CN105510722A - 平板吸波材料插损测量装置及其测量方法 - Google Patents

平板吸波材料插损测量装置及其测量方法 Download PDF

Info

Publication number
CN105510722A
CN105510722A CN201510906031.8A CN201510906031A CN105510722A CN 105510722 A CN105510722 A CN 105510722A CN 201510906031 A CN201510906031 A CN 201510906031A CN 105510722 A CN105510722 A CN 105510722A
Authority
CN
China
Prior art keywords
insertion loss
electromagnetic wave
absorbing plate
standing wave
absorbing material
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN201510906031.8A
Other languages
English (en)
Inventor
邓倩岚
辛康
张贺
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shanghai Academy of Spaceflight Technology SAST
Original Assignee
Shanghai Academy of Spaceflight Technology SAST
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shanghai Academy of Spaceflight Technology SAST filed Critical Shanghai Academy of Spaceflight Technology SAST
Priority to CN201510906031.8A priority Critical patent/CN105510722A/zh
Publication of CN105510722A publication Critical patent/CN105510722A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/26—Measuring inductance or capacitance; Measuring quality factor, e.g. by using the resonance method; Measuring loss factor; Measuring dielectric constants ; Measuring impedance or related variables
    • G01R27/2688—Measuring quality factor or dielectric loss, e.g. loss angle, or power factor
    • G01R27/2694—Measuring dielectric loss, e.g. loss angle, loss factor or power factor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Shielding Devices Or Components To Electric Or Magnetic Fields (AREA)

Abstract

本发明提供一种平板吸波材料插损测量装置，包括：微波信号源；驻波筒，所述驻波筒内铺设吸波材料；发射天线，与所述微波信号源连接；频谱仪；接收天线，与所述频谱仪连接；被测平板吸波材料单元，固定在所述驻波筒的信号输出端，所述被测平板吸波材料单元位于所述驻波筒与所述接收天线之间。本发明还提供平板吸波材料插损测量方法。本发明提供的平板吸波材料插损测量装置，结构简单，测量原理简浅，扩展了对平板吸波材料进行测量的试验条件。本发明提供的平板吸波材料插损测量方法，能够在不具备微波暗室测试条件下实现对吸波材料插损参数的准确测量，突破了试验条件的限制。

