CN105361901B - 正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统 - Google Patents

正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统。该校正方法包括：建立多层晶体响应线模型；获取PET探测器输出的实际符合事例数据；根据多层晶体响应线模型，对实际符合事例数据进行扩展，生成扩展响应线数据；以及根据扩展响应线数据，确定校正响应线数据。通过本发明的深度效应校正方法，对探测器为单层晶体或较少晶体层数的PET数据进行深度效应校正后，重建出的图像空间位置定位更准确，图像径向和切向空间分辨率都有了很大提高，图像质量明显改善，并且可以达到与硬件上为多层晶体的PET数据基本相同的重建效果。

Description

正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统
技术领域
本发明涉及核医学探测成像领域，具体而言，涉及一种正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统。
背景技术
正电子发射断层扫描仪(positron emission tomography，PET)在核医学领域是重要的断层成像设备，现已广泛的应用于医学领域的诊断和研究。PET可以有效的探测到注入生物体内的标记了放射性示踪原子药物的时空分布。
PET中的主要元件探测器由闪烁晶体，光电倍增管和前端电子学部分组成。在PET中，将带有放射性核素的药物注入人体，带有放射性核素的药物在人体内发生衰变产生正电子，正电子与人体中的负电子发生湮灭反应，产生两个背对背的γ光子。正负电子湮灭产生的两个γ光子入射到探测器的晶体表面，由于γ光子具有较高能量，入射光子会穿过晶体一定深度后，与晶体发生相互作用产生大量低能闪烁光子，PET探测器通过探测这些闪烁光子来确定响应线(Line Of Response,LOR)，然后通过数据处理得到重建图像。然而，由于LOR定位的不准确，造成重建图像的分辨率降低，这就是PET中的深度效应(Depth ofinteraction,DOI)。
图1A所示为DOI产生的示意图。PET探测器通过探测入射光子与晶体相互作用产生的大量闪烁光子来确定LOR，即由产生闪烁光子的两个晶体条的端面中心点的连线来确定LOR，如图1A中所示的直线AB和EF。但这时LOR的定位实际上是错误的。由于γ光子具有较高能量，入射光子是穿过晶体一定深度后，与晶体发生相互作用产生大量低能闪烁光子，而非在晶体表面的中心点产生闪烁光子。如果放射源在视野(Field of view,FOV)中心(如a点)，正确的LOR应是直线CD而不是直线AB；如果放射源在远离FOV中心的点(如b点)，正确的LOR应是直线GH而不是直线EF。从图1A中可以看出，偏离FOV中心越远，DOI越严重。
DOI效应可以在各个方向上产生。以圆柱体为例，如图1B中的(a)和(b)所示，一般可将其分为径向(圆柱上下底面的半径方向)、切向(圆柱上下底面的切线方向)、轴向(圆柱的中心轴方向)三个方向进行研究。探测器的LOR是由产生闪烁光子的两个晶体条的内表面中心点的连线来定位的，而实际γ光子与晶体相互作用的位置在径向上并不是晶体内表面，在切向和轴向不一定是晶体表面中心点，这就分别产生了径向、切向和轴向DOI效应。
目前，DOI校正的方法主要分为硬件校正和软件校正两种。硬件校正是主要通过改变探测器的设计来获得晶体条中射线入射的准确位置，包括：晶体条分层法和把两个不同的光电转换装置耦合到晶体阵列两端的方法。尽管通过硬件设计可以较好的校正PET系统的DOI效应，但这种方法增加了仪器的制造成本和复杂度。另外，当采用硬件设计获取DOI信息时，图像重建遇到了一些新的问题。针对这些新问题，需要对传统的软件算法做一些改进。因此，对于已经完成使用的仪器，软件系统和硬件系统都需要大幅度的修改，因此这种方法就有很大的局限性。
软件校正主要是通过对获得的投影数据在投影空间或者图像空间进行数据处理，通过利用模拟和概率分布、系统响应函数等技术来获得较为准确的各个方向的深度信息。它主要包括两种方法：基于模拟和概率分布的校正方法和利用点扩展函数(Point SpreadFunction,PSF)进行校正的方法。但是这些软件实现的方法也都存在诸如计算成本高、迭代次数稳定性不好或对于切向分辨率改善差等缺点。
发明内容
本发明提供一种正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法及其系统，能够在不改变探测器硬件结构的基础上，获得与晶体分层方法基本相同的校正效果。
本发明的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本发明的实践而习得。
根据本发明的一方面，提供了一种正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法，包括：建立多层晶体响应线模型；获取PET探测器输出的实际符合事例数据；根据所述多层晶体响应线模型，对所述实际符合事例数据进行扩展，生成扩展响应线数据；以及根据所述扩展响应线数据，确定校正响应线数据。
根据本发明的一实施方式，其中建立多层晶体响应线模型包括：获得多层晶体设计下的模拟符合事例数据；以及根据所述模拟符合事例数据，建立所述多层晶体响应线模型。
根据本发明的一实施方式，其中根据模拟符合事例数据，建立所述多层晶体响应线模型包括：对所述模拟符合事例数据中的模拟符合事例进行统计，获得所述两个晶体的m*m种模拟响应线各自的计数；计算m*m种所述模拟响应线的计数的加和总数；以及分别计算每种模拟响应线的计数占所述加和总数的比例；其中m为所述多层晶体响应线模型中的晶体层数，且m为大于1的正整数。
根据本发明的一实施方式，其中生成扩展响应线数据包括：对所述实际符合事例数据中的实际符合事例进行统计，获得所述两个晶体的实际响应线数目；以及根据所述多层晶体响应线模型，对所述实际响应线数目进行分解，获得m*m种所述模拟响应线各自的统计数目，从而生成所述扩展响应线数据。
根据本发明的一实施方式，其中所述校正响应线数据为正弦直方图数据。
根据本发明的一实施方式，其中根据所述扩展响应线数据，确定校正响应线数据包括：获取所述PET探测器输出的实际正弦直方图数据；以及使用线性插值法将所述扩展响应线数据插入到所述实际正弦直方图数据中最邻近的响应线中，以获得所述校正响应线数据；其中所述扩展响应线数据为正弦直方图数据。
根据本发明的一实施方式，其中获取PET探测器输出的实际符合事例数据包括：获取所述PET探测器的输出数据；以及对所述输出数据进行格式转换，以获取所述实际符合事例。
根据本发明的一实施方式，上述校正方法还包括：根据所述校正响应线数据，进行图像重建。
根据本发明的另一方面，提供了一种正电子发射断层扫描仪深度效应校正系统，包括：模型建立模块，用于建立多层晶体响应线模型；实际数据获取模块，用于获取PET探测器输出的实际符合事例数据；扩展数据生成模块，用于根据所述多层晶体响应线模型，对所述实际符合事例数据进行扩展，生成扩展响应线数据；以及校正数据生成模块，用于根据所述扩展响应线数据，确定校正响应线数据。
根据本发明的一实施方式，上述校正系统还包括：图像重建模块，用于根据所述校正响应线数据，进行图像重建。
通过本发明的深度效应校正方法，对探测器为单层晶体或较少晶体层数的PET数据进行深度效应校正后，重建出的图像空间位置定位更准确，图像径向和切向空间分辨率都有了很大提高，图像质量明显改善，并且可以达到与硬件上为多层晶体的PET数据基本相同的重建效果。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性的，并不能限制本发明。
附图说明
通过参照附图详细描述其示例实施例，本发明的上述和其它目标、特征及优点将变得更加显而易见。
图1A示出深度效应的示意图。
图1B示出圆柱形探测器的径向、切向和轴向示意图。
图2示出根据一示例实施方式的PET深度效应校正方法的流程图。
图3示出根据另一示例实施方式的PET深度效应校正方法的流程图。
图4A示出模拟径向上采用双层晶体PET探测器的结构示意图。
图4B示出模拟径向上采用三层晶体PET探测器的结构示意图。
图4C示出实际单层晶体PET探测器的结构示意图。
图4D示出模拟切向上采用三层晶体PET探测器的结构示意图。
图4E示出模拟轴向上采用三层晶体PET探测器的结构示意图。
