CN104880020B - 变频冰箱0.1度温度采集处理方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种变频冰箱0.1度温度采集处理方法,其特征是按如下步骤进行:1获取AD采样值与温度T的对应关系表;2获得平均采样值;3获得温度区间的温度跳变值;4获得两个相邻AD采样值区间的分段数;5通过增加虚拟采样点的方法实现温度采集精确到0.1℃。本发明能在不更改硬件的条件下,有效提高冰箱各个间室温度传感器的采集精度,从而使得间室温度控制更加精确。
Description
技术领域
本发明涉及一种变频冰箱0.1度温度采集处理方法。
背景技术
目前,一般冰箱所使用的温度传感器控制板MCU采样精度为0.5℃,随着变频冰箱精确控温及变频压缩机转速精确控制技术的发展,MCU采样为0.5℃精度已经无法满足变频冰箱工作模式的需要。而冰箱用温度传感器一般以NTC热敏电阻式为主,热敏电阻有一个特性,在非线性段温度,即较低温度段和较高温度段时,其阻值-温度变化率相差极大,从而造成在中间温度段利用相对较低分辨率(如10位AD)的模数变换器即可完成精确到0.1℃的温度采样,而在较低温度段和较高温度段非线性段温度采集上需要较高分辨率的模数变换器(ADC器件)才能达到0.1℃采样精度要求;面对这一问题,如果采用改变硬件增加多级运算电路来修正采样曲线或是更换高位数的ADC器件以提高采样分辨率,将会增加制造成本,且实施过程较为复杂。
发明内容
本发明为克服现有技术存在的不足之处,提供一种变频冰箱0.1度温度采集处理方法,以期能在不更改硬件的条件下,有效提高冰箱各个间室温度传感器的采集精度,从而使得间室温度控制更加精确。
本发明为解决现有技术问题采用如下技术方案:
本发明一种变频冰箱0.1度温度采集处理方法的特点是按如下步骤进行:
步骤1,利用冰箱控制板MCU的AD采样硬件电路,获取AD采样值与温度T的对应关系表tab[AD-T];
步骤2,利用冰箱控制板MCU的AD口实时对温度传感器所获取的温度进行N次采样,获得的N次采样值进行求和运算并取平均值,获得平均采样值ADvalue;
步骤3,根据所述平均采样值ADvalue在所述对应关系表tab[AD-T]进行查表操作;
步骤4、假设所述平均采样值ADvalue落在所述对应关系表tab[AD-T]中两个相邻AD采样值[AD(x),AD(x+1)]区间内,且所述采样值AD(x)在所述对应关系表tab[AD-T]中所对应的温度为T(x),所述采样值AD(x+1)在所述对应关系表tab[AD-T]中所对应的温度为T(x+1),则利用式(1)获得温度区间T(x)与T(x+1)之间的温度跳变值Tsub:
Tsub=︱T(x+1)-T(x)︱ (1)
步骤5、设置温度采样精度⊿T,并利用式(2)获得所述两个相邻AD采样值[AD(x),AD(x+1)]区间的分段数seg:
seg=Tsub/⊿T (2)
步骤6、判断所述分段数seg≤1是否成立,若成立,则表示采样精度满足0.1度;否则,表示采样精度不满足0.1度,需要在所述两个相邻AD采样值[AD(x),AD(x+1)]区间内增加虚拟采样点,并执行步骤7;
步骤7、定义整型变量i,并初始化i=0;
步骤8、判断i≤seg是否成立,若成立,则执行步骤9,否则,输出所述平均采样值ADvalue所对应的温度值Tvalue;
步骤9、判断式(3)是否成立,若成立,则执行步骤10;
步骤10、利用式(4)获得所述平均采样值ADvalue所对应的温度值Tvalue:
Tvalue=T(x)+⊿T×i (4)
步骤11、将i+1赋值给i,并返回步骤8执行。
本发明所述的变频冰箱0.1度温度采集处理方法的特点也在于:
所述冰箱控制板MCU的AD口采用二进制10位分辨率进行采样,AD采样值的范围为0~1023之间的整数;AD采样值所对应的温度T的范围为-50.0~50.0℃。
