CN104754660B - Lte模式下gsm邻区测量方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种LTE模式下GSM邻区测量方法及系统,根据待测频点数目及GAP周期,以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量,由此当待测频点数目多时,可相应减少进行GSM邻区测量的GAP;当待测频点数目少时,可相应增加进行GSM邻区测量的GAP,从而避免了当LTE需要测量的频点数目比较多时,由于GSM使用较多的GAP会导致其他邻区的需求得不到满足,无法满足协议要求的问题。
Description
技术领域
本发明涉及移动通信技术领域,特别涉及一种LTE模式下GSM邻区测量方法及系统。
背景技术
当LTE模式下进行业务并要求进行GSM邻区测量时,这就要求终端在LTE的连接态能够周期性地捕获到GSM邻区的同步信道(SCH)。这是通过接收GSM网络发出的SB(同步脉冲)实现的,通过解码SB中携带的BSIC信息,就可以获得GSM的帧号和定时信息。SB的位置处于GSM的51复帧的1、11、21、31、41个TS0中,如图1中的编号S所示。
协议规定在LTE处于RRC_CONNECTED下,对异频或者异系统邻区进行测量需要使用测量GAP。测量GAP是协议规定专门用于进行异频或者异系统邻区测量的一个长度为6ms的连续时间片。测量GAP配置如表1所示:
GAP类型 | GAP周期(ms) |
0 | 40 |
1 | 80 |
表1LTE下测量GAP配置类型
虽然LTE下的GAP长度为6ms,但实际可用于接收异频点数据的时间长度要小于6ms。这是因为接收机的频点发生了改变,频点切换需要一定的时间。按照协议要求,这6ms中可以用于GSM数据接收的长度为5.278ms,具体如图2所示,当GSM的SB的中心在GAP的中心±2350μs内,那么UE就能够正确对SB进行解码。
同时协议TS36.133中还规定了连接态时完成GSM邻区BSIC初始确认的时间要求,具体如表2所示:
表2LTE模式完成GSM邻区BSIC初始确认的时间
具体的,需要满足UE在表2所示的时间内可以对某一GSM主载波完成两次BSIC解码。
现有技术中,以固定周期分配GAP用于GSM完成BISC邻区初始确认,例如:分配周期固定为240ms,即不管待测频点数目的多少,分配周期均为240ms。由此,将导致如下问题:当LTE需要测量的频点数目比较多时,由于GSM使用较多的GAP会导致其他邻区的需求得不到满足,无法满足协议要求。
发明内容
本发明的目的在于提供一种LTE模式下GSM邻区测量方法及系统,以解决现有技术中,当LTE需要测量的频点数目比较多时,由于GSM使用较多的GAP会导致其他邻区的需求得不到满足,无法满足协议要求的问题。
为解决上述技术问题,本发明提供一种LTE模式下GSM邻区测量方法,所述LTE模式下GSM邻区测量方法包括:
获取待测频点数目及GAP周期;
根据待测频点数目及GAP周期,以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量方法中,
当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为40ms时,每隔0个或者1个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量方法中,
当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个或者5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量方法中,
当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个或者5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量方法中,
当非GSM待测频点数目为3个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量方法中,
当非GSM待测频点数目为4个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量方法中,
当非GSM待测频点数目为5个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量方法中,
当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为80ms时,每隔0个或者2个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量方法中,
当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为80ms时,每隔0个、1个、2个、3个或者6个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量方法中,
当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为80ms时,每隔0个、1个、2个、3个、5个、6个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
本发明还提供一种LTE模式下GSM邻区测量系统,所述LTE模式下GSM邻区测量系统包括:
检测模块,用以获取待测频点数目及GAP周期;
分配模块,用以根据待测频点数目及GAP周期,以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量系统中,
当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为40ms时,每隔0个或者1个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量系统中,
当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个或者5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量系统中,
当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个或者5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量系统中,
当非GSM待测频点数目为3个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量系统中,
当非GSM待测频点数目为4个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量系统中,
当非GSM待测频点数目为5个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量系统中,
当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为80ms时,每隔0个或者2个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量系统中,
当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为80ms时,每隔0个、1个、2个、3个或者6个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
可选的,在所述的LTE模式下GSM邻区测量系统中,
当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为80ms时,每隔0个、1个、2个、3个、5个、6个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
在本发明提供的LTE模式下GSM邻区测量方法及系统中,根据待测频点数目及GAP周期,以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量,由此当待测频点数目多时,可相应减少进行GSM邻区测量的GAP;当待测频点数目少时,可相应增加进行GSM邻区测量的GAP,从而避免了当LTE需要测量的频点数目比较多时,由于GSM使用较多的GAP会导致其他邻区的需求得不到满足,无法满足协议要求的问题。
附图说明
图1是51复帧结构示意图;
图2是协议约定的捕获SB的需求示意图;
图3是本发明实施例的LTE模式下GSM邻区测量方法的流程示意图;
图4是本发明实施例的LTE模式下GSM邻区测量系统的框结构示意图;
图5是GAP和SB之间定时关系示意图。
具体实施方式
以下结合附图和具体实施例对本发明提出的LTE模式下GSM邻区测量方法及系统作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书,本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例,仅用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。
请参考图3,其为本发明实施例的LTE模式下GSM邻区测量方法的流程示意图。如图3所示,所述LTE模式下GSM邻区测量方法包括:
步骤S30:获取待测频点数目及GAP周期;
步骤S31:根据待测频点数目及GAP周期,以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量。
相应的,本发明实施例还提供一种LTE模式下GSM邻区测量系统,具体的,请参考图4,其为本发明实施例的LTE模式下GSM邻区测量系统的框结构示意图。如图4所示,所述LTE模式下GSM邻区测量系统包括:
检测模块40,用以获取待测频点数目及GAP周期;
分配模块41,用以根据待测频点数目及GAP周期,以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量。
在本申请实施例中,针对不同的待测频点数目以及GAP周期,具体通过如下方式周期性的分配GAP:
当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为40ms时,每隔0个或者1个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个或者5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个或者5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为3个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为4个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为5个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为80ms时,每隔0个或者2个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为80ms时,每隔0个、1个、2个、3个或者6个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为80ms时,每隔0个、1个、2个、3个、5个、6个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
其中,待测频点数目包括GSM待测频点数目以及非GSM待测频点数目;而每隔0个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量也就是说所有的GAP均用以进行GSM邻区测量。
接下去,具体描述通过上述方式周期性的分配GAP能够满足协议要求并避免GSM邻区测量所使用的GAP过多的原理:
首先,将协议要求的LTE模式下完成GSM邻区BSIC初始确认的所需时间的转换成GAP数目,可以得到如下表3:
表3LTE模式完成GSM邻区BSIC初始确认的时间和GAP数
按照协议描述,用于接收GSM数据的时间只能是GAP时间,且为GAP的有效接收时间。具体的,请参考图5,其为GAP和SB之间定时关系示意图。如图5所示,当前GAP头和最近的51复帧的帧头位置间隔Δt。t1为第一个SB的起始时间,t2为当前GAP有效起始位置(从该时间开始即可接收GSM数据)。那么可以得出如下结论,具体如下表4所示:
表4SB在时间轴上的位置
其中,上表中T51为51复帧的长度,
同时,根据图5可以得出t1、t2和Δt之间的关系为:
而GAP的有效时间为:t2+M*Tgap≤tGAP≤t2+Tgap_len+M*Tgap。其中Tgap为GAP的周期,Tgap_len为GAP的有效时间长度。将t2使用t1和Δt表示为:
由此,便可进一步得到捕获到SB的GAP需要满足的条件,具体如下表5所示:
表5捕获SB条件
由于Δt为当前GAP头和最近的51复帧的帧头位置间隔,因此Δt的取值范围为:0≤Δt≤T51。
根据协议要求,分配的GAP需要满足在表2规定的时间内能够两次完成BSIC解码。即在表2规定的时间内,分配的GAP至少应该捕获2次SB。
结合表3和表5便可以计算出GAP的分配周期。具体的,可通过如下方法予以计算:
1、利用如下公式对GAP进行选择:M=K*i;i=0,1,2...,即每隔K个GAP选择1个用于GSM的BSIC确认。
2、根据表3设定M的取值范围,同样也获得了i的取值范围。
3、结合表5与Δt取值,获得在表3规定的时间内,能够至少两次捕获SB的K的取值。
其中,Δt取值可以采用给定精度的情况下进行遍历所有可能取值,可以采用计算机进行仿真获得。如精度为1us。这样可以获得满足条件的K的取值,下表给出了K可取的值,也即给出了每隔K个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
表6GAP周期为40ms时可以选择的分配方式
相应的,本申请实施例还给出了取相应K值时所需要的GAP数,即M的取值,具体如下表7所示:
表7K值和M值之间的对应关系
在此,举一例说明根据表6进行分配能够满足协议要求。例如:在待测频点数目为2个的情况下,若选择每隔5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量,则需要涉及126个GAP(其中,126个GAP中被真正用于GSM邻区测量的GAP数目为21个),126小于协议要求的132,即通过每隔5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量能够满足协议要求。
表8GAP周期为80ms时可以选择的分配方式
相应的,本申请实施例还给出了取相应K值时所需要的GAP数,即M的取值,具体如下表9所示:
K取值 | M取值 |
0 | 23 |
1 | 116 |
2 | 66 |
3 | 176 |
5 | 372 |
6 | 266 |
7 | 352 |
8 | 369 |
10 | 352 |
表9K值和M值之间的对应关系
在此,举一例说明根据表8进行分配能够满足协议要求。例如:在待测频点数目为2个的情况下,若选择每隔5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量,则需要涉及372个GAP(其中,372个GAP中被真正用于GSM邻区测量的GAP数目为62个),372小于协议要求的396,即通过每隔5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量能够满足协议要求。
综上可见,在本发明实施例提供的LTE模式下GSM邻区测量方法及系统中,根据待测频点数目及GAP周期,以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量,由此当待测频点数目多时,可相应减少进行GSM邻区测量的GAP;当待测频点数目少时,可相应增加进行GSM邻区测量的GAP,从而避免了当LTE需要测量的频点数目比较多时,由于GSM使用较多的GAP会导致其他邻区的需求得不到满足,无法满足协议要求的问题。
上述描述仅是对本发明较佳实施例的描述,并非对本发明范围的任何限定,本发明领域的普通技术人员根据上述揭示内容做的任何变更、修饰,均属于权利要求书的保护范围。
Claims (2)
1.一种LTE模式下GSM邻区测量方法,其特征在于,包括:
获取待测频点数目及GAP周期;
根据待测频点数目及GAP周期,以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量;
其中,当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为40ms时,每隔0个或者1个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个或者5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个或者5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为3个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为4个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为5个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个、10个、11个、12个、13个、15个、16个、17个、20个、21个或者24个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为80ms时,每隔0个或者2个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为80ms时,每隔0个、1个、2个、3个或者6个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为80ms时,每隔0个、1个、2个、3个、5个、6个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量。
2.一种LTE模式下GSM邻区测量系统,其特征在于,包括:
检测模块,用以获取待测频点数目及GAP周期;
分配模块,用以根据待测频点数目及GAP周期,以相应的周期分配GAP以进行GSM邻区测量;
其中,当非GSM待测频点数目为0个、GAP周期为40ms时,每隔0个或者1个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为1个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个或者5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为2个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个或者5个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
当非GSM待测频点数目为3个、GAP周期为40ms时,每隔0个、1个、2个、3个、4个、5个、6个、7个、8个或者10个GAP分配1个GAP进行GSM邻区测量;
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