CN105334424A - 用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测方法及检测装置 - Google Patents

Abstract

本发明的涉及一种用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测方法，依次包括以下步骤：对一个第一十进制变量进行赋值；判断所述第一十进制变量是否大于端子的数量，如果大于端子的数量则结束检测；在序号为所述第一十进制变量的端子上施加高电压；读取所有端子上的电压状况；使所述第一十进制变量等于所述第一十进制变量加一，并重复步骤S2。本发明还涉及一种用于实施前述检测方法的分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测装置。本发明的检测方法和装置能够方便、快捷地检测分布式控制系统的控制柜中大量接线的正确性。

Description

用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测方法及检测装置

技术领域

本发明涉及一种控制柜的接线正确性检测方法，尤其是用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测方法。此外，本发明还涉及一种用于实施前述检测方法的分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测装置。

背景技术

大型发电厂的分布式控制系统(DCS)的每个控制柜内一般有数千根导线和两倍于导线数量的端子。人工检查这些导线连接的正确性不仅耗时耗力，而且容易出现人为错误。此外，人工检查也无法发现接线表中不存在而多接出来的多余导线。如何克服人工检查所存在的不足是本领域长期存在的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测方法，其能够方便、快捷地检测分布式控制系统的控制柜中大量接线的正确性。这种检测方法依次包括以下步骤：

步骤S1：对一个第一十进制变量进行赋值；

步骤S2：判断所述第一十进制变量是否大于端子的数量，如果大于端子的数量则结束检测；

步骤S3：在序号为所述第一十进制变量的端子上施加高电压；

步骤S4：读取所有端子上的电压状况；

步骤S5：使所述第一十进制变量等于所述第一十进制变量加一，并重复步骤S2。

依据本发明检测方法的一个方面，步骤S4依次包括以下步骤：

步骤S41：对一个第二十进制变量进行赋值；

步骤S42：判断所述第二十进制变量是否大于端子的数量，如果大于端子的数量则执行步骤S5；

步骤S44：读取序号为所述第二十进制变量的端子上的电压状况；

步骤S46：使所述第二十进制变量等于所述第二十进制变量加一，并重复步骤S42。

依据本发明检测方法的另一方面，在步骤S42之后和步骤S44之前还包括：

步骤S43：延时十五毫秒。

依据本发明检测方法的再一方面，在步骤S44之后和步骤S46之前还包括：

步骤S45：当所述第二十进制变量的端子上的电压为高电压时，将所述第一十进制变量和所述第二十进制变量的现值存储起来。

本发明的目的还在于提供一种用于实施前述检测方法的用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测装置，其能够方便、快捷地检测分布式控制系统的控制柜中大量接线的正确性。这种检测装置包括：一个可编程逻辑控制器，其具有一个数字量输入端口和复数个数字量输出端口；一个第一译码器和一个第二译码器；一个第一电平转换/缓冲电路，其输入端口连接所述可编程逻辑控制器的一部分数字量输出端口，而其输出端口连接所述第一译码器的输入端口；一个第二电平转换/缓冲电路，其输入端口连接所述可编程逻辑控制器的另一部分数字量输出端口，而其输出端口连接所述第二译码器的输入端口；一个第一电子开关阵列和一个第二电子开关阵列；其中，所述第一译码器通过逐个选通所述第一电子开关阵列中的电子开关来对控制柜内的复数个端子依次施加正电压，而所述第二译码器在所述端子中的一个被施加正电压期间通过逐个选通所述第二电子开关阵列中的电子开关来依次接通和断开其他所述端子和所述可编程逻辑控制器的数字量输入端口，所述数字量输入端口检测其他所述端子上的电压。

依据本发明检测装置的一个方面，一台个人计算机作为控制所述可编程逻辑控制器的上位机。采用个人计算机作为上位机可以简单、方便地自动检测大量接线的正确性。

依据本发明检测装置的另一方面，其中所述可编程逻辑控制器作为编码器将两组十进制变量的数值转换为两组14位二进制数值。

依据本发明检测装置的再一方面，所述第一电平转换/缓冲电路和所述第二电平转换/缓冲电路中的每一个均包括14个光耦、14个开关晶体管以及所述光耦和所述晶体管的附属电阻。

