CN105510697A - GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路 - Google Patents

GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路 Download PDF

Info

Publication number
CN105510697A
CN105510697A CN201610003315.0A CN201610003315A CN105510697A CN 105510697 A CN105510697 A CN 105510697A CN 201610003315 A CN201610003315 A CN 201610003315A CN 105510697 A CN105510697 A CN 105510697A
Authority
CN
China
Prior art keywords
road
microwave power
power device
gan microwave
mcu
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN201610003315.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN105510697B (zh
Inventor
沈美根
关晓龙
陈强
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JIANGSU BOPU ELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd
Original Assignee
JIANGSU BOPU ELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JIANGSU BOPU ELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd filed Critical JIANGSU BOPU ELECTRONIC TECHNOLOGY Co Ltd
Priority to CN201610003315.0A priority Critical patent/CN105510697B/zh
Publication of CN105510697A publication Critical patent/CN105510697A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN105510697B publication Critical patent/CN105510697B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/25—Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof using digital measurement techniques
    • G01R19/2516—Modular arrangements for computer based systems; using personal computers (PC's), e.g. "virtual instruments"

Abstract

本发明公开了一种GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路，包括MCU、译码器、多路选择器、ADC、DAC、栅极驱动功率放大器和采样电阻；多路并列的被测GaN微波功率器件，每路被测GaN微波功率器件栅极均与一栅极驱动功率放大器的输出端连接，每路栅极驱动功率放大器的输入端均对应地与一路DAC的信号输出端连接，每路DAC的信号输入端连接至MCU，每路DAC的片选信号端均连接至译码器，译码器由MCU控制工作；每路被测GaN微波功率器件的漏极电流分别经多路选择器对应的一路采集至MCU中。本电路能达到每路的被测器件漏极电流一致，大大减少了调试工作量，提高了工作效率。

Description

GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路
技术领域
本发明涉及一种实时电流监测电路，尤其涉及一种GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路。
背景技术
GaN微波功率器件已经大量应用于雷达及其它通信系统中，功率器件的可靠性直接影响整个系统的正常工作，因此需要对其进行可靠性验证。一般的直流老化测试电路中，栅极偏置采用电阻串联分压的方式。由于每个器件的开启电压差别较大，多路测试中每一路都采用同一栅压的偏置方法会引起被测器件静态电流差别很大，这样将导致每路被测器件的静态功耗不一致，也会引起被测器件结温差别很大。
一般的直流老化测试系统中，要求结温的误差控制在±5°，通常的做法采用可调电阻的方式改变每路被测器件的栅极电压，使每路的漏极静态电流达到一致。此方法的缺陷为调试工作量巨大，试验效率低。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷，提供一种用于GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路，可自动调节每路被测器件栅极电压，达到每路的被测器件漏极电流一致。
为解决上述技术问题，本发明提供一种GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路，其特征是，包括MCU、译码器、多路选择器、ADC、DAC、栅极驱动功率放大器和采样电阻；
多路并列的被测GaN微波功率器件，每路被测GaN微波功率器件栅极均与一栅极驱动功率放大器的输出端连接，每路栅极驱动功率放大器的输入端均对应地与一路DAC的信号输出端连接，每路DAC的信号输入端连接至MCU，每路DAC的片选信号端均连接至译码器，译码器由MCU控制工作；
每路被测GaN微波功率器件的漏极电流分别经多路选择器对应的一路采集至MCU中。
每路被测GaN微波功率器件漏极经采样电阻后均连接至多路选择器对应的一路中，使被测GaN微波功率器件漏极电流经采样电阻采样后由多路选择器传送至ADC进行模数转换后将信号传送至MCU。
每路被测GaN微波功率器件漏极均经一采样电阻接工作电压VDD。
每路DAC的信号输入端分别通过一数据总线连接至MCU。
每路DAC的片选信号端分别通过一片选总线与连接至译码器.
本发明所达到的有益效果：
本电路采用自动控制电路调节每路被测器件栅压，以达到每路的被测器件漏极电流一致。大大减少了调试工作量，提高了工作效率。
针对被测器件数量较多，器件之间的开启电压一致性差的老化系统，本电路可以自动调节每一路电压，使每路测试器件的静态工作点相近。
考虑到不同被测器件驱动电流大小不同，在电路中增加栅极驱动运放，使不同规格的被测器件可以正常工作。
本电路中增加多路选择器，可以同时控制多路测试器件，提高老化试验效率。
在老化过程中，可实时采集电流数据，通过有线或无线的方式传至数据中心实施无人监测。
附图说明
图1是本发明的电路图。
具体实施方式
下面结合附图对本发明作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本发明的技术方案，而不能以此来限制本发明的保护范围。
如图1所示，本发明的电路包括MCU、译码器、多路选择器、ADC（模/数转换器）、DAC（数/模转换器）、栅极驱动功率放大器和采样电阻等。
多路并列的被测GaN微波功率器件，每路被测GaN微波功率器件栅极均与一栅极驱动功率放大器的输出端连接，每路栅极驱动功率放大器的输入端均对应地与一路DAC的信号输出端连接，每路DAC的信号输入端均通过数据总线连接至MCU，每路DAC的片选信号端均通过片选总线连接至译码器，译码器由MCU控制。
每路被测GaN微波功率器件漏极均经一采样电阻接工作电压VDD。每路被测GaN微波功率器件漏极经采样电阻后均连接至多路选择器对应的一路中，使被测GaN微波功率器件漏极电流经采样电阻采样后由多路选择器传送至ADC进行模数转换后将信号传送至MCU。MCU根据各路被测GaN微波功率器件的采样电流数据，控制译码器，经选择的一路DAC、栅极驱动功率放大器，对该路被测GaN微波功率器件施加电压，自动调节每路被测器件栅极电压，从而调节达到每路的被测器件漏极电流一致。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明技术原理的前提下，还可以做出若干改进和变形，这些改进和变形也应视为本发明的保护范围。