Description

平板吸波材料插损测量装置及其测量方法
技术领域
本发明涉及光学领域，特别涉及一种平板吸波材料插损测量装置及其测量方法。
背景技术
随着现代无线电技术和雷达探测技术的迅猛发展，极大地提高了飞行器探测系统的搜索、跟踪目标的能力。传统的作战武器系统受到的威胁越来越严重，隐身技术成为提高武器系统生存、突防，尤其是纵深打击能力的有效手段。隐形飞机在军事行动中成功亮相，立即引起军事专用设备家的关注。针对雷达探测的隐身技术途径有两条，一是通过飞机、舰艇等武器的外形进行改进，减少雷达截面积；二是应用雷达吸波材料对雷达波进行吸收或是减少对它的反射。外形隐身技术难度较大，成本高，容易使目标的结构性能劣化，而采用吸波材料技术相对简单，设计难度低。各军事强国普遍重视对吸波材料的研究与开发，谋求武器装备的隐身化已成为军事强国角逐军备高新技术的热点。由于微波信号在开放空间中传输时会产生散射、多径传输等效应导致测试结果不准确，因为吸波材料通常在微波暗室中进行测试，在不具备微波暗室测试条件时很难准确的对吸波材料进行准确测试。
发明内容
本发明的目的在于提供一种平板吸波材料插损测量装置及其测量方法，以解决如何在不具备微波暗室测试条件时对吸波材料插损参数进行测量的问题。
为了解决上述技术问题，本发明的技术方案是：一种平板吸波材料插损测量装置，包括：微波信号源；驻波筒，所述驻波筒内铺设吸波材料；发射天线，与所述微波信号源连接；频谱仪；接收天线，与所述频谱仪连接；被测平板吸波材料单元，固定在所述驻波筒的信号输出端，所述被测平板吸波材料单元位于所述驻波筒与所述接收天线之间。
进一步地，平板吸波材料插损测量装置还包括支架，所述支架将所述被测平板吸波材料单元固定在所述驻波筒的信号输出端。
本发明还提供一种平板吸波材料插损测量方法，包括：微波信号源发出微波信号，被测微波信号的信号频率和电平按照被测吸波材料单元的测试要求设置；经过发射天线传输至驻波筒，微波信号在所述驻波筒内部进行无反射传输；微波信号通过接收天线传输至频谱仪，并得到频谱仪第一测量结果；保持测量装置的测量状态不变，将被测平板吸波材料单元固定在驻波筒输出端，并读取此时的频谱仪第二测量结果；将所述频谱仪第一测量结果与所述频谱仪第二测量结果相减即可得到被测平板吸波材料单元的插损测量结果。
本发明提供的平板吸波材料插损测量装置，结构简单，测量原理简浅，扩展了对平板吸波材料进行测量的试验条件。
本发明提供的平板吸波材料插损测量方法，能够在不具备微波暗室测试条件下实现对吸波材料插损参数的准确测量，突破了试验条件的限制。
附图说明
下面结合附图对发明作进一步说明：
图1为本发明实施例提供的未将被测平板吸波材料单元固定在驻波筒输出端时的平板吸波材料插损测量装置的结构示意图；
图2为本发明实施例提供的平板吸波材料插损测量装置的结构示意图；
图3为本发明实施例提供的平板吸波材料插损测量方法的步骤流程示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明提出的一种平板吸波材料插损测量装置及其测量方法作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比率，仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
本发明的核心思想在于，本发明提供的本发明提供的平板吸波材料插损测量装置，结构简单，测量原理简浅，扩展了对平板吸波材料进行测量的试验条件。本发明提供的平板吸波材料插损测量方法，能够在不具备微波暗室测试条件下实现对吸波材料插损参数的准确测量，突破了试验条件的限制。
图1为本发明实施例提供的未将被测平板吸波材料单元固定在驻波筒输出端时的平板吸波材料插损测量装置的结构示意图；图2为本发明实施例提供的平板吸波材料插损测量装置的结构示意图。参照图1以及图2，一种平板吸波材料插损测量装置，包括：微波信号源11；驻波筒12，所述驻波筒12内铺设吸波材料13；发射天线14，与所述微波信号源11连接；频谱仪15；接收天线16，与所述频谱仪15连接；被测平板吸波材料单元17，固定在所述驻波筒12的信号输出端，所述被测平板吸波材料单元17位于所述驻波筒12与所述接收天线16之间。
进一步地，平板吸波材料插损测量装置还包括支架18，所述支架18将所述被测平板吸波材料单元17固定在所述驻波筒12的信号输出端。
图3为本发明实施例提供的平板吸波材料插损测量方法的步骤流程示意图。参照图3并结合图1及图2，平板吸波材料插损测量方法包括:
S31、微波信号源发出微波信号，被测微波信号的信号频率和电平按照被测吸波材料单元的测试要求设置；
S32、经过发射天线传输至驻波筒，微波信号在所述驻波筒内部进行无反射传输；
S33、微波信号通过接收天线传输至频谱仪，并得到频谱仪第一测量结果；
S34、保持测量装置的测量状态不变，将被测平板吸波材料单元固定在驻波筒输出端，并读取此时的频谱仪第二测量结果；
S35、将所述频谱仪第一测量结果与所述频谱仪第二测量结果相减即可得到被测平板吸波材料单元的插损测量结果。
显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变形而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (3)

1.一种平板吸波材料插损测量装置，其特征在于，包括：
微波信号源；
驻波筒，所述驻波筒内铺设吸波材料；
发射天线，与所述微波信号源连接；
频谱仪；
接收天线，与所述频谱仪连接；
被测平板吸波材料单元，固定在所述驻波筒的信号输出端，所述被测平板吸波材料单元位于所述驻波筒与所述接收天线之间。
2.如权利要求1所述的平板吸波材料插损测量装置，其特征在于，还包括支架，所述支架将所述被测平板吸波材料单元固定在所述驻波筒的信号输出端。
3.一种平板吸波材料插损测量方法，其特征在于，包括：
微波信号源发出微波信号，被测微波信号的信号频率和电平按照被测吸波材料单元的测试要求设置；
经过发射天线传输至驻波筒，微波信号在所述驻波筒内部进行无反射传输；
微波信号通过接收天线传输至频谱仪，并得到频谱仪第一测量结果；
保持测量装置的测量状态不变，将被测平板吸波材料单元固定在驻波筒输出端，并读取此时的频谱仪第二测量结果；
将所述频谱仪第一测量结果与所述频谱仪第二测量结果相减即可得到被测平板吸波材料单元的插损测量结果。
CN201510906031.8A 2015-12-09 2015-12-09 平板吸波材料插损测量装置及其测量方法 Pending CN105510722A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510906031.8A CN105510722A (zh) 2015-12-09 2015-12-09 平板吸波材料插损测量装置及其测量方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201510906031.8A CN105510722A (zh) 2015-12-09 2015-12-09 平板吸波材料插损测量装置及其测量方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN105510722A true CN105510722A (zh) 2016-04-20

