CN104748779A - 一种用于信号检测设备的校准系统 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及设备校准领域,特别涉及一种用于信号检测设备的校准系统。包括校准计划建立模块、校准计划执行模块、校准误差分析模块和设备参数调整模块。本发明的信号检测设备校准系统可以复用测试计划,尤其是涉及到设备、仪器、信号源、数据采集、结果等多个方面的参数设置时,复用计划可以很好的节省工作量;同时可以将计划、现场测试分离,在现场测试之前拟制计划,从而节约现场测试时间,提高校准方法使用的便捷性。
Description
技术领域
本发明涉及设备校准领域,特别涉及一种用于信号检测设备的校准系统。
背景技术
信号监测设备测量数据准确性直接影响到产品的质量,为了保证设备的准确可靠性,在型号研制和交付用户使用时,必须对其进行校准。现有的信号校准方式包括对信号的时频参数校准和空域参数校准,而现有技术无论是时域参数校准还是空域参数校准方面均存在许多问题,比如涉及设备众多,操作过程费时费力,校准过程繁杂,操作时间长,操作人员容易疲劳出错等等,因此需要采用新的校准方法来对信号检测设备进行校准。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是提供一种用于信号检测设备的校准系统,解决了现有校准方法中校准过程复杂、操作时间长,操作人员容易疲劳且费时费力的技术问题。
本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种用于信号检测设备的校准系统,包括校准计划建立模块、校准计划执行模块、校准误差分析模块和设备参数调整模块,
所述校准计划建立模块用于建立信号检测设备校准计划,所述信号检测设备校准计划包括待检测设备的设备信息、校准基本信息和设备校准流程;
所述校准计划执行模块用于根据信号检测设备校准计划,搭建测试系统,完成测试系统自检;并按照建立的信号检测设备校准计划使用频谱仪和/或示波器记录相关的测试参数;
所述校准误差分析模块用于建立误差模型,并将采集到的测试参数与标准信号进行比较分析,生成所述待测信号检测设备的误差数据图表、精度等级和/或操作建议;
所述设备参数调整模块用于改变测试系统中各设备的参数值。
在上述技术方案的基础上,本发明还可以做如下改进。
进一步的,所述校准计划建立模块包括计划信息建立单元、设备信息采集单元和信号设置单元,
所述计划信息建立模块用于设定计划名称、执行时间、被校准设备名称、测试参数、校准测试模式和测试流程;
所述设备信息采集模块用于采集设备详细信息、任务场地信息、性能参数和/或设备附加信息;
所述信号设置模块用于设置测试信号的测试参数,生成多种测试信号样式。
进一步的,所述校准测试模式包括时频参数标准信号源方式、时频参数标准仪器方式、空域参数标准信号源方式和空域参数外辐射源方式;所述时频参数标准信号源方式和时频参数标准仪器方式的测试参数包括:工作频率、脉宽、脉间、脉幅、波形图、频谱图、时频图和/或时相图;所述空域参数标准信号源方式和空域参数外辐射源方式的测试参数包括方位角和/或定北误差。
进一步的,所述设备详细信息包括设备型号、序列号、所属单位、经纬度和/或正北信息;所述任务场地信息包括测试任务地点、背景和/或测试场地的温度和湿度。
进一步的,所述校准计划执行模块包括设备导向连接单元、基准环境建立单元、测试参数采集单元和测试参数记录单元,
所述设备导线连接模块用于提示用于正确连接系统外围设备;
所述基准环境建立模块用于验证校准系统中各设备能够正确发送和接受到信号;
所述测试参数采集模块用于根据具体的测试模式,按信号流程步进发送信号完成采集进程;每次发射完一个信号,等待收到被测设备发出采集完成应答信号后,信号源依据校准计划进入下一步,发射下一个信号;
所述测试参数记录模块用于记录校准过程中测试参数采集模块采集到的各个测试参数数值。
进一步的,所述校准误差分析模块包括误差模型选择单元、精度门限设定单元、结果输出单元和建议措施生成单元,
所述误差模型选择单元用于根据不同的校准测试模式选择对应的误差模型;所述误差模型包括包括表格数据模型和/或图形数据模型;
所述精度门限设定单元用于对设备测试参数进行评估和校准前,设定并显示对应的精度门限值;
所述结果输出单元用于根据选择的误差模型和设定的精度门限值,将采集到的测试参数与标准信号进行比较分析,生成所述待测信号检测设备的误差分析数据,并采用表格和/或曲线显示所述误差分析数据;
所述建议措施生成单元用于根据误差分析数据生成建议措施文档。
进一步的,所述精度门限包括时频数据精度门限和/或时频图形精度门限,所述时频数据精度门限包括工作频率误差门限、脉宽误差门限、脉冲间隔误差门限和/或脉冲幅度误差门限;所述时频图形精度门限包括波形图误差门限、频谱图误差门限、时频图误差门限和/或时相图误差门限。
进一步的,所述信号检测设备校准计划、所述测试信号样式、所述信号测试流程均采用结构体编码;所述波形图、频谱图、时频图和/或时相图均为txt格式;所述误差分析数据为excel格式。
进一步的,所述系统中所有程控设备都统一采用GPIB口与上位机通讯连接。
