CN105224149A - 一种电容触摸屏检测方法 - Google Patents
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Abstract
本发明适用于触摸屏检测技术领域，本发明提供一种电容触摸屏检测方法，包括以下步骤：触控芯片依次对每一个通道电极进行扫描检测以分别获取每一个通道电极的第一电容值；触控芯片依次对形成一对自电容耦合电极的一个第一通道电极和一个第二通道电极同时进行扫描检测，以分别获取每一个通道电极的第二电容值；触控芯片将每一个通道电极的第一电容值和第二电容值发送给检测设备；检测设备计算判定触摸屏是否良品。本发明一种电容触摸屏检测方法，提升了触摸屏在生产过程中的检测效率和稳定性，同时避免人为主观判断的失误带来的检测误差，并且节省了生产中检测治具的制作及维护成本。
Description
技术领域
本发明涉及触控技术领域，尤其涉及一种电容触摸屏检测方法。
背景技术
现有技术中对触摸屏的检测方法多采用压铜条检测法，请参阅图1和图2，该触摸屏包括触摸屏模组1，所述触摸屏模组1由通道电极A1、通道电极A2、通道电极A3、通道电极A4、通道电极A5与通道电极B1、通道电极B2、通道电极B3、通道电极B4、通道电极B5交叉排列形成，对所述触摸屏的检测方法如下：将触摸屏模组放置在压铜条检测的治具上，在触摸屏模组的预定位置2上分别设置3块铜块或铜皮3；当触摸屏在工作状态下，通过测试板依次控制左中右3块铜块或铜皮3分别接地，触控芯片分别检测3块铜块或铜皮依次接地时电容C变化量的数据，通过测试软件对电容变化量的数据进行判断，是否在设定的范围以内并输出结果。
上述采用压铜条进行检测缺点为：首先，需要精密的检测治具，在批量生产中往往使用气动机构进行检测，增加治具的成本。其次，相同检测工站需要多台检测治具，不同检测治具存在一定的加工差异导致需要对不同的治具设置不同的测试配置卡控值范围。最后，治具使用一段时间后存在维护的问题，机构容易磨损导致检测存在不可靠的问题。综上所述，现有技术中的电容触摸屏检测方法中存在采用的加工治具成本高以及检测不可靠的问题
发明内容
本发明的目的在于提供一种电容触摸屏检测方法，以解决现有技术的电容触摸屏检测方法中采用的加工治具成本高以及检测不可靠的问题。
本发明提供一种电容触摸屏检测方法，所述电容触摸屏包括至少一自电容电极组，每一自电容电极组包括多个自电容耦合电极对，对于同一自电容电极组，所述多个自电容耦合电极对沿第一方向依次排列，每个自电容耦合电极对包括一第一通道电极和一第二通道电极，对于任意相邻的二自电容耦合电极对，其中一自电容耦合电极对的第一通道电极与另一自电容耦合电极对的第二通道电极相邻，对于每一自电容耦合电极对，所述第一通道电极与所述第二通道电极呈预定形状，其中，所述第一通道电极的面积沿第二方向变小，所述第二通道电极的面积沿第二方向的反方向变小，且第二方向垂直第一方向，其特征在于，所述电容触摸屏检测方法包括以下步骤：
S11:对每一第一通道电极和第二通道电极进行扫描检测，在扫描一个通道电极时将其他通道电极与具有第一预定电压的第一参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第一电容值；
S12:对所述各自电容耦合电极对进行扫描检测，对于每一自电容耦合电极对，对所述第一通道电极和第二通道电极同时进行扫描检测，在对一自电容耦合电极对进行扫描时，将其他自电容耦合电极对中的第一通道电极和第二通道电极与具有第二预定电压的第二参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第二电容值；
S13:将每一通道电极的第一电容值与第二电容值相减后得到第一电容差值；
S14:将每一个通道电极的第一电容差值与一预定基准电容值相减后得到第二电容差值；
S15:判断每一个通道电极的第二电容差值是否在第一良品区范围内，如果所述每一个通道电极的第二电容差值均在第一良品区范围内，则判定所述触摸屏为良品。
本发明提供还提供另一种电容触摸屏检测方法，包括以下步骤：
S21:对每一第一通道电极和第二通道电极进行扫描检测，在扫描一个通道电极时将其他通道电极与具有第一预定电压的第一参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第一电容值；
S22:对所述各自电容耦合电极对进行扫描检测，对于每一自电容耦合电极对，对所述第一通道电极和第二通道电极同时进行扫描检测，在对一自电容耦合电极对进行扫描时，将其他自电容耦合电极对中的第一通道电极和第二通道电极与具有第二预定电压的第二参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第二电容值；
S23:将每一通道电极的第一电容值与第二电容值相减后得到第一电容差值；
S24:将每一个通道电极的第一电容差值与一预定基准电容值相减后得到第二电容差值；
S25:将所述触摸屏划分为多个区域，每个区域包括至少二自电容耦合电极对；
S26:将每一个区域内所有通道电极的第二电容差值的最大值与最小值相减后得到每一个区域的第三电容差值；
S27:判断每一个区域的第三电容差值是否在第二良品区范围内：如果所述每一个区域的第三电容差值均在第二良品区范围内，则判定所述触摸屏为良品。
本发明提供还提供另一种电容触摸屏检测方法，包括以下步骤：
S31:对每一第一通道电极和第二通道电极进行扫描检测，在扫描一个通道电极时将其他通道电极与具有第一预定电压的第一参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第一电容值；
S32:对所述各自电容耦合电极对进行扫描检测，对于每一自电容耦合电极对，对所述第一通道电极和第二通道电极同时进行扫描检测，在对一自电容耦合电极对进行扫描时，将其他自电容耦合电极对中的第一通道电极和第二通道电极与具有第二预定电压的第二参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第二电容值；
S33:将每一通道电极的第一电容值与第二电容值相减后得到第一电容差值；
S34:将每一个通道电极的第一电容差值与一预定基准电容值相减后得到第二电容差值；
S35:将所述触摸屏划分为多个区域，每个区域包括至少二自电容耦合电极对；
S36:将每一个区域内每一对自电容耦合电极中的第一通道电极的第二电容差值与第二通道电极的第二电容差值相减后得到每一对自电容耦合电极的第四电容差值；
S37:判断所述第四电容差值中的最大值是否在第三良品区范围内：如果所述第四电容差值中的最大值在第三良品区范围内，则判定所述触摸屏为良品。本发明提供还提供另一种电容触摸屏检测方法，包括以下步骤：
S41:对每一第一通道电极和第二通道电极进行扫描检测，在扫描一个通道电极时将其他通道电极与具有第一预定电压的第一参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第一电容值；
S42:对所述各自电容耦合电极对进行扫描检测，对于每一自电容耦合电极对，对所述第一通道电极和第二通道电极同时进行扫描检测，在对一自电容耦合电极对进行扫描时，将其他自电容耦合电极对中的第一通道电极和第二通道电极与具有第二预定电压的第二参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第二电容值；
S43:将每一通道电极的第一电容值与第二电容值相减后得到第一电容差值；
S44:将每一个通道电极的第一电容差值与一预定基准电容值相减后得到第二电容差值；
S45:将所述触摸屏划分为多个区域，每个区域包括至少二自电容耦合电极对；
S46:将每一个区域内相邻二第一通道电极的第二电容差值进行相减，同时将相邻二第二通道电极的第二电容差值进行相减后得到每一个区域内两个相邻通道电极的第五电容差值；
S47:判断所述第五电容差值中的最大值是否在第四良品区范围内：如果所述第五电容差值中的最大值在第四良品区范围内，则判定所述触摸屏为良品。
本发明提供的一种电容触摸屏检测方法与现有技术相比，提升了触摸屏在生产过程中的检测效率和稳定性，同时避免人为主观判断的失误带来的检测误差，并且节省了生产中检测治具的制作及维护成本，解决了现有技术中电容触摸屏检测方法采用的加工治具成本高以及检测不可靠的问题。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是现有技术中的压铜条检测方法中铜块放置示意图；
图2是现有技术中的压铜条检测方法中检测治具主视图；
图3是本发明实施例提供的一种电容触摸屏的结构示意图；
图4是本发明实施例提供的一种电容触摸屏检测方法的流程图；
图5是本发明实施例提供的一种电容触摸屏检测方法中触摸屏的画线检测状态示意图；
图6是本发明实施例提供的另一种电容触摸屏检测方法的流程图；
图7是本发明实施例提供的另一种电容触摸屏的结构示意图；
图8是本发明实施例提供的另一种电容触摸屏检测方法的流程图；
图9是本发明实施例提供的另一种电容触摸屏检测方法的流程图；
图10是本发明实施例提供的一种电容触摸屏检测方法中触摸屏检测状态示意图；
图11是本发明实施例提供的一种电容触摸屏检测方法中触摸屏检测状态示意图；
图12是本发明实施例提供的一种电容触摸屏检测方法中触摸屏中两个通道电极形成侧边电容示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
为了说明本发明所述的技术方案，下面通过具体实施例来进行说明。
请参阅图3，图3为一电容触摸屏的结构示意图。所述电容触摸屏1包括至少一自电容电极组20和触控芯片10。每一自电容电极组20包括多个自电容耦合电极对201。对于同一自电容电极组20，所述多个自电容耦合电极对201沿第一方向依次排列。每个自电容耦合电极对201包括一第一通道电极A1和一第二通道电极B1。对于任意相邻的二自电容耦合电极对201，其中一自电容耦合电极对的第一通道电极A1与另一自电容耦合电极对的第二通道电极B1相邻。对于每一自电容耦合电极对201，所述第一通道电极A1与所述第二通道电极B1呈预定形状，其中，所述第一通道电极A1的面积沿第二方向变小，所述第二通道电极B1的面积沿第二方向的反方向变小，且第二方向垂直第一方向。优选地，第一通道电极A1和第二通道电极B1为直角梯形电极，第一通道电极A1的斜腰与第二通道电极B1的斜腰相邻相对设置，以使得第一通道电极A1与第二通道电极B1相配合围成一矩形区域。然而，第一通道电极A1和第二通道电极B1并不限于直角梯形电极，也可为其它形状的电极，例如三角形等电极。
当所述触摸屏1包括多个自电容电极组20时，所述多个自电容电极组20沿第二方向并列排布，所述触摸屏1可实现多点触摸。
进一步地，每个所述第一通道电极A1和每个所述第二通道电极B1分别通过引线连接所述触控芯片10。所述触控芯片10用于给所述第一通道电极A1和第二通道电极B1分别提供触摸驱动信号，并接收来自所述第一通道电极A1和第二通道电极B1的触摸感测信号，从而实现对第一通道电极A1和第二通道电极B1的自电容进行感测。所谓自电容即为所述第一、第二通道电极分别与触摸物体之间形成的电容。所述触摸物体如为人体或触控笔等。
请一并参阅图4，图4为本发明电容触摸屏检测方法的第一实施方式的流程图。所述电容触摸屏检测方法包括以下步骤：
步骤S101：所述触控芯片10依次对每一第一通道电极A1和第二通道电极B1进行扫描检测，在扫描一个通道电极时将其他通道电极与具有第一预定电压的第一参考电压源(图未示)连接，以分别获取每一第一通道电极A1和第二通道电极B1的第一电容值。
具体的，所述触控芯片10对某一个通道电极进行一定频率的扫描检测，同时将其他通道电极与所述第一参考电压源连接，以获取当前被扫描检测的通道电极的第一电容值。据此，触控芯片10依次对每一第一、第二通道电极A1、B1进行扫描检测，从而获取每一第一、第二通道电极A1、B1的第一电容值。
优选的，所述参考电压源为地。
步骤S102：所述触控芯片10依次对所述各自电容耦合电极对201进行扫描检测，对于每一自电容耦合电极对201，所述触控芯片10对所述第一通道电极A1和第二通道电极B1同时进行扫描检测，在对一自电容耦合电极对201进行扫描时，将其他自电容耦合电极对201中的第一通道电极A1和第二通道电极B1与具有第二预定电压的第二参考电压源(图未示)连接，以分别获取每一第一通道电极A1和第二通道电极B1的第二电容值。
具体的，所述触控芯片10向某一自电容耦合电极对201的第一、第二通道电极A1、B1同时进行扫描检测，获得的电容值分别为第一、第二通道电极A1、B1的第二电容值。据此，触控芯片10依次对每一自电容耦合电极对201进行扫描检测，获得每一第一、第二通道电极A1、B1的第二电容值。
优选的，第二参考电压源与第一参考电源相同，均为地。
步骤S103：所述触控芯片10将每一第一通道电极A1和第二通道电极B1的第一电容值和第二电容值发送给检测设备(图未示)。
具体的，一种实施方式的所述检测设备包括终端和信息传输设备，所述信息传输设备负责终端与触控芯片10的通信，将触控芯片10的数据通过USB协议传送到终端并使用检测软件工具进行分析，所述触控芯片10与所述终端通过中断的方式进行数据信息的交换，即触控芯片10在触摸屏1上有触摸物体进行触摸时，向终端发送中断信号，使终端对触控芯片10发送的数据信息进行处理，触控芯片10与信息传输设备采用I2C或者SPI通讯协议进行信息传输。
需要说明的是，另一种实施方式的所述检测设备为一种具有数据处理功能的终端，所述终端直接与所述触控芯片10相连。
步骤S104：所述检测设备将每一通道电极的第一电容值与第二电容值相减后得到第一电容差值。
其中，所述第一电容差值也称为每一自电容耦合电极对201中第一通道电极A1与第二通道电极B1之间的侧边电容。
步骤S105：所述检测设备将每一个通道电极的第一电容差值与一预定基准电容值相减后得到第二电容差值。
步骤S106：所述检测设备判断每一个通道电极的第二电容差值是否在第一良品区范围内。
步骤S110：经判断如果所述每一个通道电极的第二电容差值均在第一良品区范围内，则判定所述触摸屏1为良品。
所述步骤S106之后还包括：
步骤S107：经判断如果某一个通道电极的第二电容差值不在第一良品区范围内，则再判断所述某一个通道电极的第二电容差值是否在第一临界区范围内。
步骤S109：经判断如果不在所述第一临界区范围内，则判定所述触摸屏1为不良品；
步骤S108：经判断如果在所述第一临界区范围内，则进入画线界面，通过画线判断所述触摸屏是否为良品。
所述步骤S108具体为：
在电容触摸屏1上的预定区域6内画线，请参阅图5。
检测设备判断画线路径的线性度是否在预定的范围内：经判断如果通道电极正常，则判定所述触摸屏1为良品；经判断如果通道电极不正常，则判定所述触摸屏1为不良品。
具体的，检测设备切换到画线的界面，通过手指在预定区域6画竖线，检测设备判断画线路径的线性度是否在设置的范围之内，如果在设置的范围内，判断为良品，否则为不良品。
请参阅图6和图7，图6为本发明电容触摸屏检测方法的另一实施例的流程图，图7为本实施例中电容触摸屏的结构示意图。图7所示电容触摸屏2与图3所示电容触摸屏1的主要差别在于：第一，电容触摸屏2包括至少两组并列排布的自电容电极组30；第二，对于同一自电容电极组30，自电容耦合电极对301的排列方向为第二方向，第一通道电极A1～A10的面积沿第一方向变小，第二通道电极B1～B10的面积沿第一方向的反方向变小。所述电容触摸屏检测方法包括以下步骤：
步骤201至205与前述图4所示的实施例中的步骤101至105相同，此处不再赘述。
步骤S206：将第一通道电极A1和第二通道电极B1形成的自电容耦合电极对划分为不同的区域。
根据与第一通道电极A1和第二通道电极B1连接的引线的走向方式，对所述多个自电容耦合电极对进行分区，其中，根据通道电极的设置方式，会在通道电极矩阵的两侧形成走线区，将与同一走线区中的引线连接的第一通道电极A1和第二通道电极B1形成的自电容耦合电极划分为一个区域，分别为分区2与分区3。
需要说明的是，靠近触控芯片10的沿同一方向设置的一排或一列自电容耦合电极中的第一通道电极A1和第二通道电极B1的引出线方向相同时，将该排或该列自电容耦合电极对划分为一个区域，此区域为分区1。
步骤S207：所述检测设备将每一个区域内所有通道电极的第二电容差值的最大值与最小值相减后得到每一个区域的第三电容差值。
步骤S208：所述检测设备分别判断所述第三电容差值是否在第二良品区范围内。
步骤S209：如果所述第三电容差值在第二良品区范围内，则判定所述触摸屏2为良品。
进一步的，所述步骤S208之后还包括：
步骤S210：如果所述第三电容差值不在第二良品区范围内，则再判断所述第三电容差值是否在第二临界区范围内。
步骤S211：如果不在所述第二临界区范围内，则判定所述触摸屏2为不良品。
步骤S212：如果在所述第二临界区范围内，则进入画线界面通过画线判断该区域内的通道电极是否正常。
步骤S213：经判断如果通道电极正常，则判定所述触摸屏2为良品。
步骤S214：经判断如果通道电极不正常，则判定所述触摸屏2为不良品。
进一步的，请参阅图8，图8为本发明电容触摸屏2检测方法的另一实施例的流程图，所述电容触摸屏2检测方法包括以下步骤：
步骤301至306与前述图7所示的实施例中的步骤201至206相同，此处不再赘述。
步骤S307：所述检测设备将每一个区域内每一自电容耦合电极对301中的第一通道电极A1的第二电容差值与第二通道电极B1的第二电容差值相减后得到每一自电容耦合电极对301的第四电容差值；
步骤S308：所述检测设备判断所述第四电容差值中的最大值是否在第三良品区范围内。
步骤S309：经判断如果所述第四电容差值中的最大值在第三良品区范围内，则判定所述触摸屏2为良品。
步骤S310：如果不在第三良品区范围内，则再判断所述第四电容差值中的最大值是否在第三临界区范围内。
步骤S311：经判断如果第四电容差值中的最大值不在第三临界区范围内，则判定所述触摸屏2为不良品。
步骤S312：经判断如果第四电容差值中的最大值在第三临界区范围内，则进入画线界面通过画线判断该区域内的通道电极是否正常。
步骤S313：经判断如果通道电极正常，则判定所述触摸屏2为良品。
步骤S314：经判断如果通道电极不正常，则判定所述触摸屏2为不良品。
进一步的，请参阅图9，图9为本发明电容触摸屏2检测方法的另一实施例的流程图，所述电容触摸屏2检测方法包括以下步骤：
步骤401至406与前述图7所示的实施例中的步骤201至206相同，此处不再赘述。
步骤S407：所述检测设备将每一个区域内相邻二第一通道电极的第二电容差值进行相减得到每一个区域内相邻二第一通道电极的第五电容差值，同时将相邻二第二通道电极的第二电容差值进行相减后得到每一个区域内相邻二第二通道电极的第五电容差值。
步骤S408：所述检测设备判断所述第五电容差值中的最大值是否在第四良品区范围内。
步骤S409：经判断如果第五电容差值中的最大值在第四良品区范围内，则判定所述触摸屏2为良品。
步骤S410：经判断如果第五电容差值中的最大值不在第四良品区范围内，则再判断所述第五电容差值中的最大值是否在第四临界区范围内。
步骤S411：经判断如果所述第五电容差值中的最大值不在第四临界区范围内，则判定所述触摸屏2为不良品。
步骤S412：经判断如果所述第五电容差值中的最大值在第四临界区范围内，则进入画线界面通过画线判断该区域内的通道电极是否正常。
步骤S413：经判断如果通道电极正常，则判定所述触摸屏2为良品。
步骤S414：经判断如果通道电极不正常，则判定所述触摸屏2为不良品。
下面通过具体实施方式说明本发明实施例：
本发明实施例的第一种实施方式采用单层ITO实现单指触摸屏的技术方案，触摸屏1具体包括在第二方向上交叉排列2列梯形通道电极，请参阅图10，图10与图3类似，为了此处更容易清楚说明，图10所示的触摸屏1与图3所示的触摸屏1的主要区别在于：在图10中，对第一通道电极与第二通道电极重新进行了标号，其中，第一通道电极A1、A2、A3、A4、A5与第二通道电极B1、B2、B3、B4、B5交叉排列，第一通道电极A1与第二通道电极B1、第一通道电极A2与第二通道电极B2、第一通道电极A3与第二通道电极B3、第一通道电极A4与第二通道电极B4以及第一通道电极A5与第二通道电极B5分别形成自电容耦合电极对，触控芯片10依次对每一个通道电极进行扫描检测以获取每一个通道电极的第一电容值，以扫描A1通道为例，请参阅图11，触控芯片10对第一通道电极A1进行一定频率信号的扫描检测，同时触控芯片10将其他通道电极(A2、A3、A4、A5、B1、B2、B3、B4、B5)全部接地，通过这种方式获取通道电极A1的第一电容值C1，其余9个通道电极依次按照这种方式获取对应通道电极的第一电容值，如表1所示，完成获取每一个通道的第一电容值。
| 通道\状态 | T1 | T2 | T3 | T4 | T5 | T6 | T7 | T8 | T9 | T10 |
| A1 | 扫描 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 |
| A2 | 接地 | 扫描 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 |
| A3 | 接地 | 接地 | 扫描 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 |
| A4 | 接地 | 接地 | 接地 | 扫描 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 |
| A5 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 扫描 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 |
| B1 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 扫描 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 |
| B2 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 扫描 | 接地 | 接地 | 接地 |
| B3 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 扫描 | 接地 | 接地 |
| B4 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 扫描 | 接地 |
| B5 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 扫描 |
表1：获取第一电容值的通道电极状态表
得到第一通道电极A1的第一电容值之后，触控芯片10再对通道电极A1进行一定频率信号扫描及检测，同时也对第二通道电极B1进行相同频率信号的扫描，请参阅图11，此时，触控芯片10将其他8个通道电极(A2、A3、A4、A5、B1、B3、B4、B5)全部接地，通过这种方式获取第一通道电极A1和第二通道电极B1的第二电容值C2，其余8个通道电极依次按照这种方式获取对应第二电容值，如表2所示，完成获取每一个通道电极的第二电容值。
| 通道\状态 | T1 | T2 | T3 | T4 | T5 |
| A1 | 扫描 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 |
| A2 | 接地 | 扫描 | 接地 | 接地 | 接地 |
| A3 | 接地 | 接地 | 扫描 | 接地 | 接地 |
| A4 | 接地 | 接地 | 接地 | 扫描 | 接地 |
| A5 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 扫描 |
| B1 | 扫描 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 |
| B2 | 接地 | 扫描 | 接地 | 接地 | 接地 |
| B3 | 接地 | 接地 | 扫描 | 接地 | 接地 |
| B4 | 接地 | 接地 | 接地 | 扫描 | 接地 |
| B5 | 接地 | 接地 | 接地 | 接地 | 扫描 |
表2：获取第二电容值的通道电极状态表
触控芯片10将第一通道电极A1的第一电容值C1和第二电容值C2发送给检测设备，检测设备将第一通道电极的第一电容值C1与第二电容值C2相减后得到第一电容差值ΔC1；检测设备将第一通道电极A1的第一电容差值ΔC1与一预定基准电容值相减后得到第二电容差值ΔC2，依照相同的方式，检测设备再依次获取其他通道电极的第二电容差值，其中，请参阅图13，第二电容值可视为第一通道电极A1和第二通道电极B1之间的侧边电容5。
检测设备判断每一个通道电极的第二电容差值ΔC2是否在第一良品区范围内。
如果所述每一个通道电极的第二电容差值ΔC2均在第一良品区范围内，则判定所述触摸屏为良品。
如果某一个通道电极的第二电容差值ΔC2不在第一良品区范围内，则再判断所述某一个通道电极的第二电容差值是否在第一临界区范围内，如果不在所述第一临界区范围内，则判定触摸屏为不良品。
如果在第一临界区范围内，则进入画线界面通过画线判断所述触摸屏是否为良品。
请参阅图5，检测设备切换到画线的界面，通过手指在预定的区域6画竖线，检测设备自动判断画线路径的线性度是否在设置的范围之内，如果在设置的范围内，判断为良品，否则为不良品。
下面通过具体实施方式说明本发明第二实施例：
本发明第二实施例的第一种实施方式采用双指触摸屏的技术方案，触摸屏2具体包括在第一方向上交叉排列4列三角形或梯形形状的通道电极，请参阅图7，其中，通道电极分两排排列，第一排通道电极中，第一通道电极A1、A2、A3、A4、A5与第二通道电极B1、B2、B3、B4、B5交叉排列，第一通道电极A1与第二通道电极B1、第一通道电极A2与第二通道电极B2、第一通道电极A3与第二通道电极B3、第一通道电极A4与第二通道电极B4以及第一通道电极A5与第二通道电极B5分别形成自电容耦合电极对，第二排通道电极中，第一通道电极A6、A7、A8、A9、A10与第二通道电极B6、B7、B8、B9、B10交叉排列，第一通道电极A6与第二通道电极B6、第一通道电极A7与第二通道电极B7、第一通道电极A8与第二通道电极B8、第一通道电极A9与第二通道电极B9以及第一通道电极A10与第二通道电极B10分别形成自电容耦合电极对，触控芯片依次对每一个通道电极进行扫描检测以获取每一个通道电极的第一电容值和第二电容值，并得出每一个通道电极的第二电容差值，具体的计算方法，请参照上一个实施方式，在此不再赘述。
因单层自电容芯片方案特性，走线上会形成电容，走线上电容容易受到走线方式及走线长度影响，所以需要将模组上相同走线方式的通道进行同一分区的判断，本实施方式中，根据通道电极的走线方式将触摸屏的通道电极分成三个区域，其中，第一排通道电极构成的自电容耦合电极靠近触控芯片，并且第一排通道电极的引出线方向相同，因此将第一排自电容耦合电极对划分为分区1，第二排电极中第一通道电极A6、A7、A8和第二通道电极B6、B7、B8构成自电容耦合电极的引出线方向相同，并且均位于图中通道电极矩阵左侧的同一走线区内，因此将其划分为分区2，第二排电极中第一通道电极A9、A10和第二通道电极B9、B10构成自电容耦合电极的引出线方向相同，并且均位于图中通道电极矩阵右侧的同一走线区内，因此将其划分为分区3，检测设备将不同分区内通道电极的第二电容差值的最大值与最小值的相减后得到第三电容差值ΔC3，检测设备判断第三电容差值ΔC3是否在第二良品区范围内，如果在第二良品区范围内，判断为良品。如果不在第二良品区范围内，则再判断所述第三电容差值ΔC3是否在第二临界区范围内，是，则进入画线界面通过画线判断该区域内的通道电极是否正常；否，则判定所述触摸屏为不良品。
电容触摸屏2检测方法的另一实施例中，检测设备将每一个区域内每一对自电容耦合电极中的第一通道电极的第二电容差值与第二通道电极的第二电容差值相减后得到每一对自电容耦合电极的第四电容差值ΔC4，例如：将分区1中的第一通道电极A1的第二电容差值与第二通道电极B1的第二电容差值相减后得到一个第四电容差值ΔC4，再将第一通道电极A2的第二电容差值与第二通道电极B2的第二电容差值相减后得到一个第四电容差值ΔC4，依次类推得到每一对自电容耦合电极的第四电容差值ΔC4，检测设备判断所得到的第四电容差值ΔC4中的最大值是否在第三良品区范围内：是，则判定所述触摸屏为良品。如果不在第三良品区范围内，则再判断所述第四电容差值中的最大值是否在第三临界区范围内：是，则进入画线界面通过画线判断该区域内的通道电极是否正常；否，则判定所述触摸屏为不良品。
电容触摸屏2检测方法的另一实施例中，检测设备将每一个区域内两个相邻的第一通道电极的第二电容差值进行相减，同时将两个相邻的第二通道电极的第二电容差值进行相减后得到每一个区域内两个相邻通道电极的第五电容差值；例如：将分区1中的第一通道电极A1和第一通道电极A3进行相减后得到一个第五电容差值ΔC5，将分区1中的第一通道电极A3和第一通道电极A5进行相减后得到一个第五电容差值ΔC5，将分区1中的第二通道电极A2和第一通道电极A4进行相减后得到一个第五电容差值ΔC5，将分区1中的第二通道电极B4和第二通道电极B6进行相减后得到一个第五电容差值ΔC5。所述检测设备依次判断所述第五电容差值的最大值是否在第四良品区范围内：是，则判定所述触摸屏为良品。如果不在第四良品区范围内，则再判断所述第五电容差值的最大值是否在第四临界区范围内：是，则进入画线界面通过画线判断该区域内的通道电极是否正常；否，则判定所述触摸屏为不良品。
本发明的检测方法通过判断不同分区的电容差值在合理的范围内，识别出不良的样品，但因触摸屏的不同样品批次生产工艺存在偏差，导致设置的电容差值范围会出现超标但实际画线则为良品的情况，为了将小部分电容差值出现超标的样品筛选出来，在良品区范围及不良品区范围中增加设置临界区，只要分区内通道电极的第三电容差值、第四电容差值以及第五电容差值是否在临界区间内，如果在临界区内，则检测设备测试完数据后自动切换到画线界面进行复判，再通过在触摸屏上画线而检测设备判断是否为良品。
本发明一种电容触摸屏检测方法与现有技术相比，提升了触摸屏在生产过程中的检测效率和稳定性，同时避免人为主观判断的失误带来的检测误差，并且节省了生产中检测治具的制作及维护成本。
以上内容是结合具体的优选实施方式对本发明所作的进一步详细说明，不能认定本发明的具体实施只局限于这些说明。对于本发明所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下做出若干等同替代或明显变型，而且性能或用途相同，都应当视为属于本发明由所提交的权利要求书确定的专利保护范围。
Claims (10)
