CN105743569A - 非热插拔光收发一体模块的测试装置 - Google Patents

非热插拔光收发一体模块的测试装置 Download PDF

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    • H04B10/073—Arrangements for monitoring or testing transmission systems; Arrangements for fault measurement of transmission systems using an out-of-service signal
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Abstract

本发明公开了一种非热插拔光收发一体模块的测试装置，涉及通信测试技术领域，包括测试板，所述测试板上装非热插拔光收发一体模块的测试位，每个所述测试位上装有测试孔，所述测试孔内侧含有圆弧形金属弹片，所述弹片可伸缩。测试时，将非热插拔光收发一体模块的测试针插入到测试孔内，当非热插拔光收发一体模块的测试针插入时，测试孔内的金属弹片被挤压到所述测试针两侧，夹持并固定所述测试针，使得测试过程中光收发一体模块不容易与测试孔脱离而影响测试效果。与现有技术相比，本发明的测试孔弹片可将测试针固定，解决测试针与测试孔接触不良的问题。

Description

非热插拔光收发一体模块的测试装置
技术领域
本发明涉及一种光通信测试技术领域，尤其是一种非热插拔光收发一体模块的测试装置。
背景技术
光收发一体模块的增加导致了品种的多样性，非热插拔光收发一体模块就是其中的一种光纤通信模块，包括主机板，该主机板上装有测试针，用于与外界的通信系统主板连通，在出厂前非热插拔光收发一体模块需要进行功能测试，测试时，将非热插拔光收发一体模块的测试针查到外界测试板的测试孔内，通过测试针接触测试孔进行传递信号，测试板通过测试孔取得外界信号，从而对非热插拔光收发一体模块进行测试。现有测试孔存在以下问题：1.测试孔的内壁为金属呈光滑状；2.在使用多次后测试孔磨损导致测试孔变大；现有测试针大部分是圆柱形，在测试过程中，圆柱形的测试针与表面呈光滑状的测试孔接触时容易滑动松脱，从而两者存在接触不良的问题，使得测试没有发挥效用。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种非热插拔收发一体模块的测试装置，它可以解决非热插拔产品与测试孔接触不良的问题。
为了解决上述问题，本发明所采用的技术方案是：这种非热插拔光收发一体模块的测试装置，包含测试板，所述测试板上装有测试孔；所述测试孔内侧装有金属弹片，所述金属弹片为两个相向的弧形，所述金属弹片间的距离小于测试测试针的直径，所述金属弹片有弹性。
由于采用了上述技术方案，本发明与现有技术相比具有如下有益效果：
1.在测试孔内侧设有金属弹片，可以对非热插拔收发一体模块的测试针起夹持的作用，避免测试针在测试过程中接触不良。
2.金属弹片间的距离小于测试针的直径，且具有弹性，可以使测试针比较容易地插入或拔出测试孔。
附图说明
图1是非热插拔光收发一体模块的测试板的结构示意图。
图2是非热插拔光收发一体模块的主视图。
具体实施方式
以下结合附图实施例对本发明作进一步详述：
如图1、图2所示以包括2X5测试针的非热插拔光收发一体模块的测试装置作为实施例说明。包含测试板1，测试板1上设有三个测试位4，测试位4上装有与非热插拔光收发一体模块6的测试针7对应的测试孔2，测试孔2内侧装有两块相向的金属弹片3，两块金属弹片3间的距离小于测试针7的直径，该金属弹片3具有弹性。
工作时，将2X5测试针的非热插拔光收发一体模块6的测试针7插入测试孔2内，金属弹片3将插入的测试针7夹持固定，使其不能松动，从而保证接触良好，通电后，非热插拔光收发一体模块6的电信号通过测试针7传至金属弹片3上，该金属弹片3将信号传递通过测试孔2将电信号传输到测试板1上，使测试板1进行测试工作，测试该非热插拔光收发一体模块6的功能，测试结果显示在测试仪器5上。

Claims (1)

1.一种非热插拔光收发一体模块的测试装置，包含测试板，所述测试板上设有测试孔；其特征在于：所述测试孔内侧装有金属弹片，所述金属弹片为两个相对的弧形，所述金属弹片间的距离小于测试针的直径，所述金属弹片有弹性。
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PB01 Publication
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