域1的中心位置处(即B点，也是图12B中通孔的中心处)，以确保检测结果的准确性，依次类推，直到获得干扰源位置。

在一个实施例中，当待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目时，确定硬件的所在位置为干扰源位置。

由于终端133上的每个子区域上的影响接收灵敏度的因素是固定的，因而，在该待检测区域不断缩小的过程中，如果该待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目(如1个或者2个)，则无需再执行步骤S11-步骤S14了，因为该待检测区域中的硬件已经确定下来了，而这些硬件就是影响终端133接收灵敏度的干扰源，因而，可以确定该硬件所在的位置为该干扰源位置，从而实现了准确地确定出干扰源位置和终端133中的干扰源，进一步地测试端131可以根据预先统计出的该硬件对终端133的接收灵敏度的预设影响和该接收灵敏度最差的区域所在的最小的待检测区域中的其他子区域对应的枝节所对应的接收灵敏度，就可以准确地确定出该终端133的接收灵敏度。

根据本公开实施例的第七方面，提供一种测试装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，处理器被配置为：

步骤S11，当终端与测试天线相联通时，向所述终端发送测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

步骤S12，接收所述终端针对所述测试信号发送的反馈信息，其中，所述终端在通过所述测试天线接收所述测试信号之后，生成所述反馈信息；

步骤S13，根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度；

步骤S14，根据所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

上述处理器还可被配置为：

上述步骤S12可被执行为：

当所述终端与所述测试天线的一枝节相联通时，接收所述终端发送的所述一枝节对应的反馈信息；

上述步骤S13可被执行为：

当所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

上述处理器还可被配置为：

所述方法还包括：

在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

将所述通断指令发送至所述终端，以使所述终端根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行步骤S11至步骤S13，直至获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

上述处理器还可被配置为：

上述步骤S14可被执行为：

确定所述N个子区域中的接收灵敏度最差的区域；

将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，再次执行步骤S11-步骤S14，直到确定所述干扰源位置。

上述处理器还可被配置为：

所述将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，再次执行步骤S11-步骤S14，直到确定干扰源位置，包括：

当所述待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目时，停止执行步骤S11-步骤S14；

确定所述硬件的所在位置为所述干扰源位置。

根据本公开实施例的第八方面，提供一种测试装置，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，处理器被配置为：

步骤S21，在与测试天线相联通时，通过所述测试天线接收测试端发送测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

步骤S22，生成针对所述测试信号的反馈信息；

步骤S23，向所述测试端发送所述反馈信息，以使所述测试端根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据所述述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

上述处理器还可被配置为：

所述步骤S21可被执行为：

当与所述测试天线的一枝节相联通时，通过所述一枝节接收所述测试信号；

所述步骤S23可被执行为：

向所述测试端发送所述一枝节对应的反馈信息，其中，所述测试端在所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

上述处理器还可被配置为：

所述终端通过单刀N掷开关与所述测试天线相连，所述单刀N掷开关的N个输入端分别与所述N个枝节相连，所述单刀N掷开关的输出端与所述终端的射频测试口相连；

所述步骤S21还可以被执行为：

当所述N个输入端中的一个输入端的连接支路与所述N个枝节中的与所述一个输入端相连的枝节相联通时，通过所述射频测试口获取所述测试天线接收到的所述测试信号。

上述处理器还可被配置为：

所述方法还包括：

接收所述测试端发送的通断指令，其中，所述测试端在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成所述通断指令；

根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行步骤S21至步骤S23，以使所述测试端获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

上述处理器还可被配置为：

所述单刀N掷开关还包括：一个预留的GPIO口，所述GPIO口与所述终端的主板相连接，

所述接收所述测试端发送的通断指令，包括：

通过所述主板接收所述通断指令；

所述根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，包括：

通过所述主板将所述通断指令发送至所述GPIO口，其中，所述通断指令用于控制所述单刀N掷开关中的与所述通断指令相应的目标输入端的目标连接支路导通，使得所述目标输入端和与所述目标输入端相连的所述其他枝节之间的通路处于闭合状态，从而使得所述其他枝节与所述终端相联通。