依据本发明检测装置的又一方面，所述第一电平转换/缓冲电路和所述第二电平转换/缓冲电路接收来自所述可编程逻辑控制器的数字量输出端口的+24V电压的14位二进制码，并将其转换为+5V的TTL电平二进制码输出，以驱动所述第一译码器和所述第二译码器。

依据本发明检测装置的又一方面，所述可编程逻辑控制器具有28个数字量输出端口，而所述第一译码器和所述第二译码器均为一个14线转16384线的编码器。

依据本发明检测装置的又一方面，所述第一电子开关阵列和所述第二电子开关阵列均由16384个电子开关组成，并具有16384个光耦和16384个开关晶体管。

依据本发明检测装置的又一方面，所述第一译码器的16384个输出端口分别与所述第一电子开关阵列的16384个控制端口相连，所述第一电子开关阵列的公共输入端口与+24V电源相连，每个所述电子开关的输出端与控制柜中的所述端子相连，每个所述电子开关的序号和所述端子的序号相同。

依据本发明检测装置的又一方面，所述第二译码器的16384个输出端口分别与所述第二电子开关阵列的16384个控制端口相连，所述第二电子开关阵列的公共输出端口与所述可编程逻辑控制器的数字量输入端口相连，每个所述电子开关的输入端与控制柜中的所述端子相连，每个所述电子开关的序号和所述端子的序号相同。

下文将以明确易懂的方式，结合附图说明优选实施例，对上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。

附图说明

以下附图仅对本发明做示意性说明和解释，并不限定本发明的范围。

图1为本发明用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测装置的结构示意图；

图2为图1中电平转换/缓冲电路的结构示意图；

图3为图1中译码器的电路原理图；

图4为图3中译码器74LS154集成电路芯片的结构示意图；

图5为图1中电子开关阵列的结构示意图；

图6为本发明用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测方法的一种实施方式的流程图；

图7为本发明用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测方法的另一种实施方式的流程图。

符号说明：

具体实施方式

为了对发明的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图说明本发明的具体实施方式，在各图中相同的标号表示结构相同或结构相似但功能相同的部件。

在本文中，“示意性”表示“充当实例、例子或说明”，不应将在本文中被描述为“示意性”的任何图示、实施方式解释为一种更优选的或更具优点的技术方案。

为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本发明相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，为使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。

在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。在本文中，“第一”、“第二”等仅用于彼此的区分，而非表示它们的重要程度及顺序等。

图1为本发明用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测装置的结构示意图。该接线正确性检测装置包括一个可编程逻辑控制器PLC、一个第一译码器DC1、一个第二译码器DC2、一个第一电平转换/缓冲电路AA、一个第二电平转换/缓冲电路AB、一个第一电子开关阵列SA和一个第二电子开关阵列SB。可编程逻辑控制器PLC具有一个数字量输入端口PLC_DI和复数个数字量输出端口，例如28个数字量输出端口PLC_D0～PLC_D27，其中在输入端口和输出端口上加载+24V电压的情况下为信号1，而在电压为0V的情况下为信号0。第一电平转换/缓冲电路AA的输入端口AA_i0～AA_i13连接可编程逻辑控制器PLC的一部分数字量输出端口，例如14个数字量输出端口PLC_D0～PLC_D13，而第一电平转换/缓冲电路AA的输出端口AA_o0～AA_o13连接第一译码器DC1的输入端口DC1_D0～DC1_D13。第二电平转换/缓冲电路AB的输入端口连接可编程逻辑控制器PLC的另一部分数字量输出端口，例如14个数字量输出端口PLC_D14～PLC_D27，而第二电平转换/缓冲电路AB的输出端口连接第二译码器DC2的输入端口DC2_D14～DC2_D27。其中，第一译码器DC1通过逐个选通第一电子开关阵列SA中的电子开关来对控制柜内的复数个端子X1～X16384依次施加+24V电压，而第二译码器DC2在端子X1～X16384中的一个被施加正电压期间通过逐个选通第二电子开关阵列SB中的电子开关来依次接通和断开其他端子和可编程逻辑控制器PLC的数字量输入端口PLC_DI。可编程逻辑控制器PLC的数字量输入端口PLC_DI检测其他端子上的电压，且可编程逻辑控制器PLC可将被施加正电压的端子号码和检测到电压的端子号码存入可编程逻辑控制器PLC的内存。本发明的接线正确性检测装置能够方便、快捷地检测分布式控制系统的控制柜中大量接线的正确性。如图1所示，一台个人计算机PC作为控制可编程逻辑控制器PLC的上位机。个人计算机PC通过一根通讯电缆3和可编程逻辑控制器PLC相连。采用个人计算机作为上位机可以简单、方便地自动检测大量接线的正确性。此外，可编程控制器PLC可以使用低成本的可编程控制器。

如图2所示，可编程逻辑控制器PLC作为编码器将两组十进制变量的数值转换为两组14位二进制数值。第一电平转换/缓冲电路AA和第二电平转换/缓冲电路AB的内部电路和功能完全相同。现以第一电平转换/缓冲电路AA为例来说明电平转换/缓冲电路的内部电路。第一电平转换/缓冲电路AA包括14个光耦UA_D0～UA_D13、14个开关晶体管TAD_0～TAD_13以及光耦和晶体管的附属电阻。具体而言，光耦UA_D0～UA_D13内部的发光二极管的阳极分别连接第一电平转换/缓冲电路AA的14个输入端口AA_i0～AA_i13，而光耦UA_D0～UA_D13内部的发光二极管的阴极分别通过一个限流电阻接地。光耦UA_D0～UA_D13内部的光电晶体管的集电极分别并联连接+5V电源，而光耦UA_D0～UA_D13内部的光电晶体管的发射极分别连接第一电平转换/缓冲电路AA的14个输出端口AA_o0～AA_o13并分别通过一个下拉电阻接地。仍以第一电平转换/缓冲电路AA为例来说明电平转换/缓冲电路的功能。第一电平转换/缓冲电路AA接收来自可编程逻辑控制器PLC的数字量输出端口PLC_D0～PLC_D13的+24V电压的14位二进制码，并将其转换为+5V的TTL电平二进制码输出，以驱动第一译码器DC1。以第一电平转换/缓冲电路AA的第一输入端口AA_i0和相应的第一输出端口AA_o0为例。当第一输入端口AA_i0为0V时，光耦UA_D0的发光二极管不发光，光耦UA_D0的光电晶体管截止，光耦UA_D0的光电晶体管的发射极被下拉电阻拉至0V，与之相连的开关晶体管TAD_0的基极电压为0V,因此开关晶体管TAD_0截止导致开关晶体管TAD_0的发射极电压被下拉电阻拉至0V，于是第一电平转换/缓冲电路AA的第一输出端AA_o0为0V。当第一输入端口AA_i0为高电平+24V时，光耦UA_D0的发光二极管发光，光耦UA_D0的光电晶体管导通，光耦UA_D0的光电晶体管的发射极电压为+24V，与之相连的开关晶体管TAD_0的基极电压为+24V，因此开关晶体管TAD_0导通导致开关晶体管TAD_0的发射极电压为+5V，于是所述第一电平转换/缓冲电路AA的第一输出端AA_o0电压为+5V。

