CN105572152B - 一种复合材料x射线成像灵敏度的替代性测定方法 - Google Patents

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Abstract

本发明属于材料检测技术，具体涉及一种复合材料X射线成像灵敏度的替代性测定方法。GJB5364《射线实时成像检测方法》与GJB1038.2A《纤维增强复合材料无损检验方法第2部分X射线照相检验》中对所使用的像质计的图样、规格虽作了相关规定，但由于复合材料的特殊制造工艺以及其组分的多样性等，使得复合材料像质计加工困难；再加上复合材料的多相性，国内还未制作出统一的复合材料像质计。本发明提出一种能够简易、快速测定复合材料的X射线成像灵敏度方法，有效地测定复合材料成像的灵敏度。

Description

一种复合材料X射线成像灵敏度的替代性测定方法
技术领域
本发明属于材料检测技术，具体涉及一种复合材料X射线成像灵敏度的替代性测定方法。
背景技术
GJB5364《射线实时成像检测方法》与GJB1038.2A《纤维增强复合材料无损检验方法第2部分X射线照相检验》中对所使用的像质计的图样、规格虽作了相关规定，但由于复合材料的特殊制造工艺以及其组分的多样性等，使得复合材料像质计加工困难；再加上复合材料的多相性，国内还未制作出统一的复合材料像质计。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是：提出一种能够简易、快速测定复合材料的X射线成像灵敏度方法，有效地测定复合材料成像的灵敏度。
本发明的技术方案是：一种复合材料X射线成像灵敏度的替代性测定方法，该方法包括以下步骤：
步骤一、针对不同的复合材料制作对应的复合材料阶梯试块以及复合材料孔型像质计；
步骤二、在复合材料阶梯试块的各厚度区域分别进行测定，将复合材料孔型像质计放在阶梯试块上，采用X射线成像检测技术对被测体进行透照，调整透照电压，使得成像后的检测灵敏度满足2-2T，将复合材料孔型像质计替换为金属线型像质计，在同样透照条件下，观察成像中的最细金属丝，以该最细金属丝作为复合材料在金属线型像质计下的X射线成像灵敏度；
步骤三、针对不同复合材料在不同厚度下的检测数据建立关联数据库，即可采用金属线型像质计对不同复合材料进行灵敏度监控，来判定成像质量是否达到检测的要求。
本发明的优点是：采用替代性像质计——金属线型像质计能简捷、方便、有效地测定实时成像检测图像质量的灵敏度。
附图说明
图1是厚度T≤4mm的复合材料孔型像质计示意图；
图2是厚度T>4mm的复合材料孔型像质计示意图；
图3是金属线型像质计；
图4是复合材料阶梯试块。
具体实施方式
下面对本发明做进一步详细说明。参见图1，
为了有效地对实时成像检测图像质量灵敏度进行测定，采用对比法确定复合材料X射线实时成像检测时应发现的金属丝,以确定复合材料X射线实时成像检测图像质量的灵敏度。方法：
1、按GJB5364第6.6.3条的要求制作孔型像质计，其材料组成在射线照相上与被检件相同或相近。将孔型像质计放在相应厚度的阶梯试块上，采用实时成像检测技术对被检体进行透照，如无特殊要求，检测灵敏度一般为2-2T；(如需要,可采用图像处理方法对图像处理)
2、将孔型像质计更换为金属线型像质计，在同一实时成像检测参数下对同一被检件进行透照，采集检测原始图像，找出所发现的最细金属丝，以该最细金属丝作为实时成像检测系统检测图像质量的灵敏度；(如需要,可采用图像处理方法对图像处理)
3、在以后的X射线实时成像检测过程中,采用相同材质的金属丝像质计放在被检件上,找出所发现的最细金属丝作为复合材料实时成像检测图像质量的灵敏度。
采用金属线型像质计对复合材料X射线实时成像检测图像质量的灵敏度进行监控。即：指定采用相同的测试方法、相同的测试体、相同的像质计、相同的图像处理方法以及指定所要求的相同灵敏度来判定图像质量是否达到检测的要求。

Claims (1)

1.一种复合材料X射线成像灵敏度的替代性测定方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：
步骤一、针对不同的复合材料制作对应的复合材料阶梯试块以及复合材料孔型像质计；
步骤二、在复合材料阶梯试块的各厚度区域分别进行测定，将复合材料孔型像质计放在阶梯试块上，采用X射线成像检测技术对被测体进行透照，调整透照电压，使得成像后的检测灵敏度满足2-2T，将复合材料孔型像质计替换为金属线型像质计，在同样透照条件下，观察成像中的最细金属丝，以该最细金属丝作为复合材料在金属线型像质计下的X射线成像灵敏度；
步骤三、针对不同复合材料在不同厚度下的检测数据建立关联数据库，即可采用金属线型像质计对不同复合材料进行灵敏度监控，来判定成像质量是否达到检测的要求。
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