图5示出根据一示例实施方式的PET深度效应校正系统的结构图。
图6A示出根据一示例实施方式的模型建立模块的结构图。
图6B示出根据一示例实施方式的实际数据获取模块的结构图。
图6C示出根据一示例实施方式的扩展数据生产模块的结构图。
图6D示出根据一示例性方式的校正数据生成模块的结构图。
图7A和图7B分别示出了采用本发明校正方法前后的重建图像。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本发明将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。附图仅为本发明的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。
此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本发明的实施方式的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本发明的技术方案而省略所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现或者操作以避免喧宾夺主而使得本发明的各方面变得模糊。
下述为本发明的方法实施方式，需要说明的是各方法实施方式中所示意的处理顺序并不表明或限制这些处理的时间顺序。此外，易于理解的是，这些处理例如可以通过多个模块同步或异步的执行。
图2示出根据一示例实施方式的PET深度效应校正方法的流程图。如图2所示，校正方法10包括：
步骤S110，建立多层晶体LOR模型。
步骤S120，获取PET探测器输出的实际符合事例数据。
例如，在探测过程中，获得实际采用单层晶体探测器或较少晶体分层探测器的PET输出的实际符合事例数据。
步骤S130，根据多层晶体LOR模型，对从PET探测器获取的实际符合事例数据进行扩展，生成扩展LOR数据。
步骤S140，根据生成的扩展LOR数据，确定校正LOR数据。
图3示出根据另一示例实施方式的PET深度效应校正方法的流程图。如图3所示，校正方法20包括：
步骤S210，获得多层晶体设计下的模拟符合事例数据。
多层晶体设计下的模拟符合事例数据例如可以通过GATE软件模拟多层晶体PET的输出而获得，或者也可以通过模拟实验获得，本发明不以此为限。模拟符合事例数据包括所有符合事例的数据。一件模拟符合事例是指同一放射源发出的一对能量相同、方向相反的入射γ光子作用于两个晶体。一件模拟符合事例的数据可以包括两个入射γ光子分别作用的两个晶体的编号；此外，当探测器轴向上分为多个环时，还可以包括环号。
步骤S220，根据模拟符合事例数据，建立多层晶体LOR模型。
图4A示出模拟径向上采用双层晶体PET探测器的结构示意图。对模拟符合事例数据中的各模拟符合事例按照其中两个入射γ光子所作用的晶体和轴向的环号(如果探测器有多个环)进行分类。对于环号和晶体编号(如图中的B1和B2)均相同的符合事例进行统计，分别计算出图4A中AB、AD、CB及CD四种LOR的计数NAB、NAD、NCB及NCD。之后统计NAB、NAD、NCB及NCD之和NTotal。再分别计算NAB、NAD、NCB及NCD占总数目NTotal的比例，从而建立出双层晶体LOR模型，该模型例如可以以图表的形式呈现，但本发明不以此为限。假设当前的环号为x，对于作用在晶体B1和B2上的双层晶体LOR模型如表1所示：
表1
LOR AB AD CB CD
比例 PAB PAD PCB PCD
其中PAB、PAD、PCB及PCD分别表示LOR AB、AD、CB及CD的计数占总数目的比例。
图4B示出模拟径向上采用三层晶体PET探测器的结构示意图。对模拟符合事例数据中的各模拟符合事例按照其中两个入射γ光子所作用的晶体和轴向的环号(如果探测器有多个环)进行分类。对于环号和晶体编号(如图中的B1和B2)均相同的符合事例进行统计，分别计算图4B中AB、AD、AF、CB、CD、CF、EB、ED及EF九种LOR的计数NAB、NAD、NAF、NCB、NCD、NCF、NEB、NED及NEF。之后，统计NAB、NAD、NAF、NCB、NCD、NCF、NEB、NED及NEF之和NTotal。再分别计算NAB、NAD、NAF、NCB、NCD、NCF、NEB、NED及NEF占总数目NTotal的比例，从而建立出三层晶体LOR模型。假设当前的环号为x，对于作用在晶体B1和B2上的双层晶体LOR模型如表2所示：
表2
LOR AB AD AF CB CD CF EB ED EF
比例 PAB PAD PAF PCB PCD PCF PEB PED PEF
其中PAD、PAF、PCB、PCD、PCF、PEB、PED及PEF分别表示LOR AB、AD、AF、CB、CD、CF、EB、ED及EF的计数占总数目的比例。
从上述可以看出，对于多层晶体PET，假设其晶体层数为m，则对于两个晶体，其可能的LOR种类为m*m个。如双层晶体，LOR包括：AB、AD、CB及CD四种；而对于三层晶体，LOR则包括：AB、AD、AF、CB、CD、CF、EB、ED及EF九种。在实际应用中，模拟的分层层数可由实际需求而选取。
图4D和图4E分别示出了分别在切向和轴向上模拟三层分层晶体的示意图，如图4D和图4E所示，虽然其在晶体分层方向上与图4A和图4B中的不同，但原理是相同的。根据上述径向上分层的说明，本领域技术人员均可了解如何根据上述生成多层晶体LOR模型的方法，产生在切向或轴向上采用多层晶体的多层晶体LOR模型，因此此处不再赘述。
步骤S230，获取PET探测器输出的实际符合事例数据。
上述实际PET探测器例如可以为现有的采用单层晶体探测器的PET，也可以为采用较少晶体分层探测器的PET。实际符合事例数据包括所有实际符合事例的数据。一件实际符合事例是指PET探测器探测到的同一放射源发出的一对能量相同、方向相反的入射γ光子作用于两个晶体。一件实际符合事例的数据例如可以包括两个γ光子所作用的晶体的编号；而如果PET探测器采用多环结构，一件实际符合事例的数据还可以包括晶体的轴向的环数信息等。此外，如果该PET采用较少晶体分层探测器，则实际符合事例数据还可以包括分层数信息。
在一些实施例中，当PET探测器输出的实际符合事例数据格式为ASCII格式时，还需要对实际符合事例数据进行格式转换，例如将ASCII格式转换成二进制格式，本发明不以此为限。
步骤S240，根据多层晶体LOR模型，对从PET获取的实际符合事例数据进行扩展，生成扩展LOR数据。
以实际PET采用单层晶体，模拟双层晶体探测器为例说明如何对实际符合事例数据进行扩展。图4C示出实际单层晶体PET探测器的结构示意图。对获得的实际符合事例数据中的各实际符合事例，按两个γ入射光子所作用的晶体的编号(如图4C中的B1和B2)和轴向上的环号(如果探测器有多个环)进行分类，然后对环号和所作用的晶体编号相同的实际符合事例进行计算，统计LOR(即图4C中的AB)数目，得到实际LOR数目NTotal’。之后按照表1所示的双层晶体LOR模型中的比例，将NTotal’分配为各种LOR的统计数目NAB’、NAD’、NCB’及NCD’，从而得到扩展LOR数据。
而如果LOR模型为三层晶体，则可以按照表2将NTotal’分配为NAB’、NAD’、NAF’、NCB’、NCD’、NCF’、NEB’、NED’和NEF’。对于四层、五层晶体等LOR模型，以此类推。
此外，当PET探测器实际采用较少层数，例如两层时，可分别对每一层应用上述的模拟，从而使实际采用较少层数的PET探测器可获得更精确的探测结果。步骤S250，根据生成的扩展LOR数据，确定校正LOR数据。
校正LOR数据例如可以为正弦直方图(sinogram)数据(简称sino数据)，但本发明不以此为限。
在得到上述扩展LOR数据后，例如使用线性插值法将获得的扩展LOR数据存储到实际PET探测器获得的sino数据中的最邻近LOR中，以更新sino数据，从而获得校正LOR数据。
在一些实施例中，如果扩展LOR数据非sino数据，则还需要将扩展LOR数据转换为sino数据。
在获得校正数据后，校正方法20还可以包括根据校正LOR数据，进行图像重建。例如可以采用常规的图像重建方法进行图像重建。
本发明提供的PET深度效应校正方法，相比于硬件采用多层晶体的方法更具有优越性：
(1)因无需对现有PET的硬件进行替换，因此极大的降低了硬件成本；
(2)本发明方法可以较容易的实现探测器径向(或切向、轴向)上为二层、三层、四层等多层晶体构造，而使用多层晶体硬件还受晶体材料的选择、各层晶体尺寸和排列方式、各层晶体之间的连接方式、晶体表面设计、机械设计难度等的限制；
(3)硬件上在各层晶体交接处，光子损失非常严重，严重影响探测器灵敏度，而使用本发明方法则不存在这种问题；
(4)相对于通过硬件对探测器进行改造，使用本发明方法进行DOI效应校正的软件算法可移植性强，它可以根据实际情况模拟晶体具有不同分层数的情况，而使用硬件方法则很难实现这一点。
采用本发明的深度效应校正方法，对校正前后的重建图像结果进行比较。图7A和图7B分别示出了采用本发明校正方法前后的重建图像。从图7A和图7B可以看出使用本发明方法后，重建出的点源扩展小，空间位置定位更准确，图像质量明显改善。离FOV中心越远，采用本发明方法进行DOI效应校正后图像分辨率提高的幅度越大，对图像径向DOI效应的校正效果越明显；本发明方法对图像径向DOI效应校正效果比切向DOI效应校正效果更明显。
通过对探测器径向上为单层晶体的PET数据使用本发明方法进行的校正，其校正数据与探测器径向硬件上采用双层晶体的PET数据进行图像重建的结果比较，两者重建出的图像质量相当，效果不分上下。为了更好地说明上述两种情况的图像质量的变化，对图像做定量分析(如可以计算图像高斯拟合后的FWHM)，其结果显示：上述两种情况下重建出的图像的切向和径向高斯拟合后计算的FWHM的数值基本持平，图像空间分辨率大致相同。
因此，通过本发明的深度效应校正方法，对探测器为单层晶体或较少晶体层数的PET数据进行深度效应校正后，重建出的图像空间位置定位更准确，图像径向和切向空间分辨率都有了很大提高，图像质量明显改善，并且可以达到与硬件上为多层晶体的PET数据基本相同的重建效果。
下述为本发明的装置实施方式，可以用于执行本发明的上述方法。对于本发明装置实施方式中未披露的细节，请参照本发明方法实施方式。
需要说明的是，附图中所示的一些方框图是功能实体，不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
图5示出根据一示例实施方式的PET深度效应校正系统的结构图。如图5所示，校正系统30包括：模型建立模块310、实际数据获取模块320、扩展数据生成模块330及校正数据生成模块340。
其中，模型建立模块310用于建立多层晶体LOR模型。实际数据获取模块320用于获取PET探测器输出的实际符合事例数据。扩展数据生成模块320用于根据多层晶体LOR模型，对实际符合事例数据进行扩展，生成扩展LOR数据。校正数据生成模块340用于根据扩展LOR数据，确定校正LOR数据。
此外，校正系统30还可以包括：图像重建模块350，用于根据校正LOR数据，进行图像重建。
图6A示出根据一示例实施方式的模型建立模块的结构图。如图6A所示，模型建立模块310包括：模拟数据获取子模块3110、计数统计子模块3120、加和子模块3130及比例确定子模块3140。其中，模拟数据获取子模块3110用于获取多层晶体设计下的模拟符合事例数据；计数统计子模块3120用于对模拟符合事例数据中的模拟符合事例进行统计，获得两个晶体的m*m种模拟LOR各自的计数；加和子模块3130用于计算m*m种模拟LOR的计数的加和总数；比例确定子模块3140用于分别计算每种模拟LOR的计数占加和总数的比例。其中m为多层晶体LOR模型中的晶体层数，且m为大于1的正整数。
图6B示出根据一示例实施方式的实际数据获取模块的结构图。如图6B所示，实际数据获取模块320包括：数据获取子模块3210及格式转换子模块3220。其中，数据获取子模块3210用于获取PET探测器的输出数据；格式转换子模块3220用于对输出数据进行格式转换，以获取实际符合事例。
图6C示出根据一示例实施方式的扩展数据生产模块的结构图。如图6C所示，扩展数据生成模块330包括：实际数目统计子模块3310及扩展响应线生成子模块3320。其中，实际数目统计子模块3310用于对实际符合事例数据中的实际符合事例进行统计，获得上述两个晶体的实际LOR数目；扩展响应线生成子模块3320用于根据多层晶体LOR模型，对实际LOR数目进行分解，获得m*m种模拟LOR各自的统计数目，从而生成扩展LOR数据。
图6D示出根据一示例实施方式的校正数据生成模块的结构图。如图6D所示，校正数据生成模块340包括：实际数据获取子模块3410及校正数据生成子模块3420。其中，实际数据获取子模块3410用于获取PET探测器输出的实际sino数据；校正数据生成子模块3420用于使用线性插值法将扩展LOR数据插入到实际sino数据中最邻近的LOR中，以获得校正LOR数据。在一些实施例中，如果扩展LOR数据非sino数据，校正数据生成子模块3420还用于将扩展LOR数据转换为sino数据。
通过上述实施方式的描述，本领域的技术人员易于理解，这里描述的示例实施方式可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，根据本发明实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、移动终端、或者网络设备等)执行根据本发明实施方式的方法。
以上具体地示出和描述了本发明的示例性实施方式。应可理解的是，本发明不限于这里描述的详细结构、设置方式或实现方法；相反，本发明意图涵盖包含在所附权利要求的构思和范围内的各种修改和等效设置。

Claims (7)

1.一种正电子发射断层扫描仪深度效应校正方法，其特征在于，包括：
建立多层晶体响应线模型；
获取PET探测器输出的实际符合事例数据；
根据所述多层晶体响应线模型，对所述实际符合事例数据进行扩展，生成扩展响应线数据；以及
根据所述扩展响应线数据，确定校正响应线数据；
其中建立多层晶体响应线模型包括：
获得多层晶体设计下的模拟符合事例数据；以及
根据所述模拟符合事例数据，建立所述多层晶体响应线模型，其中包括：对所述模拟符合事例数据中的模拟符合事例进行统计，获得两个晶体的m*m种模拟响应线各自的计数；计算m*m种所述模拟响应线的计数的加和总数；以及分别计算每种模拟响应线的计数占所述加和总数的比例；其中m为所述多层晶体响应线模型中的晶体层数，且m为大于1的正整数；以及
生成扩展响应线数据包括：
对所述实际符合事例数据中的实际符合事例进行统计，获得所述两个晶体的实际响应线数目；以及
根据所述多层晶体响应线模型，对所述实际响应线数目进行分解，获得m*m种所述模拟响应线各自的统计数目，从而生成所述扩展响应线数据。
2.根据权利要求1所述的校正方法，其中所述校正响应线数据为正弦直方图数据。
3.根据权利要求2所述的校正方法，其中根据所述扩展响应线数据，确定校正响应线数据包括：
获取所述PET探测器输出的实际正弦直方图数据；以及
使用线性插值法将所述扩展响应线数据插入到所述实际正弦直方图数据中最邻近的响应线中，以获得所述校正响应线数据；
其中所述扩展响应线数据为正弦直方图数据。
4.根据权利要求1所述的校正方法，其中获取PET探测器输出的实际符合事例数据包括：
获取所述PET探测器的输出数据；以及
对所述输出数据进行格式转换，以获取所述实际符合事例。
5.根据权利要求1-4任一项所述的校正方法，还包括：根据所述校正响应线数据，进行图像重建。
6.一种正电子发射断层扫描仪深度效应校正系统，其特征在于，包括：
模型建立模块，用于建立多层晶体响应线模型；
实际数据获取模块，用于获取PET探测器输出的实际符合事例数据；
扩展数据生成模块，用于根据所述多层晶体响应线模型，对所述实际符合事例数据进行扩展，生成扩展响应线数据；以及校正数据生成模块，用于根据所述扩展响应线数据，确定校正响应线数据；
其中建立多层晶体响应线模型包括：
获得多层晶体设计下的模拟符合事例数据；以及
根据所述模拟符合事例数据，建立所述多层晶体响应线模型，其中包括：对所述模拟符合事例数据中的模拟符合事例进行统计，获得两个晶体的m*m种模拟响应线各自的计数；计算m*m种所述模拟响应线的计数的加和总数；以及分别计算每种模拟响应线的计数占所述加和总数的比例；其中m为所述多层晶体响应线模型中的晶体层数，且m为大于1的正整数；以及
生成扩展响应线数据包括：
对所述实际符合事例数据中的实际符合事例进行统计，获得所述两个晶体的实际响应线数目；以及
根据所述多层晶体响应线模型，对所述实际响应线数目进行分解，获得m*m种所述模拟响应线各自的统计数目，从而生成所述扩展响应线数据。
7.根据权利要求6所述的校正系统，还包括：图像重建模块，用于根据所述校正响应线数据，进行图像重建。
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