CN105718850B - 应用于指纹传感器的像素点采样方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种应用于指纹传感器的像素点采样方法和装置，其中，上述像素点采样方法包括：在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的模拟前端通道，其中，所述N等于所述指纹传感器进行像素点采样时采用的模拟前端通道的总数；针对所述指纹传感器的每个像素点，将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，得到相应像素点的本轮采样结果；输出各个像素点的本轮采样结果。本发明提供的技术方案能够有效消除指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性。

Description

应用于指纹传感器的像素点采样方法和装置

技术领域

本发明涉及指纹传感器技术领域，具体涉及一种应用于指纹传感器的像素点采样方法和装置。

背景技术

指纹传感器是实现指纹图像自动采集的关键器件，由于指纹图像的唯一性，指纹传感器被广泛应用在身份识别领域中。

现有的指纹传感器的像素点采样实现方案是以N个像素点为一个采样粒度(即一组)进行采样，采样保持后经过模数转换器(ADC，Analog-to-Digital Converter)转换，按一定顺序输出，在这个工作过程中，一个Block(为便于理解，将同时采样的N个像素点称为一个Block(即块))内的N个像素点采样一般采用N个模拟前端(AFE，Analog Front End)通道和单个ADC实现，或者采用N个AFE通道和N个ADC实现，从这两种方式中，明显可以看出，同一个Block内的N个像素点的采样过程中各自经过了不同的AFE通道，由于生产工艺中存在物理偏差，这些AFE通道之间存在着差异性，这也使得同时采样的N个像素点之间存在AFE通道物理差异性，从而影响采样输出的指纹图像质量。

发明内容

本发明提供一种应用于指纹传感器的像素点采样方法和装置，用于消除指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性。

本发明第一方面提供一种应用于指纹传感器的像素点采样方法，包括：

在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的模拟前端通道(即AFE通道)，其中，上述N等于上述指纹传感器进行像素点采样时采用的AFE通道的总数；

针对上述指纹传感器的每个像素点，将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，得到相应像素点的本轮采样结果；

输出各个像素点的本轮采样结果。

本发明第二方面提供一种应用于指纹传感器的像素点采样装置，包括：

采样单元，用于：在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道，其中，上述N等于上述指纹传感器进行像素点采样时采用的AFE通道的总数；

第一计算处理单元，用于：针对上述指纹传感器的每个像素点，将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，得到相应像素点的本轮采样结果；

第一输出单元，用于输出各个像素点的本轮采样结果。

由上可见，本发明中对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道，从而使得指纹传感器的每个像素点都被采样N次且经过N个不同的AFE通道，进一步通过将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，使得指纹传感器的各个像素点之间不存在AFE通道物理差异性，即消除了指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性，另外，相对于传统的像素点采样实现方案，由于消除了指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性，因此也有利于采样输出的指纹图像质量的提高。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明提供的像素点采样方法一个实施例流程示意图；

图2为本发明提供的两个相邻Block之间存在的马赛克效应示意图；

图3为本发明提供的像素点采样装置一个实施例结构示意图。

具体实施方式

为使得本发明的发明目的、特征、优点能够更加的明显和易懂，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而非全部实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明实施例提供一种应用于指纹传感器的像素点采样方法，包括：在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道，其中，上述N等于上述指纹传感器进行像素点采样时采用的AFE通道的总数；针对上述指纹传感器的每个像素点，将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，得到相应像素点的本轮采样结果；输出各个像素点的本轮采样结果。本发明实施例还提供相应的像素点采样装置，以下分别进行详细说明。

下面对本发明实施例提供的一种应用于指纹传感器的像素点采样方法进行描述，请参阅图1，本发明实施例中的应用于指纹传感器的像素点采样方法包括：

101、在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道；

其中，上述N等于上述指纹传感器进行像素点采样时采用的AFE通道的总数，N大于或等于1。例如，当上述指纹传感器进行像素点采样时采用了8个AFE通道，则上述N取8，像素点采样装置在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行8次采样，并使得对同一像素点的8次采样均采用不同的AFE通道，即，使得同一像素点的每次采样所采用的AFE通道均不相同，以保证指纹传感器的每个像素点都被采样8次且经过8个不同的AFE通道。

