CN105675480A - Adss光缆耐电腐蚀实验检测设备 - Google Patents
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Abstract
本发明给出了一种ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备,该实验检测设备包括高压导线固定支架、高压电极、光缆固定支架、盐雾箱和电流导线,在高压导线固定支架之间水平设置一两端带有绝缘子的高压导线,高压电极通过一导线与高压电线相连接,光缆固定支架位于高压电线的正下方,盐雾箱位于光缆固定支架之间,在光缆固定支架一端部设置一光缆拉紧装置,电流导线的一端连接一导电夹具,电流导线的另一端串接有接地电阻和电流采集器。本发明中的高压电极在测试过程中能够为不同型号的被测光缆提供不同强度的电场,同时,盐雾箱能够提供不同的盐雾浓度和环境温度,为电缆实验检测的可靠性提供了保障。
Description
技术领域
本发明涉及一种ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备。
背景技术
ADSS光缆是一种全部由介质材料组成、自身包含必要的支撑系统、可直接悬挂于电力杆塔上的非金属光缆,主要用于架空高压输电系统的通信路线,也可用于雷电多发地带、大跨度等架空敷设环境下的通信线路。在ADSS光缆生产厂内,经常需要对ADSS光缆进行耐电痕实验,传统的光缆耐电痕实验方法为:对光缆施加一定应力,在盐雾箱中通过对ADSS光缆直接加压(加压条件满足25mm/kV),进行1000小时的耐电腐蚀试验。
上述方式对光缆进行耐电痕实验,对光缆所施加的外界条件都是固定的,由于光缆实际运行时,所处的外界条件千变万化,采用上述实验方法无法根据现场的不同环境达到确切的检测效果;同时,上述耐电痕实验中,电压是直接在ADSS进行加压,而在实际运行中ADSS上为临近带电线路所施加的感应电压,对其电腐蚀造成主要影响的应为电场强度而不是电压大小。
发明内容
本发明的目的在于提供一种ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备,该设备中的高压电极和盐雾箱能够最大程度的模拟光缆实际运行时所处的外界环境,为得到可靠有效的检测效果提供了保障。
本发明解决其技术问题所采取的技术方案是:一种ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备,该实验检测设备包括高压导线固定支架、高压电极、光缆固定支架、盐雾箱和电流导线,在所述高压导线固定支架之间水平设置一两端带有绝缘子的高压导线,所述高压电极通过一导线与所述高压导线相连接;
所述光缆固定支架位于所述高压导线的正下方,所述盐雾箱位于所述光缆固定支架之间,在所述光缆固定支架一端部设置一光缆拉紧装置,所述电流导线的一端连接一导电夹具,所述电流导线的另一端串接有接地电阻和电流采集器;
所述盐雾箱上设置有加热装置和盐雾喷洒装置,所述加热装置包括电热丝、温度传感器和温控电路板,所述盐雾喷洒装置包括喷洒控制电路板、喷头和水泵,所述盐雾箱通过一竖板分为喷洒区和存水区,所述电热丝和温度传感器设置在所述喷洒区的侧壁上,所述喷头设置在所述喷洒区的顶部位置,所述水泵位于所述存水区底部位置,所述温控电路板和喷洒控制电路板设置在所述存水区外侧壁上,在所述喷洒区的底平面和两侧壁上均开设有通孔,在所述存水区的一侧壁上开设有一通孔。
优选的,在所述盐雾箱的外侧壁上设置有一周圈保温层。
进一步的,在所述存水区的外侧壁上设置一连通所述存水区的液位计。
优选的,所述导电夹具为一挂钩。
优选的,所述导电夹具由两个以铰接方式连接的弧形夹板构成,在每一个所述弧形夹板上均开设一与所述弧形夹板铰接位置相对的通孔。
优选的,所述光缆拉紧装置由夹紧扣、螺纹杆和固定支座构成,所述夹紧扣由一拉板和弧形压板构成,在所述弧形压板上各相对开设一沿其径向方向分布的通孔,在所述拉板上开设有与所述弧形压板上开设的通孔相对应的通孔,所述螺纹杆的前端以间隙配合的方式套置在所述拉板上方开设的通孔内,且在所述螺纹杆的前端设置一挡板,所述固定支座固定在所述光缆固定支架上,且在所述固定支座的一竖杆上开设一与所述螺纹杆相配合的螺纹通孔,所述螺纹杆的中部套置在所述螺纹通孔内。
优选的,所述光缆拉紧装置包括一长挂钩和设置在所述长挂钩下端的托板,且在所述托板上设置有若干个配重块。
本发明的有益效果是:
1、高压电极采用耦合加压方式,能够依据光缆实际运行时所处的电场条件进行高压环境模拟,盐雾箱内设置的加热装置及盐雾喷洒装置,能够依据光缆实际运行时所处的外界环境进行模拟,从而为光缆的耐电痕检测实验提供了可靠的保障。
2、设置在光缆固定支架一端的光缆拉紧装置,在整个测试过程中,都能够保证光缆的处于稳定的应力状态,从而最大程度上模拟了光缆实际运行中所具有的应力状态。