可编程逻辑控制器PLC具有28个数字量输出端口PLC_D0～PLC_D27，而第一译码器DC1和第二译码器DC2均为一个14线转16384线的编码器。第一译码器DC1和第二译码器DC2的内部电路完全一致。以第一译码器DC1为例说明译码器的内部电路。如图3所示，第一译码器DC1由1093片74LS154集成电路4线-16线译码器或者由复杂可编程逻辑器件中的1093个4线-16线软译码器组成。图4为图3中译码器74LS154集成电路芯片的结构示意图。第一级1024片芯片U_1～U_1024的输入端A、B、C、D分别各自并联，并作为第一译码器DC1输入端的DC1_D0、DC1_D1、DC1_D2、DC1_D3的4位地址位，第一级1024片芯片U_1～U_1024的输出端共16×1024＝16384个输出端作为第一译码器DC1的输出端。第二级64片芯片UC_1～UC_64的输入端A、B、C、D各自并联，并作为第一译码器DC1输入端的DC1_D4、DC1_D5、DC1_D6、DC1_D7的4位地址位，64片芯片UC_1～UC_64的共16×64＝1024个输出端作为片选线分别连接第一级1024片芯片U_1～U_1024的片选信号端CE端。第三级4片芯片UD_1～UD_4的输入端A、B、C、D各自并联，并作为第一译码器DC1的输入端的DC1_D8、DC1_D9、DC1_D10、DC1_D11的4位地址位，4片芯片UD_1～UD_4的共16×4＝64个输出端作为片选线分别连接第二级64片芯片UC_1～UC_64的片选信号端CE端。第四级1片芯片UE_1的输入端A、B作为译码器输入端的DC1_D12、DC1_D13的两位地址位，芯片UE_1的共16个输出端中的第0、1、2、3端作为片选线分别连接第三级4片芯片UD_1～UD_4的片选信号端CE端。第一译码器DC1和第二译码器DC2的的功能是14线-16384线译码器或称14线-16384线多路选择器。仍以第一译码器DC1为例说明译码器的功能。当向译码器输入端的14根线输入00000000000000～11111111111111共16384个不同的14位二进制数中的任意一个时，第一译码器DC1的16384个输出端中相应的只有唯一一个针脚输出低电平，其余针脚为高电平。例如当其输入端DC1_D13～DC1_D0为二进制数00000000000000时，根据集成电路译码器74LS154的真值表，UE_1的输出端只有0脚为低电平导致第三级芯片中只有芯片UD_1被选中，UD_1的输出端中只有0脚为低电平导致第二级芯片中只有芯片UC_1被选中，UC_1的输出端中只有0脚为低电平导致第一级芯片中只有芯片U_1被选中，而其输出引脚中只有0脚为低电平，即只有第一译码器DC1的第一输出端DC1_OP1为低电平，其余输出端均为高电平。当第一译码器DC1的输入端DC1_D13～DC1_D0为11111111111111时，根据集成电路译码器74LS154的真值表，UE_1的输出端只有3脚为低电平导致第三级芯片中只有芯片UD_4被选中，UD_4的输出端中只有15脚为低电平导致第二级芯片中只有芯片UC_64被选中，UC_64的输出端中只有15脚为低电平导致第一级芯片中只有芯片U_1024被选中，而其输出引脚中只有15脚为低电平，即只有第一译码器DC1的第16384输出端DC1_OP16384为低电平，其余输出端均为高电平。

图5为图1中电子开关阵列的原理图。第一电子开关阵列SA和第二电子开关阵列SB均由16384个电子开关组成，并具有16384个光耦和16384个开关晶体管。每个电子开关的输出端与控制柜中的端子X1～X16384相连。每个电子开关的序号和所述端子的序号相同。如图5所示，第一电子开关阵列SA包括16384个电子开关SA_1～SA_16384。每个电子开关(例如SA_n，其中n为自然数1～16384)都包括一个光耦UAn和一个开关晶体管TAn以及附属电阻。光耦UA1～UA16384的所有发光二极管的阳极经过限流电阻与+5V电源相连，而光耦UA1～UA16384的发光二极管的阴极分别与第一译码器DC1的输出端口DC1_OP1～DC1_OP16384按顺序相连作为第一开关阵列SA的控制端。光耦UA1～UA16384的光电晶体管的集电极全部与+24V电源相连，而光耦UA1～UA16384的光电晶体管的发射极分别与开关晶体管TA1～TA16384的基极相连并分别经下拉电阻接地。16384个开关晶体管TA1～TA16384的集电极连接到+24V电源作为第一开关阵列SA的公共端口。16384个开关晶体管TA1～TA16384的发射极按顺序分别连接到被测端子X1～X16384，同时分别经过下拉电阻接地。当第一电子开关阵列SA的某一控制端为低电平时，与其相同序号的电子开关SA_n导通来将+24V电压加于相关端子。例如，当第一译码器DC1的第一输出引脚DC1_OP1为低电平时，第一电子开关阵列SA中的第一电子开关SA_1的光耦UA1的发光二极管导通发光，光耦UA1的光电晶体管因而导通，因此光耦UA1的发射极电位提高到+24V，导致晶体管的基极电位上升至约+24V，开关晶体管TA1因此也导通，其发射极电位上升为+24V，最终导致端子X1被加上+24V电压。

