CN105607574A - 自适应模拟量校准装置 - Google Patents
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Abstract
一种自适应模拟量校准装置,包括:CPU、FLASH存储芯片、可编程逻辑器件、模拟量采集芯片、模拟开关、模拟量输出芯片;其中CPU分别与FLASH存储芯片和可编程逻辑器件相连接;可编程逻辑器件经模拟量输出芯片连接到模拟开关,而模拟开关经模拟量采集芯片与可编程逻辑器件相连接,现场电压接入到模拟开关。本发明方法采用自动化校准采集参数,无需人工监视,自动反复采集校准,直到指标达到指定要求,节省了时间,缩短了产品的测试周期,具有针对性强、实施简单和效率高等特点。
Description
技术领域
本发明涉及模拟信号采集的技术领域,具体说是一种自适应模拟量校准装置。
背景技术
在各种工业自动化控制场合以及信号采集中,需要大量的模拟量信号采集,模拟量对信号质量要求很高,要求模拟量采集的精度越高越好,这样能精确的知道现场的信号细微的变化,因此有必要设计相对高精度的模拟量采集板卡,但由于模拟量器件本身精度的限制,以及PCB印制板布线之间的干扰,从硬件方面解决模拟量精度作用有限,所以一般情况下,需要通过人工来校准参数,校准过程相对耗费人工,而且校准结果不准确,不利于批量校准测试。
发明内容
本发明要解决的技术问题是提供具体说是一种自适应模拟量校准装置。
本发明为解决公知技术中存在的技术问题所采取的技术方案是:
本发明的自适应模拟量校准装置,包括:CPU、FLASH存储芯片、可编程逻辑器件、模拟量采集芯片、模拟开关、模拟量输出芯片;其中CPU分别与FLASH存储芯片和可编程逻辑器件相连接;可编程逻辑器件经模拟量输出芯片连接到模拟开关,而模拟开关经模拟量采集芯片与可编程逻辑器件相连接,现场电压接入到模拟开关。
本发明还可以采用以下技术措施:
CPU为德州仪器公司的TMS320C6713DSP芯片。
FLASH存储芯片为AMD公司的AM29LV160D芯片。
可编程逻辑器件为Altera公司的EPM1270可编程逻辑器件。
模拟量采集芯片为模拟器件公司的AD7610芯片。
模拟开关为模拟器件公司的ADG1208模拟开关。
模拟量输出芯片为模拟器件公司的AD5764DAC芯片。
本发明具有的优点和积极效果是:
本发明的自适应模拟量校准装置中,集成了高精度模拟量输出源,即AD5764芯片,在板卡上电后,先控制模拟开关,把模拟量采集芯片与模拟量输出芯片连接到一起,通过控制模拟量输出芯片以输出不同的电压值,通过模拟量采集芯片,校准不同电压段的值,反复采集并校准,校准达到指定的要求后,再使用切换开关把现场的电压信号连接到模拟量采集芯片上,进行正常的电压信号采集测试,并把数据保留下来,等自动测试完成后,分析保存的数据,了解信号电平变化情况。本发明方法采用自动化校准采集参数,无需人工监视,自动反复采集校准,直到指标达到指定要求,节省了时间,缩短了产品的测试周期,具有针对性强、实施简单和效率高等特点。
附图说明
图1是本发明的自适应模拟量校准装置的架构示意图。
具体实施方式
以下参照具体实施例对本发明进行详细的说明。
如图1所示,本发明的自适应模拟量校准装置,包括:CPU、FLASH存储芯片、可编程逻辑器件、模拟量采集芯片、模拟开关、模拟量输出芯片;其中CPU分别与FLASH存储芯片和可编程逻辑器件相连接;可编程逻辑器件经模拟量输出芯片连接到模拟开关,而模拟开关经模拟量采集芯片与可编程逻辑器件相连接,现场电压接入到模拟开关。
通过CPU通过总线给可编程逻辑器件指令,可编程逻辑器件控制模拟开关,把采集信号切换到模拟量输出芯片上,然后通过控制模拟量输出芯片以输出不同的电压值,通过模拟开关,把电压值通过模拟量采集芯片采集上来,并把采集上来的数值给到可编程逻辑器件中,最后CPU读取采集到的数据,结合模拟量输出芯片输出的数据,进行数据分析比对,查看误差率,然后计算出误差值,以进行校准;重复控制模拟量输出芯片输出不同的电压值,反复采集校准,直到精度达到指定的要求,然后把最终的校准参数保存到FLASH存储芯片,校准完成后,再通过控制模拟开关,把模拟量采集芯片切换到现场电压上,进行正常采集,每次采集后再配合校准参数,以获得较为准确的电压数据,并把最终数据保存下来。
CPU为德州仪器公司的TMS320C6713DSP芯片。FLASH存储芯片为AMD公司的AM29LV160D芯片。可编程逻辑器件为Altera公司的EPM1270可编程逻辑器件。模拟量采集芯片为模拟器件公司的AD7610芯片。模拟开关为模拟器件公司的ADG1208模拟开关。模拟量输出芯片为模拟器件公司的AD5764DAC芯片。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,虽然本发明已以较佳实施例公开如上,然而,并非用以限定本发明,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内,当然会利用揭示的技术内容作出些许更动或修饰,成为等同变化的等效实施例,但凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均属于本发明技术方案的范围内。
Claims (7)
1.一种自适应模拟量校准装置,其特征在于,包括:CPU、FLASH存储芯片、可编程逻辑器件、模拟量采集芯片、模拟开关、模拟量输出芯片;其中CPU分别与FLASH存储芯片和可编程逻辑器件相连接;可编程逻辑器件经模拟量输出芯片连接到模拟开关,而模拟开关经模拟量采集芯片与可编程逻辑器件相连接,现场电压接入到模拟开关。
2.根据权利要求1所述的自适应模拟量校准装置,其特征在于:CPU为德州仪器公司的TMS320C6713DSP芯片。
3.根据权利要求1或2所述的自适应模拟量校准装置,其特征在于:FLASH存储芯片为AMD公司的AM29LV160D芯片。
4.根据权利要求3所述的自适应模拟量校准装置,其特征在于:可编程逻辑器件为Altera公司的EPM1270可编程逻辑器件。
5.根据权利要求4所述的自适应模拟量校准装置,其特征在于:模拟量采集芯片为模拟器件公司的AD7610芯片。
6.根据权利要求5所述的自适应模拟量校准装置,其特征在于:模拟开关为模拟器件公司的ADG1208模拟开关。
7.根据权利要求5所述的自适应模拟量校准装置,其特征在于:模拟量输出芯片为模拟器件公司的AD5764DAC芯片。
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