CN105572154A - X射线探测方法以及装置以及系统 - Google Patents

X射线探测方法以及装置以及系统 Download PDF

Info

Publication number
CN105572154A
CN105572154A CN201610119861.0A CN201610119861A CN105572154A CN 105572154 A CN105572154 A CN 105572154A CN 201610119861 A CN201610119861 A CN 201610119861A CN 105572154 A CN105572154 A CN 105572154A
Authority
CN
China
Prior art keywords
target
radioscopic
planimetric coordinates
dimensional coordinate
ray
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201610119861.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105572154B (zh
Inventor
王红宝
徐玉辉
郭毅
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BEIJING LINGZHI SECURITY TECH CORP
Original Assignee
BEIJING LINGZHI SECURITY TECH CORP
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BEIJING LINGZHI SECURITY TECH CORP filed Critical BEIJING LINGZHI SECURITY TECH CORP
Priority to CN201610119861.0A priority Critical patent/CN105572154B/zh
Publication of CN105572154A publication Critical patent/CN105572154A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105572154B publication Critical patent/CN105572154B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/04Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and forming images of the material
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B15/00Measuring arrangements characterised by the use of electromagnetic waves or particle radiation, e.g. by the use of microwaves, X-rays, gamma rays or electrons

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

本发明涉及探测技术领域,具体而言,涉及一种X射线探测方法、装置以及系统。该方法,包括:获取被探测物体的多张X射线图像,多张所述X射线图像的拍摄角度不同;分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,其中,所述目标包括点目标和/或线目标;根据所述平面坐标,X射线图像拍摄时X射线源与成像面的相对位置,计算目标的三维坐标。本发明所提供的方法通过获取同一个被探测物体拍摄角度不同的X射线照片,分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,结合X射线图像在拍摄时X射线源与成像面的相对位置,将目标的空间三维坐标计算出来,从而探测人员可以得知被探测物体中特定目标的大致形状以及位置。

Description

X射线探测方法以及装置以及系统
技术领域
本发明涉及探测技术领域,具体而言,涉及一种X射线探测方法、装置以及系统。
背景技术
现有的X射线探测方法,一般是将被探测物体放置在成像面之前然后将X射线照射到该物体投影到成像面上,进行平面图像的采集。且采集的时候,一般是会采集至少一张图像,在观察被探测物体的时候也是根据这些平面的X射线图像进行直接的观察。一旦确定被探测物体有可疑物品,例如乘客所携带的箱子内装有某些违禁的物品,那么就要针对该被探测物体进行进一步的检查或者危险排除。但是由于所拍摄到的X射线图像是平面图像,探查者无法确切的获知危险物品的具体位置,为进一步的检查或者危险排除造成一定的影响以及安全隐患。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例的目的在于提供一种X射线探测方法、装置以及系统,能够确定被探测物体内特定目标的大致形状以及位置,方便后续进一步的检查或者危险排除。