如图5所示，第二译码器DC2的16384个输出端口DC2_OP1～DC2_OP16384分别与第二电子开关阵列SB的16384个控制端口相连，而第二电子开关阵列SB的公共端口与可编程逻辑控制器PLC的数字量输入端口PLC_DI相连。每个电子开关SB_1～SB_16384的输入端与控制柜中的端子X1～X16384相连。每个所述电子开关SB_1～SB_16384的序号和端子的序号相同。第二电子开关阵列SB与第一电子开关阵列SA的区别在于，16384个开关晶体管TB1～TB16384的集电极分别连接到端子X1～X16384从而同时分别与16384个开关晶体管TA1～TA16384的发射极按顺序相连。开关晶体管TB1～TB16384的发射极并联接入可编程逻辑控制器PLC的数字量输入端口PLC_DI。例如，当第二译码器DC2的第一输出引脚DC2_OP1为低电平时，第二电子开关阵列SB中的第一电子开关SB_1内的光耦UB1的发光二极管导通发光，UB1的光电晶体管因而导通，因此光耦UB1的发射极电位提高到+24V，导致开关晶体管TB1的基极电位上升至约+24V。此时，如果端子X1上带有+24V电压，则开关晶体管TB1导通，其发射极电位上升为+24V，因此可编程逻辑控制器PLC的数字量输入端口PLC_DI检测到+24V电压。如果端子X1上无电压，则可编程逻辑控制器PLC的数字量输入端口PLC_DI因端口内部的下拉电阻的作用只能检测到0V电压。

图6示出了本发明检测分布式控制系统的控制柜的接线正确性的方法，依次包括以下步骤：

步骤S1：对一个第一十进制变量m1进行赋值；

步骤S2：判断所述第一十进制变量m1是否大于端子的数量，如果大于端子的数量则结束检测；

步骤S3：在序号为所述第一十进制变量m1的端子上施加高电压；

步骤S4：读取所有端子上的电压状况；

步骤S5：使所述第一十进制变量m1等于所述第一十进制变量m1加一，并重复步骤S2。

如图7所示，其中步骤S4依次包括以下步骤：

步骤S41：对一个第二十进制变量m2进行赋值；

步骤S42：判断所述第二十进制变量m2是否大于端子的数量，如果大于端子的数量则执行步骤S5；

步骤S43：延时十五毫秒；

步骤S44：读取序号为所述第二十进制变量m2的端子上的电压状况；

步骤S45：当所述第二十进制变量的端子上的电压为高电压时，将所述第一十进制变量和所述第二十进制变量的现值存储起来；

步骤S46：使所述第二十进制变量m2等于所述第二十进制变量m2加一，并重复步骤S42。

本领域技术人员将理解，在步骤S42之后和步骤S44之前包括步骤S43不是必须的，且延时的时间可以多于或少于十五毫秒。此外，在步骤S44之后和步骤S46之前还可包括步骤S45也不是必须的，也可以不将所述第一十进制变量和所述第二十进制变量的现值存储起来。其中，变量m1和变量m2对应于端子的序号。

