CN105486415B - 一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片，包括可寻址加电液晶微光学结构、面阵可见光探测器和驱控预处理模块；液晶微光学结构被划分成可独立施加电驱控信号的多个液晶微光学块，各液晶微光学块具有相同的面形和结构尺寸，被加电液晶微光学块为液晶微透镜阵列块，其余未加电液晶微光学块为液晶相移板块；被液晶微光学块化的液晶微光学结构将与其对应的面阵可见光探测器划分成同等面形和规模的面阵可见光探测器块，并且各面阵可见光探测器块包含同等数量和排布方式的探测器。本发明具有执行可寻址选择及变更局域波前测量的成像探测效能，使用方便，易与常规成像光学系统耦合。

Description

一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片

技术领域

本发明属于成像探测技术领域，更具体地，涉及一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片。

背景技术

在日地或深空环境中，从地球、太阳、星体、扰动甚至欺骗性光源出射或激励的光波，构成了目标所依存的背景光场。物体通过反射/折射/散射阳光、月光、星光或人工光源出射光，将自身的结构和形貌信息嵌入波动光场中并被输运至成像探测结构，通过光电转换实现电子图像数据生成。一般而言，输运目标图像信息的光波场在背景和人工光学环境中展现特定形貌波前及其移动序列，呈现本证性的三维连续形态。由于大气流场在密度、温度、压力和组份等方面常表现出复杂、无规、较强甚至剧烈变动，无序运动的湍流，气体分子的复杂物理化学行为如电离和放电效应，典型的伪装、隐身、欺骗、烟雾或沙尘等，又常驱使流场其介电属性产生随机改变，使光学折射率呈现复杂的时变、空变响应，导致光波前在传输途径中产生局域或整体性结构形貌变动甚至畸变，并最终通过光电成像探测植入电子图像信息中，对图像参量包括：(一)图像分辨率、对比度和清晰度；(二)目标成像位置及可能的偏移程度；(三)图像抖动或闪烁程度；(四)图像扭曲、畸变或异化等产生影响，使成像探测效能降低甚至丧失。迄今为止，已出现多种兼顾光电成图并同时获取和调变波前的现代成像光学技术方案，主要包括以下几类：(一)设置独立的激光波束系统测量局域或狭窄空域内的波前传输和演化属性，用于对自适应光学成像系统其成图操作执行基于波前调变的物理导引；(二)自适应光学成像系统在执行成像探测的同时对瞬时视场的全空域波前进行测量和解算，基于目标波场的点扩散函数合理锐化来导引波前调变以及引导数字图像信息处理；(三)为成像系统增设波前模块，通过测量波前以及解算点扩散函数,基于先验知识或点扩散函数合理锐化来处理数字图像信息，高效执行成图操作。

迄今为止，基于波前测调的自适应光学成像方案，在应对复杂目标和环境的成像探测方面仍存在若干缺陷,主要表现在以下方面：(一)基于独立波束获取波前传输属性，对成像探测而言仅适用于空间环境和目标相对洁净、稳定、缓变或瞬时视场较小的光波场；(二)自适应成像光学系统通常对瞬时视场执行全域波前测调，难以将资源集中在仅需要执行局部波前测调的空间区域；(三)基于所获取的图像信息通常可以识别出异常图像液晶微光学块包括其粗略方位，但难以通过常规波前测调架构执行局域异常成像液晶微光学块所对应的波前的精准测调；(四)无法快速实施波前空变检录以初始化、核实或持续更新波前序列，以及寻找异常的局部波前区域并预测方位、扰动类别或变动态势；(五)瞬时视场的全域波前测调需要占用大量电子资源，在随机电子资源配置有限情形下，对快速运动目标或瞬态物理化学过程难以展开实时波前数据测量、解算与波前构建。目前急需关键技术突破，寻找到新的可对成像视场执行波前扫描测量、局域波前凝视或调变，将成像和可检录的局域波前测量相兼容的功能性微纳光学/光电架构，达到可寻址的实时测量、分析和调变波前，实现成像探测效能增强以及对目标的细部特征和环境特性进行智能化分析、取舍或利用这一目标。