第一方面,本发明实施例提供了一种X射线探测方法,包括:
获取被探测物体的多张X射线图像,多张所述X射线图像的拍摄角度不同;
分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,其中,所述目标包括点目标和/或线目标;
根据所述平面坐标,X射线图像拍摄时X射线源与成像面的相对位置,计算目标的三维坐标。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式,所述获取被探测物体的多张X射线图像具体包括:
获取被探测物体的两张X射线图像,其中,两张所述X射线图像在获取时的X射线源的中点连线平行于成像面所在的平面。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式,所述分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标之后,还包括:
将同一个目标在不同的X射线图像中的平面坐标进行关联匹配。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式,当所述目标为点目标时,所述点目标包括一个计算点;
当所述目标为线目标时,所述线目标包括多个计算点;
所述将同一个目标在不同的X射线图像中的平面坐标进行关联匹配包括:
获取所述计算点在不同的X射线图像中的平面坐标;
将计算点在不同的X射线图像中的平面坐标依次进行关联匹配;
其中,所述计算点中至少包括所述线目标两端的端点。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式,所述计算目标的三维坐标包括:
计算计算点的三维坐标;
当所述计算点为一个时,将所述计算点的三维坐标作为目标的三维坐标;
当所述计算点至少有两个时,将所有的所述计算点的三维坐标均作为目标的三维坐标。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式,所述X射线源包括第一射线源以及第二射线源;
所述计算点的三维坐标(x,y,z)分别满足:
x = D - z D × ( X 1 - X 0 ) + X 0 ;
y = D - z D × ( Y 1 - Y 0 ) + Y 0 ;
z = ( X 1 - X 2 ) × D ( X 1 - X 2 ) + ( X ′ - X 0 ) ;
其中,第一射线源到成像面之间的距离为D;
第一射线源在成像面上的投影点的坐标为(X0,Y0);
第二射线源在成像面上的投影点的坐标为(X’,Y’);
计算点在第一射线源照射下,在X射线图像中的平面坐标为(X1,Y1);
计算点在第二射线源照射下,在X射线图像中的平面坐标为(X2,Y2)。
结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第六种可能的实施方式,所述计算目标的三维坐标之后,还包括:
根据所述目标的三维坐标,将目标进行模拟显示。
第二方面,本发明实施例还提供一种X射线探测装置,包括:X射线图像获取模块,获取被探测物体的多张X射线图像,多张所述X射线图像的拍摄角度不同;
平面坐标获取模块,用于分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,其中,所述目标包括点目标和/或线目标;
三维坐标计算模块,用于根据所述平面坐标,X射线图像拍摄时X射线源与成像面的相对位置,计算目标的三维坐标。
结合第二方面,本发明实施例提供了第二方面的第一种可能的实施方式,关联匹配模块,用于将同一个目标在不同的X射线图像中的平面坐标进行关联匹配。
第三方面,本发明实施例还提供一种X射线探测系统,包括如上述第二方面所述的X射线探测装置,还包括:X射线源、成像面;
其中所述X射线源与所述成像面物理分离;
所述成像面与所述:X射线图像获取模块连接。
本发明实施例所提供的X射线探测方法、装置以及系统,通过获取同一个被探测物体拍摄角度不同的X射线照片,然后根据具体要探测的特定目标,分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,结合X射线图像在拍摄时X射线源与成像面的相对位置,将目标的空间三维坐标计算出来,从而探测人员可以得知被探测物体特定目标的大致形状以及位置,方面后续进一步的检查或者危险排除。
为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,应当理解,以下附图仅示出了本发明的某些实施例,因此不应被看作是对范围的限定,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1示出了本发明实施例所提供的一种X射线探测方法的流程图;
图2示出了本发明实施例所提供的X射线探测方法中,进行关联匹配具体方法的流程图;
图3示出了本发明实施例所提供的X射线探测方法中,计算目标点的原理图;
图4示出了本发明实施例所提供的X射线探测方法中,计算目标点的原理图;
图5示出了本发明实施例所提供的另一种X射线探测方法的流程图;
