CN105261334A - 显示均匀化系统和方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种显示均匀化系统和方法，该方法包括：分别在显示面板在显示不同的灰阶时探测显示面板的有效显示区域中多个矩阵排列的显示单元的颜色和亮度数据；根据探测的各个显示单元的亮度数据，调节各个显示单元的亮度使有效显示区域的亮度均匀化；以位于有效显示区域中心的显示单元的颜色数据作为基准，对不同显示单元中像素的红光子像素和蓝光子像素的数据信号进行调节，通过上述方式，能够使得各个显示单元颜色和亮度均匀化。
Description
技术领域
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种显示均匀化系统和方法。
背景技术
在诸如TFT-LCD等平板显示器中，低灰阶存在亮度的不均匀性，从而衍生出了诸如de-mura的技术(mura原本是来自日本的泊来词，随着日本的液晶显示器在世界各地广泛使用，这个词在显示器界就变成一个全世界都可以通用的文字，mura是指显示器亮度不均匀造成各种痕迹的现象，de-mura的技术指消除显示器亮度不均匀的技术)，这些技术的重要特征在于对于各灰阶，尤其是暗画面下较为明显的亮度不均现象进行了补偿，从而使得亮度的均一性得到改善。
但是，在实际的产品中，尤其是大尺寸产品，其低灰阶mura不仅存在亮度的差异，有时也存在颜色的差异，即使将亮度改善地较为一致，也能观察到平面内灰色的颜色差异性。诸如此类情形，需要新的方法进行改善。
因此，需要提供一种显示均匀化系统和方法，以解决上述技术问题。
发明内容
本发明主要解决的技术问题是提供一种显示均匀化系统和方法，能够使得显示面板显示亮度和颜色均匀化。
为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种显示面板的显示均匀化方法，该方法包括：分别在显示面板在显示不同的灰阶时探测显示面板的有效显示区域中多个矩阵排列的显示单元的颜色和亮度数据；根据探测的各个显示单元的亮度数据，调节各个显示单元的亮度使有效显示区域的亮度均匀化；以位于有效显示区域中心的显示单元的颜色数据作为基准，对不同显示单元中像素的红光子像素和蓝光子像素的数据信号进行调节，以使得各个显示单元颜色均匀化。
其中，根据探测的各个显示单元的亮度数据，调节各个显示单元的亮度使有效显示区域的亮度均匀化包括：以△Lv/Ave.(Lv)<S为限定条件，调节各个显示单元的亮度，其中△Lv是探测到的各个显示单元中亮度最大值和最小值的差值，Ave.(Lv)是探测到的各个显示单元的亮度平均值，S为预设的均匀化程度值。
其中，0.2≤S≤0.5。
其中，通过对显示单元中像素的数据信号调制来调节对应的显示单元的亮度或者通过调整显示单元所在区域的上下两层基板之间的电压差值控制液晶偏转角度来调节对应的显示单元的亮度。
其中，通过光电二极管矩阵探测设备探测显示面板的有效显示区域中多个矩阵排列的显示单元的颜色和亮度数据，其中光电二极管矩阵设备包括多个光电二极管，且一个光电二极管用于探测一个对应的显示单元的颜色和亮度数据。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种显示均匀化系统，显示均匀化系统包括显示面板和光电二极管矩阵探测设备，光电二极管矩阵探测设备包括多个矩阵排列的光电二极管，显示面板包括位于显示面板的有效显示区域的多个显示单元，光电二极管矩阵探测设备覆盖有效显示区域，光电二极管矩阵探测设备用于分别在显示面板在不同的灰阶时探测每一显示单元的颜色和亮度数据，光电二极管与显示单元一一对应，且光电二极管用于检测对应的显示单元的颜色和亮度数据，显示面板根据光电二极管矩阵探测设备探测的各个显示单元的亮度数据，调节各个显示单元的亮度使有效显示区域的亮度均匀化；显示面板以位于有效显示区域中心的显示单元的颜色数据作为基准，对不同显示单元中像素的红光子像素和蓝光子像素的数据信号进行调节，以使得各个显示单元颜色均匀化。。
其中，光电二极管矩阵探测设备和显示面板均为矩形，光电二级管矩阵探测设备的尺寸小于显示面板的尺寸，且光电二级管矩阵探测设备的边缘离显示面板最近的边缘的沿第一方向距离小于显示面板沿第一方向尺寸的六分之一，光电二级管矩阵探测设备的边缘离显示面板最近的边缘的沿第二方向距离小于显示面板沿第二方向尺寸的六分之一。
其中，显示面板以△Lv/Ave.(Lv)<S为限定条件，调节各个显示单元的亮度，其中△Lv是探测到的各个显示单元中亮度最大值和最小值的差值，Ave.(Lv)是探测到的各个显示单元的亮度平均值，S为预设的均匀化程度值。
其中，0.2≤S≤0.5。
其中，显示面板通过对显示单元中像素的数据信号调制来调节对应的显示单元的亮度或者显示面板通过调整显示单元所在区域的上下两层基板之间的电压差值控制液晶偏转角度来调节对应的显示单元的亮度。