图15是根据一示例性实施例示出的一种用于测试装置1500的框图，该装置适用于终端。例如，装置1500可以是移动电话，计算机，数字广播终端，消息收发设备，游戏控制台，平板设备，医疗设备，健身设备，个用户数字助理等。

参照图15，装置1500可以包括以下一个或至少两个组件：处理组件1502，存储器1504，电源组件1506，多媒体组件1508，音频组件1510，输入/输出(I/O)接口1512，传感器组件1514，以及通信组件1516。

处理组件1502通常控制装置1500的整体操作，诸如与显示，电话呼叫，数据通信，相机操作和记录操作相关联的操作。处理组件1502可以包括一个或至少两个处理器1520来执行指令，以完成上述的方法的全部或部分步骤。此外，处理组件1502可以包括一个或至少两个模块，便于处理组件1502和其他组件之间的交互。例如，处理组件1502可以包括多媒体模块，以方便多媒体组件1508和处理组件1502之间的交互。

存储器1504被配置为存储各种类型的数据以支持在装置1500的操作。这些数据的示例包括用于在装置1500上操作的任何存储对象或方法的指令，联系用户数据，电话簿数据，消息，图片，视频等。存储器1504可以由任何类型的易失性或非易失性存储设备或者它们的组合实现，如静态随机存取存储器(SRAM)，电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)，可擦除可编程只读存储器(EPROM)，可编程只读存储器(PROM)，只读存储器(ROM)，磁存储器，快闪存储器，磁盘或光盘。

电源组件1506为装置1500的各种组件提供电源。电源组件1506可以包括电源管理系统，一个或至少两个电源，及其他与为装置1500生成、管理和分配电源相关联的组件。

多媒体组件1508包括在所述装置1500和用户之间的提供一个输出接口的屏幕。在一些实施例中，屏幕可以包括液晶显示器(LCD)和触摸面板(TP)。如果屏幕包括触摸面板，屏幕可以被实现为触摸屏，以接收来自用户的输入信号。触摸面板包括一个或至少两个触摸传感器以感测触摸、滑动和触摸面板上的手势。所述触摸传感器可以不仅感测触摸或滑动动作的边界，而且还检测与所述触摸或滑动操作相关的持续时间和压力。在一些实施例中，多媒体组件1508包括一个前置摄像头和/或后置摄像头。当装置1500处于操作模式，如拍摄模式或视频模式时，前置摄像头和/或后置摄像头可以接收外部的多媒体数据。每个前置摄像头和后置摄像头可以是一个固定的光学透镜系统或具有焦距和光学变焦能力。

音频组件1510被配置为输出和/或输入音频信号。例如，音频组件1510包括一个麦克风(MIC)，当装置1500处于操作模式，如呼叫模式、记录模式和语音识别模式时，麦克风被配置为接收外部音频信号。所接收的音频信号可以被进一步存储在存储器1504或经由通信组件1516发送。在一些实施例中，音频组件1510还包括一个扬声器，用于输出音频信号。

I/O接口1512为处理组件1502和外围接口模块之间提供接口，上述外围接口模块可以是键盘，点击轮，按钮等。这些按钮可包括但不限于：主页按钮、音量按钮、启动按钮和锁定按钮。

传感器组件1514包括一个或至少两个传感器，用于为装置1500提供各个方面的状态评估。例如，传感器组件1514可以检测到装置1500的打开/关闭状态，组件的相对定位，例如所述组件为装置1500的显示器和小键盘，传感器组件1514还可以测试装置1500或装置1500一个组件的位置改变，用户与装置1500接触的存在或不存在，装置1500方位或加速/减速和装置1500的温度变化。传感器组件1514可以包括接近传感器，被配置用来在没有任何的物理接触时检测附近物体的存在。传感器组件1514还可以包括光传感器，如CMOS或CCD图像传感器，用于在成像应用中使用。在一些实施例中，该传感器组件1514还可以包括加速度传感器，陀螺仪传感器，磁传感器，压力传感器或温度传感器。