可选的，在上述指纹传感器的每轮像素点采样中，以1*N个像素点为一组，每次对同组内的N个像素点(即一个Block)同时进行采样，其中，同组内的N个像素点在同一次采样中采用的AFE通道互不相同。

进一步，当以1*N个像素点为一组(其中，1表示行像素数，N表示列像素数)，可通过如下方式使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道：在对任一像素点j进行非首次采样时，采用在前一次对该像素点j的后一个组内像素点进行采样时采用的AFE通道，对该像素点j进行采样；其中，若该像素点j为组内的最后一个像素点，则该像素点j的后一个组内像素点是指该像素点j所在组中的首个像素点；若该像素点j为组内的非最后一个像素点，则该像素点j的后一个组内像素点是指同组内该像素点j的后一个相邻像素点。下面以N＝8为例进行说明，采用3个格雷码区分8个AFE通道，即由0～7共8个码型来分别标识8个AFE，若像素点A0～A7为同一Block内的8个像素点且顺序排列(即像素点A0为该Block内的首个像素点，像素点A1为该Block内的第二个像素点，以此类推，像素点A7为该Block内的最后一个像素点)，则像素点A0的后一个组内像素点为像素点A1，像素点A1的后一个组内像素点为像素点A2，像素点A2的后一个组内像素点为像素点A3，像素点A3的后一个组内像素点为像素点A4，像素点A4的后一个组内像素点为像素点A5，像素点A5的后一个组内像素点为像素点A6，像素点A6的后一个组内像素点为像素点A7，像素点A7的后一个组内像素点为像素点A0。假设对像素点A0～A7进行首次采样时所采用的AFE通道对应的码型顺序为04623751(即对像素点A0进行首次采样时采用码型为0的AFE通道，对像素点A1进行首次采样时采用码型为4的AFE通道，对像素点A2进行首次采样时采用码型为6的AFE通道，对像素点A3进行首次采样时采用码型为2的AFE通道，对像素点A4进行首次采样时采用码型为3的AFE通道，对像素点A5进行首次采样时采用码型为7的AFE通道，对像素点A6进行首次采样时采用码型为5的AFE通道，对像素点A7进行首次采样时采用码型为1的AFE通道)，则在对像素点A0～A7进行第二次采样时，可以依据上述准则(即在对任一像素点j进行非首次采样时，采用在前一次对该像素点j的后一个组内像素点进行采样时采用的AFE通道，对该像素点j进行采样)变更各像素点采样所使用的AFE通道，则在对像素点A0～A7进行第二次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为46237510，在对像素点A0～A7进行第三次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为62375104，在对像素点A0～A7进行第四次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为23751046，在对像素点A0～A7进行第五次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为37510462，在对像素点A0～A7进行第六次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为75104623，在对像素点A0～A7进行第七次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为51046237，在对像素点A0～A7进行第八次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为10462375。当然，也可以通过如下准则变更各像素点采样所使用的AFE通道：在对任一像素点j进行非首次采样时，采用在前一次对该像素点j的后S个组内像素点进行采样时采用的AFE通道，对该像素点j进行采样，其中S取大于1且小于8的奇数，则以前述像素点A0～A7为例，按照头尾相接原则，当S分别取3、5和7时，像素点A7的后3个组内像素点为像素点A2，像素点A7的后5个组内像素点为像素点A4，像素点A7的后7个组内像素点为像素点A6。