发明内容

针对现有技术的以上缺陷，本发明提供了一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片。通过可寻址时序加载电控信号建立波前测量模态，捕获目标光波的局域或整体波前；通过可寻址时序切断电控信号建立成像探测模态，获得目标的常规平面图像，该图像也包含了与所测量的局域波前对应的图像清晰度降低后的局域目标图像。实现目标成图与可寻址波前测量的兼容性时序捕获。具有探测效能高，使用方便，易与常规成像光学系统耦合的优点。

为实现上述目的，本发明提供了一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片，包括可寻址加电液晶微光学结构、面阵可见光探测器和驱控预处理模块，其中，所述可寻址加电液晶微光学结构被划分成多个阵列分布的液晶微光学块，在时序加电态下为液晶微透镜阵列块，在时序断电态下为液晶相移板块，所述可寻址加电液晶微光学结构依照其被划分的液晶微光学块规模和形态，将与其对应的面阵可见光探测器划分成同等面形和规模的面阵可见光探测器块，各面阵可见光探测器块包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的探测元，每个液晶微光学块与一个面阵可见光探测器块对应，在加电态下的一个液晶微透镜阵列块与一个面阵可见光探测器块构成一个波前测量块，在断电态下的一个液晶相移板块与一个面阵可见光探测器块构成一个常规成像探测块，所述液晶微透镜阵列块用于将目标的局域光波前离散成多个倾斜程度各异的子平面波前，并进一步聚焦在与各液晶微透镜对应的子面阵可见光探测器的相应光敏元上，所述面阵可见光探测器用于将汇聚在各探测器上的汇聚光波转换成电信号并经过后续的量化和校准，以及通过解算各子面阵可见光探测器的光电信号所归属的探测元位置数据，得到所对应的子平面波前的倾角数据，综合各子平面波前的倾角数据及成像光学系统的折光汇聚数据，构建出局域波前数据并输出，所述面阵可见光探测器还用于将进行波前测量的光电信号汇总，以构建出成图数据并输出，所述液晶相移板块用于延迟目标光束相位并与面阵可见光探测器块耦合，以构成成像探测模态下的微光学/光电成像探测块。

优选地，所述面阵可见光探测器块块为m×n元，其中，m、n均为大于1的整数。

优选地，所述子面阵可见光探测器为p×q元，其中，p、q均为大于1的整数。

优选地，面阵可见光探测器为r×s元，其中，r＝m×p，s＝n×q。

优选地，所述驱控预处理模块还用于为所述面阵可见光探测器和液晶微光学结构提供驱动和调控信号，驱动所述面阵可见光探测器和液晶微光学结构工作，并对所述液晶微光学结构进行可寻址加电和断电的电信号进行调控。

优选地，所述的一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片，其特征在于，所述驱控预处理模块上固化了专用算法，用于解算波前测量模态下的各子面阵可见光探测器的光电信号所归属的探测元的位置数据，还用于解算所对应的子平面波前的倾角数据，还用于解算综合成像光学系统的折光汇聚数据后的子平面波前的倾角修正数据，以及构建出局域目标波前数据并输出。

优选地，还包括陶瓷外壳；其中，所述液晶微光学结构、面阵可见光探测器和驱控预处理模块同轴顺序置于陶瓷外壳内，所述面阵可见光探测器位于所述驱控预处理模块的前方，所述液晶微光学结构位于所述面阵可见光探测器的前方且其光入射面通过所述陶瓷外壳的面部开孔裸露在外。

优选地，所述驱控预处理模块上设有第一端口、第五端口和指示灯。

优选地，所述面阵可见光探测器上设有第二端口和第四端口，所述液晶微光学结构上设有第三端口。

优选地，所述第一端口用于接入电源线以连接外部电源，还用于接收外部设备向可见光探测器与液晶微光学结构输入的工作指令，还用于输出所述驱控预处理模块提供给所述面阵可见光探测器和液晶微光学结构的驱动和调控信号。