通信组件1516被配置为便于装置1500和其他设备之间有线或无线方式的通信。装置1500可以接入基于通信标准的无线网络，如WiFi，2G或3G，或它们的组合。在一个示例性实施例中，通信组件1516经由广播信道接收来自外部广播管理系统的广播信号或广播相关信息。在一个示例性实施例中，所述通信组件1516还包括近场通信(NFC)模块，以促进短程通信。例如，在NFC模块可基于射频识别(RFID)技术，红外数据协会(IrDA)技术，超宽带(UWB)技术，蓝牙(BT)技术和其他技术来实现。

在示例性实施例中，装置1500可以被一个或至少两个应用专用集成电路(ASIC)、数字信号处理器(DSP)、数字信号处理设备(DSPD)、可编程逻辑器件(PLD)、现场可编程门阵列(FPGA)、控制器、微控制器、微处理器或其他电子组件实现，用于执行上述方法。

在示例性实施例中，还提供了一种包括指令的非临时性计算机可读存储介质，例如包括指令的存储器1504，上述指令可由装置1500的处理器1520执行以完成上述方法。例如，所述非临时性计算机可读存储介质可以是ROM、随机存取存储器(RAM)、CD-ROM、磁带、软盘和光数据存储设备等。

一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由上述装置1500的处理器执行时，使得上述装置1500能够执行一种测试方法，包括：

步骤S11，当终端与测试天线相联通时，向所述终端发送测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

步骤S12，接收所述终端针对所述测试信号发送的反馈信息，其中，所述终端在通过所述测试天线接收所述测试信号之后，生成所述反馈信息；

步骤S13，根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度；

步骤S14，根据所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

在一个实施例中，上述步骤S12可被执行为：

当所述终端与所述测试天线的一枝节相联通时，接收所述终端发送的所述一枝节对应的反馈信息；

上述步骤S13可被执行为：

当所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述方法还包括：

在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

将所述通断指令发送至所述终端，以使所述终端根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行步骤S11至步骤S13，直至获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，上述步骤S14可被执行为：

确定所述N个子区域中的接收灵敏度最差的区域；

将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，再次执行步骤S11-步骤S14，直到确定所述干扰源位置。

在一个实施例中，所述将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，再次执行步骤S11-步骤S14，直到确定干扰源位置，包括：

当所述待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目时，停止执行步骤S11-步骤S14；

确定所述硬件的所在位置为所述干扰源位置。

一种非临时性计算机可读存储介质，当所述存储介质中的指令由上述装置1500的处理器执行时，使得上述装置1500能够执行另一种测试方法，包括：

步骤S21，在与测试天线相联通时，通过所述测试天线接收测试端发送测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

步骤S22，生成针对所述测试信号的反馈信息；

步骤S23，向所述测试端发送所述反馈信息，以使所述测试端根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据所述述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

在一个实施例中，所述步骤S21可被执行为：

当与所述测试天线的一枝节相联通时，通过所述一枝节接收所述测试信号；

所述步骤S23可被执行为：

向所述测试端发送所述一枝节对应的反馈信息，其中，所述测试端在所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述终端通过单刀N掷开关与所述测试天线相连，所述单刀N掷开关的N个输入端分别与所述N个枝节相连，所述单刀N掷开关的输出端与所述终端的射频测试口相连；

所述步骤S21还可以被执行为：

当所述N个输入端中的一个输入端的连接支路与所述N个枝节中的与所述一个输入端相连的枝节相联通时，通过所述射频测试口获取所述测试天线接收到的所述测试信号。

在一个实施例中，所述方法还包括：

接收所述测试端发送的通断指令，其中，所述测试端在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成所述通断指令；

根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行步骤S21至步骤S23，以使所述测试端获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