或者，当以1*N个像素点为一组，还可通过如下方式使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道：在对任一像素点j进行非首次采样时，采用在前一次对该像素点j的前一个组内像素点进行采样时采用的AFE通道，对该像素点j进行采样；其中，若该像素点j为组内的首个像素点，则该像素点j的前一个组内像素点是指该像素点j所在组中的最后一个像素点；若该像素点j为组内的非首个像素点，则该像素点j的前一个组内像素点是指同组内该像素点j的前一个相邻像素点。下面以N＝8为例进行说明，采用3个格雷码区分8个AFE通道，即由0～7共8个码型来分别标识8个AFE，若像素点A0～A7为同一Block内的8个像素点且顺序排列(即像素点A0为该Block内的首个像素点，像素点A1为该Block内的第二个像素点，以此类推，像素点A7为该Block内的最后一个像素点)，则像素点A0的前一个组内像素点为像素点A7，像素点A1的前一个组内像素点为像素点A0，像素点A2的前一个组内像素点为像素点A1，像素点A3的前一个组内像素点为像素点A2，像素点A4的前一个组内像素点为像素点A3，像素点A5的前一个组内像素点为像素点A4，像素点A6的前一个组内像素点为像素点A5，像素点A7的前一个组内像素点为像素点A6。假设对像素点A0～A7进行首次采样时所采用的AFE通道对应的码型顺序为04623751(即对像素点A0进行首次采样时采用码型为0的AFE通道，对像素点A1进行首次采样时采用码型为4的AFE通道，对像素点A2进行首次采样时采用码型为6的AFE通道，对像素点A3进行首次采样时采用码型为2的AFE通道，对像素点A4进行首次采样时采用码型为3的AFE通道，对像素点A5进行首次采样时采用码型为7的AFE通道，对像素点A6进行首次采样时采用码型为5的AFE通道，对像素点A7进行首次采样时采用码型为1的AFE通道)，则在对像素点A0～A7进行第二次采样时，可以依据上述准则(即在对任一像素点j进行非首次采样时，采用在前一次对该像素点j的前一个组内像素点进行采样时采用的AFE通道，对该像素点j进行采样)变更各像素点采样所使用的AFE通道，则在对像素点A0～A7进行第二次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为10462375，在对像素点A0～A7进行第三次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为51046237，在对像素点A0～A7进行第四次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为75104623，在对像素点A0～A7进行第五次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为37510462，在对像素点A0～A7进行第六次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为23751046，在对像素点A0～A7进行第七次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为62375104，在对像素点A0～A7进行第八次采样所采用的AFE通道对应的码型顺序变为46237510。当然，也可以通过如下准则变更各像素点采样所使用的AFE通道：在对任一像素点j进行非首次采样时，采用在前一次对该像素点j的前S个组内像素点进行采样时采用的AFE通道，对该像素点j进行采样，其中S取大于1且小于8的奇数，则以前述像素点A0～A7为例，按照头尾相接原则，当S分别取3、5和7时，像素点A1的前3个组内像素点为像素点A5，像素点A1的前5个组内像素点为像素点A3，像素点A1的前7个组内像素点为像素点A1。

当然，在上述指纹传感器的每轮像素点采样中，本发明实施例也可以采用其它方式对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的模拟前端通道，此处不作限定。

102、针对上述指纹传感器的每个像素点，将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，得到相应像素点的本轮采样结果；

本发明实施例中，通过步骤101，同一像素点(例如任一像素点A)将被进行N次采样，像素点采样装置将像素点A的N次采样得到的采样结果进行累加平均，即可得到像素点A的本轮采样结果。

103、输出各个像素点的本轮采样结果；

本发明实施例中，在步骤102得到像素点A的本轮采样结果后，像素点采样装置输出各个像素点的本轮采样结果，以便于后续应用。

需要说明的是，当仅需要对指纹传感器进行一轮像素点采样时，步骤103相当于已有技术中对指纹传感器进行像素点采样后输出各个像素点的采样结果的步骤，至于后续对像素点采样装置输出的各个像素点的本轮采样结果的应用可以参照已有技术具体实现，此处不再赘述。