图6示出了本发明实施例所提供的一种X射线探测装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本发明实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本发明的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围,而是仅仅表示本发明的选定实施例。基于本发明的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
目前,X探测技术在具体应用的时候,对本探测物体进行探测时所拍摄的X射线图像均为平面图像,探测者是无法从所获得的X射线图像中获知某被探测物体内部某一个目标的具体空间位置的。例如在地铁、汽车、飞机等场合进行安检的时候,工作人员只能够从所拍摄的X射线图像中观察乘客被检查的行李中是否携带与偶违禁物品,却无法获知违禁物品在行李内的具体空间位置。假如被探测到的违禁物品是炸弹等需要进行后续危险排除工作的物品,那么由于无法准确获知该违禁物品的具体空间位置,对于后续的危险排除是极为不利的.基于此,本申请提供的一种X射线探测方法、装置以及系统,可以获得被探测物体内部指定目标的具体空间位置。
为便于对本实施例进行理解,首先对本发明实施例所公开的一种X射线探测方法进行详细介绍,
需要注意的是,在本发明的描述中,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
另外,在本发明的描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
参见图1所示,本发明实施例所提供的X射线探测方法包括:
S101:获取被探测物体的多张X射线图像,多张所述X射线图像的拍摄角度不同;
在具体实现的时候,多张X射线图像是在X射线源位于成像面之前不同的位置时进行拍摄的,即X射线图像的拍摄角度不同。由于X射线同样具有光的直线传播的特性,X射线从X射线源发出,且并不是以一个垂直的角度照射到成像面上,而是根据X射线源与成像面之间的位置关系,X射线源发出X射线的角度有关,因此,X射线源的位置不同,被探测物体内某一目标在成像后,在X射线图像上的位置也不相同。
一般地,由于在实际应用过程中,只需要知道被探测物体内的特定的目标粗略的空间位置,因此在获取X射线图像的时候,只需要获取被探测物体的两张X射线图像便能够满足后续的要求。在实际应用中,X射线源的安装高度一般都是固定的,获取X射线图像的时候,也仅仅是将X射线源沿着平行于成像面所在的平面移动X射线源。因此,所获取的X射线图像中,同一个目标的在图中的位置通常都是位于同一条直线;这样更方便后续的计算。而考虑到在实际应用过程中,探测人员在选定目标的时候可能会出现一定的偏差,造成通过两张X射线图像所得出的目标位置可能不准确,而如果需要获知目标更加准确的位置,可以增加X射线图像的数量,通过对多张X射线图像进行综合性的处理,以提高所获取的目标的位置的精度。
需要注意的是,成像面可以是多种多样的,例如:荧光屏、X射线阵列探测器在扫描过程中形成图像,该X射线阵列探测器的扫描面即为成像面。
S102:分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,其中,所述目标包括点目标和/或线目标;
在具体实现的时候,获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,可以有多种方法。
1、探测人员主动的输入。例如,在实际应用的时候,可以将X射线图像在显示屏中进行显示。探测人员在发现了可疑目标之后,主动的在X射线图像中进行具体选择,例如在发现某可疑物体的时候,探测人员通过鼠标,沿着特定目标探测到的物体的轮廓、阴影等,画点或者画线,所画出的点或者线即为目标。
2、探测人员可以将特定目标进行大致范围的圈定,计算机根据视觉特征信息进行圈定范围内的相似性运算,然后根据某具体的目标(该目标在圈定范围内)在不同的X射线图像中的相似度大小,来自动确定目标。
所确定的目标一般包括点目标和线目标。所确定的目标的数量也是不定的,探测人员可以根据实际的探测情况,进行具体的确定。实际上,不同的X射线探测设备的成像面的面积都是不变的,例如在便携式X射线探测设备中,包括X射线探测箱以及X射线源。X射线阵列探测器在扫描过程中形成图像,将该X射线阵列探测器的扫描面看作荧光面,那么所探测到的图像应当是这个扫描面范围之内的图像。在拍摄到X射线图像之后,可以在图像中,以某个点为原点O,建立一个平面坐标系,成像面上的每一个点都能对应到该平面坐标系中。探测人员所选定的目标也同样在该平面坐标系中找到对应的坐标。
当目标显示在图像上的时候,都是由多个像素点组成的而每一个像素点都会对应有一个平面坐标。因而当目标为点目标的时候,假设该点目标仅仅占据了一个像素点,那么该像素点的平面坐标即为该点目标的平面坐标。假设该点目标占据了多个像素点,那么所有像素点中心的像素点的平面坐标即为该点目标的平面坐标。
当目标为线目标的时候,而线目标应当是占据了多个像素点。多个像素点在探测人员肉眼观察的时候,形成一条直线,那么可以以直线两端端部的像素点为基准点,以端部的像素点的坐标为线目标的平面坐标。多个像素点在探测人员肉眼观察的时候,形成一条曲线,而曲线是由多条直线组成,将每一条直线两端的像素点的坐标为该线目标的平面坐标(需要注意的是,为了简化计算,相邻的两条直线相互靠近的端部视为重合,仅获取其中一个的平面坐标)。这也就是说,目标的平面坐标可以是仅仅某个像素点的平面坐标,也可以是多个像素点的平面坐标的集合。
S103:根据所述平面坐标,X射线图像拍摄时X射线源的位置以及成像面的位置,计算目标的三维坐标。
在具体实现的时候,成像面的面积大小是已知的,根据成像面所建立的平面坐标系中的点可以和成像面上的任何一个点对应起来。而X射线探测装置在使用之前,都会经过校准的过程。校准的时候,一般会将成像面和X射线源的相对位置固定,因而X射线源与成像面的位置关系(与成像面之间的距离,在成像面方向的投影位置等)也都是在进行X射线图像拍摄之前已经确定的。以平面坐标系的原点O为原点,建立一个空间坐标系,在该空间坐标系中,包括成像面、光源、被探测物体在内,都可以具体在该空间坐标系中有一个空间坐标。而相对于同一个被探测物体来说,其在位置不同的X射线源的照射下所拍摄的X射线图像,同一个目标在不同X射线图像中的投影点与对应的X射线源的连线,应当相交于空间坐标系的某个点,该点即为探测人员想要获知的目标在空间中的实际位置,而该点的在空间坐标系中的三维坐标即为目标的三维坐标。
本发明实施例所提供的X射线探测方法,通过获取同一个被探测物体拍摄角度不同的X射线照片,然后根据具体要探测的特定目标,分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,结合X射线图像在拍摄时X射线源与成像面的相对位置,将目标的空间三维坐标计算出来,从而探测人员可以得知被探测物体特定目标的大致形状以及位置,方面后续进一步的检查或者危险排除。
参见图1所示,在本发明实施例提供的X光线探测方法中,优选地,在分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,即S102之后,还包括:
S104:将同一个目标在不同的X射线图像中的平面坐标进行关联匹配。
在具体实现的时候,根据目标的表现形式不同,可以将目标划分为点目标以及线目标,不管是哪种目标,在计算的时候,都是针对计算点来进行计算,将计算点的平面坐标作为目标的平面坐标。针对点目标,在计算的时候,会将中心的像素点作为点目标的计算点;而针对线目标,则会至少将线目标两端的像素段作为线目标的计算点,然后根据计算点的平面坐标以及已经获知的成像面和X射线源之间的位置关系,计算出与计算点所对应的实际空间中点的三维坐标,然后根据这些三维坐标,合成目标的大概形状,并且获知其在实际空间中的位置关系。因此,在具体获取目标的平面坐标后,要将同一个目标在不同的X射线图像中的平面坐标进行关联匹配。
关联是指将同一个目标在不同的X射线图像中的平面坐标进行关联;匹配则是当计算点有多个的时候,将同一个计算点在不同的X射线图像中的具体平面坐标匹配起来,在后续计算目标的三维坐标的时候,也是根据匹配起来的平面坐标进行计算。
参见图2所示,本发明实施例所提供的将同一个目标在不同的X射线图像中的平面坐标进行关联匹配包括:
S201:获取所述计算点在不同的X射线图像中的平面坐标;
S202:将计算点在不同的X射线图像中的平面坐标依次进行关联匹配;
其中,所述计算点中至少包括所述线目标两端的端点。
此时,在本发明实施例所提供的X涉嫌探测方法中,包括:计算目标的三维坐标包括:
计算计算点的三维坐标;
当所述计算点为一个时,将所述计算点的三维坐标作为目标的三维坐标;
当所述计算点至少有两个时,将所有的所述计算点的三维坐标均作为目标的三维坐标。
参见图3和图4所示,本发明实施例还提供一种计算计算点的三维坐标的具体方法:
假设某计算点S在空间坐标系中的坐标为S(x,y,z),所拍摄的X射线图像有两张,在拍摄两张X射线图像的时候,将X射线源分为第一射线源和第二射线源;两者在成像面上的投影坐标分别为(X0,Y0)和(X’,Y’),其中,以第一射线源为标准位置,射线源B为X射线源沿着与成像面所在的平面向右平移了一定距离后的位置。
需要注意的是,第一射线源和第二射线源仅仅是位置上的区分,事实上,在具体实施的时候,X射线源只有一个,两张照片是X射线源在不同的位置时拍摄的。
参见图4所示,同一个计算点在两个不同位置的第一射线源和第二射线源的照射下,在成像面上的投影分别为(X1,Y1)和(X2,Y2),D为X射线源到荧光板的垂直距离,d为计算点到荧光板的垂直距离。其中,d满足公式(1):
d = ( X 1 - X 2 ) × D ( X 1 - X 2 ) + ( X ′ - X 0 ) - - - ( 1 )
由于该d为计算点距离成像面的距离,因此以平面坐标系的原点为原点所建立的三维所标系中,计算点在z轴上的坐标即为d。因此,计算点在z轴上的坐标满足公式(2):
z = ( X 1 - X 2 ) × D ( X 1 - X 2 ) + ( X ′ - X 0 ) - - - ( 2 )
参见图5所示,X射线源在标准位置(即第一射线源的位置)的时候,在成像面上的投影点的坐标为A(X0,Y0),且射线源1的位置与A的距离为D,计算点S的坐标在X射线源的照射下,其在成像面上的投影为S’(X1,Y1),R为A和S’之间的距离,A’为X射线源在S所在的平行于成像面的平面上的投影,r为A’与S之间的距离,α为A与S’的连线与水平面之间的夹角,β为A’与S的连线与水平面之间的夹角,其中,α=β;根据勾股定理可知,R满足公式(3):
R = ( X 1 - X 0 ) 2 + ( Y 1 - Y 0 ) 2 - - - ( 3 )
而α=β,且满足公式(4)和公式(5):
c o s β = c o s α = X 1 - X 0 R - - - ( 4 )