在一个实施例中，所述单刀N掷开关还包括：一个预留的GPIO口，所述GPIO口与所述终端的主板相连接，

所述接收所述测试端发送的通断指令，包括：

通过所述主板接收所述通断指令；

所述根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，包括：

通过所述主板将所述通断指令发送至所述GPIO口，其中，所述通断指令用于控制所述单刀N掷开关中的与所述通断指令相应的目标输入端的目标连接支路导通，使得所述目标输入端和与所述目标输入端相连的所述其他枝节之间的通路处于闭合状态，从而使得所述其他枝节与所述终端相联通。

本领域技术用户员在考虑说明书及实践这里公开的公开后，将容易想到本公开的其它实施方案。本申请旨在涵盖本公开的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本公开的一般性原理并包括本公开未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本公开的真正范围和精神由下面的权利要求指出。

应当理解的是，本公开并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本公开的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (32)

1.一种测试方法，用于测试端，其特征在于，包括：

步骤S11，当终端与测试天线相联通时，向所述终端发送测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

步骤S12，接收所述终端针对所述测试信号发送的反馈信息，其中，所述终端在通过所述测试天线接收所述测试信号之后，生成所述反馈信息；

步骤S13，根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度；

步骤S14，根据所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，

上述步骤S12可被执行为：

当所述终端与所述测试天线的一枝节相联通时，接收所述终端发送的所述一枝节对应的反馈信息；

上述步骤S13可被执行为：

当所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

将所述通断指令发送至所述终端，以使所述终端根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行步骤S11至步骤S13，直至获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，

上述步骤S14可被执行为：

确定所述N个子区域中的接收灵敏度最差的区域；

将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，再次执行步骤S11-步骤S14，直到确定所述干扰源位置。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，

所述将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，再次执行步骤S11-步骤S14，直到确定干扰源位置，包括：

当所述待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目时，停止执行步骤S11-步骤S14；

确定所述硬件的所在位置为所述干扰源位置。

6.一种测试方法，用于终端，其特征在于，包括：

步骤S21，在与测试天线相联通时，通过所述测试天线接收测试端发送测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

步骤S22，生成针对所述测试信号的反馈信息；

步骤S23，向所述测试端发送所述反馈信息，以使所述测试端根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据所述述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，

所述步骤S21可被执行为：

当与所述测试天线的一枝节相联通时，通过所述一枝节接收所述测试信号；

所述步骤S23可被执行为：

向所述测试端发送所述一枝节对应的反馈信息，其中，所述测试端在所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

8.根据权利要求6或7所述的方法，其特征在于，

所述终端通过单刀N掷开关与所述测试天线相连，所述单刀N掷开关的N个输入端分别与所述N个枝节相连，所述单刀N掷开关的输出端与所述终端的射频测试口相连；

所述步骤S21还可以被执行为：

当所述N个输入端中的一个输入端的连接支路与所述N个枝节中的与所述一个输入端相连的枝节相联通时，通过所述射频测试口获取所述测试天线接收到的所述测试信号。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

接收所述测试端发送的通断指令，其中，所述测试端在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成所述通断指令；

根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行步骤S21至步骤S23，以使所述测试端获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，

所述单刀N掷开关还包括：一个预留的GPIO口，所述GPIO口与所述终端的主板相连接，

所述接收所述测试端发送的通断指令，包括：

通过所述主板接收所述通断指令；

所述根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，包括：

通过所述主板将所述通断指令发送至所述GPIO口，其中，所述通断指令用于控制所述单刀N掷开关中的与所述通断指令相应的目标输入端的目标连接支路导通，使得所述目标输入端和与所述目标输入端相连的所述其他枝节之间的通路处于闭合状态，从而使得所述其他枝节与所述终端相联通。

11.一种测试装置，用于测试端，其特征在于，包括：

第一发送模块，用于当终端与测试天线相联通时，向所述终端发送测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