优选地，所述第一指示灯用于指示所述驱控预处理模块是否处在正常工作状态。

优选地，所述第二端口用于输入所述驱控预处理模块提供给所述面阵可见光探测器的驱控信号。

优选地，所述第三端口用于输入所述驱控预处理模块提供给所述液晶微光学结构的驱控信号。

优选地，所述第四端口用于输出所述面阵可见光探测器提供给所述驱控预处理模块的光电信号。

优选地，所述第五端口用于输入所述面阵可见光探测器提供给所述驱控预处理模块的光电信号。

总体而言，通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，通过将液晶微光学结构划分成可独立时序加电和断电的多个液晶微光学块并将其与面阵可见光探测器耦合，构造可寻址执行局域波前测量以及执行常规成像探测的芯片架构。在上述体制下，目标的局域波前测量精度，由单元电控液晶微透镜的光聚焦效能以及所对应的子面阵可见光探测器的数量决定，即探测器的阵列规模越大，子平面波前的汇聚能力越强，波前测量精度越高；目标的常规成像探测空间分辨率，由面阵可见光探测器的阵列规模决定，即阵列规模越大，空间分辨率/成像分辨率越高。电控液晶微透镜的阵列规模决定了与其对应的子面阵可见光探测器的数量或者子平面波前测量块数量。

通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比，具有以下有益效果：

1、可对目标波场执行可寻址的局域波前测调，通过对成像视场执行局域波前测量、扫描、检录、凝视或调变，实现多功能化的局域波前测量。

2、电控切换波前测量与成像模态，本发明通过对液晶微光学结构执行时序加电或断电操作，以及电控切换局域波前测量与常规成像探测操作，实现波前测量模态与成像探测模态间的时序兼容和灵活切换。

3、成像探测成图效能和波前测量精度高，本发明采用包括面阵电控液晶微透镜的电控液晶微光学结构与面阵可见光探测器耦合的成像探测和局域波前测量架构，具有极高的结构与性能稳定性以及可电控调变的优点。

4、适应性好，由于本发明可对目标光场执行可寻址的局域波前测调，可根据环境和目标情况灵活变换波前测调区域，对目标的细部特征和环境特性基于波前属性进行智能化分析和利用，具有目标和环境适应性好的优点。

5、使用方便，由于本发明的液晶微光学结构、面阵可见光探测器和驱控预处理模块被集成在单个芯片上，具有接插方便，易与成像光学系统、电子和机械装置匹配耦合的优点。

附图说明

图1是本发明实施例的一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片的结构示意图；

图2是本发明实施例的一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片的工作原理图；

图3是本发明实施例的一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片的可寻址局域波前测量和成像探测的功能性焦斑排布示意图。

图1中：1-第一端口，2-第一指示灯，3-驱控预处理模块，4-第二端口，5-面阵可见光探测器，6-第三端口，7-液晶微光学结构，8-光入射窗口，9-第四端口，10-第五端口，11-陶瓷外壳。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。

图1是本发明实施例的一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片的结构示意图。本发明实施例的一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片包括：可寻址局域波前测调与成像探测结构。

可寻址局域波前测调与成像探测架构位于陶瓷外壳11内，包括：驱控预处理模块3、面阵可见光探测器5和液晶微光学结构7。驱控预处理模块3、面阵可见光探测器5和液晶微光学结构7同轴顺序置于陶瓷外壳11内，其中，面阵可见光探测器5位于驱控预处理模块3的前方，液晶微光学结构7位于面阵可见光探测器5的前方且其光入射面通过陶瓷外壳11的面部开孔裸露在外。

液晶微光学结构7中的各独立加断电液晶微光学块在时序加电态下为电控液晶微透镜阵列块。在加电态下，一个电控液晶微透镜阵列块与一个面阵可见光探测器块构成一个波前测量块，用于将局域目标光波离散成多个倾斜程度各异的子平面波前，并进一步聚焦在与各液晶微透镜对应的子面阵可见光探测器的相应探测元上；电控液晶微透镜阵列中的各单元微透镜均对应一个子面阵可见光探测器，它包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的探测元。电控液晶微透镜阵列块与子面阵可见光探测器均为m×n元，其中，m、n均为大于1的整数。子面阵可见光探测器为p×q元，其中，p、q均为大于1的整数，例如，子面阵可见光探测器可以是5×5元、9×9、12×12元甚至更大规模阵列。子面阵可见光探测器与电控液晶微透镜阵列块耦合后被置于成像光学系统的焦面处或弱离焦配置。电控液晶微透镜阵列用于将经由成像光学系统的汇聚光波再聚焦，目标光波被电控液晶微透镜阵列离散成多个倾斜程度各异的子平面波前，并进一步聚焦在与其对应的各子面阵可见光探测器的相应探测元上。