Family

ID=55718843

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201510906031.8A Pending CN105510722A (zh) 2015-12-09 2015-12-09 平板吸波材料插损测量装置及其测量方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105510722A (zh)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110208291A (zh) * 2019-05-21 2019-09-06 中国人民解放军陆军装甲兵学院 液体纯度检测方法及液体纯度检测仪

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101344495A (zh) * 2008-07-30 2009-01-14 电子科技大学 一种吸波材料反射率测量装置
CN102255678A (zh) * 2011-04-11 2011-11-23 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种测量馈源网络插入损耗的方法
CN102590616A (zh) * 2012-03-12 2012-07-18 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种测量天线罩任意位置插入损耗的方法
CN102955073A (zh) * 2012-10-25 2013-03-06 西安开容电子技术有限责任公司 滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法
CN103605102A (zh) * 2013-11-28 2014-02-26 北京无线电计量测试研究所 用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法
CN104280626A (zh) * 2013-07-12 2015-01-14 上海精密计量测试研究所 小型柱状体微波暗室反射率电平实验室标定与测量装置

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101344495A (zh) * 2008-07-30 2009-01-14 电子科技大学 一种吸波材料反射率测量装置
CN102255678A (zh) * 2011-04-11 2011-11-23 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种测量馈源网络插入损耗的方法
CN102590616A (zh) * 2012-03-12 2012-07-18 中国电子科技集团公司第五十四研究所 一种测量天线罩任意位置插入损耗的方法
CN102955073A (zh) * 2012-10-25 2013-03-06 西安开容电子技术有限责任公司 滤波屏蔽一体化组件的插入损耗测试方法
CN104280626A (zh) * 2013-07-12 2015-01-14 上海精密计量测试研究所 小型柱状体微波暗室反射率电平实验室标定与测量装置
CN103605102A (zh) * 2013-11-28 2014-02-26 北京无线电计量测试研究所 用于电磁兼容试验的辐射发射测量天线的现场校准方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110208291A (zh) * 2019-05-21 2019-09-06 中国人民解放军陆军装甲兵学院 液体纯度检测方法及液体纯度检测仪

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN102955151B (zh) 自适应交叉极化有源干扰方法及装置
CN106353748B (zh) 用于fmcw雷达测距系统的信号处理装置及方法
US8915133B2 (en) Arrangement and method for testing a level gauge system
CN103791785A (zh) 基于脉冲式激光测距原理的引信测试设备
CN108562892B (zh) 一种无人机载无源双基地雷达装置及目标定位方法
CN103308898B (zh) 一种基于开关切换的单站脉冲rcs测试系统
CN111158263B (zh) 一种内场仿真中间控制的实现方法
CN104820215A (zh) 基于光纤延迟线的高精度雷达目标模拟器
CN105022033A (zh) 雷达装置及控制方法
CN104459650A (zh) 一种毫米波测云雷达实时标校系统及方法
CN105973943A (zh) 一种吸波材料行波抑制性能测试装置及方法
CN102955091B (zh) 整舱条件下的屏蔽方舱低频屏蔽效能测试与评价方法
EP4109042A3 (en) Camera and radar systems and devices for ballistic parameter measurements from a single side of a target volume
CN105510722A (zh) 平板吸波材料插损测量装置及其测量方法
CN107990789B (zh) 一种基于振动信号确定弹丸位置的方法
CN104698443A (zh) 射频复杂干扰仿真试验模拟装置及系统
CN106680793A (zh) 一种双站全尺寸大俯角rcs测试系统
CN203773045U (zh) 一种针对合成孔径雷达的对地弹射干扰信号产生系统
JP2009276332A (ja) レーダークロスセクション測定システム
CN205749371U (zh) 一种吸波材料行波抑制性能测试装置
Li Design of Radar Countermeasure Reconnaissance and Interference System
Liang et al. Autofocusing method for through‐the‐wall bioradar imagery of human vital signs
US2952015A (en) Pulsed noise source for receiver sensitivity testing
Hua et al. Fast RCS modeling for dynamic target tracking
KR101052051B1 (ko) 펄스 레이더용 모의 표적 신호 발생 장치

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
RJ01 Rejection of invention patent application after publication
RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20160420