CN105260311B - Plc层次化建模和使用其的测试方法 - Google Patents
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Abstract
公开了PLC层次化建模和使用其的测试方法,其中该测试方法包括:根据待测PLC的参数信息查询预设的PLC模型库,获取与待测PLC对应的PLC模型;基于PLC模型,查询预设的PLC模型库与预设的测试资源库之间的连接关系,确定与待测PLC对应的测试资源;利用测试资源以及待测PLC的内部CIO信息对待测PLC进行测试。本发明通过建立PLC模型库能够根据待测PLC的参数信息快速搭建PLC模型;通过建立总线地址映射关系以及连接关系构建PLC软件测试的测试资源库,能够依据搭建的PLC模型确定与该PLC设备对应的测试资源,从而能够针对不同的待测PLC进行测试,测试环境的通用性好。
Description
技术领域
本发明涉及PLC软件测试技术领域,尤其涉及一种PLC软件测试的层次化建模方法及层次化模型。
背景技术
以下对本发明的相关技术背景进行说明,但这些说明并不一定构成本发明的现有技术。
目前一些工业工厂控制系统中PLC作为控制核心单元使用,传统方法一般利用单元测试仪或系统实验的环境完成对PLC的一对一测试,这种测试方法缺乏有效的通用测试手段。以往对PLC的测试方法是基于PLC设备的硬件在环测试,上位机软件模拟实际PLC的外部输入信号,测试过程能够覆盖正常流程。但是,这种测试环境不具备通用性,无法实现故障注入。
发明内容
本发明的目的在于提出一种PLC层次化建模和使用其的测试方法,能够针对不同的待测PLC进行测试,提高测试环境的通用性。
根据本发明的一个方面,提供了一种PLC层次化建模的测试方法,包括:
S1、根据待测PLC的参数信息查询预设的PLC模型库,获取与所述待测PLC对应的PLC模型;
S2、基于获取的所述PLC模型,查询预设的所述PLC模型库与预设的测试资源库之间的连接关系,确定与所述待测PLC对应的测试资源;
S3、利用所述测试资源以及所述待测PLC的内部CIO信息对所述待测PLC进行测试;
其中,所述PLC模型库包括至少一个PLC模型的至少一项PLC模型参数信息;所述测试资源是指适配器接口信息与PXI板卡通道信息之间的总线地址映射关系;所述PXI板卡用于将所述测试资源转化为电流或电压信息、并发送给所述适配器;所述适配器用于将所述电流或电压信息转换成电平信息、并发送给所述待测PLC。
优选地,所述PLC模型参数信息包括:PLC模型的IP地址、PLC模型的站地址、PLC模型的外部IO信息和内部CIO信息。
优选地,所述外部IO信息包括:数字输入、数字输出、模拟输入、模拟输出、定时输出;
所述内部CIO信息包括:线圈、寄存器。
优选地,所述适配器接口信息包括:适配器插头号、适配器插头插钉号,所述PXI板卡通道信息包括:PXI板卡的机箱号、插槽序号、端口号、线号。
优选地,所述连接关系为:所述PLC模型的模块名称、所述PLC模型的模块地址号、所述PLC模型的系统号、所述PLC模型的模块通道类型与PXI板卡的机箱号、插槽序号、端口号、线号的一一对应关系。
根据本发明的另一个方面,提供一种PLC层次化建模的方法,包括:
A、建立PLC模型库,所述PLC模型库包括至少一个PLC模型的至少一项PLC模型参数信息;
B、搭建测试资源库,所述测试资源库是指适配器接口信息与PXI板卡通道信息之间的总线地址映射关系;
C、构建所述PLC模型库与所述测试资源库之间的连接关系;
D、针对任意一个待测PLC,依据所述待测PLC的参数信息查询所述PLC模型库,确定与所述待测PLC对应的PLC模型;依据所述连接关系,获取与所述待测PLC对应的测试资源;利用所述测试资源以及所述待测PLC的内部CIO信息对所述待测PLC进行测试;
其中,所述PXI板卡用于将所述测试资源转化为电流或电压信息、并发送给所述适配器;所述适配器用于将所述电流或电压信息转换成电平信息、并发送给所述待测PLC。
优选地,所述PLC模型参数信息包括:IP地址、站地址、外部IO信息和内部CIO信息。
优选地,所述外部IO信息包括:数字输入、数字输出、模拟输入、模拟输出、定时输出;所述内部CIO信息包括:线圈、寄存器。
优选地,所述适配器接口信息包括:适配器插头号、适配器插头插钉号,所述PXI板卡通道信息包括:PXI机箱号、插槽序号、端口号、线号。
优选地,所述连接关系为:所述PLC模型的模块名称、所述PLC模型的模块地址号、所述PLC模型的系统号、所述PLC模型的模块通道类型与PXI机箱号、插槽序号、端口号、线号的一一对应关系。
根据本发明的PLC层次化建模的测试方法,包括:根据待测PLC的参数信息查询预设的PLC模型库,获取与待测PLC对应的PLC模型;基于PLC模型,查询预设的PLC模型库与预设的测试资源库之间的连接关系,确定与待测PLC对应的测试资源;利用测试资源以及待测PLC的内部CIO信息对待测PLC进行测试。本发明通过建立PLC模型库能够根据待测PLC的参数信息快速搭建PLC模型;通过建立总线地址映射关系以及连接关系构建PLC软件测试的测试资源库,能够依据搭建的PLC模型确定与该PLC设备对应的测试资源,从而能够针对不同的待测PLC进行测试,测试环境的通用性好。本发明还提供了PLC层次化建模的方法,该方法具有上述测试方法的所有有益效果。
附图说明
通过以下参照附图而提供的具体实施方式部分,本发明的特征和优点将变得更加容易理解,在附图中:
图1是示出根据本发明的PLC层次化建模的测试方法流程图;
图2是示出根据本发明的PLC层次化建模的测试方法原理图;
图3是根据本发明优选实施例的测试资源库中适配器接口信息与PXI板卡通道信息之间的总线地址映射关系表;
图4是根据本发明优选实施例的PLC模型库与测试资源库之间的连接关系表。
具体实施方式
下面参照附图对本发明的示例性实施方式进行详细描述。对示例性实施方式的描述仅仅是出于示范目的,而绝不是对本发明及其应用或用法的限制。
现有技术中对待测PLC进行测试时,由上位机软件模拟待测PLC的外部输入信号对待测PLC进行一对一测试,这种测试方法缺乏有效的通用测试手段,不具备通用性,无法实现故障注入。本发明通过预先建立PLC模型库和测试资源库,根据待测PLC的参数信息从PLC模型库中获取对应的PLC模型、并依据PLC模型获取与待测PLC对应的测试资源,从而能够针对不同的待测PLC进行测试。
图1示出了根据本发明的PLC层次化建模的测试方法流程图。不同待测PLC(Programmable Logic Controller,可编程式逻辑控制器)的参数信息不同,为了能够快速搭建对待测PLC对应的PLC模型,本发明首先建立PLC模型库,该PLC模型库中包含至少一个PLC模型以及与每个PLC模型对应的至少一项PLC模型参数信息。优选地,PLC模型参数信息包括:IP地址、站地址、外部IO(Input/Output,输入/输出)信息和内部CIO(Chanel Input/Output,输入/输出通道)信息。进一步优选地,外部IO信息包括:数字输入、数字输出、模拟输入、模拟输出、定时输出;内部CIO信息包括:线圈、寄存器。
步骤S1中,根据待测PLC的参数信息查询预设的PLC模型库,获取与待测PLC对应的PLC模型。PLC模型库中的PLC模型越多,能够测试的待测PLC越多。
待测PLC通过适配器与PXI(PCI extensions for Instrumentation,面向仪器系统的PCI扩展)板卡连接,PXI板卡用于将测试资源转化为电流或电压信息、并发送给适配器,适配器用于将电流或电压信息转换成电平信息、并发送给待测PLC。适配器接口信息与PXI板卡通道信息之间的总线地址映射关系构成待测PLC的测试资源,适配器接口信息不同、和/或PXI板卡通道信息不同,与其连接的待测PLC的测试资源也不同。本发明中,为了能够尽快获取与每个待测PLC对应的测试资源,首先建立测试资源库,该测试资源库中包含相互连接的适配器的接口信息与PXI板卡的通道信息的各种总线地址映射关系。优选地,适配器接口信息包括:适配器插头号、适配器插头插钉号,PXI板卡通道信息包括:PXI机箱号、插槽序号、端口号、线号。图3示出了根据本发明优选实施例的测试资源库中适配器接口信息与PXI板卡通道信息之间的总线地址映射关系表。
参数信息不同,对应的PLC模型不同,测试资源也不同。为了将PLC模型库中的PLC模型与测试资源库中的测试资源相互关联,本发明还预先构建了PLC模型库与测试资源库之间的连接关系。优选地,该连接关系为:PLC模型的模块名称、PLC模型的模块地址号、PLC模型的系统号、PLC模型的模块通道类型与PXI机箱号、插槽序号、端口号、线号的一一对应关系。图4示出了根据本发明优选实施例的PLC模型库与测试资源库之间的连接关系表。
步骤S2基于获得的PLC模型,查询预设的PLC模型库与预设的测试资源库之间的连接关系,即可确定与待测PLC对应的测试资源。
S3、利用测试资源以及待测PLC的内部CIO信息对待测PLC进行测试。图2示出了根据本发明的PLC层次化建模的测试方法原理图。测试资源为数字信息,确定与待测PLC对应的测试资源后,时序层将该测试资源的数字信息发送给PXI板卡,由PXI板卡将该数字信息转换为电流或电压信息并发送给适配器,适配器将该电流或电压信息转换为电平信息后输入待测PLC,时序层根据输入待测PLC的电平信息、以及待测PLC的内部CIO信息对待测PLC进行测试。
本发明的PLC层次化建模的方法,包括:
A、建立PLC模型库,所述PLC模型库包括至少一个PLC模型的至少一项PLC模型参数信息;
B、搭建测试资源库,所述测试资源库是指适配器接口信息与PXI板卡通道信息之间的总线地址映射关系;
C、构建所述PLC模型库与所述测试资源库之间的连接关系;
D、针对任意一个待测PLC,依据所述待测PLC的参数信息查询所述PLC模型库,确定与所述待测PLC对应的PLC模型;依据所述连接关系,获取与所述待测PLC对应的测试资源;利用所述测试资源以及所述待测PLC的内部CIO信息对所述待测PLC进行测试;
其中,PXI板卡用于将所述测试资源转化为电流或电压信息、并发送给所述适配器;所述适配器用于将所述电流或电压信息转换成电平信息、并发送给所述待测PLC。
优选地,所述PLC模型参数信息包括:IP地址、站地址、外部IO信息和内部CIO信息。
优选地,所述外部IO信息包括:数字输入、数字输出、模拟输入、模拟输出、定时输出;
所述内部CIO信息包括:线圈、寄存器。
优选地,所述适配器接口信息包括:适配器插头号、适配器插头插钉号,所述PXI板卡通道信息包括:PXI机箱号、插槽序号、端口号、线号。
优选地,所述连接关系为:所述PLC模型的模块名称、所述PLC模型的模块地址号、所述PLC模型的系统号、所述PLC模型的模块通道类型与PXI机箱号、插槽序号、端口号、线号的一一对应关系。
本发明通过建立PLC模型库能够根据待测PLC的参数信息快速搭建PLC模型;通过建立总线地址映射关系以及连接关系构建PLC软件测试的测试资源库,能够依据搭建的PLC模型确定与该PLC设备对应的测试资源,从而能够针对不同的待测PLC进行测试,测试环境的通用性好。
虽然参照示例性实施方式对本发明进行了描述,但是应当理解,本发明并不局限于文中详细描述和示出的具体实施方式,在不偏离权利要求书所限定的范围的情况下,本领域技术人员可以对所述示例性实施方式做出各种改变。
Claims (10)
1.一种PLC层次化建模的测试方法,包括:
S1、根据待测PLC的参数信息查询预设的PLC模型库,获取与所述待测PLC对应的PLC模型;
S2、基于获取的所述PLC模型,查询预设的所述PLC模型库与预设的测试资源库之间的连接关系,确定与所述待测PLC对应的测试资源;
S3、利用所述测试资源以及所述待测PLC的内部CIO信息对所述待测PLC进行测试;
其中,所述PLC模型库包括至少一个PLC模型以及与每个PLC模型对应的至少一项PLC模型参数信息;所述测试资源是指适配器接口信息与PXI板卡通道信息之间的总线地址映射关系;所述PXI板卡用于将所述测试资源转化为电流或电压信息、并发送给所述适配器;所述适配器用于将所述电流或电压信息转换成电平信息、并发送给所述待测PLC。
2.如权利要求1所述的测试方法,其中,所述PLC模型参数信息包括:IP地址、站地址、外部IO信息和内部CIO信息。
3.如权利要求2所述的测试方法,其中,所述外部IO信息包括:数字输入、数字输出、模拟输入、模拟输出、定时输出;
所述内部CIO信息包括:线圈、寄存器。
4.如权利要求3所述的测试方法,其中,所述适配器接口信息包括:适配器插头号、适配器插头插钉号,所述PXI板卡通道信息包括:PXI机箱号、插槽序号、端口号、线号。
5.如权利要求4所述的测试方法,其中,所述连接关系为:所述PLC模型的模块名称、所述PLC模型的模块地址号、所述PLC模型的系统号、所述PLC模型的模块通道类型与PXI机箱号、插槽序号、端口号、线号的一一对应关系。
6.一种PLC层次化建模的方法,包括:
A、建立PLC模型库,所述PLC模型库包括至少一个PLC模型的至少一项PLC模型参数信息;
B、搭建测试资源库,所述测试资源库是指适配器接口信息与PXI板卡通道信息之间的总线地址映射关系;
C、构建所述PLC模型库与所述测试资源库之间的连接关系;
D、针对任意一个待测PLC,依据所述待测PLC的参数信息查询所述PLC模型库,确定与所述待测PLC对应的PLC模型;依据所述连接关系,获取与所述待测PLC对应的测试资源;利用所述测试资源以及所述待测PLC的内部CIO信息对所述待测PLC进行测试;
其中,所述PXI板卡用于将所述测试资源转化为电流或电压信息、并发送给所述适配器;所述适配器用于将所述电流或电压信息转换成电平信息、并发送给所述待测PLC。
7.如权利要求6所述的方法,其中,所述PLC模型参数信息包括:IP地址、站地址、外部IO信息和内部CIO信息。
8.如权利要求7所述的方法,其中,所述外部IO信息包括:数字输入、数字输出、模拟输入、模拟输出、定时输出;
所述内部CIO信息包括:线圈、寄存器。
9.如权利要求8所述的方法,其中,所述适配器接口信息包括:适配器插头号、适配器插头插钉号,所述PXI板卡通道信息包括:PXI机箱号、插槽序号、端口号、线号。
10.如权利要求9所述的方法,其中,所述连接关系为:所述PLC模型的模块名称、所述PLC模型的模块地址号、所述PLC模型的系统号、所述PLC模型的模块通道类型与PXI机箱号、插槽序号、端口号、线号的一一对应关系。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN105260311A CN105260311A (zh) | 2016-01-20 |
CN105260311B true CN105260311B (zh) | 2017-11-24 |
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Family Applications (1)
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---|---|---|---|
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---|---|
CN (1) | CN105260311B (zh) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN110209142B (zh) * | 2018-02-28 | 2021-04-27 | 北京金风慧能技术有限公司 | Plc模块的连接、检测方法、装置及检测设备 |
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CN104317259A (zh) * | 2014-09-19 | 2015-01-28 | 东北大学 | 一种建立plc/dcs平台设备逻辑模型的方法 |
CN104813323A (zh) * | 2012-09-27 | 2015-07-29 | 西门子公司 | 可编程逻辑控制器输入和输出的仿真 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9336051B2 (en) * | 2007-10-19 | 2016-05-10 | National Instruments Corporation | Programmable controller with multiple processors using a scanning architecture |
-
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