面阵可见光探测器5用于将汇聚在各可见光探测器上的汇聚光波转换成电信号，并通过后续的量化和校准，以及通过解算子面阵可见光探测器的光电信号所归属的探测元其位置数据，得到所对应的子平面波前的倾角数据，综合子面阵可见光探测器的各子平面波前的倾角数据及成像光学系统的折光汇聚数据，构建出局域目标波前数据并输出。

由幅度各异的电信号驱控的液晶微透镜将呈现不同的光学折变和聚焦能力。利用液晶微透镜的电调焦属性，根据目标及背景情况，可增大或减小子平面波前的倾角测量范围从而改变波前的测量种类和范围；另一方面，可对波前的异常变化进行判读、预警或校调，提高测量波前的可靠性以及目标和环境适应性；通过对不同的电控液晶微透镜阵列块执行时序的空变加电操作，可对目标光场进行快速波前检录，建立初始波前序列分布形态，对检测的波前进行核实以及可持续更新波前序列，对暴露出的异常的局部波前区域重点进行波前测调，基于动态波前特征获得支撑基于图像识别与判读的波前数据，并预测方位、扰动类别或变动态势，基于所获取的图像信息通常可以识别出异常图像液晶微光学块包括其粗略方位；通过小区域的波前测调，快速建立目标光场的全域波前态势，以及对快速运动的小目标或局域瞬态物理化学过程展开实时波前数据测量、解算与波前构建。

液晶微光学结构7中的各独立液晶微光学块在时序断电态下为液晶相移板块，并位于面阵可见光探测器5前。在断电态下，多液晶相移板块与多个面阵可见光探测器块匹配。由于液晶相移板块仅对目标光束产生相位延迟，从而构成可以执行常规成像探测操作的微光学/光电成像探测块；面阵可见光探测器用于将通过液晶相移板后最终汇聚在面阵可见光探测器上的聚焦光波转换成电信号；驱控预处理模块用于将面阵可见光探测器的探测元的光电信号归属到一次成像探测操作，通过对面阵可见光探测器的光电信号进行量化和校准处理，得到目标的常规平面图像数据；与各子面阵电控液晶微透镜对应的子面阵可见光探测器，还用于将其用于子平面波前解算的一个探测元的光电信号汇总，构建出由子面阵电控液晶微透镜其阵列规模决定的并与测量子平面波前对应的降低空间分辨率后的成图数据并输出。

面阵可见光探测器5为r×s元，其中，r＝m×p，s＝n×q，例如，面阵可见光探测器可以是512×512元、1024×1024元、2048×2048元甚至更大规模阵列。

液晶相移板用于将经由成像光学系统的汇聚光波进行相位延迟后送入面阵可见光探测器5并被转换成电信号。

驱控预处理模块3用于为面阵可见光探测器5和可寻址驱控液晶微光学结构7提供驱动和调控信号,驱动面阵可见光探测器5工作，以及液晶微光学结构7执行可寻址加电或断电、电控液晶微透镜与液晶相移板间的切换，并对控制所述液晶微光学结构7进行功能轮替的电信号进行调控。

驱控预处理模块3上设有第一端口1、第五端口10、第一指示灯2。其中，第一端口1用于输出驱控预处理模块3提供给面阵可见光探测器5和液晶微光学结构7的可寻址驱动和调控信号，还用于接收外部设备向面阵可见光探测器5及液晶微光学结构7输入的工作指令，第五端口10用于输入面阵可见光探测器5提供给驱控预处理模块3的光电数据，第一指示灯2用于指示驱控预处理模块3是否处在正常工作状态，驱控预处理模块3处在正常工作状态，则第一指示灯2闪烁，否则熄灭。

面阵可见光探测器5上设有第二端口4、第四端口9。其中，第二端口4用于输入驱控预处理模块3提供给面阵可见光探测器5的驱动和调控信号，第三端口9用于输出面阵可见光探测器5提供给驱控预处理模块3的光电数据。

