CN104849539A - Ac检测 - Google Patents

Abstract

本公开涉及AC检测，具体地提出了一种方法，包括步骤：以采样率采样输入信号，其中输入信号基于AC信号；将输入信号与阈值信号比较；假如输入信号大于阈值信号则确定第一值；假如输入信号小于阈值信号则确定至少一个第二值；假如预定义数目的连续第一值被确定则增加采样率；以及假如至少一个第二值被确定则降低采样率。此外，提供了相应的设备和相应的计算机程序产品。

Description

AC检测

相关申请的交叉引用

本申请要求2014年2月14日提交的美国临时专利申请No.61/940,001的权益，该临时申请的整体内容通过引用并入本文。

技术领域

本公开的示例涉及允许确定AC(交流)信号是否存在于电源的输入级处的检测。

发明内容

第一示例涉及包括以下步骤的方法：

以采样率采样输入信号，其中输入信号基于AC信号；

将输入信号与阈值信号比较；

假如输入信号大于阈值信号，确定第一值；

假如输入信号小于阈值信号，确定至少一个第二值；

假如预定义数目的连续第一值被确定，增加采样率；

假如至少一个第二值被确定，降低采样率。

第二示例涉及包括处理单元的设备，该处理单元被布置用于：

以采样率采样输入信号，其中输入信号基于AC信号；

将输入信号与阈值信号比较；

假如输入信号大于阈值信号，确定第一值；

假如输入信号小于阈值信号，确定至少一个第二值；

假如预定义数目的连续第一值被确定，增加采样率；

假如至少一个第二值被确定，降低采样率。

第三示例涉及一种设备，该设备包括：

用于以采样率对输入信号采样的装置，其中输入信号基于AC信号；

用于将输入信号与阈值信号比较的装置；

用于假如输入信号大于阈值信号，则确定第一值的装置；

用于假如输入信号小于阈值信号，则确定至少一个第二值的装置；

用于假如预定义数目的连续第一值被确定，则增加采样率的装置；

用于假如至少一个第二值被确定，则降低采样率的装置。

第四示例涉及直接可加载到数字处理设备的存储器中的计算机程序产品，包括用于执行本文所描述的方法的步骤的软件代码部分。

附图说明

参考附图示出并且图示了本公开的示例细节。附图用作图示基本原理，从而只有用于理解基本原理必需的部分被图示。附图不一定成比例。在附图中，相同的附图标记表示相似的特征。

图1图示了与阈值比较的经整流的AC信号以及触发导致样本信号的测量相位信号的计时器信号的示意图；

图2示出了连接到电源的AC检测单元的示例性的示意图；

图3示出了包括升级方案的步骤的框图，其中基于预先确定数目的n个连续“1”值调用后续升级阶段，其中每个“1”值指示AC电压高于预定义的阈值；

图4示出了包括用于AC检测示例的配置步骤和激活步骤的示例性的流程图；

图5示出了如何经由图2中示出的采样控制器进行升级的示例的框图；

图6示出了描绘所选择的升级阶段随时间变化的曲线的示例性的图；

具体实施方式

在一些示例中，可以在设备(例如，移动设备、智能手机、平板计算机、膝上型计算机、可穿戴计算设备、或任何其他需要电力的设备)中使用诸如反激式变换器之类的功率变换器将来自AC电源(例如AC电力干线)的AC电力转换成由计算设备可使用的格式，用来直接为设备供电或对设备的诸如电池之类的电力存储部件进行充电。

安全规范或者安全要求可以规定一旦(例如，开关式)电源与AC线断开并且电容存储高于特定阈值(例如，48V)的电压，则在预定时间内对滤波线圈的电容(包括至少一个电容器)放电。因此，如果电源的插头与插座断开，电容仍然可以存储经由插头的针脚可获得的高电压。所提供的示例特别确保这样的高电压在插头被断开后在预定时间内降低到预先确定的阈值，使得插头的针脚可以被触碰而不造成任何伤害。

电容可以包括跨滤波线圈的主级侧和/或次级侧处的AC线连接的至少一个X电容器。该电容可以用作滤波线圈处的EMI(电磁干扰)电容。

EMI滤波器可以包括线圈。就这点而言，可以例如跨EMI滤波器连接AC线。

根据示例，通过监测经整流的AC电压实现AC检测并且当达到、超过和/或低于预先配置的阈值电压时，特别是持续指定的一段时间时，唤醒和/或通知系统。该系统可以包括中央处理单元(CPU)和/或微控制器和/或用来控制系统的适当的动作的任何类型的状态机。