s i n β = s i n α = Y 1 - Y 0 R - - - ( 5 )
又因为r满足公式(6):
r = D - d D × R - - - ( 6 )
因而x满足公式(7):
x=r×cosβ+X0(7)
y满足公式(8):
y=r×sinβ+Y0(8)
根据上述公式(1)、公式(3)至公式(8),最终可知,计算点的坐标x和y分别分组公式(9)和公式(10):
x = D - z D × ( X 1 - X 0 ) + X 0 - - - ( 9 )
y = D - z D × ( Y 1 - Y 0 ) + Y 0 - - - ( 10 )
最终,计算出在三维空间坐标中,计算点S(x,y,z)的具体坐标值。
需要注意的是,在实际应用的过程中,目标一般都包含最少一个计算点,而一个目标所包含的所有计算点的三维坐标的集合,才是该目标的三维坐标。
另外,参见图5所示,在本发明各个实施方式中,优选地,在计算目标的三维坐标之后,还包括:
S501:根据所述目标的三维坐标,将目标进行模拟显示。
在具体实现的时候,当获得目标的三维坐标之后,会进行判断,判断该目标是否仅仅包含一个计算点,如果是,向用户显示一个以该计算点为圆心的小球,以增加立体感。如果不是,那么就要将按照之前关联匹配的顺序,将计算点和计算点顺序连接,形成直线,并向用户显示一个柱状的直线或者曲线(多条直线首尾相连)。显示的颜色可以根据用户的实际需求进行具体的设定。同时,在显示的时候,还可以具体显示点目标或者线目标上每一个点的坐标,也可以根据实际需要将目标显示在三维坐标系中。
本发明又一实施例还提供一种X射线探测装置,参见图6所示,本发明实施例所提供的X射线探测装置包括:
X射线图像获取模块,获取被探测物体的多张X射线图像,多张所述X射线图像的拍摄角度不同;
平面坐标获取模块,用于分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,其中,所述目标包括点目标和/或线目标;
三维坐标计算模块,用于根据所述平面坐标,X射线图像拍摄时X射线源与成像面的相对位置,计算目标的三维坐标。
本实施例中,X射线图像获取模块、平面坐标获取模块、三维坐标计算模块具体功能和交互方式,可参见图1~图6对应的实施例的记载,在此不再赘述。
本发明实施例所提供的X射线探测装置,通过X射线图像获取模块获取同一个被探测物体拍摄角度不同的X射线图像。然后平面坐标获取模块分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,结合X射线图像在拍摄时X射线源与成像面的相对位置,使用三维坐标计算模块将目标的空间三维坐标计算出来,从而探测人员可以得知被探测物体特定目标的大致形状以及位置,方面后续进一步的检查或者危险排除。
另外,参见图6所示,本发明实施例所提供的另外一种X射线探测装置还包括:关联匹配模块,用于将同一个目标在不同的X射线图像中的平面坐标进行关联匹配。
其中,关联匹配模块与X射线图像获取模块、平面坐标获取模块、三维坐标计算模块具体功能和交互方式,可参见图1~图6对应的实施例的记载,在此不再赘述。
本发明又一实施例还提供了一种X射线探测系统,包括如上述实施例所述的X射线探测装置,还包括:X射线源、成像面;
其中所述X射线源与所述成像面物理分离;
所述成像面与所述:X射线图像获取模块连接。
本发明实施例所提供的X射线探测方法、装置以及系统的计算机程序产品,包括存储了程序代码的计算机可读存储介质,所述程序代码包括的指令可用于执行前面方法实施例中所述的方法,具体实现可参见方法实施例,在此不再赘述。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统和装置的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM,Read-OnlyMemory)、随机存取存储器(RAM,RandomAccessMemory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种X射线探测方法,其特征在于,包括:
获取被探测物体的多张X射线图像,多张所述X射线图像的拍摄角度不同;
分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,其中,所述目标包括点目标和/或线目标;
根据所述平面坐标,X射线图像拍摄时X射线源与成像面的相对位置,计算目标的三维坐标。
2.根据权利要求1所述的X射线探测方法,其特征在于,
所述获取被探测物体的多张X射线图像具体包括:
获取被探测物体的两张X射线图像,其中,两张所述X射线图像在获取时的X射线源的中点连线平行于成像面所在的平面。
3.根据权利要求1所述的X射线探测方法,其特征在于,
所述分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标之后,还包括:
将同一个目标在不同的X射线图像中的平面坐标进行关联匹配。
4.根据权利要求3所述的X射线探测方法,其特征在于,
当所述目标为点目标时,所述点目标包括一个计算点;
当所述目标为线目标时,所述线目标包括多个计算点;
所述将同一个目标在不同的X射线图像中的平面坐标进行关联匹配包括:
获取所述计算点在不同的X射线图像中的平面坐标;
将计算点在不同的X射线图像中的平面坐标依次进行关联匹配;