接收模块，用于接收所述终端针对所述测试信号发送的反馈信息，其中，所述终端在通过所述测试天线接收所述测试信号之后，生成所述反馈信息；

获取模块，用于根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度；

确定模块，用于根据所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，

所述接收模块包括：

接收子模块，用于当所述终端与所述测试天线的一枝节相联通时，接收所述终端发送的所述一枝节对应的反馈信息；

所述获取模块包括：

获取子模块，用于当所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

生成模块，用于在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

第二发送模块，用于将所述通断指令发送至所述终端，以使所述终端根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行所述第一发送模块、所述接收模块和所述获取模块中的步骤，直至获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

14.根据权利要求11至13中任一项所述的装置，其特征在于，

所述确定模块包括：

确定子模块，用于确定所述N个子区域中的接收灵敏度最差的区域；

执行子模块，用于将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，再次执行所述第一发送模块、所述接收模块、所述获取模块和所述确定模块中的步骤，直到确定所述干扰源位置。

15.根据权利要求14所述的装置，其特征在于，

所述执行子模块包括：

处理单元，用于当所述待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目时，停止执行所述第一发送模块、所述接收模块、所述获取模块和所述确定模块中的步骤；

确定单元，用于确定所述硬件的所在位置为所述干扰源位置。

16.一种测试装置，用于终端，其特征在于，包括：

第一接收模块，用于在与测试天线相联通时，通过所述测试天线接收测试端发送的测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

生成模块，用于生成针对所述测试信号的反馈信息；

发送模块，用于向所述测试端发送所述反馈信息，以使所述测试端根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据所述述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

17.根据权利要求16所述的装置，其特征在于，

所述第一接收模块包括：

第一接收子模块，用于当与所述测试天线的一枝节相联通时，通过所述一枝节接收所述测试信号；

所述发送模块包括：

第一发送子模块，用于向所述测试端发送所述一枝节对应的反馈信息，其中，所述测试端在所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

18.根据权利要求16或17所述的装置，其特征在于，

所述终端通过单刀N掷开关与所述测试天线相连，所述单刀N掷开关的N个输入端分别与所述N个枝节相连，所述单刀N掷开关的输出端与所述终端的射频测试口相连；

所述第一接收子模块还用于：

当所述N个输入端中的一个输入端的连接支路与所述N个枝节中的与所述一个输入端相连的枝节相联通时，通过所述射频测试口获取所述测试天线接收到的所述测试信号。

19.根据权利要求18所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：

第二接收模块，用于接收所述测试端发送的通断指令，其中，所述测试端在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成所述通断指令；

控制模块，用于根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，并重复执行步骤S21至步骤S23，以使所述测试端获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

20.根据权利要求19所述的装置，其特征在于，

所述单刀N掷开关还包括：一个预留的GPIO口，所述GPIO口与所述终端的主板相连接，

所述接收模块包括：

第二接收子模块，用于通过所述主板接收所述通断指令；

所述控制模块包括：

第二发送子模块，用于通过所述主板将所述通断指令发送至所述GPIO口，其中，所述通断指令用于控制所述单刀N掷开关中的与所述通断指令相应的目标输入端的目标连接支路导通，使得所述目标输入端和与所述目标输入端相连的所述其他枝节之间的通路处于闭合状态，从而使得所述其他枝节与所述终端相联通。

21.一种测试天线，其特征在于，包括：

所述测试天线为具有N个枝节的单极子天线，所述N个枝节通过单刀N掷开关与终端相连，其中，N为大于等于2的正整数。

22.根据权利要求21所述的测试天线，其特征在于，

所述单极子天线具有四个枝节，所述四个枝节正交排列。

23.根据权利要求21或22所述的测试天线，其特征在于，

所述单刀N掷开关的N个输入端分别与所述N个枝节相连，所述单刀N掷开关的输出端与所述终端的射频测试口相连，

所述单极子天线用于：

当所述N个枝节中的一个枝节与所述一个枝节相连的输入端的连接支路相联通时，通过所述一枝节接收测试端发送至所述终端的测试信号，并将所述测试信号通过所述连接支路发送至所述射频测试口，以使所述终端接收所述测试信号。

