CN104868913A - 一种相干布居囚禁原子频标 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种相干布居囚禁原子频标，属于原子钟领域。所述相干布居囚禁原子频标包括压控晶振、物理系统和伺服环路，所述物理系统包括：激光产生单元、光学器件、吸收泡和第一光电检测单元，所述光学器件、吸收泡和第一光电检测单元沿所述激光器产生单元的激光的发射方向依次设置，且所述光学器件、吸收泡和第一光电检测单元均设置在所述激光的光路上，所述相干布居囚禁原子频标还包括：闭环测试模块，用于检测所述相干布居囚禁原子频标的系统闭环时间；伺服环路，用于计算所述系统闭环时间的倒数得到系统闭环频率，产生一路频率等于所述系统闭环频率的第一时序信号，采用所述第一时序信号作为同步鉴相时序控制信号进行同步鉴相。

Description

一种相干布居囚禁原子频标

技术领域

本发明涉及原子钟领域，特别涉及一种相干布居囚禁原子频标。

背景技术

相干布居囚禁(英文：Coherent Population Trapping，简称：CPT)原子频标原理是采用双色相干激光激励碱金属蒸汽腔，当双色相干激光的频率差值与碱金属基态两个超精细能级频率差时，原子被制备成CPT态而对光的吸收减弱，将呈现电磁感应透明(英文：Electromagnetically Induced Transparency，简称：EIT)现象，将此时产生的窄线宽电磁感应透明谱线作为鉴频信号去锁定压控晶振。

而随着对于CPT原子频标的研究逐步深入，如何进一步提高CPT原子频标的频率稳定度成为了目前的一个重要课题。

发明内容

为了解决现有技术的问题，本发明实施例提供了一种相干布居囚禁原子频标。所述技术方案如下：

本发明实施例提供了一种相干布居囚禁原子频标，包括压控晶振、物理系统和伺服环路，所述物理系统包括：激光产生单元、光学器件、吸收泡和第一光电检测单元，所述光学器件、吸收泡和第一光电检测单元沿所述激光器产生单元的激光的发射方向依次设置，且所述光学器件、吸收泡和第一光电检测单元均设置在所述激光的光路上，所述相干布居囚禁原子频标还包括：

闭环测试模块，用于检测所述相干布居囚禁原子频标的系统闭环时间；

伺服环路，用于获取所述闭环测试模块测得的系统闭环时间，计算所述系统闭环时间的倒数得到系统闭环频率，产生一路频率等于所述系统闭环频率的正整数倍的第一时序信号，采用所述第一时序信号作为同步鉴相时序控制信号进行同步鉴相。

在本发明实施例的一种实现方式中，

所述物理系统还包括：光开关、第一分光片和第二光电检测单元，所述光开关和所述第一分光片依次设置在所述光学器件和所述吸收泡之间，经过所述分光片分出的两束激光分别照射到所述吸收泡和所述第二光电检测单元上；

所述闭环测试模块包括：与运算单元，用于获取所述伺服环路产生的同步鉴相信号和所述第二光电检测单元产生的第一光电检测信号，将所述同步鉴相信号与所述第一光电检测信号进行与运算；

奇数级逻辑门阵列，用于接收并处理所述与运算单元的输出结果；

控制单元，用于采用所述奇数级逻辑门阵列的输出信号控制所述光开关的开关动作；

检测单元，用于检测所述奇数级逻辑门阵列的输出信号的频率，获得整机振荡周期；

计算单元，用于根据所述整机振荡周期及所述奇数级逻辑门阵列的振荡周期，计算所述系统闭环时间。

在本发明实施例的另一种实现方式中，

所述计算单元，具体用于：根据以下公式计算所述系统闭环时间：Δt＝(T1-T0)/2；

其中，Δt为所述系统闭环时间，T1为所述整机振荡周期，T0为所述奇数级逻辑门阵列的振荡周期。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述激光产生单元包括：激光器、与所述激光器电连接的激光驱动器和自稳频、与所述激光驱动器电连接的恒流源和功率放大器，

所述相干布居囚禁原子频标还包括：

激光功率控制模块，用于检测所述激光器产生的激光的电流；根据所述激光功率控制模块检测到的电流控制所述功率放大器，使所述激光器产生的激光的功率向额定功率靠近。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述物理系统还包括：设置在所述光学器件和所述光开关之间的第二分光片、正对所述第二分光片的反射光路设置的第三光电检测单元；

所述激光功率控制模块，具体用于：获取所述系统闭环频率，产生一路频 率等于所述系统闭环频率的正整数倍的第二时序信号，采用所述第二时序信号对所述第三光电检测单元产生的第三光电检测信号的电流值进行采样；

比较采样到的电流值与额定值的大小，当所述采样到的电流值小于所述额定值时，增大所述功率放大器的倍数，当所述采样到的电流值大于所述额定值时，减小所述功率放大器的倍数。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述伺服环路包括：

同步鉴相单元，用于根据所述第一光电检测单元产生的第二光电检测信号完成同步鉴相，得到纠偏信号；

处理单元，用于获取所述系统闭环频率，产生所述第一时序信号，采用所述第一时序信号控制所述同步鉴相单元进行同步鉴相，所述第一时序信号的频率为所述系统闭环频率的4倍。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述伺服环路还包括：

相位移动单元，用于对所述第一光电检测单元产生的第二光电检测信号进行相位移动；

所述同步鉴相单元，用于采用经过所述相位移动模块移动后的第二光电检测信号进行同步鉴相。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述同步鉴相单元，具体用于：

在所述第二光电检测信号中高电平或低电平的持续时间t内采集a个采样点，完成同步鉴相，产生所述纠偏信号；

在N×t时间后输出所述纠偏信号，所述a大于20小于50，所述N为大于0的奇数。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述同步鉴相单元，具体用于：

获取所述纠偏信号的符号，采用下述公式计算当前纠偏电压：

V2＝V1±ΔV，V2为所述当前纠偏电压，V1为上一次输出的纠偏电压，ΔV为预设的步进电压，当所述纠偏信号的符号为正时，上述公式取负号，当所述纠偏信号的符号为负时，上述公式取正号。

在本发明实施例的另一种实现方式中，所述伺服环路还包括：

漂移补偿单元，用于获取所述压控晶振的老化漂移参数，根据所述老化漂移参数和所述压控晶振的压控斜率计算周期补偿值，采用所述周期补偿值周期性地对所述压控晶振的输出进行补偿。

本发明实施例提供的技术方案带来的有益效果是：

通过检测CPT原子频标的系统闭环时间，然后计算系统闭环时间的倒数得到系统闭环频率，产生一路频率等于所述系统闭环频率的正整数倍的第一时序信号，采用所述第一时序信号控制所述伺服环路进行同步鉴相。在现有技术中的时序信号为一固定频率的信号，如79Hz信号，所以对于不同的原子频标而言，纠偏的频率可能过高或过低，从而影响了整机的稳定度。而在本发明中，第一时序信号是根据系统闭环时间产生的，系统在每个闭环周期(系统闭环时间)内纠偏固定次数，避免纠偏的频率过高或过低，从而保证了CPT原子频标整机的稳定度。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的一种CPT原子频标的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种CPT原子频标的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。

本发明实施例提供了一种CPT原子频标的结构示意图，参见图1，该CPT原子频标包括压控晶振100、物理系统200和伺服环路300。图2提供了一种CPT原子频标的局部结构示意图，物理系统200可以包括：激光产生单元201、光学器件202、吸收泡203和第一光电检测单元204，光学器件202、吸收泡203和第一光电检测单元204沿激光器211产生单元的激光的发射方向依次设置，且光学器件202、吸收泡203和第一光电检测单元204均设置在激光的光路上。参见图1，CPT原子频标还可以包括：

闭环测试模块400，用于检测CPT原子频标的系统闭环时间；

伺服环路300，用于获取闭环测试模块400测得的系统闭环时间，计算系统 闭环时间的倒数得到系统闭环频率，产生一路频率等于系统闭环频率的正整数倍的第一时序信号，采用第一时序信号作为同步鉴相时序控制信号进行同步鉴相。

本发明实施例通过检测CPT原子频标的系统闭环时间，然后计算系统闭环时间的倒数得到系统闭环频率，产生一路频率等于系统闭环频率的正整数倍的第一时序信号，采用第一时序信号控制伺服环路进行同步鉴相。在现有技术中的时序信号为一固定频率的信号，如79Hz信号，所以对于不同的原子频标而言，纠偏的频率可能过高或过低，从而影响了整机的稳定度。而在本发明中，第一时序信号是根据系统闭环时间产生的，系统在每个闭环周期(系统闭环时间)内纠偏固定次数，避免纠偏的频率过高或过低，从而保证了CPT原子频标整机的稳定度。

其中，光学器件202包括但不限于光栅。吸收泡203中含有碱金属，例如 ⁸⁷Rb。

如图1所示，物理系统200还可以包括：光开关205、第一分光片206和第二光电检测单元207，光开关205和第一分光片206依次设置在光学器件202和吸收泡203之间，经过分光片分出的两束激光分别照射到吸收泡203和第二光电检测单元207上。闭环测试模块400可以包括：

与运算单元401，用于获取伺服环路300产生的同步鉴相信号和第二光电检测单元207产生的第一光电检测信号，将同步鉴相信号与第一光电检测信号进行与运算；具体地，将同步鉴相信号与第一光电检测信号进行与运算可以采用下述方式实现：当同步鉴相信号或第一光电检测信号为高电平时记为1，低电平记为0，然后再进行与运算。

奇数级逻辑门阵列402，用于接收并处理与运算单元401的输出结果； 

控制单元403，用于采用奇数级逻辑门阵列402的输出信号控制光开关205的开关动作； 

检测单元404，用于检测奇数级逻辑门阵列402的输出信号的频率，获得整机振荡周期；

计算单元405，用于根据整机振荡周期及奇数级逻辑门阵列402的振荡周期，计算系统闭环时间。

其中，光开关205可以是光隔离器或者高速快门Shutter，但这里也仅作为 举例，本发明并不限制如此。第一分光片206将激光分为两束，一束送至吸收泡203中，另一束送至第二光电检测单元207中。

其中，奇数级逻辑门阵列402的级数可以根据实际需要设定，例如大于3。

在本发明实施例中，计算单元405，具体用于：根据以下公式计算系统闭环时间：Δt＝(T1-T0)/2；

其中，Δt为系统闭环时间，T1为整机振荡周期，T0为奇数级逻辑门阵列402的振荡周期。 

具体地，奇数级逻辑门阵列402由奇数个非门串接在一起，会产生自激振荡。设非门的个数为M(大于0的奇数)，每个非门电路的平均传输时延迟间为t，则奇数级逻辑门阵列402的振荡周期为T0。假定输入奇数级逻辑门阵列402的信号初态为‘1’，则经过1个传输延迟t后变为‘0’，再经过1个传输延迟t变为‘1’，经过奇数M个传输延迟Mt后，初态‘1’变为‘0’。因此，可以得到：T0＝2Mt   (1)。

在奇数级逻辑门阵列402串入原子频标系统后，当物理系统200中的光开关205是‘开’状态时，激光器激励的光通过光开关205后直接进入吸收泡203中，完成量子鉴频，产生光检信号，光检信号经伺服环路处理后用于同步鉴相。因为激光器激励光能够透过吸收泡203，故此时刻经伺服环路的同步鉴相信号与第二光电检测单元207产生的第一光电检测信号的与运算的结果送入奇数级逻辑门阵列中的信号为高电平‘1’，而奇数级逻辑门阵列402由奇数个非门构成，因此送入奇数级逻辑门阵列402中的信号经过奇数个非门后变成低电平‘0’，输出信号再次作用于物理系统200中的光开关205，使其为‘关’状态。依次循环，在奇数级逻辑门阵列的输出端会出现‘1’、‘0’、‘1’…、‘0’的变化，通过奇数级逻辑门阵列的输出端频率信号检测，即可得出原子频标的振荡周期T1。而根据公式(1)相同的道理，可以推导出该原子频标的振荡周期T1可以表示为：T1＝2(Mt+Δt)   (2)。

故通过公式(1)和(2)，可推导得出：Δt＝(T1-T0)/2。

在本发明实施例中，激光产生单元201可以包括：激光器211、与激光器211电连接的激光驱动器212和自稳频213、与激光驱动器212电连接的恒流源214和功率放大器215。其中，激光器211作为光源，产生一窄线宽的单色激光。自稳频213用于对激光器211的输出进行稳频处理。激光驱动器212用于对功 率放大器215输入的微波调制信号及恒流源214输入的直流电源进行调制后驱动激光器211工作。

进一步地，CPT原子频标还可以包括：

激光功率控制模块500，用于检测激光器211产生的激光的电流；根据激光功率控制模块500检测到的电流控制功率放大器215，使激光器211产生的激光的功率向额定功率靠近。

具体地，物理系统200还可以包括：设置在光学器件202和光开关205之间的第二分光片208、正对第二分光片208的反射光路设置的第三光电检测单元209；

激光功率控制模块500，具体用于：获取系统闭环频率，产生一路频率等于系统闭环频率的正整数倍的第二时序信号，采用第二时序信号对第三光电检测单元209产生的第三光电检测信号的电流值进行采样；比较采样到的电流值与额定值的大小，当采样到的电流值小于额定值时，增大功率放大器215的倍数，当采样到的电流值大于额定值时，减小功率放大器215的倍数。

其中，额定值是开机后的一段时间(例如10分钟)内，测量出的一个平均值，然后存储起来供激光功率控制模块500使用。

优选地，前述第一时序信号的频率等于系统闭环频率的4倍，第二时序信号的频率等于系统闭环频率的2倍。

如图2所示，伺服环路300可以包括：

同步鉴相单元301，用于根据第一光电检测单元204产生的第二光电检测信号完成同步鉴相，得到纠偏信号；

处理单元302，用于获取系统闭环频率，产生第一时序信号，采用第一时序信号控制同步鉴相单元301进行同步鉴相，第一时序信号的频率为系统闭环频率的4倍。

容易知道，在本发明实施例中，伺服环路300还包括隔离放大器、DDS电路、倍频单元、混频单元等，用于产生微波调制信号输出至物理系统200的激光产生单元201中，其中各个部分的工作过程及作用这里不做赘述。

除了采用传统的方式产生微波调制信号外，本发明实施例还提供了另一种微波调制信号产生方式，在该实现方式中伺服环路300还包括信号源模块，该信号源模块可以为高精度铷钟，具体地：

压控晶振100输出一路ω1频率信号(如80MHz)。隔离放大器对ω1频率信号进行处理后输出一路至信号源模块，用以作信号源模块的外部时钟基准。信号源模块在以压控晶振100输出的ω1固定频率信号作为参考前提下，输出ω2频率信号至DDS电路。DDS电路根据ω2频率信号得到ω2*B频率信号，ω2的初始值与压控晶振100输出的ω1信号频率一致，即ω2也为80MHz。因为采用了压控晶振100作外部时基参考，故ω2频率信号拥有ω1频率信号一样的频率特性(如稳定度)。隔离放大器还用于输出另一路ω1频率信号至倍频单元。倍频单元对另一路ω1频率信号进行处理，得到ω1*A频率信号。混频单元根据DDS电路输出的ω2*B频率信号和倍频单元输出的ω1*A频率信号，处理得到微波调制信号F＝ω1*A-ω2*B。

其中，同步鉴相单元301输出纠偏信号控制信号源模块输出信号频率，实现原子能级的动态探测，这里对于信号源模块的纠偏控制与现有的压控晶振纠偏类似，这里不做赘述。

微波调制信号F＝ω1*A-ω2*B由ω1、ω2、A、B组成，其中，A由具体电路所决定，B是用户设置决定的，两者都是固定的，且按照上述方案ω1亦是固定的，变化的只有ω2。由于在F＝ω1*A-ω2*B中，B的值通常较小(如0.7)，A的值相对较大(如42)，而F又是由ω2*B控制的，所以其变化很小。相比传统技术中F主要由ω1*A控制相比，上述技术可以大大缩小原子能级跃迁动态探测的频率范围，使锁定更精确，整机系统的短稳更好。

进一步地，伺服环路300还可以包括： 

相位移动单元303，用于对第一光电检测单元204产生的第二光电检测信号进行相位移动；

同步鉴相单元301，用于采用经过相位移动模块移动后的第二光电检测信号进行同步鉴相。

具体地，移动时，只要使第二光电检测信号的平坦区域(高电平或低电平)与参考信号的上升沿(或下降沿)对齐即可。

通过相位移动单元303的处理，可以使同步鉴相单元301的采样更准确，从而提高了纠偏精度。

在本发明实施例中，同步鉴相单元301，具体用于： 

在第二光电检测信号中高电平或低电平的持续时间t内采集a个采样点，完 成同步鉴相，产生纠偏信号；

在N×t时间后输出纠偏信号，a优选为大于20小于50，N为大于0的奇数(例如3或5)。

通过上述延迟纠偏，系统已经累积了N次纠偏误差，相当于在系统中增加了一个积分器，即在系统中引入了一个噪声；由于N为大于0的奇数，N个t时间将会达到毫秒量级，而系统中其他信号通常是正弦波(具有偶次谐波)，且频率通常都会高于1MHz量级，因此N个t时间产生的时序引入的噪声将不会影响到系统中其他信号，因此这样做可以使系统的信噪比得到提高，进而有利于系统短期稳定度。

在本发明实施例中，同步鉴相单元301，具体用于： 

获取纠偏信号的符号，采用下述公式计算当前纠偏电压：

V2＝V1±ΔV，V2为当前纠偏电压，V1为上一次输出的纠偏电压，ΔV为预设的步进电压，当纠偏信号的符号为正时，上述公式取负号，当纠偏信号的符号为负时，上述公式取正号。

容易知道，在整机开机后，第一次进行纠偏时，没有V1存在，规定此时的V0为0。

由于上述方案只取纠偏信号的符号，而当前纠偏电压是根据上一次输出的纠偏电压决定的，因此当前纠偏电压不会出现较大的波动，有利于整机的稳定度。

进一步地，伺服环路300还可以包括： 

漂移补偿单元304，用于获取压控晶振100的老化漂移参数，根据老化漂移参数和压控晶振100的压控斜率计算周期补偿值，采用周期补偿值周期性地对压控晶振的输出进行补偿。

其中，周期可以为一小时、一天等，本发明实施例对此不做限制。如在本发明实施例中，压控晶振100的老化漂移参数为-1E-6/年，按一年365天换算得到-2.7E-9/天。结合压控晶振100的老化漂移参数、以及压控晶振100的压控斜率(如1E-7/V)，计算得到周期补偿值，即周期性地给压控晶振100加上一个固定的修正值(如27mV)，引起压控晶振100输出频率增加1E-7/V×27mV＝+2.7E-9，从而补偿压控晶振100因为老化漂移引起的频率变化影响。

容易知道，在本发明实施例中部分单元或模块可以集成到同一个电路、模 块或处理芯片上，例如将闭环测试模块400、激光功率控制模块500和处理单元302集成到同一处理芯片。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例的全部或部分步骤可以通过硬件来完成，也可以通过程序来指令相关的硬件完成，所述的程序可以存储于一种计算机可读存储介质中，上述提到的存储介质可以是只读存储器，磁盘或光盘等。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种相干布居囚禁原子频标，包括压控晶振、物理系统和伺服环路，所述物理系统包括：激光产生单元、光学器件、吸收泡和第一光电检测单元，所述光学器件、吸收泡和第一光电检测单元沿所述激光器产生单元的激光的发射方向依次设置，且所述光学器件、吸收泡和第一光电检测单元均设置在所述激光的光路上，其特征在于，所述相干布居囚禁原子频标还包括：

闭环测试模块，用于检测所述相干布居囚禁原子频标的系统闭环时间；

伺服环路，用于获取所述闭环测试模块测得的系统闭环时间，计算所述系统闭环时间的倒数得到系统闭环频率，产生一路频率等于所述系统闭环频率的正整数倍的第一时序信号，采用所述第一时序信号作为同步鉴相时序控制信号进行同步鉴相。

2.根据权利要求1所述的相干布居囚禁原子频标，其特征在于，

所述物理系统还包括：光开关、第一分光片和第二光电检测单元，所述光开关和所述第一分光片依次设置在所述光学器件和所述吸收泡之间，经过所述分光片分出的两束激光分别照射到所述吸收泡和所述第二光电检测单元上；

所述闭环测试模块包括：与运算单元，用于获取所述伺服环路产生的同步鉴相信号和所述第二光电检测单元产生的第一光电检测信号，将所述同步鉴相信号与所述第一光电检测信号进行与运算；

奇数级逻辑门阵列，用于接收并处理所述与运算单元的输出结果；

控制单元，用于采用所述奇数级逻辑门阵列的输出信号控制所述光开关的开关动作；

检测单元，用于检测所述奇数级逻辑门阵列的输出信号的频率，获得整机振荡周期；

计算单元，用于根据所述整机振荡周期及所述奇数级逻辑门阵列的振荡周期，计算所述系统闭环时间。

3.根据权利要求2所述的相干布居囚禁原子频标，其特征在于，所述计算单元，具体用于：根据以下公式计算所述系统闭环时间：Δt＝(T1-T0)/2；

其中，Δt为所述系统闭环时间，T1为所述整机振荡周期，T0为所述奇数级逻辑门阵列的振荡周期。

4.根据权利要求2所述的相干布居囚禁原子频标，其特征在于，所述激光产生单元包括：激光器、与所述激光器电连接的激光驱动器和自稳频、与所述激光驱动器电连接的恒流源和功率放大器，

所述相干布居囚禁原子频标还包括：

激光功率控制模块，用于检测所述激光器产生的激光的电流；根据所述激光功率控制模块检测到的电流控制所述功率放大器，使所述激光器产生的激光的功率向额定功率靠近。

5.根据权利要求4所述的原子频标，其特征在于，所述物理系统还包括：设置在所述光学器件和所述光开关之间的第二分光片、正对所述第二分光片的反射光路设置的第三光电检测单元；

所述激光功率控制模块，具体用于：获取所述系统闭环频率，产生一路频率等于所述系统闭环频率的正整数倍的第二时序信号，采用所述第二时序信号对所述第三光电检测单元产生的第三光电检测信号的电流值进行采样；

比较采样到的电流值与额定值的大小，当所述采样到的电流值小于所述额定值时，增大所述功率放大器的倍数，当所述采样到的电流值大于所述额定值时，减小所述功率放大器的倍数。

6.根据权利要求1-5任一项所述的相干布居囚禁原子频标，其特征在于，所述伺服环路包括：

同步鉴相单元，用于根据所述第一光电检测单元产生的第二光电检测信号完成同步鉴相，得到纠偏信号；

处理单元，用于获取所述系统闭环频率，产生所述第一时序信号，采用所述第一时序信号控制所述同步鉴相单元进行同步鉴相，所述第一时序信号的频率为所述系统闭环频率的4倍。

7.根据权利要求6所述的相干布居囚禁原子频标，其特征在于，所述伺服环路还包括：

相位移动单元，用于对所述第一光电检测单元产生的第二光电检测信号进行相位移动；

所述同步鉴相单元，用于采用经过所述相位移动模块移动后的第二光电检测信号进行同步鉴相。

8.根据权利要求6所述的相干布居囚禁原子频标，其特征在于，所述同步鉴相单元，具体用于：

在所述第二光电检测信号中高电平或低电平的持续时间t内采集a个采样点，完成同步鉴相，产生所述纠偏信号；

在N×t时间后输出所述纠偏信号，所述a大于20小于50，所述N为大于0的奇数。

9.根据权利要求6所述的相干布居囚禁原子频标，其特征在于，所述同步鉴相单元，具体用于：

获取所述纠偏信号的符号，采用下述公式计算当前纠偏电压：

V2＝V1±ΔV，V2为所述当前纠偏电压，V1为上一次输出的纠偏电压，ΔV为预设的步进电压，当所述纠偏信号的符号为正时，上述公式取负号，当所述纠偏信号的符号为负时，上述公式取正号。

10.根据权利要求6所述的相干布居囚禁原子频标，其特征在于，所述伺服环路还包括：

漂移补偿单元，用于获取所述压控晶振的老化漂移参数，根据所述老化漂移参数和所述压控晶振的压控斜率计算周期补偿值，采用所述周期补偿值周期性地对所述压控晶振的输出进行补偿。