由于在传统的像素点采样实现方案中，一个Block采样结束后切换到下一个Block采样，两个Block相邻像素点的边界也会存在明显的差异性，这使得两个相邻Block之间有明显的马赛克效应，图2所示的每条黑色竖条纹均是由两个相邻Block之间的边界差异性导致。可选的，为了进一步消除Block之间的边界差异性，在图1所示实施例的基础上，本发明实施例中针对上述指纹传感器的每行像素点执行M轮像素点采样(M取大于1的值)，且在上述每行像素点的每轮像素点采样中，将预设的像素点位置作为起始采样位置并顺序采样，直至完成一行中所有像素点的采样。且当本轮像素点采样为最后一轮像素点采样时，将同一像素点的M轮采样结果进行累加平均，得到相应像素点的最终采样结果后输出各个像素点的最终采样结果，以此消除相邻Block之间的边界差异性。需要说明的是，上述M轮像素点采样中每轮像素点采样均遵循图1所示实施例中的步骤101～103实现，当对指纹传感器进行M轮像素点采样后，上述输出各个像素点的最终采样结果相当于已有技术中对指纹传感器进行像素点采样后输出各个像素点的采样结果的步骤，至于后续对像素点采样装置输出的各个像素点的最终采样结果的应用可以参照已有技术具体实现，此处不再赘述。进一步，针对同一行像素点的M轮像素点采样，分别预设M个不同的像素点位置；则在同一行像素点的M轮像素点采样中，分别将预设的相应像素点位置作为各轮像素点采样中的起始采样位置。

下面举例对上述消除相邻Block之间的边界差异性的方案进行说明，设像素点采样装置针对上述指纹传感器的每行像素点执行两轮像素点采样(即M＝2)，一个Block包含1*8个像素点，上述指纹传感器的每行有64个像素点，依次为像素点0～像素点63，预设第一轮像素点采样的起始采样位置为首个像素点位置，预设第二轮像素点采样中的起始采样位置为Block/2的位置(即第4个像素点位置)，则在上述指纹传感器的任一行(以a行为例)的第一轮像素点采样所采样的像素点顺序为：像素点0～像素点7、像素点8～像素点15、像素点16～像素点23、像素点24～像素点31、像素点32～像素点39、像素点40～像素点47、像素点48～像素点55、像素点56～像素点63；在a行的第二轮像素点采样所采样的像素点顺序为：像素点4～像素点11、像素点12～像素点19、像素点20～像素点27、像素点28～像素点35、像素点36～像素点43、像素点44～像素点51、像素点52～像素点59、像素点60～像素点3(即像素点60、像素点61、像素点62、像素点63、像素点0、像素点1、像素点2以及像素点3)。具体地，对a行的像素点的每轮采样过程参照步骤101～103的描述，当两轮采样结束后，将同一像素点的两轮采样结果进行累加平均，即可得到相应像素点的最终采样结果，之后输出各个像素点的最终采样结果。具体地，可以根据实际情况预设各轮像素点采样中的像素点位置(即起始采样位置)，此处不作限定。

需要说明的是，本发明实施例中的像素点采样方法可以应用于采用多个AFE通道单个ADC的场景中，也可以应用到采用多个AFE通道多个ADC的场景中。本发明实施例中的像素点采样装置可以集成在配备指纹传感器的电子设备中。

由上可见，本发明中对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道，从而使得指纹传感器的每个像素点都被采样N次且经过N个不同的AFE通道，进一步通过将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，使得指纹传感器的各个像素点之间不存在AFE通道物理差异性，即消除了指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性，另外，相对于传统的像素点采样实现方案，由于消除了指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性，因此也有利于采样输出的指纹图像质量的提高。进一步，本发明实施例还提供了消除相邻Block之间的边界差异性的方案，从而更加利于采样输出的指纹图像质量的提高。

下面以另一实施例对本发明实施例中的应用于指纹传感器的像素点采样装置进行描述，请参阅图3，本发明实施例中的像素点采样装置300包括：

采样单元301，用于：在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的模拟前端通道，其中，上述N等于上述指纹传感器进行像素点采样时采用的模拟前端通道的总数；

第一计算处理单元302，用于：针对上述指纹传感器的每个像素点，将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，得到相应像素点的本轮采样结果；