Claims (5)

1.一种GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路，其特征是，包括MCU、译码器、多路选择器、ADC、DAC、栅极驱动功率放大器和采样电阻；
多路并列的被测GaN微波功率器件，每路被测GaN微波功率器件栅极均与一栅极驱动功率放大器的输出端连接，每路栅极驱动功率放大器的输入端均对应地与一路DAC的信号输出端连接，每路DAC的信号输入端连接至MCU，每路DAC的片选信号端均连接至译码器，译码器由MCU控制工作；
每路被测GaN微波功率器件的漏极电流分别经多路选择器对应的一路采集至MCU中。
2.根据权利要求1所述的GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路，其特征是，每路被测GaN微波功率器件漏极经采样电阻后均连接至多路选择器对应的一路中，使被测GaN微波功率器件漏极电流经采样电阻采样后由多路选择器传送至ADC进行模数转换后将信号传送至MCU。
3.根据权利要求1所述的GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路，其特征是，每路被测GaN微波功率器件漏极均经一采样电阻接工作电压VDD。
4.根据权利要求1所述的GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路，其特征是，每路DAC的信号输入端分别通过一数据总线连接至MCU。
5.根据权利要求1所述的GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路，其特征是，每路DAC的片选信号端分别通过一片选总线与连接至译码器。
CN201610003315.0A 2016-01-06 2016-01-06 GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路 Active CN105510697B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610003315.0A CN105510697B (zh) 2016-01-06 2016-01-06 GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201610003315.0A CN105510697B (zh) 2016-01-06 2016-01-06 GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN105510697A true CN105510697A (zh) 2016-04-20
CN105510697B CN105510697B (zh) 2018-04-20