其中,所述计算点中至少包括所述线目标两端的端点。
5.根据权利要求4所述的X射线探测方法,其特征在于,所述计算目标的三维坐标包括:
计算计算点的三维坐标;
当所述计算点为一个时,将所述计算点的三维坐标作为目标的三维坐标;
当所述计算点至少有两个时,将所有的所述计算点的三维坐标均作为目标的三维坐标。
6.根据权利要求5所述的X射线探测方法,其特征在于,所述X射线源包括第一射线源以及第二射线源;
所述计算点的三维坐标(x,y,z)分别满足:
x = D - z D × ( X 1 - X 0 ) + X 0 ;
y = D - z D × ( Y 1 - Y 0 ) + Y 0 ;
z = ( X 1 - X 2 ) × D ( X 1 - X 2 ) + ( X ′ - X 0 ) ;
其中,第一射线源到成像面之间的距离为D;
第一射线源在成像面上的投影点的坐标为(X0,Y0);
第二射线源在成像面上的投影点的坐标为(X’,Y’);
计算点在第一射线源照射下,在X射线图像中的平面坐标为(X1,Y1);
计算点在第二射线源照射下,在X射线图像中的平面坐标为(X2,Y2)。
7.根据权利要求1-6任意一项所述的X射线探测方法,其特征在于,所述计算目标的三维坐标之后,还包括:
根据所述目标的三维坐标,将目标进行模拟显示。
8.一种X射线探测装置,其特征在于,包括:X射线图像获取模块,获取被探测物体的多张X射线图像,多张所述X射线图像的拍摄角度不同;
平面坐标获取模块,用于分别获取目标在不同的X射线图像中的平面坐标,其中,所述目标包括点目标和/或线目标;
三维坐标计算模块,用于根据所述平面坐标,X射线图像拍摄时X射线源与成像面的相对位置,计算目标的三维坐标。
9.根据权利要求8所述的装置,其特征在于,还包括:关联匹配模块,用于将同一个目标在不同的X射线图像中的平面坐标进行关联匹配。
10.一种X射线探测系统,其特征在于,包括如权利要求8或9所述的X射线探测装置,还包括:X射线源、成像面;
其中所述X射线源与所述成像面物理分离;
所述成像面与所述:X射线图像获取模块连接。
CN201610119861.0A 2016-03-03 2016-03-03 X射线探测方法以及装置以及系统 Active CN105572154B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610119861.0A CN105572154B (zh) 2016-03-03 2016-03-03 X射线探测方法以及装置以及系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610119861.0A CN105572154B (zh) 2016-03-03 2016-03-03 X射线探测方法以及装置以及系统

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105572154A true CN105572154A (zh) 2016-05-11
CN105572154B CN105572154B (zh) 2018-07-31

Family

ID=55882528

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610119861.0A Active CN105572154B (zh) 2016-03-03 2016-03-03 X射线探测方法以及装置以及系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105572154B (zh)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108827985A (zh) * 2017-04-26 2018-11-16 依科视朗国际有限公司 检验x射线检验系统中轮胎元件方位的方法、系统及应用
CN110411383A (zh) * 2019-07-26 2019-11-05 中国航发沈阳发动机研究所 一种航空发动机封严间隙测量方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5245648A (en) * 1991-04-05 1993-09-14 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy X-ray tomographic image magnification process, system and apparatus therefor
CN101958006A (zh) * 2010-09-03 2011-01-26 南京大学 一种基于x光影像的物体三维成像方法
CN102715914A (zh) * 2012-06-29 2012-10-10 北京东方惠尔图像技术有限公司 G型臂x光机的三维图像生成方法及装置与g型臂x光机
CN103517672A (zh) * 2012-05-09 2014-01-15 株式会社东芝 X射线拍摄装置、医用图像处理装置、x射线拍摄方法和医用图像处理方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5245648A (en) * 1991-04-05 1993-09-14 The United States Of America As Represented By The United States Department Of Energy X-ray tomographic image magnification process, system and apparatus therefor