当采用本发明的接线正确性检测装置来实施上述检测方法时，可编程逻辑控制器PLC的一个作用是把两个十进制变量，即第一十进制变量m1和第二十进制变量m2存储的十进制数0～16383编码为16384个14位二进制数00000000000000～11111111111111，并输出到可编程逻辑控制器PLC的两组14位数字量输出端口PLC_D0～PLC_D13和PLC_D14～PLC_D27。当上位机个人计算机PC通过程序向可编程逻辑控制器PLC发送开始指令后，可编程逻辑控制器PLC执行程序。可编程逻辑控制器PLC的14个二进制数字量输出端口PLC_D0～PLC_D13输出一个14位二进制数，例如可编程逻辑控制器PLC首先输出的是00000000000000。电平转换/缓冲电路AA将00000000000000输出电平转换电平(例如TTL电平)后，输入14线-16384线第一译码器DC1。经过逻辑运算，第一译码器DC1只有第一输出端DC1_OP1为低电平，因此只有电子开关SA_1被触发导通，导致端子X1带上+24V电压。在端子X1被加上+24V电压期间，第一十进制变量m1保持不变，可编程逻辑控制器PLC的数字量输出端口PLC_D0～PLC_D13输出的二进制数也保持不变。可编程逻辑控制器PLC执行程序每隔15ms向数字量输出端口PLC_D14～PLC_D27输出一个每次累加1的14位二进制数00000000000000～11111111111111，经第二译码器DC2译码后，驱动电子开关SB_1～SB_16384依次与可编程逻辑控制器PLC的数字量输入端口DI端口接通15ms。因此数字量输入端口DI对端子X1～X16384上的电压状态进行15ms间隔的扫描检测，在发现端子Xn上有电压时将X1和Xn的序号存入内存。当第二电子开关阵列中的最后一个电子开关SB_16384被触发15ms后，第一十进制变量m1累加1，数字量输出端口PLC_D0～PLC_D13输出的二进制数也+1，第二电子开关阵列SB再次进入扫描状态检测状态，周而复始直至数字量输出端口PLC_D0～PLC_D13输出的二进制数累加到11111111111111，端子X1～X16384每两个端子间的连接状态都被扫描了两次。

当可编程逻辑控制器PLC检测完端子X1～X16384之间的连接关系并存储到可编程逻辑控制器PLC的内存之后，上位机个人计算机PC上运行的软件将会读取可编程逻辑控制器PLC的内存存储的端子连接关系数据，并将其填写入上位机个人计算机PC上运行的软件，例如MS-Excel软件，并根据存储的第一十进制变量m1和第二十进制变量m2的对应值生成实际接线表。Excel软件将数据另存为Excel文件，同样在上位机个人计算机PC上运行的MS-Access数据库管理软件将会自动输入实际接线表，并且与事先输入的计划接线表进行比较，再输出比较后的偏差文件。MS-Access和MS-Excel所执行的动作可以均由AccessVBA语言编程的程序所操作。

应当理解，虽然本说明书是按照各个实施例描述的，但并非每个实施例仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

上文所列出的一系列的详细说明仅仅是针对本发明的可行性实施例的具体说明，它们并非用以限制本发明的保护范围，凡未脱离本发明技艺精神所作的等效实施方案或变更，如特征的组合、分割或重复，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (14)

1.用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测方法，依次包括以下步骤：

步骤S1：对一个第一十进制变量(m1)进行初始化赋值；

步骤S2：判断所述第一十进制变量(m1)是否大于端子的数量，如果大于端子的数量则结束检测；

步骤S3：在序号为所述第一十进制变量(m1)的端子上施加高电压；

步骤S4：读取所有端子上的电压状况；

步骤S5：使所述第一十进制变量(m1)等于所述第一十进制变量(m1)加一，并重复步骤S2。

2.如权利要求1所述的接线正确性检测方法，其中步骤S4依次包括以下步骤：

步骤S41：对一个第二十进制变量(m2)进行赋值；

步骤S42：判断所述第二十进制变量(m2)是否大于端子的数量，如果大于端子的数量则执行步骤S5；

步骤S44：读取序号为所述第二十进制变量(m2)的端子上的电压状况；

步骤S46：使所述第二十进制变量(m2)等于所述第二十进制变量(m2)加一，并重复步骤S42。

3.如权利要求2所述的接线正确性检测方法，其中在步骤S42之后和步骤S44之前还包括：

步骤S43：延时十五毫秒。

4.如权利要求3所述的接线正确性检测方法，其中在步骤S44之后和步骤S46之前还包括：

步骤S45：当所述第二十进制变量(m2)的端子上的电压为高电压时，将所述第一十进制变量(m1)和所述第二十进制变量(m2)的现值存储起来。

5.如权利要求1所述的接线正确性检测方法，其中在步骤S1中，第一十进制变量(m1)的初始化赋值为零。

6.用于分布式控制系统的控制柜的接线正确性检测装置，包括：

一个可编程逻辑控制器(PLC)，其具有一个数字量输入端口(PLC_DI)和复数个数字量输出端口(PLC_D0～PLC_D27)；

一个第一译码器(DC1)和一个第二译码器(DC2)；

一个第一电平转换/缓冲电路(AA)，其输入端口连接所述可编程逻辑控制器(PLC)的一部分数字量输出端口(PLC_D0～PLC_D13)，而其输出端口连接所述第一译码器(DC1)的输入端口(DC1_D0～DC1_D13)；