3、设置在盐雾箱上的液位计能够随时反应盐雾箱内盐水的剩余量,实验人员可根据液位计的液位情况来决定是否需要向盐雾箱内添加盐水,以确保实验的顺利进行。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本发明的部分优选实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明的整体结构示意图;
图2为盐雾箱内部结构示意图;
图3为导电夹具第一种具体实施例结构示意图;
图4为导电夹具第二种具体实施例结构示意图;
图5为光缆拉紧装置第一种具体实施例结构示意图;
图6为光缆拉紧装置第二种具体实施例结构示意图;
图7为高压电机耦合电路图;
图中:1高压电极、11导线、2高压导线、21绝缘子、3高压导线固定支架、4光缆固定支架、41光缆拉紧装置、411拉板、412弧形压板、4121圆形通道、413固定支座、4131竖杆、414螺纹杆、415旋转把手、416长挂钩、417托板、418配重、5盐雾箱、511喷头、512水泵、513喷洒控制电路板、521电热丝、522温度传感器、523温控电路板、53保温层、54竖板、55喷洒区、56存水区、561液位计、6电流导线、61导电夹具、611挂钩、612弧形夹板、6121通孔、62接地电阻、63电流采集器、7光缆。
具体实施方式
下面将结合具体实施例及附图1-7,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的一部分优选实施例,而不是全部的实施例。本领域技术人员可以在不违背本发明内涵的情况下做类似变形,因此本发明不受下面公开的具体实施例的限制。
本发明提供了一种ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备(如图1所示),该实验检测设备包括高压导线固定支架3、高压电极1、光缆固定支架4、盐雾箱5和电流导线6,在所述高压导线固定支架3之间水平设置一两端带有绝缘子21的高压导线2,绝缘子21在实验过程中起到绝缘的作用,以防止高压导线2上的高压点泄露,对设备造成损伤,绝缘子21与高压导线2固定连接以后其另一端通过绳索与高压导线固定支架3相连接;所述高压电极1通过一导线11与所述高压导线2相连接,导线11负责将高压电极1上的高压传递到高压导线2上,为最大程度的减少功率损耗,在此,采用铜材料来制作导线11。
为使得光缆7能够完全处在高压导线2产生的电场中,在此,将所述光缆固定支架4设置在所述高压导线2的正下方,所述盐雾箱5位于所述光缆固定支架4之间,在所述光缆固定支架4一端部设置一光缆拉紧装置41,所述电流导线6的一端连接一导电夹具61,所述电流导线6的另一端串接有接地电阻62和电流采集器63,电流采集器63能够记录并存储光缆7上的电流变化情况,以便通过电流变化来分析研究光缆7的耐电痕实验效果,在检测光缆7时,光缆7的一端固定在光缆固定支架4的一端,光缆7的另一端穿过盐雾箱5之后通过光缆拉紧装置41固定在光缆固定支架4的另一端,光缆拉紧装置41能够将光缆7始终保持水平放置,为保证电流导线6与光缆7有良好的接触,在此,优选了导电夹具61的两种具体实施例,第一种如图3所示,导电夹具61为一挂钩611,在检测过程中,导电导线6端部直接通过挂钩611挂在光缆7上便可;第一种如图4所示,所述导电夹具6由两个以铰接方式连接的弧形夹板612构成,电流导线6的一端部通过焊接方式焊接在一个弧形夹板612上,在每一个所述弧形夹板612上均开设一与所述弧形夹板铰接位置相对的通孔6121,在光缆7检测时,光缆7位于两个弧形夹板612对接之后形成的圆形通道内,两个弧形夹板612通过螺栓穿过两个通过6121将光缆7压紧固定。
在长时间的检测过程中,光缆7因重力可能会产生一定的弧度,为能够及时将弧度消除,在此,优选得了光缆拉紧装置41的两种具体实施例,第一种如图5所示,所述光缆拉紧装置41由夹紧扣、螺纹杆414和固定支座413构成,所述夹紧扣由一拉板411和弧形压板412构成,在所述弧形压板412上各相对开设一沿其径向方向分布的通孔,在所述拉板411上开设有与所述弧形压板412上开设的通孔相对应的通孔,光缆7的端部夹持在圆形通道4121内,通过螺栓将弧形压板412和拉板411固定连接在一起,所述螺纹杆414的前端以间隙配合的方式套置在所述拉板411上方开设的通孔内,且在所述螺纹杆414的前端设置一挡板,挡板能够阻挡螺纹杆414在旋转拉紧过程中从拉板411上脱落,如果螺纹杆414从拉板411上脱落,则螺纹杆414就失去了拉紧作用,所述固定支座413固定在所述光缆固定支架4上,且在所述固定支座413的一竖杆4131上开设一与所述螺纹杆414相配合的螺纹通孔,所述螺纹杆414的中部套置在所述螺纹通孔内,通过旋转把手415来旋转螺纹杆414;第二种如图6所示,所述光缆拉紧装置41包括一长挂钩416和设置在所述长挂钩416下端的托板417,且在所述托板417上设置有若干个配重块418,在使用时,光缆7的一端与长挂钩416上的挂钩固定连接,长挂钩416通过配重块418的重力来拉紧光缆7。