本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明分别在显示面板在不同的灰阶时通过光电二极管矩阵探测设备探测显示面板的有效显示区域中多个矩阵排列的显示单元的颜色和亮度数据，根据探测的各个显示单元的亮度数据，调节各个显示单元的亮度使有效显示区域的亮度均匀化；以位于有效显示区域中心的显示单元的颜色数据作为基准，对不同显示单元中像素的红光子像素和蓝光子像素的数据信号进行调节，从而能够使得显示面板显示亮度和颜色均匀化。
附图说明
图1是本发明显示均匀化系统优选实施例的结构示意图；
图2是本发明光电二极管矩阵探测设备的结构示意图；
图3是本发明显示面板的结构示意图；
图4是本发明显示面板的显示均匀化方法的流程图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进行详细的说明。
请参阅图1、图2和图3，图1是本发明显示均匀化系统优选实施例的结构示意图；图2是本发明光电二极管矩阵探测设备的结构示意图；图3是本发明显示面板的结构示意图。在本实施例中，显示均匀化系统包括显示面板11和光电二极管矩阵探测设备12。
光电二极管矩阵探测设备12包括基板121和固定在基板121上的多个矩阵排列的光电二极管122。
显示面板11包括位于显示面板11的有效显示区域111的多个显示单元1111。
光电二极管矩阵探测设备12覆盖有效显示区域111，光电二极管矩阵探测设备111用于分别在显示面板11在不同的灰阶时探测每一显示单元1111的颜色和亮度数据，光电二极管122与显示单元1111一一对应，且光电二极管122用于检测对应的显示单元1111的颜色和亮度数据。显示面板11的不同显示灰阶在0-255之间的不同灰阶。由于不同灰阶下各个显示单元1111的亮度不均的程度不一样，因此，分别在不同灰阶探测的亮度数据对于后面调整亮度均匀化的效果更为明显
显示面板11根据光电二极管矩阵探测设备12探测的各个显示单元1111的亮度数据，调节各个显示单元1111的亮度使有效显示区域111的亮度均匀化。
显示面板11以位于有效显示区域111中心的显示单元S的颜色数据作为基准，对不同显示单元1111中像素的红光子像素和蓝光子像素的数据信号进行调节，以使得各个显示单元1111颜色均匀化。。
优选地，光电二极管矩阵探测设备12和显示面板11均为矩形，光电二级管矩阵探测设备12的尺寸小于显示面板11的尺寸，且光电二级管矩阵探测设备12的边缘离显示面板11最近的边缘的沿第一方向距离A小于显示面板沿第一方向尺寸B的六分之一，光电二级管矩阵探测设备12的边缘离显示面板11最近的边缘的沿第二方向距离C小于显示面板12沿第二方向尺寸D的六分之一。优选地，第一方向为图1中的纵向，第二方向为图1中的横向。
优选地，显示面板11以△Lv/Ave.(Lv)<S为限定条件，调节各个显示单元1111的亮度，其中△Lv是探测到的各个显示单元1111中亮度最大值和最小值的差值，Ave.(Lv)是探测到的各个显示单元1111的亮度平均值，S为预设的均匀化程度值。优选地，0.2≤S≤0.5。
优选地，显示面板11通过对显示单元1111中像素的数据信号调制来调节对应的显示单元1111的亮度或者显示面板11通过调整显示单元1111所在区域的上下两层基板之间的电压差值控制液晶偏转角度来调节对应的显示单元的亮度。优选地，上下两层基板分别指彩色滤光片基板和薄膜晶体管阵列基板。
请参阅图4，图4是本发明显示面板的显示均匀化方法的流程图。在本实施例中，显示面板的显示均匀化方法包括以下步骤：
步骤S11：分别在显示面板在显示不同的灰阶时探测显示面板的有效显示区域中多个矩阵排列的显示单元的颜色和亮度数据。
在步骤S11中，优选地，通过光电二极管矩阵探测设备12探测显示面板11的有效显示区域111中多个矩阵排列的显示单元1111的颜色和亮度数据，光电二极管矩阵设备12包括多个光电二极管122，且一个光电二极管122用于探测一个对应的显示单元1111的颜色和亮度数据。在其他实施例中，可以通过其他的设备探测显示面板的有效显示区域111中多个矩阵排列的显示单元1111的颜色和亮度数据。
步骤S12：根据探测的各个显示单元的亮度数据，调节各个显示单元的亮度使有效显示区域的亮度均匀化。
在步骤S12中，根据探测的各个显示单元1111的亮度数据，调节各个显示单元1111的亮度使有效显示区域111的亮度均匀化包括：以△Lv/Ave.(Lv)<S为限定条件，调节各个显示单元1111的亮度，其中△Lv是探测到的各个显示单元1111中亮度最大值和最小值的差值，Ave.(Lv)是探测到的各个显示单元1111的亮度平均值，S为预设的均匀化程度值。优选地，0.2≤S≤0.5。优选地，可以通过对显示单元1111中像素的数据信号调制来调节对应的显示单元1111的亮度；或者，还可以通过调整显示单元1111所在区域的上下两层基板之间的电压差值控制液晶偏转角度来调节对应的显示单元1111的亮度。
