CN104754595A - 对信号核准lte基站进行射频测试的方法和装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例提供了一种对信号核准LTE基站进行射频测试的方法和装置。该装置包括：功能链路单元和衰减滤波单元，功能链路单元根据信号核准LTE基站的射频测试的测试规范要求，通过同轴开关选择接通一个功能链路；利用接通的功能链路对信号核准LTE基站的被测信号进行补偿处理，将补偿处理后的被测信号传输给所述衰减滤波单元；衰减滤波单元通过接通的衰减器、滤波器对补偿处理后的被测信号进行衰减和滤波处理，将衰减和滤波处理后的被测信号传输给所述功能链路单元。本发明实施例克服了在对LTE基站进行射频测试的过程中，不同测试项目需要不同信号处理路径的问题，解决了在测试过程中人工搭建测试链路的问题，提高了测试准确度和测试效率。

Description

对信号核准LTE基站进行射频测试的方法和装置

技术领域

本发明涉及基站射频测试技术领域，尤其涉及一种对信号核准LTE（Long Term Evolution，长期演进）基站进行射频测试的方法和装置。

背景技术

基站射频自动测试系统是指采用计算机控制，自动完成建立通话、链路切换、信号测量、数据计算处理并输出测试结果的自动化测试系统，该系统主要应用于GSM（Global System for Mobile Communications，全球移动通信系统）、WCDMA（Wideband Code Division Multiple Access，宽带码分多址）、CDMA（Code Division Multiple Access，码分多址）、TD-SCDMA

（Time Division-Synchronous Code Division Multiple Access，时分同步码分多址）、LTE（Long Term Evolution，长期演进）等无线通信系统中的基站的射频指标测试及集成测试系统搭建。

目前，在对信号核准LTE基站进行射频测试的过程中，针对不同的射频测试项目及制式，需要采用人工分别搭载相应的射频链路以满足测试要求，有时，在完成一项射频测试过程中需要人工搭载多条测试链路，这种测试方式不但效率低下，而且人工搭载测试链路，会引入测量误差，影响测试结果的准确性。

并且在人工搭载测试链路过程中，会引入测量误差，影响测试结果的准确性。而且现阶段射频一致性切换单元功能单一，无法完成型号核准所有制式的测试指标。

发明内容

本发明的实施例提供了一种对信号核准LTE基站进行射频测试的方法和装置，以实现提高信号核准LTE基站射频测试的效率。

本发明提供了如下方案：

一种对信号核准LTE基站进行射频测试的装置，包括：功能链路单元和衰减滤波单元，所述的功能链路单元连接所述衰减滤波单元；

所述的功能链路单元，包括并联连接的多个功能链路，用于根据信号核准LTE基站的射频测试的测试规范要求，通过同轴开关选择接通一个功能链路；接收输入的信号核准LTE基站的被测信号，利用接通的功能链路对所述被测信号进行补偿处理，将补偿处理后的被测信号传输给所述衰减滤波单元；

所述的衰减滤波单元，包括串联连接的衰减器组和滤波器组，用于通过同轴开关选择接通一个衰减器、滤波器，通过接通的衰减器、滤波器对所述补偿处理后的被测信号进行衰减和滤波处理，将衰减和滤波处理后的被测信号传输给所述功能链路单元。

所述功能链路单元包括：多个并联连接的实现不同补偿功能的功能链路和第一同轴开关组，将第一同轴开关组和所述功能链路单元中的每个功能链路连接，在一次测试过程中，所述第一同轴开关组只接通一个功能链路；

所述衰减器组包括并联连接的多个不同型号的衰减器，所述滤波器组包括并联连接的多个不同型号的滤波器，将第二同轴开关组和所述衰减器组中的每个衰减器连接，将第三同轴开关组和所述滤波器组中的每个滤波器连接，在一次测试过程中，所述第二同轴开关组只接通一个衰减器或者将所有的衰减器断开，所述第三同轴开关组只接通一个滤波器或者将所有的滤波器断开。