图1示出了与阈值102比较的经整流的AC信号101的示意图。如果经整流的AC信号101高于阈值102，则比较导致“1”值，而如果经整流的AC信号降到阈值102以下，则比较导致“0”值。如果经整流的AC信号101等于阈值102，则根据相应的实现方式，比较可以导致“1”值或者“0”值。

经由计时器信号103，生成测量相位信号104，测量相位信号104触发在给定持续时间105的测量。在每个持续时间105结束时，比较结果(在该示例中，或为值“0”或为值“1”)是可获得的。因此，计时器信号103确定应用到经整流的AC信号101的采样率(也称为采样频率，其对应于采样周期)。

测量时间106可以对应于包括(在图1的这一示例中)经整流的AC信号101的经整流的半波之一的AC信号的(例如，一半)周期。测量时间106可以从计时器得出。根据另一示例，测量时间106可以大于经整流的AC信号101的半波。

作为备选例(或附加例)，测量时间106可以基于预定义计数的后续“1”值达到预定义的数目。在检测到“0”值后，可以清空测量时间106(即重新开始)。

样本信号107示出了应用到经整流的AC信号101的计时器信号103的结果。样本信号107相当于“1”直到第一个“0”值通过比较被检测到并且它保持“0”直到下一个“1”值被检测到，等。

因此，根据由计时器信号103调节的采样率(即计时器信号103的斜坡的长度)并且根据经整流的AC信号101的形状，在测量时间106期间，没有“0”可以被检测到，即，采样没有展现阈值102在最近的测量时间106期间已经被底切(undercut)。这可以是跨连接到AC线的电容的高电压的指示，该高电压可以发生在插头已经从其插座断开后。备选地，它可以是采样速率太低而不能检测至少一个“0”值的指示。

在该情况下，利用增加采样频率的升级方案。如果增加的采样频率在给定测量时间106结束时仍然不能展现任何“0”值，则采样频率可以连续地被进一步增加，例如，直到达到最大的升级阶段。然而，一旦至少一个“0”值被检测到，就可以降低升级，特别是清空到其初始值，即初始采样频率。

例如，如果电源的插头已经与其插座断开，则EMI滤波器的电容器跨AC线将高电压提供给插头的针脚。如果到AC线没有任何连接，因为只要高电压存储在电容器中，信号101可以并不降到阈值102以下并且因此只有“1”值由所描述的方案检测到。在若干n个“1”值被检测到后，下一升级阶段应用更高的采样频率(经由计时器信号103的更短的斜坡)。在m个“1”值在该下一升级阶段被检测到后，后续的升级阶段应用进一步增加的采样频率(经由计时器信号103的甚至更短的斜坡)。然而，不同升级阶段的“1”值的数目n和m可以是相同的或者至少部分不同。注意根据该方案可以使用若干升级阶段。有利地，在断开插头的示例中，由于升高的采样频率造成的增加的负载，降低了存储在电容器中的剩余的能量。因此，采样频率越高，电容器被放电越快并且信号101越快地被降到阈值102以下。阈值102优选地被设置使得随后在(断开的)插头的针脚处可获得的电压没有伤害效应，例如当手指触碰时。

另一方面，如果，例如，电源开关的插头仍然连接到其插座，但是采样频率太低以致不能检测任何“0”值(即低于阈值102的电压)，第一升级阶段通过增加采样频率来增加可以找到“0”值的概率。如果仍然没有“0”值可以被找到，则采样频率可以被进一步增加，例如直到一个“0”值可以被找到。在“0”值被检测到后，电路装置可以回到其初始采样频率。这具有优点：所提出的示例可以将它本身调节到仍然允许确定“0”值的能量有效的采样。如果抽头的(特别是经整流的)AC信号的质量是未知的，或者如果寄生效应将抽头的AC信号的曲线恶化，则这是特别有用的。这也允许本文所描述的一个或者多个示例对抽头的AC信号的动态变化有效地反应，并且当需要用于确定“0”值是否存在或者用于对连接到AC线的电容放电时临时增加负载(由于增加的采样率)。依赖于升级步骤，测量的持续时间105也可以被调节，例如被增长用于更高采样率以增加产生的负载。

对于各种AC检测应用，例如对于电源、转换器等，所提出的示例特别有用。示例可以被应用在可以特别地利用任何(例如，开关式)电源的各种电子设备中。

图2示出了连接到电源的AC检测单元205的示例性的示意图。

图2描绘了连接到AC线201的电源的示例性的部分。AC线可以提供例如在80V和270V之间的范围中的AC电压。AC线201被连接到滤波线圈202的初级侧，其中电容器C1也跨滤波线圈202的初级侧被连接。电容器C2跨滤波线圈202的次级侧被连接，并且滤波线圈的次级侧被进一步连接到整流器203。电容器C3跨整流器203的输出被连接并且输送正整流信号204用于进一步处理，例如输送到降压转换器以提供用于负载的预定义的DC电压(图2中未示出)。

滤波线圈202的次级侧的两个针脚是抽头的，其中针脚中每个经由分离的二极管D1、D2被连接到节点214。二极管D1和D2的阴极中每个阴极指向节点214。节点214经由电阻器R1与高电压(HV)晶体管206连接。HV晶体管206可以是任何晶体管，MOSFET、IGBT等。HV晶体管206进一步被连接到节点215，其中节点215经由电阻器R2被连接到地。HV晶体管206经由驱动器207控制。如果HV晶体管206是N-MOS型晶体管，则漏极连接到电阻器R1，而源极连接到节点215。该晶体管的栅极经由驱动器207控制。

根据示例，HV晶体管可以是“常通”型晶体管，例如，耗尽型晶体管。

注意HV晶体管206可以是AC检测单元205的一部分或者它可以是与AC检测单元205分离的电子开关。特别注意AC检测205单元可以实现在单个芯片或者裸片上，它可以特别地实现为集成电路。

电阻器R1和R2确定电压分压器。电阻器R2可以被实现为可调节电阻器，例如，可以单独或者组合选择的电阻器阵列。可调节电阻器R2具有优点，即可以基于各种(固定)电阻器R1灵活地调节跨电阻器R2的电压。因此，AC检测单元205可以与不同的电阻器R1结合被有效地使用。

高电压路径包括电阻器R1、R2和HV晶体管206。电阻器R2(分流电阻器)处的电流依赖于AC线201的电压。依赖于应用(限定R1的值)和R2的给定值，可能需要调节比较器209的阈值102。因此，可以使用DAC机制。

R1、R2的值和DAC阈值可以限定AC输入的电平，该电平被认为“足够低”以用于对电容器C1和C2放电。

节点215用于测量跨EMI滤波器的输出的AC电压。因此，节点215被连接到比较器209(可以被实现成包括至少一个运算放大器)的正输入。比较器209的负输入与数字模拟转换器(DAC)213的输出连接。数字信号216被施加到DAC 213以提供阈值到比较器209的负输入，节点215处的电压与负输入比较。比较器209的输出被输送到计数器210。计数器可以包括至少两个计数器，以用于计数在比较器输出处出现的“0”值和“1”值。计数器210可以具体地包括用于确定单个“0”值的计数器和用于确定后续的“1”值的计数器。作为降低由于噪声的效应的备选例，不同数目的“0”值可以被确定，例如，不必在彼此之后的k个“0”值。

计数器210的结果被输送到(如果需要)可以进行升级的采样控制器208。采样控制器208确定采样周期212和/或测量的持续时间105，它们也由输送到脉冲整形器211的采样周期212限定。

基于计数器210的结果，采样控制器208可以调节计数器210的配置和/或它可以调节由脉冲整形器211使用的采样周期212。

注意采样周期212可以设置多长时间一次和什么时候确定样本。脉冲整形器211基于采样周期212形成计时器信号(见图1中的计时器信号103)。因此，基于采样周期212，脉冲整形器211确定测量窗口的长度(例如，多少连续的“1”值被确定)和触发点(即什么时候比较器209的输出被采样)。

脉冲整形器211激活驱动器207并且它可以激活DAC 213和/或比较器209。

例如，可以在第一次实际AC测量前进行初始化阶段。在该初始化阶段期间，脉冲整形器211可以在激活驱动器207前等待预先确定的持续时间(例如，其计时器的若干周期)。

注意从抽头电源输送到AC检测单元205的一些能量可以用于测量AC信号。具体地，如果其间HV晶体管206关闭的持续时间长于用于采样目的所需要的时间量，则检测单元205的能量损耗可以用于对电容器C1和C2有效地放电。

因此，图2中示出的示例允许由本文所描述的升级方案在预先确定的时间内对电容器C1和C2至少部分放电。在插头已经与AC网络断开后插头的针脚处的电压因此在所述预先确定的时间内达到预先确定的阈值(例如，48V)或降到预先确定的阈值(例如，48V)以下。

升级方案可以具体地由采样控制器208提供。它可以实现在软件、硬件或固件或其任何组合中。

图3示出了包括升级方案的步骤的框图。根据图3的示例，如图2所示的计数器210可以包括两个不同的计数器，即在比较器209的输出处确定单个“0”值的所谓的“0计数器”和确定连续的“1”值的所谓的“11计数器”。11计数器可以具体地确定若干n个后续“1”值。n的示例值可以是16。

在步骤300中，AC检测单元等待来自比较器209的下一样本被输出以进行评估(可以对应于等待直到根据图1的测量的持续时间105结束时)。

在步骤301中，确定节点215处的最后的AC测量是否在比较器209的输出节点处导致“0”值。该“0”值将(如图1中示出的和关于图1描述的那样)指示AC电压已经降到阈值102以下。

如果在步骤301中没有“0”值被找到，则在步骤306中确定是否预定义数目的连续的“1”值已经被找到。如果不是这样，则不改变升级阶段。

如果数目n的连续的“1”值已经在步骤306中找到，则确定步骤302中最后升级阶段是否已经达到。如果是这样，则转移到步骤300。如果没有另一升级阶段的可能性，则没有用于计数后续的“1”值的需要。如果步骤306指示n次“1”值没有被找到，则继续步骤300。

如果根据步骤302没有达到最后升级阶段，则在步骤303中升级被增加到下一阶段。

步骤303、304和306之后，可以继续步骤300用于后续的测量，它可以是单个“0”值或n个后续“1”值的测量窗口。

图4图示了包括用于AC检测示例的配置步骤401和激活步骤402的示例性的流程图。

在步骤401中，AC检测的配置可以确定初始采样周期(采样频率)。初始采样周期可以在AC电源信号的周期的范围内。优选地，初始采样周期稍微长于或者短于(例如，在5％至20％的范围中)AC电源信号的周期。

此外，AC检测的配置可以确定测量窗口的长度，即在进行第一(或下一)升级(即采样频率的增加)前的测量的最大持续时间。测量窗口的长度可以由后续“1”值的数目n确定。如果达到n或者超过n，则将使用下一升级阶段。

进一步地，AC检测的配置可以确定阈值(见图1中的阈值102)。降到该阈值以下对应于“0”值。“0”值可以中断连续“1”值的序列并且它可以用于清空升级(即返回初始采样周期)。

参数采样周期、测量窗口长度和/或阈值在AC检测激活后可以被重新配置或修改。

在步骤402中，AC检测被激活。节点215处的AC测量值与DAC213所提供的阈值进行比较。在采样时刻每个比较的结果是在比较器209的输出处提供的“0”值或是“1”值。如上文就图3所描述的那样，计数器210可以包括11计数器和0计数器。当“0”值在比较器209的输出处被检测到时(即通过0计数器)，11计数器可以被重新初始化(即设置为0)。此外，如果“0”值被检测到，则升级被清空。如果没有“0”值被检测到，则等待直到11计数器指示预定义数目n的连续“1”值。在该情况下，在下一升级阶段(如果该下一升级阶段是可获得的)采样周期被缩短(即采样频率被增加)。

图5示出了如何经由图2中示出的采样控制器208进行升级的示例的框图。

图5包括升级器501和框502，框502包括采样周期和观察时间(也称为测量窗口的长度)的预定值。框502可以被布置作为查找表，以基于升级阶段提供用于采集周期和观察时间的相应的(预定义的)值。升级器501可以确定实际升级阶段(例如，从ES0至ES5，ES0对应于没有升级的基本采样率)并且经由框502选择用于对应于相应的升级阶段ES0至ES5的采样周期和观察时间的实际值。升级器501和框502可以是如图2所示的采样控制器208的部分。

因此，框502可以提供采样周期212给脉冲整形器211(也参见图2)以及提供观察时间给计数器210。观察时间确定在下一升级阶段被触发前多少连续“1”值被确定。期望的连续“1”值的该数目可以单独地设置用于每个升级阶段ES0至ES5或者它可以被设置用于全部或者用于一组升级阶段。观察时间起源于连续“1”值的数目与采样周期的结合。观察时间可以从升级阶段到升级阶段变化。例如，如果n个连续“1”值在每个升级阶段被确定并且由于采样周期随每个升级阶段变得更短，当增加升级阶段时观察时间也变得更短。该方法可以用于显著降低升级阶段间的观察时间。因此，通过配置每个升级阶段连续“1”值的数目、升级阶段的数目，每个升级阶段的采样周期允许在预定义时间(例如，1秒)内将电容器C1和C2(见图2)放电到的预定义阈值，假如电源的插头已经从其插座移除。

计数器210可以向升级器501指示事件“找到‘0’值”。然后升级器501可以清空升级并且选择对应于初始(升级)阶段ES0的采样周期和观察时间。计数器210也可以指示事件“找到n次‘1’值”(也称为Nx“1”)。在该情况下，升级器501可以增加升级阶段(如果另一升级阶段仍是可获得的)。

图6示出了描绘所选择的升级阶段随着时间变化的曲线601的示例性的图。在该示例中，示出了升级阶段ES0至ES5，其中升级阶段ES0对应于采样周期和观察时间的基本设置，即由升级器502设置的初始值。

在该示例中，对于每个升级阶段ES0至ES5，先于增加升级而确定的连续“1”值的数目n是相同的。然而，由于降低的采样周期，观察时间从一个升级阶段到另一升级阶段降低。因此，假如大数目的连续“1”值出现在比较器209的输出处，则将比先前一个更快达到后续的升级阶段。

在由n个连续“1”值确定的相应的观察时间后开始于升级阶段ES0，升级器501通过选择升级阶段ES1降低采样周期(增加采样频率)。此外，在该升级阶段ES1，n个连续“1”值被确定，升级器501调用升级阶段ES2。再一次，n个连续“1”值被确定并且升级器501选择下一升级阶段ES3。在若干“1”值后，单个“0”值出现并且升级器501将升级清空到升级阶段ES0。

现在，在该示例中，两个“0”值接着由若干“1”值中断(其中每个中断包括少于n个的“1”值)，然后连续数目的5次n个“1”值出现在比较器209的输出处并且导致升级从升级阶段ES0到升级阶段ES5。下两次n个“1”值不导致进一步的升级，因为在该示例中升级阶段ES5是可能的最高升级阶段。因此，剩余的n个“1”值导致保持该最大升级阶段ES5。在若干额外的“1”值后，单个“0”值出现并且升级器501将升级清空到升级阶段ES0。该示例以由若干(但少于n)“1”值中断的四个“0”值结束。

注意，确定每个升级阶段的观察周期的连续“1”值的数目可以在升级阶段之间至少部分不同。根据图6中示出的示例，不同数目n_ES0、…、n_ES5可以用于不同的升级阶段ES0至ES5。

升级方案降低AC检测的功率损耗，因为采样周期可以自调整到确定(至少一个)“0”值需要的值。大部分时间，采样周期可以更长，导致所消耗的降低的平均功率。检测所述的“0”值可以对应于已经将电容放电到至少认为安全的电压电平。

本文提出的示例可以具体地基于下述方案中的至少一个方案。具体地，下述特征中的特定组合可以被利用以便达到期望的结果。方法的特征可以与设备、装置或系统的任何特征组合，反之亦然。

提供一种方法，所述方法包括步骤：

以采样率采样输入信号，其中输入信号基于AC信号；

将输入信号与阈值信号比较；

假如输入信号大于阈值信号，确定第一值；

假如输入信号小于阈值信号，确定至少一个第二值；

假如预定义数目的连续第一值被确定，增加采样率；

假如至少一个第二值被确定，降低采样率。

输入信号基于AC信号，即任何类型的交流电压和/或电流信号，假如AC信号被暂时或者持久连接。在AC信号已经被断开后，输入信号也可以基于AC信号。这可以应用于连接到AC电力网络的插头。插头可以与其插座断开。在任何情况下(连接或者在连接后断开)输入信号基于AC信号。

第一值可以是由比较器的输出提供的“1”值或“0”值。然后，第二值可以是相应的相反的“0”或“1”值。根据本文所描述的一个或者多个示例，第一值可以是“1”值而第二值可以是“0”值。

采样率可以具体地被降低，假如一个或者多个第二值被确定，其中所述至少两个第二值没有必要连续发生。事实上，若干第二值可以由第一值中断。这在如果在比较器处发生噪声时是有利的。

注意假如输入信号等于阈值信号，第一值可以被确定。作为备选例，假如输入信号等于阈值信号，第二值可以被确定。

所提出的示例允许检测存在于(或者不)电源的输入端子处的AC信号。如果AC信号不再被检测到，则采样率的递增的增加导致输入端子处的更高的负载并且将电容器放电，否则电容器可以在电源的输入针脚处提供高电压，输入针脚在电源插头从其插座断开后是轻易可获得的。因此，示例有效地降低了人通过接触断开的电源插头的针脚暴露到高电压的风险。将电容器放电可以通过应用本文提出的升级方案在预定义的时间内实现。

在示例中，阈值信号被设置使得当至少一个第二值被确定时AC信号被认为安全。

AC信号可以被认为安全，假如可以例如由手指触碰AC信号可以被施加到其上的针脚，而不对触摸对象造成任何有害影响。

在示例中，AC信号通过抽头AC线提供。

AC信号可以经由AC(电源)线直接或者间接提供，AC线可以抽头在电源的EMI过滤器的初级或者次级侧上。AC线的两端子可以经由二极管抽头以便整流交流信号。作为备选例，AC线只有一个端子可以被抽头。作为进一步的备选例，AC线的一个或者两个端子可以经由电阻器和电容器被抽头。

因此，该抽头允许输入信号对应于可以经由电源系统输送的交流信号。

在示例中，方法进一步包括步骤：

以提高的采样率或者以降低的采样率采样输入信号。

因此，输入信号可以通过利用调节的采样率(即提高的采样率或降低的采样率)采样。

在示例中，方法进一步包括步骤：

假如至少一个第二值被确定，将采样率降低到初始值。

初始采样率可以是省电模式期间使用的采样率。初始采样率可以是可以选择的最低采样率。初始采样率可以基本上在AC信号的频率的量级。

在示例中，假如第二值被确定单独一次，则降低采样率。

因此，检测(确定)第二值单独一次可以用作将升级清空到其初始采样率的判据。

在示例中，方法进一步包括步骤：

每次预定义数目的连续第一值被确定时，通过增加采样率增加升级阶段；

假如至少一个第二值被确定，通过降低采样率降低升级阶段。

因此，升级方案可以利用若干阶段，其中随着每个阶段采样速率被增加。

实际升级阶段的连续第一值的数目可以确定观察时间。当观察时间结束时，下一升级阶段(如果仍然可获得)被调用或者至少一个第二值被检测。由于至少一个第二值，采样率可以被降低，具体地，升级阶段可以被清空并且初始采样率可以被应用。

在示例中，连续第一值的预定义数目对于至少两个升级阶段是不同的。

在示例中，连续第一值的预定义数目对于每个升级阶段是相同的。

在示例中，升级阶段被增加直到达到最大升级阶段。

假如达到最大升级阶段，可以保持最大升级阶段的采样率直到确定至少一个第二值。

在示例中，阈值信号基于由数字模拟转换器转换的数字信号。

在示例中，方法进一步包括步骤：

通过计数器确定至少两个连续第一值对连续第一值计数。

在示例中，方法进一步包括步骤：

经由连接到AC信号的电压分压器提供输入信号。

在示例中，方法进一步包括步骤：

经由与电压分压器一起连接在电流路径中的电子开关控制采样率。

电子开关可以是与电压分压器串联连接的或者连接在电压分压器的电阻器之间的高电压晶体管。电流路径可以例如经由至少一个二极管被连接到AC信号的至少一个极。

在示例中，方法以每次确定至少一个第二值时返回初始采样率的循环运行。

提供一种设备，所述设备包括处理单元，所述处理单元被布置用于：

以采样率采样输入信号，其中输入信号基于AC信号；

将输入信号与阈值信号比较；

假如输入信号大于阈值信号，确定第一值；

假如输入信号小于阈值信号，确定至少一个第二值；

假如预定义数目的连续第一值被确定，增加采样率；

假如至少一个第二值被确定，降低采样率。

注意本文所阐明的方法的步骤也可以是在该处理单元上可执行的。

进一步注意所述处理单元可以包括至少一个(特别地几个)被布置以执行本文所描述的方法的步骤的装置。装置可以是逻辑或者物理分离的；特别地，几个逻辑分离的装置可以组合在至少一个物理单元中。

所述处理单元可以包括下列中的至少一个：处理器、微处理器、硬接线电路、ASIC、FPGA、逻辑器件。

设备可以实现为集成电路。

在示例中，设备包括用于基于数字信号提供阈值信号的数字模拟转换器。

在示例中，设备包括直接或者间接可连接到AC信号的电压分压器，其中输入信号由电压分压器提供。

在示例中，设备包括与电压分压器一起连接在电路路径中的电子开关。

在示例中，设备实现在单芯片或者裸片上。

设备可以被实现为集成电路，其中电子开关可以是集成电路的组成部分或者它可以被布置与集成电路分离。

进一步地，提出一种设备，所述设备包括：

用于以采样率采样输入信号的装置，其中输入信号基于AC信号；

用于将输入信号与阈值信号比较的装置；

用于假如输入信号大于阈值信号，则确定第一值的装置；

用于假如输入信号小于阈值信号，则确定至少一个第二值的装置；

用于假如预定义数目的连续第一值被确定，则增加采样率的装置；

用于假如至少一个第二值被确定，则降低采样率的装置。

提出一种直接可加载到数字处理设备的存储器中的计算机程序产品，包括用于执行如本文所描述的方法的步骤的软件代码部分。

虽然各种示例已经被公开，但是对于本领域技术人员将显而易见的是在不脱离本公开的精神和范围的情况下可以做出各种改变和修改，这将实现所述优点中的一些优点。对于本领域技术人员将明显的是执行相同功能的其他部件可以被适当地替代。应当提及参考特定附图所解释的特征可以与其他附图的特征结合，甚至在没有明确提及的情况下。进一步地，与本公开一致的方法可以使用适当的处理器指令以全软件实现方式实现，或者以利用硬件逻辑和软件逻辑的组合的混合实现方式实现以实现相同的结果。对发明构思的这种修改旨在由所附的权利要求涵盖。

在一个或者多个示例中，本文所描述的功能可以至少部分实现在硬件中，诸如特定硬件部分或者处理器。更一般地，技术可以实现在硬件、处理器、软件、固件、或其任何组合中。如果实现在软件中，功能可以被存储在或者传输在计算机可读介质上的一个或者多个指令或者代码上，并且由基于硬件的处理单元执行。计算机可读介质可以包括计算机可读存储介质，其对应于诸如数据存储介质之类的有形介质，或者通信介质，包括促进计算机程序例如根据通信协议从一处到另一处传输的任何介质。以这种方式，计算机可读介质通常可以对应于(1)非瞬态的有形计算机可读存储介质或者(2)诸如信号或载波的通信介质。数据存储介质可以是可以由一个或者多个计算机或者一个或者多个处理器访问以取回用于本公开所描述的技术的实现方式的指令、代码和/或数据结构的任何可获得的介质。计算机程序产品可以包括计算机可读介质。

通过示例而不是限制的方式，该计算机可读存储介质可以包括RAM、ROM、EEPROM、CD-ROM或其他光盘存储、磁盘存储、或其他磁性存储设备、闪存、或者可以用于以指令或数据结构的形式存储期望的程序代码并且可以由计算机访问的其他介质。此外，任何连接被适当地称为计算机可读介质，即计算机可读传输介质。例如，如果使用共轴电缆、光纤光缆、双绞线、数字用户线(DSL)、或者诸如红外、射频、和微波之类的无线技术，从网站、服务器、或者其他远程资源传输指令，则共轴电缆、双绞线、DSL、或者诸如红外、射频、和微波之类的无线技术被包括在介质的定义中。然而，应当理解，计算机可读介质和数据存储介质不包括连接、载波、信号、或其他瞬态介质，但是相反涉及非瞬态、有形存储介质。本文所使用的磁盘和光盘包括光碟(CD)、激光碟、光学碟、数字化通用光碟(DVD)、软盘和蓝光碟，其中盘通常磁性再生数据，而碟利用激光光学再生数据。上述的组合也应当被包括在计算机可读介质的范围内。

指令可以由一个或者多个处理器执行，诸如一个或者多个中央处理单元(CPU)、数字信号处理器(DSP)、通用微处理器、专用集成电路(ASIC)、现场可编程逻辑阵列(FPGA)、或其他等效集成或分立逻辑电路装置。因此，本文所使用的术语“处理器”可以指先前的结构或适合用于本文所描述的技术的实现方式的任何其他结构中的任何一个。此外，在一些方面，本文所描述的功能可以被提供在专用硬件和/或配置用于编码和解码的或者并入组合的编码的软件模块内。此外，技术可以完全实现在一个或者多个电路或逻辑元件中。

本公开的技术可以被实现在多种设备或装置中，包括无线听筒、集成电路(IC)或成组的IC(例如，芯片组)。各种部件、模块、或者单元在本公开中被描述以强调配置以执行所公开的技术的设备的功能方面，但不一定需要由不同的硬件单元实现。相反，如上文所述，各种单元可以被组合在单个硬件单元中或者由若干可互操作的硬件单元提供，包括如上文所描述的一个或者多个处理器，与合适的软件和/或固件结合。

Claims (22)

1.一种方法，包括：

以采样率采样输入信号，其中所述输入信号基于AC信号；

将所述输入信号与阈值信号比较；

假如所述输入信号大于所述阈值信号，则确定第一值；

假如所述输入信号小于所述阈值信号，则确定至少一个第二值；

假如预定义数目的连续第一值被确定，则增加所述采样率；以及

假如至少一个第二值被确定，则降低所述采样率。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述阈值信号被设置使得当所述至少一个第二值被确定时所述AC信号被认为安全。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述AC信号通过抽头AC线提供。

4.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

以增加的所述采样率或者以降低的所述采样率采样所述输入信号。

5.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

假如所述至少一个第二值被确定，则将所述采样率降低到初始值。

6.根据权利要求1所述的方法，其中假如所述第二值被确定单独一次，则降低所述采样率。

7.根据权利要求1所述的方法，包括：

每次预定义数目的连续第一值被确定时，通过增加所述采样率来增加升级阶段；以及

假如所述至少一个第二值被确定，则通过降低所述采样率来降低所述升级阶段。

8.根据权利要求7所述的方法，其中连续第一值的所述预定义数目对于至少两个升级阶段不同。

9.根据权利要求7所述的方法，其中连续第一值的所述预定义数目对于所述升级阶段中每个阶段相同。

10.根据权利要求7所述的方法，其中所述升级阶段被增加直到达到最大升级阶段。

11.根据权利要求1所述的方法，其中所述阈值信号基于由数字模拟转换器转换的数字信号。

12.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

通过计数器确定至少两个连续第一值来对所述连续第一值计数。

13.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

经由连接到所述AC信号的电压分压器提供所述输入信号。

14.根据权利要求13所述的方法，进一步包括：

经由与所述电压分压器一起连接在电流路径中的电子开关控制所述采样率。

15.根据权利要求1所述的方法，其中所述方法以每次确定所述至少一个第二值时返回初始采样率的循环运行。

16.一种设备，包括处理单元，所述处理单元被布置用于：

以采样率采样输入信号，其中所述输入信号基于AC信号；

将所述输入信号与阈值信号比较；

假如所述输入信号大于所述阈值信号，则确定第一值；

假如所述输入信号小于所述阈值信号，则确定至少一个第二值；

假如预定义数目的连续第一值被确定，则增加所述采样率；以及

假如所述至少一个第二值被确定，则降低所述采样率。

17.根据权利要求16所述的设备，所述设备包括用于基于数字信号提供所述阈值信号的数字模拟转换器。

18.根据权利要求16所述的设备，所述设备包括直接或者间接可连接到所述AC信号的电压分压器，其中所述输入信号由所述电压分压器提供。

19.根据权利要求16所述的设备，所述设备包括与所述电压分压器一起连接在电流路径中的电子开关。

20.根据权利要求16所述的设备，其中所述设备被实现在单个芯片或裸片上。

21.一种设备，包括：

用于以采样率采样输入信号的装置，其中所述输入信号基于AC信号；

用于将所述输入信号与阈值信号比较的装置；

用于假如所述输入信号大于所述阈值信号，则确定第一值的装置；

用于假如所述输入信号小于所述阈值信号，则确定至少一个第二值的装置；

用于假如预定义数目的连续第一值被确定，则增加所述采样率的装置；以及

用于假如所述至少一个第二值被确定，则降低所述采样率的装置。

22.一种存储指令的非瞬态计算机可读存储介质，当所述指令被执行时，导致一个或者多个处理器：

以采样率采样输入信号，其中所述输入信号基于AC信号；

将所述输入信号与阈值信号比较；

假如所述输入信号大于所述阈值信号，则确定第一值；

假如所述输入信号小于所述阈值信号，则确定至少一个第二值；

假如预定义数目的连续第一值被确定，则增加所述采样率；以及

假如至少一个第二值被确定，则降低所述采样率。