第一输出单元303，用于输出各个像素点的本轮采样结果。

可选的，采样单元301具体用于：针对上述指纹传感器的每行像素点执行M轮像素点采样，且在上述每行像素点的每轮像素点采样中，将预设的像素点位置作为起始采样位置并顺序采样，直至完成一行中所有像素点的采样，其中，上述M大于1；本发明实施例中的像素点采样装置还包括：第二计算处理单元，用于：当采样单元101的本轮像素点采样为最后一轮像素点采样时，将同一像素点的M轮采样结果进行累加平均，得到相应像素点的最终采样结果；第二输出单元，用于输出各个像素点的最终采样结果。进一步，针对同一行像素点的M轮像素点采样，分别预设M个不同的像素点位置；采样单元101具体用于：在同一行像素点的M轮像素点采样中，分别将预设的相应像素点位置作为各轮像素点采样中的起始采样位置。

可选的，采样单元101具体用于：上述指纹传感器的每轮像素点采样中，以1*N个像素点为一组，每次对同组内的N个像素点同时进行采样，其中，同组内的N个像素点在同一次采样中采用的模拟前端通道互不相同。

可选的，上述采样单元101具体用于：在对任一像素点j进行非首次采样时，采用在前一次对上述像素点j的后一个组内像素点进行采样时采用的模拟前端通道，对上述像素点j进行采样；其中，若上述像素点j为组内的最后一个像素点，则上述像素点j的后一个组内像素点是指上述像素点j所在组中的首个像素点；若上述像素点j为组内的非最后一个像素点，则上述像素点j的后一个组内像素点是指同组内上述像素点j的后一个相邻像素点。

需要说明的是，本发明实施例中的像素点采样方法装置可以应用于采用多个AFE通道单个ADC的场景中，也可以应用到采用多个AFE通道多个ADC的场景中。本发明实施例中的像素点采样装置可以集成在配备指纹传感器的电子设备中。

应理解，本发明实施例中的像素点采样方法装置可以如上述方法实施例中提及的像素点采样方法装置，可以用于实现上述方法实施例中的全部技术方案，其各个功能模块的功能可以根据上述方法实施例中的方法具体实现，其具体实现过程可参照上述实施例中的相关描述，此处不再赘述。

由上可见，本发明中对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的AFE通道，从而使得指纹传感器的每个像素点都被采样N次且经过N个不同的AFE通道，进一步通过将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，使得指纹传感器的各个像素点之间不存在AFE通道物理差异性，即消除了指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性，另外，相对于传统的像素点采样实现方案，由于消除了指纹传感器的各个像素点之间的AFE通道物理差异性，因此也有利于采样输出的指纹图像质量的提高。进一步，本发明实施例还提供了消除相邻Block之间的边界差异性的方案，从而更加利于采样输出的指纹图像质量的提高。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，上述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

需要说明的是，对于前述的各方法实施例，为了简便描述，故将其都表述为一系列的动作组合，但是本领域技术人员应该知悉，本发明并不受所描述的动作顺序的限制，因为依据本发明，某些步骤可以采用其它顺序或者同时进行。其次，本领域技术人员也应该知悉，说明书中所描述的实施例均属于优选实施例，所涉及的动作和模块并不一定都是本发明所必须的。

在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其它实施例的相关描述。

以上为对本发明所提供的一种应用于指纹传感器的像素点采样方法和装置的描述，对于本领域的一般技术人员，依据本发明实施例的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上，本说明书内容不应理解为对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种应用于指纹传感器的像素点采样方法，其特征在于，包括：

在指纹传感器的每轮像素点采样中，按照预设的起始采样位置对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的模拟前端通道，其中，所述N等于所述指纹传感器进行像素点采样时采用的模拟前端通道的总数；

针对所述指纹传感器的每个像素点，将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，得到相应像素点的本轮采样结果；