所述多个实现不同补偿功能的功能链路由各类同轴开关、合路器、环形器、放大器、单向器以及阻抗匹配电阻组成，具体包括对信号核准LTE基站的下行信号进行补偿处理的基站至频谱仪输入端口链路、基站至多径模拟单元输入端口链路，以及对信号源的下行信号进行补偿处理的信号源至频谱仪输入端口链路。

所述多个不同型号的衰减器包括10dB衰减器、20dB衰减器和40dB衰减器，所述多个不同型号的滤波器包括：3.3GHz高通滤波器、1.4GHz低通滤波器、1880-1920MHz带阻滤波器、2010-2025MHz带阻滤波器、2300-2400MHz带阻滤波器和2570-2620MHz带阻滤波器。

当利用所述功能链路单元和衰减滤波单元对所述信号核准LTE基站进行杂散测试时，接通所述滤波器组中的1.4GHz低通滤波器，过滤掉1.4GHz频段以上的杂散段；接通所述滤波器组中的3.3GHz高通滤波器，过滤掉3.3GHz频段以下的杂散段；接通所述滤波器组中的2570-2620MHz带阻滤波器，阻隔band38的主信号；接通所述滤波器组中的1880-1920MHz带阻滤波器，阻隔band39的主信号；接通所述滤波器组中的2300-2400MHz带阻滤波器，阻隔band40的主信号。

一种对信号核准LTE基站进行射频测试的方法，包括：

根据信号核准LTE基站的射频测试的测试规范要求，通过同轴开关从功能链路单元中选择接通一个功能链路，通过同轴开关从衰减滤波单元中选择接通一个衰减器、滤波器；所述功能链路单元中包括并联连接的多个功能链路，所述衰减滤波单元中包括串联连接的衰减器组和滤波器组，所述功能链路单元连接所述衰减滤波单元；

所述功能链路单元接收输入的信号核准LTE基站的被测信号，利用接通的功能链路对所述被测信号进行补偿处理，将补偿处理后的被测信号传输给所述衰减滤波单元，所述衰减滤波单元中接通的衰减器、滤波器对所述补偿处理后的被测信号进行衰减和滤波处理；

所述衰减滤波单元将衰减和滤波处理后的被测信号传输给所述功能链路单元。

将多个实现不同补偿功能的功能链路并联连接，组成功能链路单元，将第一同轴开关组和所述功能链路单元中的每个功能链路连接，在一次测试过程中，所述第一同轴开关组只接通一个功能链路；

将多个不同型号的衰减器并联连接，组成衰减器组，将多个不同型号的滤波器并联连接，组成滤波器组，将所述衰减器组、滤波器组串联连接组成衰减滤波单元，将第二同轴开关组和所述衰减器组中的每个衰减器连接，将第三同轴开关组和所述滤波器组中的每个滤波器连接，在一次测试过程中，所述第二同轴开关组只接通一个衰减器或者将所有的衰减器断开，所述第三同轴开关组只接通一个滤波器或者将所有的滤波器断开。

所述多个实现不同补偿功能的功能链路包括：

多个实现不同补偿功能的功能链路由各类同轴开关、合路器、环形器、放大器、单向器以及阻抗匹配电阻组成，具体包括对信号核准LTE基站的下行信号进行补偿处理的基站至频谱仪输入端口链路和基站至多径模拟单元输入端口链路，以及对信号源的下行信号进行补偿处理的信号源至频谱仪输入端口链路。

所述多个不同型号的衰减器包括10dB衰减器、20dB衰减器和40dB衰减器，所述多个不同型号的滤波器包括：3.3GHz高通滤波器、1.4GHz低通滤波器、1880-1920MHz带阻滤波器、2010-2025MHz带阻滤波器、2300-2400MHz带阻滤波器和2570-2620MHz带阻滤波器。