步骤S13：以位于有效显示区域中心的显示单元的颜色数据作为基准，对不同显示单元中像素的红光子像素和蓝光子像素的数据信号进行调节，以使得各个显示单元颜色均匀化。
在步骤S13中，例如，将位于中心的显示单元S周边的显示单元1111的颜色调节到与中心的显示单元1111的颜色一致。
区别于现有技术的情况，本发明分别在显示面板在不同的灰阶时通过光电二极管矩阵探测设备探测显示面板的有效显示区域中多个矩阵排列的显示单元的颜色和亮度数据，根据探测的各个显示单元的亮度数据，调节各个显示单元的亮度使有效显示区域的亮度均匀化；以位于有效显示区域中心的显示单元的颜色数据作为基准，对不同显示单元中像素的红光子像素和蓝光子像素的数据信号进行调节，从而能够使得显示面板显示亮度和颜色均匀化。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。
Claims (10)
1.一种显示面板的显示均匀化方法，其特征在于，所述方法包括：
分别在所述显示面板在显示不同的灰阶时探测所述显示面板的有效显示区域中多个矩阵排列的显示单元的颜色和亮度数据；
根据探测的各个显示单元的亮度数据，调节各个显示单元的亮度使所述有效显示区域的亮度均匀化；
以位于所述有效显示区域中心的显示单元的颜色数据作为基准，对不同显示单元中像素的红光子像素和蓝光子像素的数据信号进行调节，以使得各个显示单元颜色均匀化。
2.根据权利要求1所述的显示均匀化方法，其特征在于，根据探测的各个显示单元的亮度数据，调节各个显示单元的亮度使所述有效显示区域的亮度均匀化包括：
以△Lv/Ave.(Lv)<S为限定条件，调节各个显示单元的亮度，其中△Lv是探测到的各个显示单元中亮度最大值和最小值的差值，Ave.(Lv)是探测到的各个显示单元的亮度平均值，S为预设的均匀化程度值。
3.根据权利要求2所述的显示均匀化方法，其特征在于，0.2≤S≤0.5。
4.根据权利要求1所述的显示均匀化方法，其特征在于，通过对所述显示单元中像素的数据信号调制来调节对应的显示单元的亮度或者通过调整所述显示单元所在区域的上下两层基板之间的电压差值控制液晶偏转角度来调节对应的显示单元的亮度。
5.根据权利要求1所述的显示均匀化方法，其特征在于，通过光电二极管矩阵探测设备探测所述显示面板的有效显示区域中多个矩阵排列的显示单元的颜色和亮度数据，其中所述光电二极管矩阵设备包括多个光电二极管，且一个光电二极管用于探测一个对应的显示单元的颜色和亮度数据。
6.一种显示均匀化系统，其特征在于，所述显示均匀化系统包括显示面板和光电二极管矩阵探测设备，所述光电二极管矩阵探测设备包括多个矩阵排列的光电二极管，所述显示面板包括位于所述显示面板的有效显示区域的多个显示单元，所述光电二极管矩阵探测设备覆盖所述有效显示区域，所述光电二极管矩阵探测设备用于分别在所述显示面板在不同的灰阶时探测每一所述显示单元的颜色和亮度数据，所述光电二极管与所述显示单元一一对应，且所述光电二极管用于检测对应的所述显示单元的颜色和亮度数据，所述显示面板根据所述光电二极管矩阵探测设备探测的各个显示单元的亮度数据，调节各个显示单元的亮度使所述有效显示区域的亮度均匀化；所述显示面板以位于所述有效显示区域中心的显示单元的颜色数据作为基准，对不同显示单元中像素的红光子像素和蓝光子像素的数据信号进行调节，以使得各个显示单元颜色均匀化。
7.根据权利要求1所述的显示均匀化系统，其特征在于，所述光电二极管矩阵探测设备和所述显示面板均为矩形，所述光电二级管矩阵探测设备的尺寸小于所述显示面板的尺寸，且所述光电二级管矩阵探测设备的边缘离所述显示面板最近的边缘的沿第一方向距离小于所述显示面板沿第一方向尺寸的六分之一，所述光电二级管矩阵探测设备的边缘离所述显示面板最近的边缘的沿第二方向距离小于所述显示面板沿第二方向尺寸的六分之一。
8.根据权利要求6所述的显示均匀化系统，其特征在于，所述显示面板以△Lv/Ave.(Lv)<S为限定条件，调节各个显示单元的亮度，其中△Lv是探测到的各个显示单元中亮度最大值和最小值的差值，Ave.(Lv)是探测到的各个显示单元的亮度平均值，S为预设的均匀化程度值。
9.根据权利要求8所述的显示均匀化系统，其特征在于，0.2≤S≤0.5。
10.根据权利要求6所述的显示均匀化方法，其特征在于，所述显示面板通过对所述显示单元中像素的数据信号调制来调节对应的显示单元的亮度或者所述显示面板通过调整显示单元所在区域的上下两层基板之间的电压差值控制液晶偏转角度来调节对应的显示单元的亮度。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |