CN104678248A - 一种通用的超声探头测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提供了一种通用的超声探头测试装置，超声探头通过一标准接口传输测试信号，所述标准接口包含若干个待测引脚。超声探头测试装置包括：微处理器、测试设备、测试接口和若干测试通路；所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态；所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通过所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一所述待测引脚。本发明通用性强，能适用于所有使用相同标准接口的不同接口线序的超声探头，既像人工测试一样能随意定义接口线序，又保留了测试装置测试速度快，测试准确的优点。能大大降低超声探头测试开发的成本，缩短超声探头测试开发的周期。
Description
技术领域
本发明涉及超声探头的测试领域，具体地，涉及一种通用的超声探头测试装置。
背景技术
B超系统是通过超声波来诊断疾病的设备，B超探头是能将电信号和声信号互相转换的器件，是B超系统成像的关键部件。超声探头通过标准的接口与B超系统连接。但是每家B超系统厂家对超声探头的接口线序定义不同。对于专业生产探头的厂家来说，客户多，接口线序多会造成很大的麻烦。一直以来，超声探头的测试方法一般有两种：一种是采用人工，对接口的线序一一触碰进行测试。此方法效率低下，耗费人工，还容易发生人为错误；另外一种是测试装置的测试方法，就是针对固定的接口线序，制作对应的测试装置来进行自动测试。采用测试装置的测试方法每个装置只能对应一个接口线序，对于多个客户的多种接口线序，需要大量不同的测试装置。测试装置的测试方法不仅制作成本高，制作周期长，对应的装置管理也会有很大工作量。一直以来，超声探头的测试装置都是针对指定接口线序的探头。无法做到一个装置通用各种接口线序的探头测试。
发明内容
针对现有技术中的缺陷，本发明的目的是提供一种通用的超声探头测试装置。
根据本发明提供的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，包括：微处理器、测试设备、测试接口和若干测试通路；
所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态；
所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通过所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一所述待测引脚。
作为一种优化方案，每条所述测试通路包含依次相连的一继电器和所述待测引脚，所述测试接口分别与所述继电器相连；
所述微处理器分别与所述继电器的控制端口相连；
所述继电器用于：
响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路导通，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚连通，
或响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路断开，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚断开；
所述微处理器用于对所述继电器的通电状态或断电状态进行自动控制。
作为一种优化方案，所述微处理器根据所述预设测试时序对继电器的通电和断电进行自动控制。
作为一种优化方案，还包括一计算机，所述计算机分别与所述微处理器和所述测试设备相连；所述计算机用于响应外部输入设置自定义的测试时序，并将该自定义的测试时序发送给所述微处理器；
所述微处理器用于根据自所述计算机接收的所述测试时序对各测试通路中的继电器进行通电或断电状态控制。
作为一种优化方案，所述继电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路导通；所述继电器在断电状态下使该继电器所在的测试通路断开。
作为一种优化方案，所述继电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路断开；所述继电器在断电状态下使该继电器所在的测试通路导通。
作为一种优化方案，所述超声探头是B超探头。
与现有技术相比，本发明具有如下的有益效果：
本发明提供的一种通用的超声探头测试装置，将标准接口的每个通道都接上一个开关/继电器，由微处理器来控制多个开关/继电器，达到每条通道的顺序控制，来满足各种不同的接口线序。本发明通用性强，能适用于所有使用相同标准接口的不同接口线序的超声探头，既像人工测试一样能随意定义接口线序，又保留了测试装置测试速度快，测试准确的优点。能大大降低超声探头测试开发的成本，缩短超声探头测试开发的周期。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍，显而易见，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。附图中：
图1是一种可选实施例的B超探头测试装置原理图；
图2是一种可选实施例的具有计算机的B超探头测试装置原理图。
具体实施方式
下文结合附图以具体实施例的方式对本发明进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本发明，但不以任何形式限制本发明。应当指出的是，还可以使用其他的实施例，或者对本文列举的实施例进行结构和功能上的修改，而不会脱离本发明的范围和实质。
一个超声探头通过一标准接口与超声性能测试系统相连，在对该超声探头的出厂前测试过程中，需要按照该探头对应的接口线序对标准接口的所有引脚一个个地进行测试。表1和表2为探头的接口线序的两种实施例。表1和表2中数字代表接口线序的引脚序号，同时也是测试时的先后顺序，可见线序的不同导致测试顺序存在极大的差异。
在本发明提供的一种通用的超声探头测试装置的实施例中，超声探头通过一标准接口传输测试信号，所述标准接口包含若干个待测引脚。如图1所示的超声探头测试装置原理图，一种通用的超声探头测试装置包括微处理器、测试设备、测试接口和若干测试通路。所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态。
所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通过所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一所述待测引脚。
作为一种实施例，每条所述测试通路包含依次相连的一继电器和所述待测引脚，所述测试接口分别与所述继电器相连。
所述微处理器分别与所述继电器的控制端口相连。
所述继电器用于：
响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路导通，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚连通；
或响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路断开，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚断开。
所述微处理器用于对所述继电器的通电状态或断电状态进行自动控制。
当所述继电器处于通电状态，该继电器所在的测试通路导通，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚连通；当所述继电器处于断电状态，该继电器所在的测试通路断开，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚断开。
所述微处理器用于对所述继电器的通电状态或断电状态进行自动控制，由此分别实现对各测试通路通断的控制，进而依次获得每个引脚的测试数据。
作为一种实施例，可以设置多个微处理器，所述微处理器中至少设置有一种预设测试时序，所述微处理器根据所述预设测试时序对继电器的通电和断电进行自动控制。
在所述微处理中预设与待测超声探头接口线序对应的预设测试时序，所述微处理器根据所述预设测试时序自动对继电器的通电和断电进行控制，从而控制测试通路的开启和关闭。所述测试设备最后获得一按照所述预设测试时序获得的引脚测试数据，也即超声探头的标准接口测试数据。在这个实施例中，微处理器中的测试时序为预先设定好的，若该微处理器中仅设有与表1和表2所示接口线序对应的两种测试时序，则只能对表1和表2所示接口线序的超声探头进行测试，在技术升级后，超声探头线序若发生改变，则需要更换微处理器或对微处理器进行重新设置。因为在要求需要测试新的接口线序的超声探头时，仅需要更换原有的微处理器，比现有技术中更换整个测试设备具有一定的优势，该实施例成本低廉，但同样存在兼容性受限等缺陷。
作为另一种实施例，如图2所示，所述通用的超声探头测试装置还包括一计算机。所述计算机分别与所述微处理器和测试设备相连。所述计算机用于响应外部输入设置自定义的测试时序，并将该自定义的测试时序发送给所述微处理器；所述微处理器用于根据自所述计算机接收的所述测试时序对各测试通路中的继电器进行通电或断电状态控制。
用户在所述计算机上根据待测试的标准接口的接口线序编辑相对应的自定义的测试时序，并将该自定义的测试时序发送给所述微处理器，所述微处理器以该自定义的测试时序对各测试通路中的继电器进行通电或断电状态控制，从而使得各测试通路以设定的时序开启或关闭。
作为一种实施例，所述继电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路导通；所述继电器在断电状态下使该继电器所在的测试通路断开。
在某一时刻，一所述微处理器按照内置的测试时序控制一继电器J至通电状态，其他继电器断电状态，该继电器J所在测试通路J导通，其他测试通路保持断开状态，测试设备通过测试接口获取该测试通路J所包含的待测引脚的测试数据。最终将所有待测引脚的测试数据发送给所述计算机。计算机根据接收自测试设备的所有引脚的测试数据获得超声探头的测试结果。整个过程是微处理器根据设置的测试时序控制所连接的继电器工作，进而使得测试通路一个个依次导通。所述测试设备即可按照接口线序依次获得所有待测引脚的测试数据，相当于测试员用探针一个个地测试各待测引脚，最终获得所有待测引脚的测试数据。整个测试过程代替了原始测试过程中人工测试的步骤，在超声探头出厂测试过程中极大地减少了人工成本，也加快了测试流程，具有显著的实用性。而且本实施例以计算机设置自定义的测试时序，可以兼容不同接口线序的探头测试，为多种接口线序的套头测试提供了极大的便利。
作为另一种实施例，所述继电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路断开；所述继电器在断电状态下使该继电器所在的测试通路导通。
在某一个时刻，所述微处理器按照内置的测试时序控制一继电器Q处于断电状态，其他继电器处于通电状态。由此导致仅该处于断电状态的继电器所在的测试通路Q导通，其他测试通路保持断开状态，测试设备通过测试接口获得该测试通路Q包含的引脚的测试数据。
作为一种实施例，该超声探头可以是B超探头,如图1和图2所示。
本发明的关键点是：通过设计一款通用的超声探头测试装置，能适用于所有使用相同标准接口的不同接口线序的探头，既像人工测试一样能随意定义接口线序，又保留了测试装置测试速度快，测试准确的优点。能大大降低探头测试开发的成本，缩短探头测试开发的周期。
以上所述仅为本发明的较佳实施例，本领域技术人员知悉，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，可以对这些特征和实施例进行各种改变或等同替换。另外，在本发明的教导下，可以对这些特征和实施例进行修改以适应具体的情况及材料而不会脱离本发明的精神和范围。因此，本发明不受此处所公开的具体实施例的限制，所有落入本申请的权利要求范围内的实施例都属于本发明的保护范围。
Claims (7)
1.一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，包括：微处理器、测试设备、测试接口和若干测试通路；
所述微处理器用于控制所述测试通路处于导通状态或断开状态；
所述测试设备通过所述测试接口分别与若干所述测试通路连接，所述测试设备通过所述测试接口获取导通状态的所述测试通路的测试数据，每条所述测试通路包含一待测引脚。
2.根据权利要求1所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，每条所述测试通路包含依次相连的一继电器和所述待测引脚，所述测试接口分别与所述继电器相连；
所述微处理器分别与所述继电器的控制端口相连；
所述继电器用于：
响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路导通，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚连通，
或响应所述微处理器控制使得该继电器所在的测试通路断开，所述测试接口与该测试通路中的待测引脚断开；
所述微处理器用于对所述继电器的通电状态或断电状态进行自动控制。
3.根据权利要求2所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，所述微处理器根据所述预设测试时序对继电器的通电和断电进行自动控制。
4.根据权利要求2所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，还包括一计算机，所述计算机分别与所述微处理器和所述测试设备相连；所述计算机用于响应外部输入设置自定义的测试时序，并将该自定义的测试时序发送给所述微处理器；
所述微处理器用于根据自所述计算机接收的所述测试时序对各测试通路中的继电器进行通电或断电状态控制。
5.根据权利要求2或3或4所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，所述继电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路导通；所述继电器在断电状态下使该继电器所在的测试通路断开。
6.根据权利要求2或3或4所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，所述继电器在通电状态下使该继电器所在的测试通路断开；所述继电器在断电状态下使该继电器所在的测试通路导通。
7.根据权利要求1所述的一种通用的超声探头测试装置，其特征在于，所述超声探头是B超探头。
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