1.一种电容触摸屏检测方法，所述电容触摸屏包括至少一自电容电极组，每一自电容电极组包括多个自电容耦合电极对，对于同一自电容电极组，所述多个自电容耦合电极对沿第一方向依次排列，每个自电容耦合电极对包括一第一通道电极和一第二通道电极，对于任意相邻的二自电容耦合电极对，其中一自电容耦合电极对的第一通道电极与另一自电容耦合电极对的第二通道电极相邻，对于每一自电容耦合电极对，所述第一通道电极与所述第二通道电极呈预定形状，其中，所述第一通道电极的面积沿第二方向变小，所述第二通道电极的面积沿第二方向的反方向变小，且第二方向垂直第一方向，其特征在于，所述电容触摸屏检测方法包括以下步骤：
S11:对每一第一通道电极和第二通道电极进行扫描检测，在扫描一个通道电极时将其他通道电极与具有第一预定电压的第一参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第一电容值；
S12:对所述各自电容耦合电极对进行扫描检测，对于每一自电容耦合电极对，对所述第一通道电极和第二通道电极同时进行扫描检测，在对一自电容耦合电极对进行扫描时，将其他自电容耦合电极对中的第一通道电极和第二通道电极与具有第二预定电压的第二参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第二电容值；
S13:将每一通道电极的第一电容值与第二电容值相减后得到第一电容差值；
S14:将每一个通道电极的第一电容差值与一预定基准电容值相减后得到第二电容差值；
S15:判断每一个通道电极的第二电容差值是否在第一良品区范围内，如果所述每一个通道电极的第二电容差值均在第一良品区范围内，则判定所述触摸屏为良品。
2.如权利要求1所述的电容触摸屏检测方法，其特征在于，所述第一参考电压源与所述第二参考电压源均为地，如果某一个通道电极的第二电容差值不在第一良品区范围内，所述电容触摸屏检测方法进一步包括步骤S16:判断所述某一个通道电极的第二电容差值是否在第一临界区范围内：如果所述每一个通道电极的第二电容差值均在第一临界区范围内，则进入画线界面通过画线判断所述触摸屏是否为良品；如果所述每一个通道电极的第二电容差值均不在第一临界区范围内，则判定所述触摸屏为不良品。
3.如权利要求2所述的电容触摸屏检测方法，其特征在于，所述进入画线界面通过画线判断所述触摸屏是否为良品的步骤具体为：
在触摸屏上的预定区域内画线；
判断画线路径的线性度是否在预定的范围内：如果所述画线路径的线性度在预定的范围内，则判定所述触摸屏为良品；如果所述画线路径的线性度不在预定的范围内，则判定所述触摸屏为不良品。
4.如权利要求2所述的电容触摸屏检测方法，其特征在于，所述电容触摸屏还包括触控芯片，所述触控芯片的输出端连接检测设备的输入端，所述触控芯片执行步骤S11和步骤S12，所述触控芯片将每一第一通道电极和第二通道电极的第一电容值和第二电容值发送给所述检测设备，所述检测设备执行步骤S13、步骤S14、步骤S15和步骤S16。
5.一种电容触摸屏检测方法，所述电容触摸屏包括至少一自电容电极组，每一自电容电极组包括多个自电容耦合电极对，对于同一自电容电极组，所述多个自电容耦合电极对沿第一方向依次排列，每个自电容耦合电极对包括一第一通道电极和一第二通道电极，对于任意相邻的二自电容耦合电极对，其中一自电容耦合电极对的第一通道电极与另一自电容耦合电极对的第二通道电极相邻，对于每一自电容耦合电极对，所述第一通道电极与所述第二通道电极呈预定形状，其中，所述第一通道电极的面积沿第二方向变小，所述第二通道电极的面积沿第二方向的反方向变小，且第二方向垂直第一方向，其特征在于，所述电容触摸屏检测方法包括以下步骤：
S21:对每一第一通道电极和第二通道电极进行扫描检测，在扫描一个通道电极时将其他通道电极与具有第一预定电压的第一参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第一电容值；
S22:对所述各自电容耦合电极对进行扫描检测，对于每一自电容耦合电极对，对所述第一通道电极和第二通道电极同时进行扫描检测，在对一自电容耦合电极对进行扫描时，将其他自电容耦合电极对中的第一通道电极和第二通道电极与具有第二预定电压的第二参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第二电容值；
S23:将每一通道电极的第一电容值与第二电容值相减后得到第一电容差值；
S24:将每一个通道电极的第一电容差值与一预定基准电容值相减后得到第二电容差值；
S25:将所述触摸屏划分为多个区域，每个区域包括至少二自电容耦合电极对；
S26:将每一个区域内所有通道电极的第二电容差值的最大值与最小值相减后得到每一个区域的第三电容差值；
S27:判断每一个区域的第三电容差值是否在第二良品区范围内：如果所述每一个区域的第三电容差值均在第二良品区范围内，则判定所述触摸屏为良品。
6.如权利要求5所述的电容触摸屏检测方法，其特征在于，所述第一参考电压源与所述第二参考电压源均为地，如果某一个区域的第三电容差值不在第二良品区范围内，所述电容触摸屏检测方法进一步包括步骤S28:判断所述第三电容差值是否在第二临界区范围内：如果所述第三电容差值在第二临界区范围内，则进入画线界面通过画线判断该区域内的通道电极是否正常；如果所述第三电容差值不在第二临界区范围内，则判定所述触摸屏为不良品。
7.一种电容触摸屏检测方法，所述电容触摸屏包括至少一自电容电极组，每一自电容电极组包括多个自电容耦合电极对，对于同一自电容电极组，所述多个自电容耦合电极对沿第一方向依次排列，每个自电容耦合电极对包括一第一通道电极和一第二通道电极，对于任意相邻的二自电容耦合电极对，其中一自电容耦合电极对的第一通道电极与另一自电容耦合电极对的第二通道电极相邻，对于每一自电容耦合电极对，所述第一通道电极与所述第二通道电极呈预定形状，其中，所述第一通道电极的面积沿第二方向变小，所述第二通道电极的面积沿第二方向的反方向变小，且第二方向垂直第一方向，其特征在于，所述电容触摸屏检测方法包括以下步骤：
S31:对每一第一通道电极和第二通道电极进行扫描检测，在扫描一个通道电极时将其他通道电极与具有第一预定电压的第一参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第一电容值；
S32:对所述各自电容耦合电极对进行扫描检测，对于每一自电容耦合电极对，对所述第一通道电极和第二通道电极同时进行扫描检测，在对一自电容耦合电极对进行扫描时，将其他自电容耦合电极对中的第一通道电极和第二通道电极与具有第二预定电压的第二参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第二电容值；
S33:将每一通道电极的第一电容值与第二电容值相减后得到第一电容差值；
S34:将每一个通道电极的第一电容差值与一预定基准电容值相减后得到第二电容差值；
S35:将所述触摸屏划分为多个区域，每个区域包括至少二自电容耦合电极对；
S36:将每一个区域内每一自电容耦合电极对中的第一通道电极的第二电容差值与第二通道电极的第二电容差值相减后得到每一自电容耦合电极对的第四电容差值；
S37:判断所述第四电容差值中的最大值是否在第三良品区范围内：如果所述第四电容差值中的最大值在第三良品区范围内，则判定所述触摸屏为良品。
8.如权利要求7所述的电容触摸屏检测方法，其特征在于，所述第一参考电压源与所述第二参考电压源均为地，如果所述第四电容差值中的最大值不在第三良品区范围内，所述电容触摸屏检测方法进一步包括步骤S38:判断所述第四电容差值中的最大值是否在第三临界区范围内：如果所述第四电容差值中的最大值在第三临界区范围内，则进入画线界面通过画线判断该区域内的通道电极是否正常；所述第四电容差值中的最大值不在第三临界区范围内，则判定所述触摸屏为不良品。
9.一种电容触摸屏检测方法，所述电容触摸屏包括至少一自电容电极组，每一自电容电极组包括多个自电容耦合电极对，对于同一自电容电极组，所述多个自电容耦合电极对沿第一方向依次排列，每个自电容耦合电极对包括一第一通道电极和一第二通道电极，对于任意相邻的二自电容耦合电极对，其中一自电容耦合电极对的第一通道电极与另一自电容耦合电极对的第二通道电极相邻，对于每一自电容耦合电极对，所述第一通道电极与所述第二通道电极呈预定形状，其中，所述第一通道电极的面积沿第二方向变小，所述第二通道电极的面积沿第二方向的反方向变小，且第二方向垂直第一方向，其特征在于，所述电容触摸屏检测方法包括以下步骤：
S41:对每一第一通道电极和第二通道电极进行扫描检测，在扫描一个通道电极时将其他通道电极与具有第一预定电压的第一参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第一电容值；
S42:对所述各自电容耦合电极对进行扫描检测，对于每一自电容耦合电极对，对所述第一通道电极和第二通道电极同时进行扫描检测，在对一自电容耦合电极对进行扫描时，将其他自电容耦合电极对中的第一通道电极和第二通道电极与具有第二预定电压的第二参考电压源连接，以分别获取每一第一通道电极和第二通道电极的第二电容值；
S43:将每一通道电极的第一电容值与第二电容值相减后得到第一电容差值；
S44:将每一个通道电极的第一电容差值与一预定基准电容值相减后得到第二电容差值；
S45:将所述触摸屏划分为多个区域，每个区域包括至少二自电容耦合电极对；
S46:将每一个区域内相邻二第一通道电极的第二电容差值进行相减得到每一个区域内相邻二第一通道电极的第五电容差值，同时将相邻二第二通道电极的第二电容差值进行相减后得到每一个区域内相邻二第二通道电极的第五电容差值；
S47:判断所述第五电容差值中的最大值是否在第四良品区范围内：如果所述第五电容差值中的最大值在第四良品区范围内，则判定所述触摸屏为良品。
10.如权利要求9所述的电容触摸屏检测方法，其特征在于，所述第一参考电压源与所述第二参考电压源均为地，如果所述第五电容差值中的最大值不在第四良品区范围内，所述电容触摸屏检测方法进一步包括步骤S48:判断所述第五电容差值中的最大值是否在第四临界区范围内：如果所述第五电容差值中的最大值在第四临界区范围内，则进入画线界面通过画线判断该区域内的通道电极是否正常；所述第五电容差值中的最大值不在第四临界区范围内，则判定所述触摸屏为不良品。
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