所述方法具体包括：

当利用所述功能链路单元和衰减滤波单元对所述信号核准LTE基站进行杂散测试时，接通所述滤波器组中的1.4GHz低通滤波器，过滤掉1.4GHz频段以上的杂散段；接通所述滤波器组中的3.3GHz高通滤波器，过滤掉3.3GHz频段以下的杂散段；接通所述滤波器组中的2570-2620MHz带阻滤波器，阻隔band38的主信号；接通所述滤波器组中的1880-1920MHz带阻滤波器，阻隔band39的主信号；接通所述滤波器组中的2300-2400MHz带阻滤波器，阻隔band40的主信号。

由上述本发明的实施例提供的技术方案可以看出，本发明实施例提供的对信号核准LTE基站进行射频测试的装置是一款结构紧凑的专业型LTE基站测试的解决方案，克服了在对LTE基站进行射频测试的过程中，不同测试项目需要不同信号处理路径的问题，将所有型号核准LTE基站测试的测试链路进行了系统集成，解决了在测试过程中人工搭建测试链路的问题，减少了人为的误差，提高了测试准确度和测试效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例一提供的一种对信号核准LTE基站进行射频测试的装置的结构示意图，图中，功能链路单元11，衰减滤波单元12，第一同轴开关组13，第二同轴开关组14，第三同轴开关组15；

图2为本发明实施例一提供的一种功能链路单元的结构示意图；

图3为本发明实施例一提供的一种衰减滤波单元的结构示意图；

图4为本发明实施例二提供的一种对信号核准LTE基站进行射频测试的方法的处理流程图。

具体实施方式

为便于对本发明实施例的理解，下面将结合附图以几个具体实施例为例做进一步的解释说明，且各个实施例并不构成对本发明实施例的限定。

实施例一

本发明实施例采用硬件设计搭建型号核准LTE基站的射频测试链路。通过自动测试集成，实现型号核准LTE基站的射频指标的测试。

本发明实施例提供了一种基于同轴开关、高通滤波器、低通滤波器、带阻滤波器、衰减器、合路器、单向器、环形器、放大器以及阻抗匹配电阻组成的信号核准LTE基站进行射频测试的装置，该装置可以作为型号核准LTE基站测试的切换单元，特别应用于型号核准基站射频指标测试及集成测试系统的搭建。该装置的具体结构如图1所示，包括：功能链路单元11、衰减滤波单元12，以及和所述功能链路单元11连接的第一同轴开关组13、和所述衰减滤波单元12中的衰减器组连接的第二同轴开关组14、和所述衰减滤波单元12中的滤波器组连接的第三同轴开关组15。

所述的功能链路单元，包括并联连接的多个功能链路，连接所述衰减滤波单元，用于根据信号核准LTE基站的射频测试的测试规范要求，通过同轴开关选择接通一个功能链路；接收输入的信号核准LTE基站的被测信号，利用接通的功能链路对所述被测信号进行补偿处理，将补偿处理后的被测信号传输给所述衰减滤波单元；

所述的衰减滤波单元，包括串联连接的衰减器组和滤波器组，用于通过同轴开关选择接通一个衰减器、滤波器，通过接通的衰减器、滤波器对所述补偿处理后的被测信号进行衰减和滤波处理，将衰减和滤波处理后的被测信号传输给所述功能链路单元。

信号核准LTE基站的测试信号通过功能链路单元中的相关链路的处理后，进入衰减滤波单元，经过衰减滤波单元的处理后，信号返回到功能链路单元继续对信号进行后续处理，最后将处理后的信号送入相关测试仪表。

示例性的，该实施例提供的一种功能链路单元的结构示意图如图2所示，包括：多个并联连接的实现不同补偿功能的功能链路和第一同轴开关组，将第一同轴开关组和所述功能链路单元中的每个功能链路连接，在一次测试过程中，所述第一同轴开关组只接通一个功能链路。上述多个实现不同补偿功能的功能链路由各类同轴开关、合路器、环形器、放大器、单向器以及阻抗匹配电阻组成，具体包括对信号核准LTE基站的下行信号进行补偿处理的基站至频谱仪输入端口链路和基站至多径模拟单元输入端口链路，以及对信号源的下行信号进行补偿处理的信号源至频谱仪输入端口链路。