CN101958006A (zh) * 2010-09-03 2011-01-26 南京大学 一种基于x光影像的物体三维成像方法
CN103517672A (zh) * 2012-05-09 2014-01-15 株式会社东芝 X射线拍摄装置、医用图像处理装置、x射线拍摄方法和医用图像处理方法
CN102715914A (zh) * 2012-06-29 2012-10-10 北京东方惠尔图像技术有限公司 G型臂x光机的三维图像生成方法及装置与g型臂x光机

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108827985A (zh) * 2017-04-26 2018-11-16 依科视朗国际有限公司 检验x射线检验系统中轮胎元件方位的方法、系统及应用
CN110411383A (zh) * 2019-07-26 2019-11-05 中国航发沈阳发动机研究所 一种航空发动机封严间隙测量方法
CN110411383B (zh) * 2019-07-26 2021-10-22 中国航发沈阳发动机研究所 一种航空发动机封严间隙测量方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN105572154B (zh) 2018-07-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11652965B2 (en) Method of and system for projecting digital information on a real object in a real environment
Ellenberg et al. Use of unmanned aerial vehicle for quantitative infrastructure evaluation
Chen et al. A proactive workers' safety risk evaluation framework based on position and posture data fusion
KR102399227B1 (ko) Gpr 탐사를 이용한 지하시설물 관리시스템
EP3153816B1 (en) Method, device and computer programme for extracting information about one or more spatial objects
JP5187878B2 (ja) 物体測定システム
TWI498580B (zh) 長度量測方法與長度量測裝置
CN104567758B (zh) 立体成像系统及其方法
US9696543B2 (en) Information processing apparatus and information processing method
Paletta et al. 3D attention: measurement of visual saliency using eye tracking glasses
CN103765870A (zh) 图像处理装置、包括图像处理装置的投影仪和投影仪系统、图像处理方法
CN105934775A (zh) 用于构建锚定在真实世界物体上的虚拟图像的方法和系统
US9710719B2 (en) Apparatus and method for image recognition
US10760907B2 (en) System and method for measuring a displacement of a mobile platform
CN106772428A (zh) 一种无扫描式光子计数非视域三维成像装置及方法
CN111667526B (zh) 用于确定环境中的多个对象的尺寸和距离的方法和设备
CN106572298A (zh) 显示控制装置以及显示控制方法
EP3479142B1 (en) Radiation imaging apparatus
WO2024002340A1 (zh) 对待测物中的目标对象进行追踪的方法及系统
CN106651941A (zh) 一种深度信息的采集方法以及深度测量系统
CN105572154A (zh) X射线探测方法以及装置以及系统
Zhao et al. Metric calibration of unfocused plenoptic cameras for three-dimensional shape measurement
KR101603227B1 (ko) 6d-360도 실감미디어 동영상정보를 이용한 실내공간 정보 제공방법
JP2017192008A (ja) オブジェクト検出装置
CN103852031A (zh) 一种电子设备及测量物体形状的方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant