CN105486711B - 基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统及方法 - Google Patents

基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统及方法 Download PDF

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Abstract

本发明提供了一种基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统及方法，包括：测温元件(2)、柔性电加热器(3)、温度控制模块(4)、数据采集模块(5)、计算机控制模块(6)、红外热像仪(7)；测温元件(2)测量空间材料(1)的实际温度，并将测得的温度数据传输至计算机控制模块(6)；温度控制模块(4)通过柔性电加热器(3)控制空间材料(1)的温度，并将温度数据传输至计算机控制模块(6)；红外热像仪(7)测试所述空间材料(1)的表面温度；计算机控制模块(6)计算得到所述空间材料(1)的发射率。本发明提供的系统和方法，成本低，操作简单，实现了不规则表面发射率的非接触测量。

Description

基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统及方法
技术领域
本发明涉及空间材料热物性测量技术领域，具体地，涉及基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统及方法。
背景技术
材料表面发射率是航天器热控系统中普遍应用的热控涂层中一个非常重要的热物理性能参数，对航天器温度的控制起着重要作用。不同的产品表面有极为不同的表面光学性质，通过合理地选择不同太阳吸收比性质的材料，可有效地控制航天器内部和外部的热交换，使航天器的温度控制在指定的范围之内。随着新一代航天器的发展，产品呈现非平整表面现象越来越多，而当前复杂产品表面发射率很难进行直接测量。针对波导缝隙和蜂窝等非平整表面的发射率通常采用随炉试片的方式进行测量，无法实现不规则表面产品的发射率测量、全周期装配测试过程材料发射率的跟踪测量和大面积发射率测量。
热像系统是集红外热像技术、红外测温标定技术和计算机图像处理技术等多种高新技术的综合体。红外热像仪能够提供精确的非接触温度测量功能，并且能够生成红外图像或热辐射图像。由于发射率与红外辐射直接相关，而目标红外辐射的强弱又能够通过热图像得到反映，因而材料表面的发射率可以利用热像仪测得，同时，红外热像仪具有发射率测量的非接触性和快速获得大面积发射率数据的优势。因此，基于红外热像仪的空间材料发射率测量方法能解决不规则表面产品的发射率测量、全周期装配测试过程材料发射率的跟踪测量和大面积发射率测量的问题，并应用于空间材料表面发射率测量。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统及方法。
根据本发明提供的基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统，包括：测温元件、柔性电加热器、温度控制模块、数据采集模块、计算机控制模块、红外热像仪，其中，
-所述数据采集模块通过测温元件测量空间材料的实际温度，并将测得的温度数据传输至计算机控制模块；
-所述温度控制模块通过柔性电加热器控制空间材料的温度，并将温度数据传输至计算机控制模块；
-所述红外热像仪测试所述空间材料的表面温度；
-所述计算机控制模块根据接收到的温度数据以及红外热像仪测试得到的表面温度计算得到所述空间材料的发射率。
根据本发明提供的基于红外热像仪的空间材料发射率测量方法，包括如下步骤：
步骤1：利用测温元件、柔性电加热器、温度控制模块、数据采集模块、计算机控制模块、红外热像仪建立测试系统；
步骤2：通过温度测量元件测得空间材料的第一次实际温度，通过红外热像仪测得空间材料的第一次表面温度；
步骤3：通过温度控制模块调节柔性电加热器的加热功率，当空间材料的实际温度达到设定的值时，通过温度测量元件测得空间材料的第二次实际温度，通过红外热像仪测得空间材料的第二次表面温度；
步骤4：重复步骤，得到空间材料的第三次实际温度、第四次实际温度、第三次表面温度和第四次表面温度；