1、基站至频谱仪输入端口链路，该链路用于在频谱仪中对基站下行信号进行补偿，主要用于LTE基站射频测试，该链路上有3种衰减器可以选择，分别用于不同的测试项目。默认情况下，该链路不使用衰减器模块，如果需要使用衰减器模块，需要将开关D2-2、K3-2以及K3-3闭合。主要用于基站输出功率、RE功率控制动态范围、总功率动态范围、发射机关断功率、发射机瞬态响应、频率误差、矢量误差幅度（EVM）、发射机分集时间的时间校准、DLRS功率、占用带宽、邻道泄漏功率比、频谱发射模板。对于杂散测试，可选择切换单元2中的各个滤波器进行组合，从而对不同的杂散段进行测试。主要用于天线端口的杂散发射、特殊频段的抑制保护。

2、信号源至频谱仪输入端口链路，该链路用于对信号源下行信号进行补偿，主要用于LTE基站的发射互调测试。

3、基站至多径模拟单元输入端口链路，该链路用于对LTE基站下行信号进行补偿，主要用于LTE基站多径测试。

示例性的，该实施例提供的一种衰减滤波单元的结构示意图如图3所示，包括串联连接的衰减器组和滤波器组，所述衰减器组包括并联连接的多个不同型号的衰减器，所述滤波器组包括并联连接的多个不同型号的滤波器，将第二同轴开关组和所述衰减器组中的每个衰减器连接，将第三同轴开关组和所述滤波器组中的每个滤波器连接，在一次测试过程中，所述第二同轴开关组只接通一个衰减器或者将所有的衰减器断开，所述第三同轴开关组只接通一个滤波器或者将所有的滤波器断开。

所述多个不同型号的衰减器包括

10dB衰减器

20dB衰减器

40dB衰减器。

所述多个不同型号的滤波器包括：

3.3GHz高通滤波器

1.4GHz低通滤波器

1880-1920MHz带阻滤波器

2010-2025MHz带阻滤波器

2300-2400MHz带阻滤波器

2570-2620MHz带阻滤波器。

信号在功能链路单元处理过程中，由测试指标要求，需要将信号送入衰减滤波单元进行必要的滤波和衰减，不同的测试项会选择对应的滤波器和衰减器对信号进行处理，然后将处理后的信号送回功能链路单元，继续进行信号的路径传播。

具体地，在该实施例中，1.4GHz低通滤波器运用在LTE基站的天线端口的杂散发射和特殊频段的抑制保护终止频率在1.4G以下的频段中，用来滤掉1.4G以上的信号，使用此滤波器需要闭合D2-2，K2-2和衰减滤波单元中K8-1-2。3.3GHz高通滤波器用在天线端口的杂散发射和特殊频段的抑制保护起始频率在3.3G以上的频段，用来滤掉3.3G以下的信号，使用此滤波器需要闭合D2-2，K2-2。2570-2620MHz带阻滤波器运用在band38中，阻隔band38的主信号，使用此滤波器需要闭合D2-2，K2-2和衰减滤波单元中K8-1-6。1880-1920MHz带阻滤波器运用在band39中，来阻隔band39的主信号，使用此滤波器需要闭合D2-2，K2-2和衰减滤波单元中K8-1-3。2300-2400MHz带阻滤波器运用在band40中，来阻隔band40的主信号，使用此滤波器需要闭合D2-2，K2-2和衰减滤波单元中K8-1-5。3.3GHz高通滤波器、1.4GHz低通滤波器和各个带阻滤波器运用在杂散的测试项中，保证了测试结果的正确。

衰减器有10dBm、20dBm和40dBm三种，根据不同的测试项和测试环境，需要灵活选择不同的衰减器，来保证仪表的安全和测试的稳定，过大的信号会导致仪表的过载甚至烧坏仪表，也会导致测试结果不正确、不稳定。这时候就要根据信号的大小来选择不同的衰减器。

整个装置设计在二个标准4U机箱中，其中一号箱主要包括功能链路单元，前面板留有被测基站接口，后面留有滤波器接口、衰减器接口、多径模拟单元接口以及各种仪表接口；二号箱包括衰减滤波单元，后面板留有衰减器和滤波器接口，用于将辅助衰减器和滤波器模块接入基站测试系统。该切换单元主要将处理过的信号送入测试仪表，进行型号核准LTE基站的测试。

实施例二

基于上述图1所示的装置，该实施例提供的一种对信号核准LTE基站进行射频测试的方法的处理流程如图4所示，包括如下的处理流程：

步骤S410、通过多条功能链路组成功能链路组，通过串联连接的衰减器组和滤波器组组成衰减滤波单元。

将多个实现不同补偿功能的功能链路并联连接，组成功能链路单元，将第一同轴开关组和所述功能链路单元中的每个功能链路连接，在一次测试过程中，所述第一同轴开关组只接通一个功能链路；多个实现不同补偿功能的功能链路由各类同轴开关、合路器、环形器、放大器、单向器以及阻抗匹配电阻组成，具体包括对信号核准LTE基站的下行信号进行补偿处理的基站至频谱仪输入端口链路和基站至多径模拟单元输入端口链路，以及对信号源的下行信号进行补偿处理的信号源至频谱仪输入端口链路。

将多个不同型号的衰减器并联连接，组成衰减器组，将多个不同型号的滤波器并联连接，组成滤波器组，将所述衰减器组、滤波器组串联连接组成衰减滤波单元，将第二同轴开关组和所述衰减器组中的每个衰减器连接，将第三同轴开关组和所述滤波器组中的每个滤波器连接，在一次测试过程中，所述第二同轴开关组只接通一个衰减器或者将所有的衰减器断开，所述第三同轴开关组只接通一个滤波器或者将所有的滤波器断开。所述多个不同型号的衰减器包括10dB衰减器、20dB衰减器和40dB衰减器，所述多个不同型号的滤波器包括：3.3GHz高通滤波器、1.4GHz低通滤波器、1880-1920MHz带阻滤波器、2010-2025MHz带阻滤波器、2300-2400MHz带阻滤波器和2570-2620MHz带阻滤波器。

步骤S420、通过同轴开关选择接通一个功能链路，选择接通一个衰减器、滤波器。

根据信号核准LTE基站的射频测试的测试规范要求，通过第一同轴开关从功能链路单元中选择接通一个功能链路，通过第二同轴开关接通一个衰减器或者将所有的衰减器断开，通过第三同轴开关组接通一个滤波器或者将所有的滤波器断开。

步骤S430、利用选择接通的功能链路，衰减器、滤波器或者多经模拟器连接链路，对所述信号核准LTE基站的被测信号进行处理。

所述功能链路单元接收输入的信号核准LTE基站的被测信号，利用接通的功能链路对所述被测信号进行补偿处理，将补偿处理后的被测信号传输给所述衰减滤波单元，所述衰减滤波单元中接通的衰减器、滤波器对所述补偿处理后的被测信号进行衰减和滤波处理；

所述衰减滤波单元将衰减和滤波处理后的被测信号传输给所述功能链路单元。

当利用所述功能链路单元和衰减滤波单元对所述信号核准LTE基站进行杂散测试时，接通所述滤波器组中的1.4GHz低通滤波器，过滤掉1.4GHz频段以上的杂散段；接通所述滤波器组中的3.3GHz高通滤波器，过滤掉3.3GHz频段以下的杂散段；接通所述滤波器组中的2570-2620MHz带阻滤波器，阻隔band38的主信号；接通所述滤波器组中的1880-1920MHz带阻滤波器，阻隔band39的主信号；接通所述滤波器组中的2300-2400MHz带阻滤波器，阻隔band40的主信号。

用本发明实施例的方法进行对信号核准LTE基站进行射频测试的具体过程与前述装置实施例类似，此处不再赘述。

综上所述，本发明实施例提供的对信号核准LTE基站进行射频测试的装置是一款结构紧凑的专业型LTE基站测试的解决方案，克服了在对LTE基站进行射频测试的过程中，不同测试项目需要不同信号处理路径的问题，将所有型号核准LTE基站测试的测试链路进行了系统集成，解决了在测试过程中人工搭建测试链路的问题，减少了人为的误差，提高了测试准确度和测试效率。

本发明实施例提供的对信号核准LTE基站进行射频测试的装置中的各个模块性能参数、使用寿命以及安装方式不仅能够满足LTE基站测试标准及我国无线电设备型号核准测试中关于LTE基站射频测试的相关要求，而且还能对测试仪表进行必要的保护，避免因过热射频功率、直流瞬时和静电放电（ESD）而受到损坏。该装置在不影响测试精度的情况下提供了广泛的功能，同时适合不同环境要求。

本发明实施例提供的对信号核准LTE基站进行射频测试的方法和装置在满足LTE基站测试标准及我国无线电设备型号核准测试中关于LTE基站测试的相关要求的前提下，对未来型号核准LTE基站测试奠定了基础，具有重要意义。

本领域普通技术人员可以理解：附图只是一个实施例的示意图，附图中的模块或流程并不一定是实施本发明所必须的。

通过以上的实施方式的描述可知，本领域的技术人员可以清楚地了解到本发明可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现。基于这样的理解，本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等）执行本发明各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置或系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置及系统实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (10)

1.一种对信号核准LTE基站进行射频测试的装置，其特征在于，包括：功能链路单元和衰减滤波单元，所述的功能链路单元连接所述衰减滤波单元；

所述的功能链路单元，包括并联连接的多个功能链路，用于根据信号核准LTE基站的射频测试的测试规范要求，通过同轴开关选择接通一个功能链路；接收输入的信号核准LTE基站的被测信号，利用接通的功能链路对所述被测信号进行补偿处理，将补偿处理后的被测信号传输给所述衰减滤波单元；

所述的衰减滤波单元，包括串联连接的衰减器组和滤波器组，用于通过同轴开关选择接通一个衰减器、滤波器，通过接通的衰减器、滤波器对所述补偿处理后的被测信号进行衰减和滤波处理，将衰减和滤波处理后的被测信号传输给所述功能链路单元。

2.根据权利要求1所述的对信号核准LTE基站进行射频测试的装置，其特征在于，所述功能链路单元包括：多个并联连接的实现不同补偿功能的功能链路和第一同轴开关组，将第一同轴开关组和所述功能链路单元中的每个功能链路连接，在一次测试过程中，所述第一同轴开关组只接通一个功能链路；

所述衰减器组包括并联连接的多个不同型号的衰减器，所述滤波器组包括并联连接的多个不同型号的滤波器，将第二同轴开关组和所述衰减器组中的每个衰减器连接，将第三同轴开关组和所述滤波器组中的每个滤波器连接，在一次测试过程中，所述第二同轴开关组只接通一个衰减器或者将所有的衰减器断开，所述第三同轴开关组只接通一个滤波器或者将所有的滤波器断开。

3.根据权利要求2所述的对信号核准LTE基站进行射频测试的装置，其特征在于，所述多个实现不同补偿功能的功能链路由各类同轴开关、合路器、环形器、放大器、单向器以及阻抗匹配电阻组成，具体包括对信号核准LTE基站的下行信号进行补偿处理的基站至频谱仪输入端口链路、基站至多径模拟单元输入端口链路，以及对信号源的下行信号进行补偿处理的信号源至频谱仪输入端口链路。

4.根据权利要求2所述的对信号核准LTE基站进行射频测试的装置，其特征在于，所述多个不同型号的衰减器包括10dB衰减器、20dB衰减器和40dB衰减器，所述多个不同型号的滤波器包括：3.3GHz高通滤波器、1.4GHz低通滤波器、1880-1920MHz带阻滤波器、2010-2025MHz带阻滤波器、2300-2400MHz带阻滤波器和2570-2620MHz带阻滤波器。