本发明的有益效果是:本发明的信号检测设备校准系统可以复用测试计划,尤其是涉及到设备、仪器、信号源、数据采集、结果等多个方面的参数设置时,复用计划可以很好的节省工作量;同时可以将计划、现场测试分离,在现场测试之前拟制计划,从而节约现场测试时间,提高校准方法使用的便捷性。
附图说明
图1为本发明信号检测设备的校准系统的结构图。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的原理和特征进行描述,所举实例只用于解释本发明,并非用于限定本发明的范围。
图1为本发明信号检测设备校准方法的结构图,如图1所示,包括校准计划建立模块、校准计划执行模块、校准误差分析模块和设备参数调整模块,
所述校准计划建立模块用于建立信号检测设备校准计划,所述信号检测设备校准计划包括待检测设备的设备信息、校准基本信息和设备校准流程;
所述校准计划执行模块用于根据信号检测设备校准计划,搭建测试系统,完成测试系统自检;并按照建立的信号检测设备校准计划使用频谱仪和/或示波器记录相关的测试参数;
所述校准误差分析模块用于建立误差模型,并将采集到的测试参数与标准信号进行比较分析,生成所述待测信号检测设备的误差数据图表、精度等级和/或操作建议;
所述设备参数调整模块用于改变测试系统中各设备的参数值。
优选的,本实施例中,所述校准计划建立模块包括计划信息建立单元、设备信息采集单元和信号设置单元,
所述计划信息建立模块用于设定计划名称、执行时间、被校准设备名称、测试参数、校准测试模式和测试流程;所述校准测试模式包括时频参数标准信号源方式、时频参数标准仪器方式、空域参数标准信号源方式和空域参数外辐射源方式;所述时频参数标准信号源方式和时频参数标准仪器方式的测试参数包括:工作频率、脉宽、脉间、脉幅、波形图、频谱图、时频图和/或时相图;所述空域参数标准信号源方式和空域参数外辐射源方式的测试参数包括方位角和/或定北误差。
所述设备信息采集模块用于采集设备详细信息、任务场地信息、性能参数和/或设备附加信息;所述设备详细信息包括设备型号、序列号、所属单位、经纬度和/或正北信息;所述任务场地信息包括测试任务地点、背景和/或测试场地的温度和湿度。
所述信号设置模块用于设置测试信号的测试参数,生成多种测试信号样式。
本实施例中,所述校准计划执行模块包括设备导向连接单元、基准环境建立单元、测试参数采集单元和测试参数记录单元,
所述设备导线连接模块用于提示用于正确连接系统外围设备;
所述基准环境建立模块用于验证校准系统中各设备能够正确发送和接受到信号;
所述测试参数采集模块用于根据具体的测试模式,按信号流程步进发送信号完成采集进程;每次发射完一个信号,等待收到被测设备发出采集完成应答信号后,信号源依据校准计划进入下一步,发射下一个信号;
所述测试参数记录模块用于记录校准过程中测试参数采集模块采集到的各个测试参数数值。
本实施例中,所述校准误差分析模块包括误差模型选择单元、精度门限设定单元、结果输出单元和建议措施生成单元,
所述误差模型选择单元用于根据不同的校准测试模式选择对应的误差模型;所述误差模型包括包括表格数据模型和/或图形数据模型;
所述精度门限设定单元用于对设备测试参数进行评估和校准前,设定并显示对应的精度门限值;所述精度门限包括时频数据精度门限和/或时频图形精度门限,所述时频数据精度门限包括工作频率误差门限、脉宽误差门限、脉冲间隔误差门限和/或脉冲幅度误差门限;所述时频图形精度门限包括波形图误差门限、频谱图误差门限、时频图误差门限和/或时相图误差门限。
所述结果输出单元用于根据选择的误差模型和设定的精度门限值,将采集到的测试参数与标准信号进行比较分析,生成所述待测信号检测设备的误差分析数据,并采用表格和/或曲线显示所述误差分析数据;
所述建议措施生成单元用于根据误差分析数据生成建议措施文档。
本实施例中,所述信号检测设备校准计划、所述测试信号样式、所述信号测试流程均采用结构体编码;所述波形图、频谱图、时频图和/或时相图均为txt格式;所述误差分析数据为excel格式。所述系统中所有程控设备都统一采用GPIB口与上位机通讯连接。
本发明的信号检测设备校准系统可以复用测试计划,尤其是涉及到设备、仪器、信号源、数据采集、结果等多个方面的参数设置时,复用计划可以很好的节省工作量;同时可以将计划、现场测试分离,在现场测试之前拟制计划,从而节约现场测试时间,提高校准方法使用的便捷性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (9)
1.一种用于信号检测设备的校准系统,其特征在于:包括校准计划建立模块、校准计划执行模块、校准误差分析模块和设备参数调整模块,
所述校准计划建立模块用于建立信号检测设备校准计划,所述信号检测设备校准计划包括待检测设备的设备信息、校准基本信息和设备校准流程;
所述校准计划执行模块用于根据信号检测设备校准计划,搭建测试系统,完成测试系统自检;并按照建立的信号检测设备校准计划使用频谱仪和/或示波器记录相关的测试参数;
所述校准误差分析模块用于建立误差模型,并将采集到的测试参数与标准信号进行比较分析,生成所述待测信号检测设备的误差数据图表、精度等级和/或操作建议;
