CN104776774A - 一种数显卷尺及自动测围长的方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种数显卷尺及自动测围长的方法，其中，所述数显卷尺的尺带头为导电件，在所述数显卷尺上设置有一用于插入尺带头的检测位，所述数显卷尺中设置有一电路板，所述电路板靠近检测位的位置设置有第一导电电极和第二导电电极，当尺带头插入到检测位时，所述第一导电电极和第二导电电极与尺带头电线连接。本发明通过在卷尺上设置一检测位，当尺带头插入到检测位时，第一导电电极和第二导电电极导通，从而使卷尺进入到围长测量模式，而不用使用者手动启动，所以测量更加方便简便。
Description
技术领域
本发明涉及测量工具领域，尤其涉及一种数显卷尺及自动测围长的方法。
背景技术
卷尺是日常生活中常用的工量具，其是建筑和装修以及家庭必备工具。卷尺可卷起来是因为卷尺里面装有弹簧，在拉出测量长度时，实际是拉长卷尺及弹簧的长度，一旦测量完毕，卷尺里面的弹簧会自动收缩，卷尺在弹簧的作用下也跟着收缩，所以卷尺会卷起来。目前也有多功能的卷尺，例如测胸围或者头围，但是目前的测量方式是通过手动来测量围长，并以目测方式判断长度，这种围长测量方法不准确且不方便。
因此，现有技术还有待于改进和发展。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种数显卷尺及自动测围长的方法，旨在解决现有的卷尺测量围长不方便的问题。
本发明的技术方案如下：
一种数显卷尺，其中，所述数显卷尺的尺带头为导电件，在所述数显卷尺上设置有一用于插入尺带头的检测位，所述数显卷尺中设置有一电路板，所述电路板靠近检测位的位置设置有第一导电电极和第二导电电极，当尺带头插入到检测位时，所述第一导电电极和第二导电电极与尺带头电线连接。
所述的数显卷尺，其中，所述电路板上设置有MCU。
所述的数显卷尺，其中，所述尺带头为金属导电件。
所述的数显卷尺，其中，还包括一显示屏，所述显示屏连接于电路板。
一种利用如上所述的数显卷尺自动测围长的方法，其中，包括步骤：
A、尺带头拉出并插入到检测位时，所述尺带头分别与第一导电电极及第二导电电极电性连接，激活电路板，使卷尺进入到围长测量模式；
B、尺带头回复时，所述尺带头与第一导电电极及第二导电电极的电性连接断开，使卷尺进入到休眠模式。
所述的数显卷尺自动测围长的方法，其中，所述电路板上设置有MCU。
所述的数显卷尺自动测围长的方法，其中，所述尺带头为金属导电件。
有益效果：本发明通过在卷尺上设置一检测位，当尺带头插入到检测位时，第一导电电极和第二导电电极导通，从而使卷尺进入到围长测量模式，而不用使用者手动启动，所以测量更加方便简便。
附图说明
图1为本发明一种数显卷尺第一状态的结构示意图。
图2为本发明一种数显卷尺第二状态的结构示意图。
图3为本发明一种利用数显卷尺自动测围长的方法的流程图。
具体实施方式
本发明提供一种数显卷尺及自动测围长的方法，为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下对本发明进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。
请参阅图1，其为本发明一种数显卷尺第一状态的结构示意图，所述数显卷尺100的尺带头120为导电件，在所述数显卷尺100上设置有一用于插入尺带头120的检测位130，所述数显卷尺100中设置有一电路板，所述电路板靠近检测位130的位置设置有第一导电电极140和第二导电电极150，当尺带头120插入到检测位130时，所述第一导电电极140和第二导电电极150与尺带头120电线连接。
在本发明中，由于尺带头120为导电件，所以当尺带头120插入到检测位130时，尺带头120将分别与第一导电电极140和第二导电电极150电线连接，即第一导电电极140和第二导电电极150导通，所以激活了电路板，使数显卷尺100进入到围长测量模式。在具体使用时，如图2所示，可拉出尺带110，然后沿头部或腰部环绕，然后将尺带头120插入到检测位130中，使第一导电电极140和第二导电电极150导通，进入到围长测量模式。
具体来说，所述的检测位130，其为一凹槽，在该凹槽的内壁上设置所述第一导电电极140和第二导电电极150，该凹槽形状与尺带头120相匹配，并且可设置卡合结构，使尺带头120插入到凹槽中不会轻易脱落，例如在所述凹槽的内壁上设置一圈内槽，在所述尺带头120上设置一圈对应的凸起，使凸起卡入所述内槽中。所述的第一导电电极140与第二导电电极150平行设置，并且设置有一定间距。
所述的检测位130其可设置在数显卷尺100中尺带110伸出的位置的另一端，即与尺带伸出位对称设置，这样更方便使用者操作和测量。
所述电路板上设置有MCU，即微处理单元(又称单片机)，其在检测到第导电电极140和第二导电电极150导通时，进入到围长测量模式，而在第一导电电极140和第二导电电极150断开时，则进入到休眠模式。在进入到围长测量模式后，MCU会对伸出长度进行计算，并加上尺带伸出位与检测位130之间的距离，其总长即为头围长度或腰围长度。
所述尺带头120为金属导电件，其材质为金属，例如铜，作用是其导电作用，与第一导电电极140和第二导电电极150导通，形成电性连接。
还包括一显示屏，所述显示屏连接于电路板，该电路板可提供计算出尺带伸出长度，并且将长度显示在显示屏上。所述显示屏优选为E-ink显示屏，其具有耗电率低以及刷新速度快的特点，更适用于本发明的使用场景。
另外，可保存测试的长度，并添加时间戳，并且然后可将不同时间戳下的长度绘制成曲线，让使用者直接查看到自己的头围以及腰围变化情况。当然在测量时，可先预设几个ID，让用户选择自己的ID，然后进行测量，这样可同时保存几个不同测量者的头围或腰围。
基于上述方法，本发明还提供一种利用如上所述的数显卷尺自动测围长的方法，如图3所示，其包括步骤：
S101、尺带头拉出并插入到检测位时，所述尺带头分别与第一导电电极及第二导电电极电性连接，激活电路板，使卷尺进入到围长测量模式；
S102、尺带头回复时，所述尺带头与第一导电电极及第二导电电极的电性连接断开，使卷尺进入到休眠模式。
所述电路板上设置有MCU。
所述尺带头为金属导电件。
综上所述，本发明通过在卷尺上设置一检测位，当尺带头插入到检测位时，第一导电电极和第二导电电极导通，从而使卷尺进入到围长测量模式，而不用使用者手动启动，所以测量更加方便简便。
应当理解的是，本发明的应用不限于上述的举例，对本领域普通技术人员来说，可以根据上述说明加以改进或变换，所有这些改进和变换都应属于本发明所附权利要求的保护范围。
Claims (7)
1.一种数显卷尺，其特征在于，所述数显卷尺的尺带头为导电件，在所述数显卷尺上设置有一用于插入尺带头的检测位，所述数显卷尺中设置有一电路板，所述电路板靠近检测位的位置设置有第一导电电极和第二导电电极，当尺带头插入到检测位时，所述第一导电电极和第二导电电极与尺带头电线连接。
2.根据权利要求1所述的数显卷尺，其特征在于，所述电路板上设置有MCU。
3.根据权利要求1所述的数显卷尺，其特征在于，所述尺带头为金属导电件。
4.根据权利要求1所述的数显卷尺，其特征在于，还包括一显示屏，所述显示屏连接于电路板。
5.一种利用如权利要求1所述的数显卷尺自动测围长的方法，其特征在于，包括步骤：
A、尺带头拉出并插入到检测位时，所述尺带头分别与第一导电电极及第二导电电极电性连接，激活电路板，使卷尺进入到围长测量模式；
B、尺带头回复时，所述尺带头与第一导电电极及第二导电电极的电性连接断开，使卷尺进入到休眠模式。
6.根据权利要求5所述的数显卷尺自动测围长的方法，其特征在于，所述电路板上设置有MCU。
7.根据权利要求5所述的数显卷尺自动测围长的方法，其特征在于，所述尺带头为金属导电件。
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