所述温度采样次数N的取值范围为:10≤N≤50;所述平均采样值ADvalue保留n位小数位,1≤n≤3;
所述两个相邻AD采样值的关系满足:AD(x+1)=AD(x)+1;温度采样精度⊿T=0.1℃。
与已有技术相比,本发明有益效果体现在:
1、本发明在不增加硬件成本的基础上,对采样值落在较高温度段、较低温度段、或中间温度段均可自动计算温度精确是否达到0.1度,自动判断是否需要分段扩展采样点来提高采样精度到0.1℃,从而克服了硬件在非线性温度段无法达到0.1度精度要求的情况。
2、本发明在检测到采样精度不足0.1度的非线性温度采样段时,自动判断不足的程度,并动态将采样点与相邻采样点之间虚拟划分出来多个虚拟采样点进行采样点扩展;再进行单点多次采样求平均值保留小数,由采样值小数部分来确定当前温度精确到0.1度的实际温度值,从而实现了温度采集精确到0.1℃,对变频冰箱而言,通过控温规则的优化、变频压缩机转速控制方法与0.1℃温度精度的结合,达到精确控温、节能、保鲜。
附图说明
图1为本发明温度采样部分硬件电路示意图;
图2为本发明实现0.1℃精度AD采样值-温度值示意图。
具体实施方式
本实施例中,一种变频冰箱0.1度温度采集处理方法是针对冰箱控制板MCU在进行温度采集过程中,温度传感器在感知较高及较低温度时所对应MCU的AD采样口上采样值变化率与实际温度值变化率呈非线性变化,且硬件AD采样电路在这些特定温度段(较高及较低温度)采样精度达不到0.1度的情况下实现提高精度的一种温度采集算法,具体的说是按如下步骤进行:
步骤1,图1为控制板MCU的温度传感器AD采样硬件电路示意图,其中,VCC为直流电压+5V,分压电阻R1典型值为5.1KΩ,滤波电容C1典型值为104瓷介电容,限流电阻R2典型值为2.2KΩ;
当感知温度变化时,温度传感器阻值随之变化,则利用式(1)获得对应单片机AD口检测电压值为:
AD口电压值=+5V×R1/(温度传感器阻值+R1) (1)
具体实施中,冰箱控制板MCU的AD口采用二进制10位分辨率进行采样,则利用式(2)获得AD口电压转换为数字采样值为:
AD采样值=1023×(AD口电压值/+5V) (2)
从而利用如图1所示的冰箱控制板MCU的AD采样硬件电路,获取AD采样值与温度T的对应关系表tab[AD-T];AD采样值的范围为0~1023之间的整数;AD采样值所对应的温度T的范围为-50.0~50.0℃,且保留一位小数位;
如图2所示,对应关系表tab[AD-T]中包含较低温度段TLmin~TL0、中间温度段TL0~TH0和较高温度段TH0~THmax;其中,较低温度段TLmin~TL0和较高温度段TH0~THmax采样值与温度值呈非线性变化,中间温度段TL0~TH0采样值与温度值呈线性变化,即温度每变化0.1度,采样值增加整数1;
步骤2,利用冰箱控制板MCU的AD口实时对温度传感器所获取的温度进行N次采样,获得的N次采样值进行求和运算并取平均值,获得平均采样值存储在浮点型变量ADvalue中,并保留n位小数位,1≤n≤3,10≤N≤50;
步骤3,根据平均采样值ADvalue在对应关系表tab[AD-T]进行查表操作;
步骤4、参见图2,假设平均采样值ADvalue落在较高温度段的两个相邻AD采样值[AD(x),AD(x+1)]区间内,两个相邻AD采样值的满足关系:AD(x+1)=AD(x)+1,且采样值AD(x)在对应关系表tab[AD-T]中所对应的温度为T(x),采样值AD(x+1)在对应关系表tab[AD-T]中所对应的温度为T(x+1),则利用式(3)获得温度区间T(x)与T(x+1)之间的温度跳变值Tsub:
Tsub=︱T(x+1)-T(x)︱ (3)
步骤5、设置温度采样精度⊿T,并利用式(4)获得两个相邻AD采样值[AD(x),AD(x+1)]区间的分段数seg:
seg=Tsub/⊿T (4)
本实施例中,温度采样精度⊿T=0.1℃;
步骤6、判断分段数seg≤1是否成立,若成立,则表示采样精度满足0.1度;否则,表示采样精度不满足0.1度,需要在两个相邻AD采样值[AD(x),AD(x+1)]区间内增加虚拟采样点,并执行步骤7;
步骤7、定义整型变量i,并初始化i=0;
步骤8、判断i≤seg是否成立,若成立,则执行步骤9,否则,输出平均采样值ADvalue所对应的温度值Tvalue;
步骤9、判断式(5)是否成立,若成立,则执行步骤10;否则,输出所述平均采样值ADvalue所对应的温度值Tvalue;
步骤10、利用式(6)获得平均采样值ADvalue所对应的温度值Tvalue,从而获得平均采样值ADvalue所对应的精确到0.1℃的温度值Tvalue:
Tvalue=T(x)+⊿T×i (6)
步骤11、将i+1赋值给i,并返回步骤8执行。相关软件方法的伪代码如下:
Claims (4)
1.一种变频冰箱0.1度温度采集处理方法,其特征是按如下步骤进行:
步骤1、利用冰箱控制板MCU的AD采样硬件电路,获取AD采样值与温度T的对应关系表tab[AD-T];
步骤2、利用冰箱控制板MCU的AD口实时对温度传感器所获取的温度进行N次采样,获得的N次采样值进行求和运算并取平均值,获得平均采样值ADvalue;
步骤3、根据所述平均采样值ADvalue在所述对应关系表tab[AD-T]进行查表操作;
步骤4、假设所述平均采样值ADvalue落在所述对应关系表tab[AD-T]中两个相邻AD采样值[AD(x),AD(x+1)]区间内,且所述采样值AD(x)在所述对应关系表tab[AD-T]中所对应的温度为T(x),所述采样值AD(x+1)在所述对应关系表tab[AD-T]中所对应的温度为T(x+1),则利用式(1)获得温度区间T(x)与T(x+1)之间的温度跳变值Tsub:
Tsub=︱T(x+1)-T(x)︱ (1)
步骤5、设置温度采样精度⊿T,并利用式(2)获得所述两个相邻AD采样值[AD(x),AD(x+1)]区间的分段数seg:
seg=Tsub/⊿T (2)
温度采样精度⊿T=0.1℃;
步骤6、判断所述分段数seg≤1是否成立,若成立,则表示采样精度满足0.1度;否则,表示采样精度不满足0.1度,需要在所述两个相邻AD采样值[AD(x),AD(x+1)]区间内增加虚拟采样点,并执行步骤7;
步骤7、定义整型变量i,并初始化i=0;
步骤8、判断i≤seg是否成立,若成立,则执行步骤9,否则,输出所述平均采样值ADvalue所对应的温度值Tvalue;
步骤9、判断式(3)是否成立,若成立,则执行步骤10;
步骤10、利用式(4)获得所述平均采样值ADvalue所对应的温度值Tvalue:
Tvalue=T(x)+⊿T×i (4)
步骤11、将i+1赋值给i,并返回步骤8执行。
2.根据权利要求1所述的变频冰箱0.1度温度采集处理方法,其特征在于:
所述冰箱控制板MCU的AD口采用二进制10位分辨率进行采样,AD采样值的范围为0~1023之间的整数;AD采样值所对应的温度T的范围为-50.0~50.0℃。
3.根据权利要求1所述的变频冰箱0.1度温度采集处理方法,其特征在于:
所述温度采样次数N的取值范围为:10≤N≤50;所述平均采样值ADvalue保留n位小数位, 1≤n≤3。
4.根据权利要求1所述的变频冰箱0.1度温度采集处理方法,其特征在于:
所述两个相邻AD采样值的关系满足:AD(x+1)=AD(x)+1;温度采样精度⊿T=0.1℃。
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