上述第一端口1、第二端口4、第三端口6、第四端口9、第五端口10、第一指示灯2均通过陶瓷外壳11的面部开孔裸露在外。

下面结合图1说明本发明实施例的一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片的工作过程。

首先用并行信号和数据线连接第一端口1、第二端口4和第三端口6，同时连接并行通讯线至第一端口1，用并行数据线连接第四端口9和第五端口10。通过并行通讯线由第一端口1送入电源开启指令，探测器开始自检，此时第一指示灯2接通闪烁，自检通过后第一指示灯2熄灭，探测器和液晶微光学结构进入工作状态。通过并行通讯线由第一端口1送入开始工作指令，驱控液晶微光学结构执行可寻址的加电或断电操作。加电态下的液晶微光学块为汇聚光束的面阵电控液晶微透镜，断电态下的液晶微光学块为延迟光波相位的液晶相移板。驱控预处理模块3经第一端口1、第二端口4和第三端口6，向面阵可见光探测器5及液晶微光学结构7输入驱动和调控信号，面阵可见光探测器5经第四端口9向驱控预处理模块3输出光电信号数据，光电信号数据经驱控预处理模块3处理后得到的局域波前数据以及常规平面目标图像数据，该数据集包括由执行局域波前测量的面阵可见光探测器块输出的与局域波前对应且已降晰的局域图像数据并由端口1输出。

图2是本发明实施例的一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片的工作原理图。如图2所示，面阵可见光探测器5与液晶微光学结构7耦合，被放置在成像光学系统的焦面处或弱离焦配置。液晶微光学结构7中的(n，m-1)、(n，m)(n，m+1)(n，m+2)液晶微光学块，被独立加电或断电驱控。

第(n，m)以及(n，m+2)液晶微光学块的液晶微光学结构在时序加电态下为电控液晶微透镜阵列，各液晶微光学块中的3×3元的子面阵电控液晶微透镜其各单元微透镜与5×5元子面阵可见光探测器对应。被子面阵电控液晶微透镜分割形成的子平面波前，被单元液晶微透镜聚焦在5×5元子面阵可见光探测器的探测元上。子面阵电控液晶微透镜将倾斜程度各异的子平面波前定向聚焦在子面阵可见光探测器的相应探测元上。驱控预处理模块(图中未示出)通过提取子面阵可见光探测器的探测元的光电信号并经量化、校准和解算，得到聚焦光斑质心所归属的探测元位置数据，进而得到子平面波前相对入射平面的倾角值，综合子面阵电控液晶微透镜所分割的子平面波前倾角数据以及成像光学系统的折光汇聚数据，重构出目标的局域出射波前数据并输出。

第(n，m-1)以及(n，m+1)液晶微光学块的液晶微光学结构在在时序断电态下为液晶相移板块。各液晶相移板块与15×15元的子面阵可见光探测器对应。局域入射波束被液晶相移板延迟后射入15×15元面阵可见光探测器的探测元上，形成图像化聚焦光斑并被面阵可见光探测器转换成电信号，驱控预处理模块(图中未示出)通过对光电信号进行量化和校准处理，得到目标的常规平面图像数据并输出。

图3是本发明实施例的一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片的局域波前测量和获取图像信息的功能性焦斑排布示意图。在测量波前模态下，3×3元的子面阵电控液晶微透镜与15×15元规模的子面阵可见光探测器对应，构成目标的局域波前测量块。各单元电控液晶微透镜展现位置各异的汇聚斑分布形态。在成像模态下，面阵可见光探测器上的图像化焦点排布形态，通过光电转换形成一幅常规的平面目标图像。

本发明的可寻址测量局域波前的成像探测芯片，采用液晶微光学结构与面阵可见光探测器耦合的架构，通过可寻址的时序加电和断电操作，进行时序的可寻址局域波前测量与目标的成图操作，捕获目标的出射波前以及平面图像，实现常规平面成像与感兴趣的局域波前测量的时序融合。具有探测效能高，使用方便，易与常规成像光学系统、电子和机械装置匹配耦合的优点。

本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (9)

1.一种可寻址测量局域波前的成像探测芯片，其特征在于，包括可寻址加电液晶微光学结构、面阵可见光探测器和驱控预处理模块，其中，

所述可寻址加电液晶微光学结构被划分成多个阵列分布的液晶微光学块，在时序加电态下为液晶微透镜阵列块，在时序断电态下为液晶相移板块，其中，每个所述液晶微光学块被独立加电驱控；