5.根据权利要求4所述的对信号核准LTE基站进行射频测试的装置，其特征在于，当利用所述功能链路单元和衰减滤波单元对所述信号核准LTE基站进行杂散测试时，接通所述滤波器组中的1.4GHz低通滤波器，过滤掉1.4GHz频段以上的杂散段；接通所述滤波器组中的3.3GHz高通滤波器，过滤掉3.3GHz频段以下的杂散段；接通所述滤波器组中的2570-2620MHz带阻滤波器，阻隔band38的主信号；接通所述滤波器组中的1880-1920MHz带阻滤波器，阻隔band39的主信号；接通所述滤波器组中的2300-2400MHz带阻滤波器，阻隔band40的主信号。

6.一种对信号核准LTE基站进行射频测试的方法，其特征在于，包括：

根据信号核准LTE基站的射频测试的测试规范要求，通过同轴开关从功能链路单元中选择接通一个功能链路，通过同轴开关从衰减滤波单元中选择接通一个衰减器、滤波器；所述功能链路单元中包括并联连接的多个功能链路，所述衰减滤波单元中包括串联连接的衰减器组和滤波器组，所述功能链路单元连接所述衰减滤波单元；

所述功能链路单元接收输入的信号核准LTE基站的被测信号，利用接通的功能链路对所述被测信号进行补偿处理，将补偿处理后的被测信号传输给所述衰减滤波单元，所述衰减滤波单元中接通的衰减器、滤波器对所述补偿处理后的被测信号进行衰减和滤波处理；

所述衰减滤波单元将衰减和滤波处理后的被测信号传输给所述功能链路单元。

7.根据权利要求6所述的对信号核准LTE基站进行射频测试的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将多个实现不同补偿功能的功能链路并联连接，组成功能链路单元，将第一同轴开关组和所述功能链路单元中的每个功能链路连接，在一次测试过程中，所述第一同轴开关组只接通一个功能链路；

将多个不同型号的衰减器并联连接，组成衰减器组，将多个不同型号的滤波器并联连接，组成滤波器组，将所述衰减器组、滤波器组串联连接组成衰减滤波单元，将第二同轴开关组和所述衰减器组中的每个衰减器连接，将第三同轴开关组和所述滤波器组中的每个滤波器连接，在一次测试过程中，所述第二同轴开关组只接通一个衰减器或者将所有的衰减器断开，所述第三同轴开关组只接通一个滤波器或者将所有的滤波器断开。

8.根据权利要求7所述的对信号核准LTE基站进行射频测试的方法，其特征在于，所述多个实现不同补偿功能的功能链路包括：

多个实现不同补偿功能的功能链路由各类同轴开关、合路器、环形器、放大器、单向器以及阻抗匹配电阻组成，具体包括对信号核准LTE基站的下行信号进行补偿处理的基站至频谱仪输入端口链路和基站至多径模拟单元输入端口链路，以及对信号源的下行信号进行补偿处理的信号源至频谱仪输入端口链路。

9.根据权利要求7所述的对信号核准LTE基站进行射频测试的方法，其特征在于，所述多个不同型号的衰减器包括10dB衰减器、20dB衰减器和40dB衰减器，所述多个不同型号的滤波器包括：3.3GHz高通滤波器、1.4GHz低通滤波器、1880-1920MHz带阻滤波器、2010-2025MHz带阻滤波器、2300-2400MHz带阻滤波器和2570-2620MHz带阻滤波器。

10.根据权利要求9所述的对信号核准LTE基站进行射频测试的方法，其特征在于，所述方法具体包括：

当利用所述功能链路单元和衰减滤波单元对所述信号核准LTE基站进行杂散测试时，接通所述滤波器组中的1.4GHz低通滤波器，过滤掉1.4GHz频段以上的杂散段；接通所述滤波器组中的3.3GHz高通滤波器，过滤掉3.3GHz频段以下的杂散段；接通所述滤波器组中的2570-2620MHz带阻滤波器，阻隔band38的主信号；接通所述滤波器组中的1880-1920MHz带阻滤波器，阻隔band39的主信号；接通所述滤波器组中的2300-2400MHz带阻滤波器，阻隔band40的主信号。