所述设备参数调整模块用于改变测试系统中各设备的参数值。
2.根据权利要求1所述的校准系统,其特征在于:所述校准计划建立模块包括计划信息建立单元、设备信息采集单元和信号设置单元,
所述计划信息建立模块用于设定计划名称、执行时间、被校准设备名称、测试参数、校准测试模式和测试流程;
所述设备信息采集模块用于采集设备详细信息、任务场地信息、性能参数和/或设备附加信息;
所述信号设置模块用于设置测试信号的测试参数,生成多种测试信号样式。
3.根据权利要求2所述的校准系统,其特征在于:所述校准测试模式包括时频参数标准信号源方式、时频参数标准仪器方式、空域参数标准信号源方式和空域参数外辐射源方式;所述时频参数标准信号源方式和时频参数标准仪器方式的测试参数包括:工作频率、脉宽、脉间、脉幅、波形图、频谱图、时频图和/或时相图;所述空域参数标准信号源方式和空域参数外辐射源方式的测试参数包括方位角和/或定北误差。
4.根据权利要求2所述的校准系统,其特征在于:所述设备详细信息包括设备型号、序列号、所属单位、经纬度和/或正北信息;所述任务场地信息包括测试任务地点、背景和/或测试场地的温度和湿度。
5.根据权利要求1~4任一所述的校准系统,其特征在于:所述校准计划执行模块包括设备导向连接单元、基准环境建立单元、测试参数采集单元和测试参数记录单元,
所述设备导线连接模块用于提示用于正确连接系统外围设备;
所述基准环境建立模块用于验证校准系统中各设备能够正确发送和接受到信号;
所述测试参数采集模块用于根据具体的测试模式,按信号流程步进发送信号完成采集进程;每次发射完一个信号,等待收到被测设备发出采集完成应答信号后,信号源依据校准计划进入下一步,发射下一个信号;
所述测试参数记录模块用于记录校准过程中测试参数采集模块采集到的各个测试参数数值。
6.根据权利要求5所述的校准系统,其特征在于:所述校准误差分析模块包括误差模型选择单元、精度门限设定单元、结果输出单元和建议措施生成单元,
所述误差模型选择单元用于根据不同的校准测试模式选择对应的误差模型;所述误差模型包括包括表格数据模型和/或图形数据模型;
所述精度门限设定单元用于对设备测试参数进行评估和校准前,设定并显示对应的精度门限值;
所述结果输出单元用于根据选择的误差模型和设定的精度门限值,将采集到的测试参数与标准信号进行比较分析,生成所述待测信号检测设备的误差分析数据,并采用表格和/或曲线显示所述误差分析数据;
所述建议措施生成单元用于根据误差分析数据生成建议措施文档。
7.根据权利要求6所述的校准系统,其特征在于:所述精度门限包括时频数据精度门限和/或时频图形精度门限,所述时频数据精度门限包括工作频率误差门限、脉宽误差门限、脉冲间隔误差门限和/或脉冲幅度误差门限;所述时频图形精度门限包括波形图误差门限、频谱图误差门限、时频图误差门限和/或时相图误差门限。
8.根据权利要求5所述的校准系统,其特征在于:所述信号检测设备校准计划、所述测试信号样式、所述信号测试流程均采用结构体编码;所述波形图、频谱图、时频图和/或时相图均为txt格式;所述误差分析数据为excel格式。
9.根据权利要求5所述的校准系统,其特征在于:所述系统中所有程控设备都统一采用GPIB口与上位机通讯连接。
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CN201510130820.7A CN104748779A (zh) | 2015-03-25 | 2015-03-25 | 一种用于信号检测设备的校准系统 |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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CN110568840A (zh) * | 2019-09-24 | 2019-12-13 | 深圳市正科环宇科技有限公司 | Obd检测设备校准方法、装置、设备以及可读存储介质 |
CN114061646A (zh) * | 2021-09-18 | 2022-02-18 | 北京东方计量测试研究所 | 一种面向通用仪器仪表的自动检定设备 |
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2015
- 2015-03-25 CN CN201510130820.7A patent/CN104748779A/zh active Pending
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PB01 | Publication | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication | ||
WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
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