步骤5：将步骤至步骤得到的温度数据代入空间材料的发射率计算公式，将得到三组发射率的计算值平均后得到所述空间材料的发射率。
优选地，所述步骤包括：
步骤1.1：将柔性电加热器和温度控制模块相连；将测温元件和数据采集模块相连；将温度控制模块、数据采集模块连接至计算机控制模块；
步骤1.2：将柔性电加热器粘贴在待测空间材料的下表面，将测温元件粘贴在待测空间材料的上表面；
步骤1.3：将红外热像仪的测量镜头对准待测区域，并通过支架固定。
优选地，所述步骤5中的发射率计算公式如下：
E(T)＝εσT4；
则：
式中：E(T)表示红外辐射强度，ε'表示红外热像仪设定的发射率；T1表示红外热像仪测得的温度；ε表示空间材料实际的发射率；T0表示空间材料实际的温度；εa表示环境的发射率；Ta表示环境的温度，σ表示斯特藩-玻尔兹曼常数；
假设空间材料表面发射率不随空间材料表面温度的变化，且多次测量的环境保持不变，则可以得到如下的计算公式：
则差分后得到：
ε＝(ε1+ε2+ε3)/3；
式中：T11表示红外热像仪第一次测量测得的温度；T12表示红外热像仪第二次测量测得的温度；T13表示红外热像仪第三次测量测得的温度；T14表示红外热像仪第四次测量测得的温度；T01表示第一次测量空间材料表面的实际温度；T02表示第二次测量空间材料表面的实际温度；T03表示第三次测量空间材料表面的实际温度；T04表示第四次测量空间材料表面的实际温度，ε1表示第一次计算出的空间材料实际发射率，ε2表示第二次计算出的空间材料实际发射率，ε3表示第三次计算出的空间材料实际发射率。
与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果：
1、本发明提供的基于红外热像仪的空间材料发射率测量方法解决了不规则表面产品的发射率测量、全周期装配测试过程材料发射率的跟踪测量和大面积发射率测量问题，通过黑体辐射理论和红外热像仪测量原理推导出空间材料表面发射率测量的计算公式后，通过多次测量空间材料的实际温度和红外热像仪测得的表面温度计算得到所述空间材料的发射率，步骤简单，精度高。
2、本发明提供的基于红外热像仪的空间材料发射率测量方法实现非接触测量，在线监测，并适用于大面积测量，且测试系统搭建的成本低，便于推广。
附图说明
通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本发明的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
图1为本发明提供的基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统的原理示意图。
图中：
1-空间材料；
2-测温元件；
3-柔性电加热器；
4-温度控制模块；
5-数据采集模块；
6-计算机控制模块；
7-红外热像仪。
具体实施方式
下面结合具体实施例对本发明进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本发明，但不以任何形式限制本发明。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进。这些都属于本发明的保护范围。
本发明是为了解决不规则表面产品的发射率测量、全周期装配测试过程材料发射率的跟踪测量和大面积发射率测量等问题；本发明首先通过黑体辐射理论和红外热像仪7测量原理推导出空间材料1表面发射率测量的计算公式；然后通过温度控制模块4控制柔性电加热器3加热待测的空间材料1，并使用测温元件2和数据采集模块5测量待测空间材料1的表面温度，得到了待测空间材料1表面的实际温度，同时，使用红外热像仪7测量待测空间材料1的表面温度，得到了待测空间材料1表面的测量温度；最后将待测空间材料1表面的实际温度和测量温度代入计算公式得出待测空间材料1的发射率。
根据本发明提供的基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统，包括：测温元件2、柔性电加热器3、温度控制模块4、数据采集模块5、计算机控制模块6、红外热像仪7，其中，
-所述数据采集模块5通过测温元件2测量空间材料1的实际温度，并将测得的温度数据传输至计算机控制模块6；
-所述温度控制模块4通过柔性电加热器3控制空间材料1的温度，并将温度数据传输至计算机控制模块6；
-所述红外热像仪7测试所述空间材料1的表面温度；
-所述计算机控制模块6根据接收到的温度数据以及红外热像仪7测试得到的表面温度计算得到所述空间材料1的发射率。
根据本发明提供的基于红外热像仪的空间材料发射率测量方法，包括如下步骤：
步骤1：利用测温元件2、柔性电加热器3、温度控制模块4、数据采集模块5、计算机控制模块6、红外热像仪7建立测试系统；
步骤2：通过温度测量元件2测得空间材料1的第一次实际温度，通过红外热像仪7测得空间材料1的第一次表面温度；
步骤3：通过温度控制模块4调节柔性电加热器3的加热功率，当空间材料1的实际温度达到设定的值时，通过温度测量元件2测得空间材料1的第二次实际温度，通过红外热像仪7测得空间材料1的第二次表面温度；
步骤4：重复步骤3，得到空间材料1的第三次实际温度、第四次实际温度、第三次表面温度和第四次表面温度；
步骤5：将步骤2至步骤4得到的温度数据代入空间材料1的发射率计算公式，将得到三组发射率的计算值平均后得到所述空间材料1的发射率。
优选地，所述步骤1包括：
步骤1.1：将柔性电加热器3和温度控制模块4相连；将测温元件2和数据采集模块5相连；将温度控制模块4、数据采集模块5连接至计算机控制模块6；
步骤1.2：将柔性电加热器3粘贴在待测空间材料1的下表面，将测温元件2粘贴在待测空间材料1的上表面；
步骤1.3：将红外热像仪7的测量镜头对准待测区域，并通过支架固定。
具体地，由红外热像仪7的工作原理可知，在已知材料表面温度的情况下，通过调节热像仪7的设定发射率，当红外热像仪7测量得到的温度与空间材料1表面的实际温度一致时，对应的发射率为材料表面的发射率。根据能量守恒原理，红外热像仪7所接收到的红外热辐射应包括材料自身辐射、材料对环境辐射的反射辐射及环境的辐射。
即：E热像仪＝E材料+E背景+E背景反射；
E热像仪表示红外热像仪的热辐射强度，E材料表示空间材料自身的热辐射强度，
E背景表示环境的热辐射强度，E背景反射表示空间材料对环境的反辐射强度。
优选地，所述步骤5中的发射率计算公式如下：
E(T)＝εσT4；
该计算公式为斯忒藩－波耳兹曼定律可推导出材料表面所发射的红外辐射强度与其本身的温度关系。
则得到：
式中：E(T)表示红外辐射强度，ε'表示红外热像仪7设定的发射率；T1表示红外热像仪7测得的温度；ε表示空间材料1实际的发射率；T0表示空间材料1实际的温度；εa表示环境的发射率；Ta表示环境的温度，σ表示斯特藩-玻尔兹曼常数；
假设空间材料1表面发射率不随空间材料1表面温度的变化，且多次测量的环境保持不变，则可以得到如下的计算公式：
则差分后得到：
ε＝(ε1+ε2+ε3)/3；
式中：T11表示红外热像仪7第一次测量测得的温度；T12表示红外热像仪7第二次测量测得的温度；T13表示红外热像仪7第三次测量测得的温度；T14表示红外热像仪7第四次测量测得的温度；T01表示第一次测量空间材料1表面的实际温度；T02表示第二次测量空间材料1表面的实际温度；T03表示第三次测量空间材料1表面的实际温度；T04表示第四次测量空间材料1表面的实际温度。
具体地，通过温度控制模块4调节空间材料的温度，使得在不同的温度条件下，测试空间材料1的实际温度，并通过红外热像仪7测得不同温度下的空间材料1的表面温度。例如使得空间材料1的实际温度达到设定的温度值T01。
等到空间材料1的表面温度达到稳定时，则可以通过红外热像仪7测得此时的表面温度T11；
使得空间材料1的实际温度达到设定的温度值T02；
T02＝T01+5℃；
等到空间材料1的表面温度达到稳定时，则可以通过红外热像仪7测得此时的表面温度T12；
使得空间材料1的实际温度达到设定的温度值T03；
T03＝T02+5℃；
等到空间材料1的表面温度达到稳定时，则可以通过红外热像仪7测得此时的表面温度T13。
使得空间材料1的实际温度达到设定的温度值T04；
T04＝T03+5℃；
等到空间材料1的表面温度达到稳定时，则可以通过红外热像仪7测得此时的表面温度T14。
以上对本发明的具体实施例进行了描述。需要理解的是，本发明并不局限于上述特定实施方式，本领域技术人员可以在权利要求的范围内做出各种变形或修改，这并不影响本发明的实质内容。

Claims (4)

1.一种基于红外热像仪的空间材料发射率测量系统，其特征在于，包括：测温元件(2)、柔性电加热器(3)、温度控制模块(4)、数据采集模块(5)、计算机控制模块(6)、红外热像仪(7)，其中，
-所述数据采集模块(5)通过测温元件(2)测量空间材料(1)的实际温度，并将测得的温度数据传输至计算机控制模块(6)；
-所述温度控制模块(4)通过柔性电加热器(3)控制空间材料(1)的温度，并将温度数据传输至计算机控制模块(6)；
-所述红外热像仪(7)测试所述空间材料(1)的表面温度；
-所述计算机控制模块(6)根据接收到的温度数据以及红外热像仪(7)测试得到的表面温度计算得到所述空间材料(1)的发射率；
其中，所述空间材料(1)的发射率的计算公式如下：
E(T)＝εσT4；
则：
式中：E(T)表示空间材料表面所发射的红外辐射强度，T表示空间材料本身的温度，ε'表示红外热像仪设定的发射率；T1表示红外热像仪测得的温度；ε表示空间材料实际的发射率；T0表示空间材料实际的温度；εa表示环境的发射率；Ta表示环境的温度，σ表示斯特藩-玻尔兹曼常数。
2.一种基于红外热像仪的空间材料发射率测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤1：利用测温元件(2)、柔性电加热器(3)、温度控制模块(4)、数据采集模块(5)、计算机控制模块(6)、红外热像仪(7)建立测试系统；
步骤2：通过温度测量元件(2)测得空间材料(1)的第一次实际温度，通过红外热像仪(7)测得空间材料(1)的第一次表面温度；
步骤3：通过温度控制模块(4)调节柔性电加热器(3)的加热功率，当空间材料(1)的实际温度达到设定的值时，通过温度测量元件(2)测得空间材料(1)的第二次实际温度，通过红外热像仪(7)测得空间材料(1)的第二次表面温度；
步骤4：通过温度控制模块(4)调节柔性电加热器(3)的加热功率，当空间材料(1)的实际温度达到设定的值时，通过温度测量元件(2)测得空间材料(1)的第三次实际温度和第四次实际温度，通过红外热像仪(7)测得空间材料(1)的第三次表面温度和第四次表面温度；
步骤5：将步骤2至步骤4得到的温度数据代入空间材料(1)的发射率计算公式，将得到三组发射率的计算值平均后得到所述空间材料(1)的发射率；
其中：所述步骤5中的发射率计算公式如下：
E(T)＝εσT4；
则：
式中：E(T)表示空间材料表面所发射的红外辐射强度，T表示空间材料本身的温度，ε'表示红外热像仪(7)设定的发射率；T1表示红外热像仪(7)测得的温度；ε表示空间材料(1)实际的发射率；T0表示空间材料(1)实际的温度；εa表示环境的发射率；Ta表示环境的温度，σ表示斯特藩-玻尔兹曼常数。
3.根据权利要求2所述的基于红外热像仪的空间材料发射率测量方法，其特征在于，所述步骤1包括：
步骤1.1：将柔性电加热器(3)和温度控制模块(4)相连；将测温元件(2)和数据采集模块(5)相连；将温度控制模块(4)、数据采集模块(5)连接至计算机控制模块(6)；
步骤1.2：将柔性电加热器(3)粘贴在待测空间材料(1)的下表面，将测温元件(2)粘贴在待测空间材料(1)的上表面；
步骤1.3：将红外热像仪(7)的测量镜头对准待测区域，并通过支架固定。
4.根据权利要求2所述的基于红外热像仪的空间材料发射率测量方法，其特征在于，
假设空间材料(1)表面发射率不随空间材料(1)表面温度的变化，且多次测量的环境保持不变，则得到如下的计算公式：
则差分后得到：
ε＝(ε1+ε2+ε3)/3；
式中：T11表示红外热像仪(7)第一次测量测得的温度；T12表示红外热像仪(7)第二次测量测得的温度；T13表示红外热像仪(7)第三次测量测得的温度；T14表示红外热像仪(7)第四次测量测得的温度；T01表示第一次测量空间材料(1)表面的实际温度；T02表示第二次测量空间材料(1)表面的实际温度；T03表示第三次测量空间材料(1)表面的实际温度，T04表示第四次测量空间材料(1)表面的实际温度，ε1表示第一次计算出的空间材料实际发射率，ε2表示第二次计算出的空间材料实际发射率，ε3表示第三次计算出的空间材料实际发射率。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105890773A (zh) * 2016-06-22 2016-08-24 中国航空工业集团公司沈阳发动机设计研究所 一种表面发射率测量系统
CN106501305B (zh) * 2016-10-18 2019-05-28 上海大学 基于红外热像仪的红外辐射薄膜透过率的测量方法
CN109211959A (zh) * 2017-06-29 2019-01-15 洛阳尖端技术研究院 一种基于红外热像仪的发射率测试方法
CN109141828B (zh) * 2018-07-19 2020-08-28 中国科学院上海光学精密机械研究所 液晶器件相位调控特性测量装置和测量方法
CN108981923B (zh) * 2018-07-24 2020-12-04 中国科学院上海光学精密机械研究所 在线测量连续激光作用下光学元件表面温升的装置及方法
CN109507229B (zh) * 2018-12-12 2021-05-28 上海卫星装备研究所 薄板薄膜材料导热系数测量装置和测量方法
CN114113192A (zh) * 2021-09-23 2022-03-01 中国人民解放军空军工程大学 一种常温状态下试件损伤部位发射率测量装置及方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1643225A1 (en) * 2004-09-30 2006-04-05 Ube Industries, Ltd. Emissivity measuring device
CN102590262A (zh) * 2012-03-28 2012-07-18 哈尔滨工业大学 一种非均匀凹凸表面红外发射率分布的等温测量方法
CN204064985U (zh) * 2014-09-25 2014-12-31 河北工业大学 粉体材料红外发射率测试装置
CN104865287A (zh) * 2015-05-21 2015-08-26 中国科学技术大学 一种快速测量表面红外半球发射率的装置和方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1643225A1 (en) * 2004-09-30 2006-04-05 Ube Industries, Ltd. Emissivity measuring device
CN102590262A (zh) * 2012-03-28 2012-07-18 哈尔滨工业大学 一种非均匀凹凸表面红外发射率分布的等温测量方法
CN204064985U (zh) * 2014-09-25 2014-12-31 河北工业大学 粉体材料红外发射率测试装置
CN104865287A (zh) * 2015-05-21 2015-08-26 中国科学技术大学 一种快速测量表面红外半球发射率的装置和方法

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
大型空间反射镜发射率测量及误差分析;孔林，等;《光学精密工程》;20120930;第20卷(第9期);2014-2020 *
电子器件真实温度和发射率分布的红外测量;朱德忠，等;《红外技术》;20000131;第22卷(第1期);45-48 *

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