所述可寻址加电液晶微光学结构依照其被划分的液晶微光学块规模和形态，将与其对应的面阵可见光探测器划分成同等面形和规模的面阵可见光探测器块，各面阵可见光探测器块包括数量和排布方式相同的多个阵列分布的探测元；

每个液晶微光学块与一个面阵可见光探测器块对应，在加电态下的一个液晶微透镜阵列块与一个面阵可见光探测器块构成一个波前测量块，在断电态下的一个液晶相移板块与一个面阵可见光探测器块构成一个常规成像探测块；

所述液晶微透镜阵列块用于将目标的局域光波前离散成多个倾斜程度各异的子平面波前，并进一步聚焦在与各液晶微透镜对应的子面阵可见光探测器的相应光敏元上；

所述面阵可见光探测器用于将汇聚在各探测器上的汇聚光波转换成电信号并经过后续的量化和校准，以及通过解算各子面阵可见光探测器的光电信号所归属的探测元位置数据，得到所对应的子平面波前的倾角数据，综合各子平面波前的倾角数据及成像光学系统的折光汇聚数据，构建出局域波前数据并输出；

所述面阵可见光探测器还用于将进行波前测量的光电信号汇总，以构建出成图数据并输出；

所述液晶相移板块用于延迟目标光束相位并与面阵可见光探测器块耦合，以构成成像探测模态下的微光学/光电成像探测块。

2.如权利要求1所述的成像探测芯片，其特征在于，通过对所述液晶微光学块进行可寻址的时序加电或断电操作，完成可加电或断电操作的液晶微光学块的选择以及波前测量模态与成像探测模态间的切换。

3.如权利要求1所述的成像探测芯片，其特征在于，所述液晶微光学块与所述面阵可见光探测器块均为m×n元，其中，m、n均为大于1的整数。

4.如权利要求1所述的成像探测芯片，其特征在于，所述子面阵可见光探测器为p×q元，其中，p、q均为大于1的整数。

5.如权利要求1所述的成像探测芯片，其特征在于，所述面阵可见光探测器为R×S元，其中，R＝m×p，S＝n×q。

6.如权利要求1所述的成像探测芯片，其特征在于，所述驱控预处理模块还用于为所述面阵可见光探测器和液晶微光学结构提供驱动和调控信号，驱动所述面阵可见光探测器和液晶微光学结构工作，并对所述液晶微光学结构进行可寻址加电和断电操作的电信号进行调控。

7.如权利要求1中所述的成像探测芯片，其特征在于，所述驱控预处理模块上固化了专用算法，用于解算各子面阵可见光探测器的光电信号所归属的探测元的位置数据，还用于解算所对应的子平面波前的倾角数据，还用于解算综合成像光学系统的折光汇聚数据后的子平面波前的倾角修正数据以及构建目标的局域波前数据并输出。

8.如权利要求1至7中任一项所述的成像探测芯片，其特征在于，还包括陶瓷外壳；其中，所述液晶微光学结构、面阵可见光探测器和驱控预处理模块同轴顺序置于陶瓷外壳内，所述面阵可见光探测器位于所述驱控预处理模块的前方，所述液晶微光学结构位于所述面阵可见光探测器的前方且其光入射面通过所述陶瓷外壳的面部开孔裸露在外。

9.如权利要求8中所述的成像探测芯片，其特征在于，所述驱控预处理模块上设有第一端口、第五端口和指示灯，所述面阵可见光探测器上设有第二端口和第四端口，所述液晶微光学结构上设有第三端口；

所述第一端口用于接入电源线以连接外部电源，还用于接收外部设备向可见光探测器与液晶微光学结构输入的工作指令，还用于输出所述驱控预处理模块提供给所述面阵可见光探测器和液晶微光学结构的驱动和调控信号；

所述指示灯用于指示所述驱控预处理模块是否处在正常工作状态；

所述第二端口用于输入所述驱控预处理模块提供给所述面阵可见光探测器的驱控信号；

所述第三端口用于输入所述驱控预处理模块提供给所述液晶微光学结构的驱控信号；

所述第四端口用于输出所述面阵可见光探测器提供给所述驱控预处理模块的光电信号；

所述第五端口用于输入所述面阵可见光探测器提供给所述驱控预处理模块的光电信号。