Family

ID=55718818

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201610003315.0A Active CN105510697B (zh) 2016-01-06 2016-01-06 GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN105510697B (zh)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106443123A (zh) * 2016-08-29 2017-02-22 武汉邮电科学研究院 用于移动通信的功率放大器静态工作点测量方法及系统
CN110187249A (zh) * 2018-02-22 2019-08-30 河南省无线发射传输管理中心 一种大功率mos管检测系统及方法
CN110568334A (zh) * 2018-06-01 2019-12-13 河南省无线发射传输管理中心 一种功放管检测装置及数据处理方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103344851A (zh) * 2013-06-24 2013-10-09 江苏博普电子科技有限责任公司 GaN HEMT微波功率器件脉冲直流测试系统及方法
US20140139206A1 (en) * 2012-11-22 2014-05-22 Fujitsu Limited Voltage detecting circuit and method for measuring characteristic of transistor
CN104377416A (zh) * 2014-11-07 2015-02-25 江苏博普电子科技有限责任公司 一种适用于C波段GaN微波大功率器件的宽带匹配电路
CN104374424A (zh) * 2014-11-07 2015-02-25 江苏博普电子科技有限责任公司 一种远程监控微波功率器件长期可靠性测试系统
CN204633719U (zh) * 2015-06-24 2015-09-09 江苏博普电子科技有限责任公司 一种GaN微波功率放大器用漏极调制电路
CN104917467A (zh) * 2015-06-24 2015-09-16 江苏博普电子科技有限责任公司 一种GaN微波功率放大器用漏极调制电路
CN205333728U (zh) * 2016-01-06 2016-06-22 江苏博普电子科技有限责任公司 GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20140139206A1 (en) * 2012-11-22 2014-05-22 Fujitsu Limited Voltage detecting circuit and method for measuring characteristic of transistor
CN103344851A (zh) * 2013-06-24 2013-10-09 江苏博普电子科技有限责任公司 GaN HEMT微波功率器件脉冲直流测试系统及方法
CN104377416A (zh) * 2014-11-07 2015-02-25 江苏博普电子科技有限责任公司 一种适用于C波段GaN微波大功率器件的宽带匹配电路
CN104374424A (zh) * 2014-11-07 2015-02-25 江苏博普电子科技有限责任公司 一种远程监控微波功率器件长期可靠性测试系统
CN204633719U (zh) * 2015-06-24 2015-09-09 江苏博普电子科技有限责任公司 一种GaN微波功率放大器用漏极调制电路
CN104917467A (zh) * 2015-06-24 2015-09-16 江苏博普电子科技有限责任公司 一种GaN微波功率放大器用漏极调制电路
CN205333728U (zh) * 2016-01-06 2016-06-22 江苏博普电子科技有限责任公司 GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
陈炽: "氮化镓高电子迁移率晶体管微波特性表征及微波功率放大器研究", 《中国博士学位论文全文数据库 信息科技辑》 *

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106443123A (zh) * 2016-08-29 2017-02-22 武汉邮电科学研究院 用于移动通信的功率放大器静态工作点测量方法及系统
CN110187249A (zh) * 2018-02-22 2019-08-30 河南省无线发射传输管理中心 一种大功率mos管检测系统及方法
CN110568334A (zh) * 2018-06-01 2019-12-13 河南省无线发射传输管理中心 一种功放管检测装置及数据处理方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN105510697B (zh) 2018-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112285521B (zh) 一种自校正的igbt健康监测方法
CN201449411U (zh) 多通道电流采样电路
CN105510697A (zh) GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路
CN104991115A (zh) 一种斩波式直流电流检测方法及电路
CN108233928B (zh) 一种航空多通道高精度模拟量采集系统bit方法
CN110987216A (zh) 一种宽采集范围高精度电阻采集电路以及采集方法
CN103792445A (zh) 一种全智能电力过流保护测试仪
CN202815120U (zh) 一种电能质量分析仪中的电能质量采集系统
CN205333728U (zh) GaN微波功率器件直流老化系统的实时电流监测电路
CN204241537U (zh) 一种电流采集电路
CN201563237U (zh) 多通道扬声器寿命测试仪
CN204855739U (zh) 功率放大器测试装置
CN104716526A (zh) 一种信号端子复用的方法和装置
CN201788222U (zh) 一种交直流兼容的隔离型电压采样电路
CN103698631A (zh) 卫星接收机抗干扰天线测试系统
CN111913088B (zh) 排线耐电压测试系统
CN105158567A (zh) 一种多通道电阻测量装置及方法
CN205958736U (zh) 一种差分电压探头自动校零电路
CN203250215U (zh) 一种内燃机车微机控制装置自动测试系统
CN210037739U (zh) 多路传感器可控电路、选控模块及voc气体传感器老化装置
CN204479966U (zh) 一种可同时采集多路电流或电压接口的电路
CN204287285U (zh) 一种万用表测量采集卡
CN103743945A (zh) 高压脉冲电源负载电流检测电路及其检测方法
CN108616278B (zh) 一种离散量、模拟量归一化采集电路及方法
CN204705868U (zh) 一种多通道监控装置

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant