CN104799818A - 面阵ccd的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,所述成像光测量系统包括:一组n×n个单色光源、一个面阵CCD,以及与面阵CCD外接的计算机,在样品的一侧成均匀分布一组预设波长的n×n个单色光源,对侧对应单色光源设置面阵CCD;采用不同频率正弦波分别驱动一组单色光源中的各个单色光源,面阵CCD中每个像素接收到单色光源中每个光源透过样品的单色光组合,计算机对单色光组合进行解调分离得到各个单色光源对单色光组合Ilm的贡献,据此可以对样品进行成像。本发明实现了高速度、大信息的成像光的高精度测量,且具有结构和电路简单、器件和工艺要求低、调试容易、可靠性高等优点。
Description
技术领域
本发明涉及成像光测量系统领域,尤其涉及一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统。
背景技术
现有技术中通过光对物体内部进行成像,特别是对人体内部进行成像,具有无损无创无辐射的突出优点,但至今尚未有能够进入临床使用的成像光测量系统,其原因在于现有的成像光测量系统精度低、信息量较小,无法满足实际应用中的需要。
发明内容
本发明提供了一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,本发明实现了高速度、大信息的成像光的高精度测量,满足了实际应用中的需要,详见下文描述:
一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,所述成像光测量系统包括:一组n×n个单色光源、一个面阵CCD,以及与面阵CCD外接的计算机,在样品的一侧成均匀分布一组预设波长的n×n个单色光源,对侧对应单色光源设置面阵CCD;
采用不同频率正弦波分别驱动一组单色光源中的各个单色光源,面阵CCD中每个像素接收到单色光源中每个光源透过样品的单色光组合,计算机对单色光组合进行解调分离得到各个单色光源对单色光组合Ilm的贡献,据此可以对样品进行成像。
其中,所述单色光源呈正方形均匀分布。
其中,所述单色光源为激光二极管。
另一实施例,所述单色光源为单色二极管。另一实施例,所述单色光源为单色滤波片对白光滤波后的单色光。
本发明提供的技术方案的有益效果是:本发明采用不同频率正弦波驱动单色光源,对面阵CCD检测到的单色光组合进行解调分离可以得到各个单色光源对面阵CCD的贡献,据此对样品进行高精度图像重建。本发明实现了高速度、大信息的成像光的高精度测量,且具有结构和电路简单、器件和工艺要求低、调试容易、可靠性高等优点。
附图说明
图1为面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统的结构示意图;
图2为本发明提供的单色光源、样品和面阵CCD相对位置示意图。
附图中,各标号所代表的部件列表如下:
1:单色光源;2:样品;
3:面阵CCD。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面对本发明实施方式作进一步地详细描述。
实施例1
一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,参见图1和图2,所述成像光测量系统包括:一组n×n个单色光源1(用LD表示)和一个面阵CCD 3,n≥3且为奇数(n为奇数,则最中间的光源或光敏器件可作为中线,便于对准排布,其中,n的具体取值与样品2的横截面积相关,本发明实施例对此不做限制)。即在样品2的一侧成均匀分布一组预设波长的n×n个单色光源1,对侧对应单色光源1设置面阵CCD 3,单色光源1和面阵CCD 3紧贴样品2安装。
其中,优选单色光源1呈正方形均匀分布;该成像光测量系统还包括与面阵CCD 3外接的计算机(图中未示出)。
采用不同频率正弦波分别驱动一组单色光源1中的各个单色光源LDij,面阵CCD 3中每个像素lm接收到单色光源1中每个光源透过样品2的单色光组合Ilm,计算机对单色光组合Ilm进行解调分离可以得到各个单色光源LDij对单色光组合Ilm的贡献,据此可以对样品2进行成像。
即,根据面阵CCD 3中每个像素lm接收到的光强,反投影重建获得样品2的透射图像,根据图像分析样品2中的组织信息,确定样品组织的散射程度信息。该具体操作为本领域成熟的技术,本发明实施例对此不作赘述。
本发明实施例对各器件的型号除做特殊说明的以外,其他器件的型号不做限制,只要能完成上述功能的器件均可。
实施例2
一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,参见图1和图2,该实施例以激光二极管作为单色光源1为例进行说明。
采用不同频率正弦波分别驱动一组单色光源1中的各个激光二极管LDij,面阵CCD 3中每个像素lm接收到单色光源1中每个激光二极管透过样品2的单色光组合Ilm,计算机对单色光组合Ilm进行解调分离可以得到各个激光二极管LDij对单色光组合Ilm的贡献,据此可以对样品2进行成像。
本发明实施例对各器件的型号除做特殊说明的以外,其他器件的型号不做限制,只要能完成上述功能的器件均可。
实施例3
一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,参见图1和图2,该实施例以单色二极管作为单色光源1为例进行说明。
采用不同频率正弦波分别驱动一组单色光源1中的各个单色二极管LDij,面阵CCD 3中每个像素lm接收到单色光源1中每个单色二极管透过样品2的单色光组合Ilm,计算机对单色光组合Ilm进行解调分离可以得到各个单色二极管LDij对单色光组合Ilm的贡献,据此可以对样品2进行成像。
本发明实施例对各器件的型号除做特殊说明的以外,其他器件的型号不做限制,只要能完成上述功能的器件均可。
实施例4
一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,参见图1和图2,该实施例以单色滤波片对白光滤波后的单色光作为单色光源1为例进行说明。
采用不同频率正弦波分别驱动一组单色光源1中的各个单色滤波片对白光滤波后的单色光LDij,面阵CCD 3中每个像素lm接收到单色光源1中每个单色光透过样品2的单色光组合Ilm,计算机对单色光组合Ilm进行解调分离可以得到各个单色光LDij对单色光组合Ilm的贡献,据此可以对样品2进行成像。
本发明实施例对各器件的型号除做特殊说明的以外,其他器件的型号不做限制,只要能完成上述功能的器件均可。
本领域技术人员可以理解附图只是一个优选实施例的示意图,上述本发明实施例序号仅仅为了描述,不代表实施例的优劣。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,所述成像光测量系统包括:一组n×n个单色光源、一个面阵CCD,以及与面阵CCD外接的计算机,其特征在于,
在样品的一侧成均匀分布一组预设波长的n×n个单色光源,对侧对应单色光源设置面阵CCD;
采用不同频率正弦波分别驱动一组单色光源中的各个单色光源,面阵CCD中每个像素接收到单色光源中每个光源透过样品的单色光组合,计算机对单色光组合进行解调分离得到各个单色光源对单色光组合Ilm的贡献,据此可以对样品进行成像。
2.根据权利要求1所述的一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,其特征在于,所述单色光源呈正方形均匀分布。
3.根据权利要求1所述的一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,其特征在于,所述单色光源为激光二极管。
4.根据权利要求1所述的一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,其特征在于,所述单色光源为单色二极管。
5.根据权利要求1所述的一种面阵CCD的位置正弦波频率编码激励的成像光测量系统,其特征在于,所述单色光源为单色滤波片对白光滤波后的单色光。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
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Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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CN104799818A true CN104799818A (zh) | 2015-07-29 |
Family
ID=53685344
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
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CN (1) | CN104799818A (zh) |
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