24.一种测试系统，其特征在于，包括：

测试端，用于当终端与测试天线相联通时，向所述终端发送的测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

测试天线，与所述终端相连接，用于接收所述测试信号；

所述终端，用于在与所述测试天线相联通时，获取所述测试天线接收到的所述测试信号，生成针对所述测试信号的反馈信息，并向所述测试端发送所述反馈信息；

所述测试端，还用于接收所述反馈信息，并根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，进而根据所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

25.根据权利要求24所述的系统，其特征在于，

所述终端还用于：

当与所述测试天线的一枝节相联通时，通过所述一枝节接收所述测试信号，并向所述测试端发送所述一枝节对应的反馈信息；

所述测试端还用于：

接收所述终端发送的所述一枝节对应的反馈信息；

当所述反馈信息为未接收到所述测试信号或者为所述测试信号的误码率高于预设误码率时，根据所述测试信号的辐射功率，获取所述一枝节对应的接收灵敏度。

26.根据权利要求24所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

单刀N掷开关，所述单刀N掷开关包括N个输入端和一个输出端，其中，所述N个输入端分别与所述N个枝节相连，所述输出端与所述终端的射频测试口相连；

所述终端还用于：

当所述N个输入端中的一个输入端的连接支路与所述N个枝节中的与所述一个输入端相连的枝节相联通时，通过所述射频测试口获取所述测试天线接收到的所述测试信号。

27.根据权利要求26所述的系统，其特征在于，

所述测试端还用于：

在获取到所述一枝节对应的接收灵敏度时，生成通断指令；

将所述通断指令发送至所述终端；

所述终端还用于：

接收所述测试端发送的通断指令；

根据所述通断指令，控制所述N个枝节中的其他枝节与所述终端相连通，以使所述测试端获取到所述N个枝节分别对应的接收灵敏度。

28.根据权利要求27所述的系统，其特征在于，

所述单刀N掷开关还包括：一个预留的GPIO口，所述GPIO口与所述终端的主板相连接，

所述终端还用于：

通过所述主板接收所述通断指令；

所述终端还用于：

通过所述主板将所述通断指令发送至所述GPIO口，其中，所述通断指令用于控制所述单刀N掷开关中的与所述通断指令相应的目标输入端的目标连接支路导通，使得所述目标输入端和与所述目标输入端相连的所述其他枝节之间的通路处于闭合状态，以控制所述其他枝节与所述终端相连通。

29.根据权利要求24至28中任一项所述的系统，其特征在于，

所述测试端还用于：

确定所述N个子区域中的接收灵敏度最差的区域；

将确定的所述接收灵敏度最差的区域作为所述待检测区域，并再次获取所述接收灵敏度最差的区域对应的N子区域中的接收灵敏度最差的区域，直到确定所述干扰源位置。

30.根据权利要求29所述的系统，其特征在于，

当所述待检测区域中的硬件的数目小于或等于预设数目时，确定所述硬件的所在位置为所述干扰源位置。

31.一种测试装置，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

当终端与测试天线相联通时，向所述终端发送的测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

接收所述终端针对所述测试信号发送的反馈信息，其中，所述终端在通过所述测试天线接收所述测试信号之后，生成所述反馈信息；

根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度；

根据所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。

32.一种测试装置，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为：

在与测试天线相联通时，通过所述测试天线接收测试端发送的测试信号，其中，所述测试天线具有N个枝节，所述N个枝节分别对应所述终端的待检测区域的N个子区域放置；

生成针对所述测试信号的反馈信息；

向所述测试端发送所述反馈信息，以使所述测试端根据所述反馈信息获取所述N个枝节分别对应的接收灵敏度，并根据所述述N个枝节分别对应的接收灵敏度，确定所述终端的干扰源位置。