CN105571724A - 一种红外探测器响应率测试装置 - Google Patents
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Abstract
一种红外探测器响应率测试装置，包括光学测试平台、设置于光学测试平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光源系统以及测试处理系统，所述光源系统安装于黑体支架上，包括黑体、光阑、滤光片以及黑体控制器，三维位移台上安装有被测探测器，测试处理系统包括测试计算机、测试板卡，测试计算机信号连接黑体控制器，控制黑体辐射温度，黑体发出的辐射信号通过光阑和滤光片垂直入射到被测探测器上，被测探测器信号连接测试板卡，测试板卡与测试计算机电连接，由测试计算机采集测试板卡上的各项测试数据，本装置方法简便实用，测试精度较高，可广泛推广使用。
Description
技术领域
本发明涉及光电探测器的检测技术，具体是指一种测量红外探测器响应率的装置。
背景技术
近年来，我国航空航天事业、工农业生产及科学技术的迅速发展，红外探测器技术在不同领域中得到越来越多、越来越广泛的应用。由于红外探测器除了本身的体积小、重量轻、可以识别不可见光等优点之外，同时还具有高探测率、基本对波长没有限制、室温下可以正常使用以及比较可靠的结构、具有较好的稳定性等优点，因此，在航空航天领域、国防建设、工农业生产、交通运输及科研系统等领域都有了广泛的应用。为了获得具有高准确度和可信度的数据，对红外探测器性能的优劣提出了越来越高的要求。
红外探测器响应率是表征红外探测器对入射辐射灵敏程度的物理量，其相应率越大，探测器对辐射型号的灵敏程度越好。
目前市场上的红外探测器响应率测试装置在实用性、安装简易性、辐射信号可调整性和黑体温度可控性等方面均存在不足。
发明内容
本发明的目的在于提供一种简捷、实用的测量红外探测器响应率的装置，以达到精确测量响应率的目的。
为实现本发明的目的，提供以下技术方案：一种红外探测器响应率测试装置，其特征在于包括光学测试平台、设置于光学测试平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光源系统以及测试处理系统，所述光源系统安装于黑体支架上，包括黑体、光阑、滤光片以及黑体控制器，三维位移台上安装有被测探测器，测试处理系统包括测试计算机、测试板卡，测试计算机信号连接黑体控制器，控制黑体辐射温度，黑体发出的辐射信号通过光阑和滤光片垂直入射到被测探测器上，被测探测器信号连接测试板卡，测试板卡与测试计算机电连接，由测试计算机采集测试板卡上的各项测试数据。
作为优选，所述光源系统与被测探测器两者位于一个光学轴线。
作为优选，所述黑体产生的全波段红外辐射信号由滤光片进行滤光，产生；和，3个波段的辐射测试信号。
作为优选，光学测试平台置于光、热屏蔽罩之中。
本发明有益效果：测试计算机通过黑体控制器可灵活控制黑体辐射温度，通过光阑和滤光镜可得到不同波段的辐射信号，通过输入测试板卡，计算机采集测试板卡上的各项数据，同时调整黑体辐射信号，整个装置安装简捷、实用、操作简单，测试精度较高。
附图说明
图1为本发明结构示意图。
具体实施方式
一种红外探测器响应率测试装置，包括光学测试平台1、设置于光学测试平台1上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台2、固定于光学测试平台1一端的黑体支架3、光源系统4以及测试处理系统5，所述光源系统4安装于黑体支架3上，包括黑体4.1、光阑4.2、滤光片4.3以及黑体控制器4.4，三维位移台2上安装有被测探测器6，测试处理系统5包括测试计算机5.1、测试板卡5.2，测试计算机信号5.3连接黑体控制器4.4，控制黑体4.1辐射温度，黑体4.1发出的辐射信号通过光阑4.2和滤光片4.3垂直入射到被测探测器6上，被测探测器6信号连接测试板卡5.2，测试板卡5.2与测试计算机5.1电连接，由测试计算机5.1采集测试板卡5.2上的各项测试数据。所述光源系统4与被测探测器6两者位于一个光学轴线。所述黑体4.1产生的全波段红外辐射信号由滤光片4.3进行滤光，产生；和，3个波段的辐射测试信号。光学测试平台1置于光、热屏蔽罩7之中。黑体4.1、光阑4.2、滤光片4.3位于同一光源轴线上。
本发明并不局限于上述具体实施方式所涉及的红外探测器响应率测试装置，熟悉本技术领域的人员还可据此做出多种变化，但任何与本发明等同或相类似的变化都应涵盖在本发明权利要求的范围内。
Claims (4)
1.一种红外探测器响应率测试装置，其特征在于包括光学测试平台、设置于光学测试平台上的可在X、Y、Z三个方向移动的三维位移台、固定于光学测试平台一端的黑体支架、光源系统以及测试处理系统，所述光源系统安装于黑体支架上，包括黑体、光阑、滤光片以及黑体控制器，三维位移台上安装有被测探测器，测试处理系统包括测试计算机、测试板卡，测试计算机信号连接黑体控制器，控制黑体辐射温度，黑体发出的辐射信号通过光阑和滤光片垂直入射到被测探测器上，被测探测器信号连接测试板卡，测试板卡与测试计算机电连接，由测试计算机采集测试板卡上的各项测试数据。
2.根据权利要求1所述的一种红外探测器响应率测试装置，其特征在于所述光源系统与被测探测器两者位于一个光学轴线。
3.根据权利要求1所述的一种红外探测器响应率测试装置，其特征在于所述黑体产生的全波段红外辐射信号由滤光片进行滤光，产生；和，3个波段的辐射测试信号。
4.根据权利要求1所述一种红外探测器响应率测试装置，其特征在于光学测试平台置于光、热屏蔽罩之中。
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2016
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