一个第二电平转换/缓冲电路(AB)，其输入端口连接所述可编程逻辑控制器(PLC)的另一部分数字量输出端口(PLC_D14～PLC_D27)，而其输出端口连接所述第二译码器(DC2)的输入端口(DC2_D0～DC2_D13)；

一个第一电子开关阵列(SA)和一个第二电子开关阵列(SB)；

其中，所述第一译码器(DC1)通过逐个选通所述第一电子开关阵列(SA)中的电子开关来对控制柜内的复数个端子(X1～X16384)依次施加正电压，而所述第二译码器(DC2)在所述端子中(X1～X16384)的一个被施加正电压期间通过逐个选通所述第二电子开关阵列(SB)中的电子开关来依次接通和断开其他所述端子和所述可编程逻辑控制器(PLC)的数字量输入端口(PLC_DI)，所述数字量输入端口(PLC_DI)检测其他所述端子上的电压。

7.如权利要求6所述的接线正确性检测装置，其中一台个人计算机(PC)作为控制所述可编程逻辑控制器(PLC)的上位机。

8.如权利要求6所述的接线正确性检测装置，其中所述可编程逻辑控制器(PLC)作为编码器将两组十进制变量的数值转换为两组14位二进制数值。

9.如权利要求6所述的接线正确性检测装置，其中所述第一电平转换/缓冲电路(AA)和所述第二电平转换/缓冲电路(AB)中的每一个均包括14个光耦(UA_D0～UA_D13)、14个开关晶体管(TAD_1～TAD_13)以及所述光耦和所述晶体管的附属电阻。

10.如权利要求9所述的接线正确性检测装置，其中所述第一电平转换/缓冲电路(AA)和所述第二电平转换/缓冲电路(AB)接收来自所述可编程逻辑控制器(PLC)的数字量输出端口(PLC_D14～PLC_D27)的+24V电压的14位二进制码，并将其转换为+5V的TTL电平二进制码输出，以驱动所述第一译码器(DC1)和所述第二译码器(DC2)。

11.如权利要求10所述的接线正确性检测装置，其中所述可编程逻辑控制器(PLC)具有28个数字量输出端口(PLC_D0～PLC_D27)，而所述第一译码器(DC1)和所述第二译码器(DC2)均为一个14线转16384线的编码器。

12.如权利要求6所述的接线正确性检测装置，其中所述第一电子开关阵列(SA)和所述第二电子开关阵列(SB)均由16384个电子开关(SA_1～SA_16384)组成，并具有16384个光耦和16384个开关晶体管。

13.如权利要求12所述的接线正确性检测装置，其中所述第一译码器(DC1)的16384个输出端口(DC1_OP1～DC1_OP16384)分别与所述第一电子开关阵列(SA)的16384个控制端口相连，所述第一电子开关阵列(SA)的公共输入端口与+24V电源相连，每个所述电子开关(SA_1～SA_16384)的输出端与控制柜中的所述端子相连，每个所述电子开关(SA_1～SA_16384)的序号和所述端子的序号相同。

14.如权利要求13所述的接线正确性检测装置，其中所述第二译码器(DC2)的16384个输出端口(DC2_OP1～DC2_OP16384)分别与所述第二电子开关阵列(SB)的16384个控制端口相连，所述第二电子开关阵列(SB)的公共输出端口与所述可编程逻辑控制器(PLC)的数字量输入端口(PLC_DI)相连，每个所述电子开关(SA_1～SA_16384)的输入端与控制柜中的所述端子相连，每个所述电子开关(SA_1～SA_16384)的序号和所述端子的序号相同。