CN104777239A - 一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件 - Google Patents
一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件 Download PDFInfo
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Abstract
本发明提供一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件，包括测试块，所述测试块为厚度分辨力测试块，所述厚度分辨力测试块上分别设置有宽度相同、高度不同的阶梯式台阶；所述的厚度分辨力测试块上设置呈两排布置的台阶，每排均设置为4个凸台，每排的4个凸台的高度各不相同。本发明所述的低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件，能够配合超声波扫描技术，完成超声波探头厚度分辨力的标定；同时，本发明简单、易得，可替代多种标准中规定的测试块，提高工作效率，具有很高的推广应用价值。
Description
技术领域
本发明属于超声波探伤装备技术领域，更具体地说，是涉及一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件。
背景技术
超声波检测是目前应用最为广泛的无损检测方法之一。它具有穿透力强、设备轻便、检测成本低、检测效率高，并可以即时知道检测结果等优点。在实际检测中，由于被检测部件不同而需要采用不同的超声波探伤标准。但是目前，在低压电器行业中，没有专用试块进行超声检测中超声探头的厚度分辨力和穿透力的性能指标的标定，给检测工作带来了不便。
发明内容
针对上述现有技术中的缺陷，本发明的目的是设计一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件，该工件能够配合A、C超声波扫描技术，快速、方便地检测超声探头的厚度分辨力和穿透力的性能指标。
为实现上述的目的，本发明采用的技术方案是：
本发明提供一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件，包括测试块，所述测试块为厚度分辨力测试块，所述厚度分辨力测试块上分别设置有宽度相同、高度不同的阶梯式台阶。
优选地，所述厚度分辨力测试块使用超声探头测试不同的厚度，并结合A、C扫描数据，得到超声探头对厚度的分辨能力。
优选地，所述阶梯式台阶呈两排布置在所述厚度分辨力测试块上。
更优选地，每排所述台阶均设置为4个凸台。
优选地，所述凸台的高度分布在0.5～8mm范围内，并且成等差数列分布，公差可以是0.25mm、0.5mm、0.8mm、1.0mm。
更优选地，第一排4个所述凸台，从左往右厚度依次设置为1.0mm、3.0mm、4.0mm、2.0mm；第二排4个所述凸台，从左往右厚度依次设置为0.5mm、2.5mm、3.5mm、1.5mm。
由于采用了上述技术方案，本发明的有益效果是：
本发明测试工件能够配合超声波扫描技术，完成超声波探头厚度分辨力的标定；同时，本发明简单、易得，可替代多种标准中规定的测试块，提高工作效率，具有很高的推广应用价值。
附图说明
图1为本发明一实施例的测试块主视图；
图2为本发明一实施例的测试块俯视图；
图3为本发明一实施例的测试块侧视图。
具体实施方式
以下对本发明的技术方案作进一步的说明，以下的说明仅为理解本发明技术方案之用，不用于限定本发明的范围，本发明的保护范围以权利要求书为准。
如图1-图3所示，本发明为一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件，包括测试块，所述测试块为厚度分辨力测试块，分别设置有相同宽度、不同高度的阶梯式台阶。
本实施例中，所述厚度分辨力测试块设置呈两排布置的台阶，每排均设置为4个凸台。凸台的高度分布在0.5～8mm范围内，并且成等差数列分布，公差可以是0.25mm、0.5mm、0.8mm、1.0mm。
本实施例中，所述厚度分辨力测试块的第一排，从左往右凸台厚度依次设置为1.0mm，3.0mm，4.0mm，2.0mm；所述厚度分辨力测试块的第二排，从左往右凸台厚度依次设置为0.5mm，2.5mm，3.5mm，1.5mm。
本实施例所述的测试块使用超声探头测试不同的厚度，并结合A、C扫描数据，可以得到超声探头对厚度的分辨能力。
本发明能够配合超声波扫描技术，完成超声波探头厚度分辨力的标定；同时，本发明简单、易得，可替代多种标准中规定的测试块，提高工作效率，具有很高的推广应用价值。
尽管本发明的内容已经通过上述优选实施例作了详细介绍，但应当认识到上述的描述不应被认为是对本发明的限制。在本领域技术人员阅读了上述内容后，对于本发明的多种修改和替代都将是显而易见的。因此，本发明的保护范围应由所附的权利要求来限定。
Claims (6)
1.一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件，其特征在于，包括测试块，所述测试块为厚度分辨力测试块，所述厚度分辨力测试块上分别设置有宽度相同、高度不同的阶梯式台阶。
2.如权利要求1所述的一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件，其特征在于，所述厚度分辨力测试块使用超声探头测试不同的厚度，并结合A、C扫描数据，得到超声探头对厚度的分辨能力。
3.如权利要求1或2所述的一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件，其特征在于，所述阶梯式台阶呈两排布置在所述厚度分辨力测试块上。
4.如权利要求3所述的一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件，其特征在于，每排所述台阶均设置为4个凸台。
5.如权利要求4所述的一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件，其特征在于，所述凸台的厚度分布在0.5～8mm范围内，并且成等差数列分布，公差是0.25mm、0.5mm、0.8mm、1.0mm。
6.如权利要求4所述的一种低压电器电触头超声波探伤用台阶型测试工件，其特征在于，第一排4个所述凸台，从左往右厚度依次设置为1.0mm、3.0mm、4.0mm、2.0mm；第二排4个所述凸台，从左往右厚度依次设置为0.5mm、2.5mm、3.5mm、1.5mm。
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| US10839558B2 (en) | 2016-05-10 | 2020-11-17 | Nanoform Finland Oyj | Artifact for determining resolution of imaging based on electromagnetic radiation and/or mechanical waves |
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2015
- 2015-04-10 CN CN201510170913.2A patent/CN104777239A/zh active Pending
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