输出各个像素点的本轮采样结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，针对所述指纹传感器的每行像素点执行M轮像素点采样，且在所述每行像素点的每轮像素点采样中，将预设的像素点位置作为起始采样位置并顺序采样，直至完成一行中所有像素点的采样，其中，所述M大于1；

所述输出各个像素点本轮的采样结果，之后包括：

若本轮像素点采样为最后一轮像素点采样，则将同一像素点的M轮采样结果进行累加平均，得到相应像素点的最终采样结果；

输出各个像素点的最终采样结果。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，针对同一行像素点的M轮像素点采样，分别预设M个不同的像素点位置；

所述在所述每行像素点的每轮像素点采样中，将预设的像素点位置作为起始采样位置并顺序采样，直至完成一行中所有像素点的采样，包括：

在同一行像素点的M轮像素点采样中，分别将预设的相应像素点位置作为各轮像素点采样中的起始采样位置。

4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，在所述指纹传感器的每轮像素点采样中，以1*N个像素点为一组，每次对同组内的N个像素点同时进行采样，其中，同组内的N个像素点在同一次采样中采用的模拟前端通道互不相同。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述在指纹传感器的每轮像素点采样中，对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的模拟前端通道，包括：

在对任一像素点j进行非首次采样时，采用在前一次对所述像素点j的后一个组内像素点进行采样时采用的模拟前端通道，对所述像素点j进行采样；

其中，若所述像素点j为组内的最后一个像素点，则所述像素点j的后一个组内像素点是指所述像素点j所在组中的首个像素点；若所述像素点j为组内的非最后一个像素点，则所述像素点j的后一个组内像素点是指同组内所述像素点j的后一个相邻像素点。

6.一种应用于指纹传感器的像素点采样装置，其特征在于，包括：

采样单元，用于：在指纹传感器的每轮像素点采样中，按照预设的起始采样位置对各个像素点进行N次采样，并使得对同一像素点的N次采样均采用不同的模拟前端通道，其中，所述N等于所述指纹传感器进行像素点采样时采用的模拟前端通道的总数；

第一计算处理单元，用于：针对所述指纹传感器的每个像素点，将同一像素点的N次采样得到的采样结果进行累加平均，得到相应像素点的本轮采样结果；

第一输出单元，用于输出各个像素点的本轮采样结果。

7.根据权利要求6所述的像素点采样装置，其特征在于，所述采样单元具体用于：针对所述指纹传感器的每行像素点执行M轮像素点采样，且在所述每行像素点的每轮像素点采样中，将预设的像素点位置作为起始采样位置并顺序采样，直至完成一行中所有像素点的采样，其中，所述M大于1；

所述像素点采样装置还包括：

第二计算处理单元，用于：当所述采样单元的本轮像素点采样为最后一轮像素点采样时，将同一像素点的M轮采样结果进行累加平均，得到相应像素点的最终采样结果；

第二输出单元，用于输出各个像素点的最终采样结果。

8.根据权利要求7所述的像素点采样装置，其特征在于，针对同一行像素点的M轮像素点采样，分别预设M个不同的像素点位置；

所述采样单元具体用于：在同一行像素点的M轮像素点采样中，分别将预设的相应像素点位置作为各轮像素点采样中的起始采样位置。

9.根据权利要求6至8任一项所述的像素点采样装置，其特征在于，所述采样单元具体用于：所述指纹传感器的每轮像素点采样中，以1*N个像素点为一组，每次对同组内的N个像素点同时进行采样，其中，同组内的N个像素点在同一次采样中采用的模拟前端通道互不相同。

10.根据权利要求9所述的像素点采样装置，其特征在于，所述采样单元具体用于：在对任一像素点j进行非首次采样时，采用在前一次对所述像素点j的后一个组内像素点进行采样时采用的模拟前端通道，对所述像素点j进行采样；

其中，若所述像素点j为组内的最后一个像素点，则所述像素点j的后一个组内像素点是指所述像素点j所在组中的首个像素点；若所述像素点j为组内的非最后一个像素点，则所述像素点j的后一个组内像素点是指同组内所述像素点j的后一个相邻像素点。