所述盐雾箱5上设置有加热装置和盐雾喷洒装置,所述加热装置包括电热丝521、温度传感器522和温控电路板523,所述盐雾喷洒装置包括喷洒控制电路板513、喷头511和水泵512,如图2所示,所述盐雾箱5通过一竖板54分为喷洒区55和存水区56,所述电热丝521和温度传感器522设置在所述喷洒区55的侧壁上,所述喷头511设置在所述喷洒区55的顶部位置,所述喷头511有两个,所述水泵512位于所述存水区56底部位置,所述温控电路板513和喷洒控制电路板5123设置在所述存水区56外侧壁上。温控电路板523控制电热丝521的开启与关闭,温度传感器522采集温度信号给温控电路板,在检测过程中,首先设定温度电路板523上的环境温度监测范围,当温度传感器522采集的温度处在设置的温度范围内时,电热丝521不工作,当温度传感器522采集的温度低于设置的温度范围时,电热丝521开始工作,对喷洒区55进行加热。喷头511通过水管与水泵512连接,水泵512的开启与关闭受到喷洒控制电路板513的控制,当需要改变喷洒流量时,通过喷洒控制电路板513改变水泵512的运行参数即可。在所述喷洒区55的底平面上开设一通孔,以便喷头511喷洒出的盐水从喷洒区55流出,在喷洒区55的两侧壁上均开设有通孔,以便光缆7穿过盐雾箱,在所述存水区56的一侧壁上开设有一通孔,以便在盐水少的时候,通过该通孔向存水区56内加盐水,实验时盐雾的浓度可依据光缆7所处的实际运行环境的盐雾浓度进行匹配。为解决能源,有效缓解盐雾箱5内温度变化速率,在此,在所述盐雾箱5的外侧壁上设置有一周圈保温层53,进一步的,为时刻关注存水区56内盐水的存量,在所述存水区56的外侧壁上设置一连通所述存水区的液位计561。
除说明书所述的技术特征外,均为本专业技术人员的已知技术。
以上所述结合附图对本发明的优选实施方式和实施例作了详述,但是本发明并不局限于上述实施方式和实施例,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干改进和变型,这些改进和变型也应视为本发明的保护范围。
Claims (7)
1.一种ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备,其特征是,该实验检测设备包括高压导线固定支架、高压电极、光缆固定支架、盐雾箱和电流导线,在所述高压导线固定支架之间水平设置一两端带有绝缘子的高压导线,所述高压电极通过一导线与所述高压导线相连接;
所述光缆固定支架位于所述高压导线的正下方,所述盐雾箱位于所述光缆固定支架之间,在所述光缆固定支架一端部设置一光缆拉紧装置,所述电流导线的一端连接一导电夹具,所述电流导线的另一端串接有接地电阻和电流采集器;
所述盐雾箱上设置有加热装置和盐雾喷洒装置,所述加热装置包括电热丝、温度传感器和温控电路板,所述盐雾喷洒装置包括喷洒控制电路板、喷头和水泵,所述盐雾箱通过一竖板分为喷洒区和存水区,所述电热丝和温度传感器设置在所述喷洒区的侧壁上,所述喷头设置在所述喷洒区的顶部位置,所述水泵位于所述存水区底部位置,所述温控电路板和喷洒控制电路板设置在所述存水区外侧壁上,在所述喷洒区的底平面和两侧壁上均开设有通孔,在所述存水区的一侧壁上开设有一通孔。
2.根据权利要求1所述的ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备,其特征是,在所述盐雾箱的外侧壁上设置有一周圈保温层。
3.根据权利要求2所述的ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备,其特征是,在所述存水区的外侧壁上设置一连通所述存水区的液位计。
4.根据权利要求1所述的ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备,其特征是,所述导电夹具为一挂钩。
5.根据权利要求1所述的ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备,其特征是,所述导电夹具由两个以铰接方式连接的弧形夹板构成,在每一个所述弧形夹板上均开设一与所述弧形夹板铰接位置相对的通孔。
6.根据权利要求1所述的ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备,其特征是,所述光缆拉紧装置由夹紧扣、螺纹杆和固定支座构成,所述夹紧扣由一拉板和弧形压板构成,在所述弧形压板上各相对开设一沿其径向方向分布的通孔,在所述拉板上开设有与所述弧形压板上开设的通孔相对应的通孔,所述螺纹杆的前端以间隙配合的方式套置在所述拉板上方开设的通孔内,且在所述螺纹杆的前端设置一挡板,所述固定支座固定在所述光缆固定支架上,且在所述固定支座的一竖杆上开设一与所述螺纹杆相配合的螺纹通孔,所述螺纹杆的中部套置在所述螺纹通孔内。
7.根据权利要求1所述的ADSS光缆耐电腐蚀实验检测设备,其特征是,所述光缆拉紧装置包括一长挂钩和设置在所述长挂钩下端的托板,且在所述托板上设置有若干个配重块。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20160615 |
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |