CN104636228A - 便于测试的电子装置及测试方法 - Google Patents
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Abstract
一种测试方法，包括步骤：在主板测试阶段时接收扫描输入的序列号、类别号、物理地址在内的扫描信息，而将主板烧录信息与该扫描信息关联存储而烧录至主板；将该扫描信息烧录至该主板的接口对应连接的存储器中；以及在后续测试阶段中从该存储器中读取该扫描信息，而进行后续测试阶段的测试。本发明还提供一种便于测试的电子装置。本发明的电子装置及测试方法，无需打开电子装置的外壳进行重新扫描，即可进行后续阶段的测试，便于出厂时的测试。
Description
技术领域
本发明涉及一种电子装置，特别涉及一种便于出厂时测试的电子装置及测试方法。
背景技术
目前，在电脑、手机等电子装置的生产测试的各个阶段，经常需要更新一些烧入信息，如DMI（Desktop Management Interface，计算机管理系统接口）信息、VPD（Vital Product Data，必要产品数据）信息等。在实现这些信息的烧入时，往往需要通过扫描器等扫描装置扫描电子装置的主板上的序列号（Serial Number）、类别号（Part Number）、物理地址（MAC Address）等扫描信息，然后将该扫描信息与DMI等信息关联后烧入。如果在电子装置还未组装的主板测试阶段，则扫描主板上的信息是可行的。但是如果电子装置组装完后，在系统测试阶段进行BIOS（basic input and output system，基本输入输出系统）更新时，需要重新将DMI、VPD等信息烧入电子装置中。然而，在电子装置组装完成后，需要打开电子装置的外壳才能对主板上的信息进行扫描，增加了扫描的难度。更有甚者，该些主板上的序列号等信息均以条形码的形式贴于主板上，当主板上组装有元件后，容易将该条形码遮挡，而需要将该元件拆卸后才能扫描，更增加了扫描的难度且容易损坏元件。
发明内容
有鉴于此，提供一种便于出厂时测试的电子装置及测试方法，无需打开电子装置的外壳进行重新扫描，即可进行后续阶段的测试。
一种便于测试的电子装置，包括一主板以及一处理器，其中，该主板包括一接口用于连接一存储器；该处理器用于在主板测试阶段时接收扫描输入的序列号、类别号、物理地址在内的扫描信息，而将当前测试阶段的包括DMI信息、VPD信息的主板烧录信息与该扫描信息关联存储而烧录至该主板中，同时，该处理器还用于将该扫描信息烧录至该主板的接口对应连接的存储器中；该处理器并在后续测试阶段从该存储器中读取该扫描信息，而进行后续测试阶段的测试。
一种测试方法，包括步骤：在主板测试阶段时接收扫描输入的序列号、类别号、物理地址在内的扫描信息，而将主板烧录信息与该扫描信息关联存储而烧录至主板；将该扫描信息烧录至该主板的接口对应连接的存储器中；以及在后续测试阶段中从该存储器中读取该扫描信息，而进行后续测试阶段的测试。
通过本发明的便于出厂时测试的电子装置及测试方法，无需打开电子装置的外壳进行重新扫描，即可进行后续阶段的测试。
附图说明
图1为本发明一实施方式中便于测试的电子装置的模块示意图。
图2为本发明一实施方式中便于测试的电子装置所连接的存储器的结构示意图。
图3为本发明一实施方式中的测试方法的流程示意图。
主要元件符号说明
| 电子装置 | 100 |
| 主板 | 10 |
| 处理器 | 20 |
| 接口 | 101 |
| 存储器 | 200 |
| 头部分存储区 | 201 |
| 固定信息存储区 | 202 |
| 变化信息存储区 | 203 |
| 步骤 | S301~S305 |
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请一参阅图1，为本发明便于测试的电子装置100的模块示意图。该电子装置100包括一主板10以及处理器20。该主板10包括一接口101。在本实施方式中，该接口101为USB接口、PCIE接口等。该接口101用于连接一存储器200。
其中，该处理器20用于运行一测试软件而对电子装置100进行分阶段测试。其中该处理器20对该电子装置100进行的分阶段测试包括主板测试阶段以及包括系统整机测试阶段等的后续测试阶段。
其中，该处理器20用于在主板测试阶段时接收扫描输入的序列号（Serial Number）、类别号（Part Number）、物理地址（MAC Address）在内的扫描信息，而将当前测试阶段的DMI（Desktop Management Interface，计算机管理系统接口）信息、VPD（Vital Product Data，必要产品数据）信息等主板烧录信息与该扫描信息关联存储而烧录至该主板中，同时，该处理器20还将该扫描信息烧录至该主板10的接口101对应连接的存储器200中。
该处理器20并在后续测试阶段，例如系统测试阶段中从该存储器200中读取该扫描信息，而进行后续测试阶段的测试。具体的，该处理器20从存储器200中读取该扫描信息后，将后续测试阶段获得的主板烧录信息与该扫描信息关联后烧录至主板10中。
从而，本发明中，在系统测试阶段，无需拆开电子装置100的机壳进行扫描，而只需从存储器200中读取相关的扫描信息即可。
在本实施方式中，该存储器200为一只读存储器（ROM，read only memory）。其中，在本实施方式中，该存储器200为一便携式存储器，而与主板10外露于电子装置100的接口101连接，该存储器200可即插即拔，而用于多台电子装置100的测试。在其他实施方式中，该存储器200可与该主板10位于电子装置100内部的接口101连接，而成为该电子装置100的一部分，从而，每一电子装置100可包括一存储器200而用于本机的测试。
具体的，请一并参阅图2，该存储器200包括头部分存储区201、固定信息存储区202以及变化信息存储区203。
该头部分存储区201用于存储产品项目名称、测试阶段名称等信息。其中，产品项目名称为某一批次产品的项目名称或者客户的一个订单的名称，用于确定该存储器200中存储的信息所属的项目。该测试阶段名称则为产品进行测试的阶段，比如主板测试阶段、系统测试阶段等。其中，该头部分存储区201中的信息为预先写入该存储器200中，即，根据产品项目以及需要测试的测试阶段预先写入存储器200中。在其他实施方式中，该产品项目名称、以及测试阶段名称可在测试时，由该处理器20增加至该头部分存储区201中。
该固定信息存储区202用于不同电子装置100的主板10所烧录的相同的固定信息。其中，该固定信息为预先烧录至主板10的信息，该些信息为不同电子装置100的主板10相同的且一经烧录则不会更改的信息。例如，DMI信息的产品名称（product name）。
该变化信息存储区203则用于存储各个主板10的扫描信息，如前所述，每一主板10的扫描信息包括对应主板10的序列号（serial number，SN）以及物理地址、类别号等。其中，该序列号用于标识对应的主板10而确定该扫描信息所属的主板10。其中，根据主板的不同，该扫描信息也不同，从而该变化信息存储区203存储的为根据主板10不同而变化的数据。
在测试过程中，该处理器20在该变化信息存储区203中增加对应主板10的扫描信息，并根据当前测试的电子装置100进行测试的测试阶段以及所属的产品项目而将该变化信息与该产品项目名称与测试阶段名称映射/关联起来。在一实施方式中，该变化信息存储区203存储的数据的位置为该头部分存储区201的产品项目名称与测试阶段名称所指向的地址。
从而，如前所述，由于在主板测试阶段，该存储器200中存储有电子装置100的序列号、物理地址、类别号等扫描信息，因此，在后续测试时可直接从该存储器200中读取，无需再次扫描。
其中，在本实施方式中，该处理器10还在某一主板10每次测试时将该DMI信息以及VPD信息等主板烧录信息同时存储于该存储器200的变化信息存储区203中且与对应主板的变化信息，即该些主板序列号、物理地址等扫描信息关联。
该处理器10并响应一恢复操作而将存储器200中的DMI信息、VPD信息等主板烧录信息烧录至待恢复的电子装置100的主板10中。从而，如果客户的电子装置100中的DMI、VPD等主板烧录信息不慎被覆盖/清除而需要恢复时，可通过连接该存储器200而将对应主板10的主板烧录信息重新烧录至该待恢复的电子装置100的主板10中，从而可对数据进行快速恢复。显然，该重新烧录的主板烧录信息可为某一特定测试阶段的主板烧录信息。
其中，该处理器10通过扫描待恢复的电子装置100的主板10的序列号从而确定具有相同序列号的扫描信息，然后，将该扫描信息关联的主板烧录信息烧录至该待恢复的电子装置100的主板10中。
其中，该电子装置100为平板电脑、台式机、笔记本电脑、服务器等。
请一并参阅图3，为本发明一实施方式中的测试方法的流程图。首先，该处理器20在主板测试阶段时接收扫描输入的序列号、类别号、物理地址在内的扫描信息，而将DMI信息等主板烧录信息与该扫描信息关联存储而烧录至该主板10（S301）。
该处理器还将该扫描信息烧录至该主板10的接口101对应连接的存储器200中（S303）。具体的，该处理器20在该变化信息存储区203中增加对应主板10的扫描信息，并根据当前测试的电子装置100进行测试的测试阶段以及所属的产品项目而将该扫描信息与该产品项目与测试阶段映射/关联起来。在一实施方式中，该变化信息存储区203存储的数据的位置为该头部分存储区201的产品项目名称与测试阶段名称所指向的地址，该处理器20将该扫描信息存储于该变换信息存储区203中该产品项目名称与测试阶段名称所指向的地址。
该处理器20并在后续测试阶段中从该存储器200中读取该扫描信息，而进行后续测试阶段的测试（S305）。具体的，该处理器20从存储器200中读取该扫描信息后，将后续测试阶段获得的DMI信息、VPD信息等主板烧录信息与该扫描信息关联后烧录至主板10中。
其中，该方法还包括步骤：
将各个测试阶段中的DMI信息、VPD信息等主板烧录信息与扫描信息关联后烧录至存储器200的变化信息存储区203；以及响应一恢复操作而将存储器200中的DMI信息、VPD信息等主板烧录信息烧录至待恢复的电子装置100的主板10中。
Claims (10)
1.一种便于测试的电子装置，包括一主板以及一处理器，其特征在于，该主板包括一接口用于连接一存储器；该处理器用于在主板测试阶段时接收扫描输入的序列号、类别号、物理地址在内的扫描信息，而将当前测试阶段的包括DMI信息、VPD信息的主板烧录信息与该扫描信息关联存储而烧录至该主板中，同时，该处理器还用于将该扫描信息烧录至该主板的接口对应连接的存储器中；该处理器并在后续测试阶段从该存储器中读取该扫描信息，而进行后续测试阶段的测试。
2.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，该处理器并在后续测试阶段从该存储器中读取该扫描信息，而进行后续测试阶段的测试包括：该处理器从存储器中读取该扫描信息后，将后续测试阶段获得的主板烧录信息与该扫描信息关联后烧录至主板中。
3.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，该接口为该主板用于外露于电子装置的接口，该存储器为便携式存储器。
4.如权利要求1所述的电子装置，其特征在于，该接口为该主板内置的接口，该存储器为设置于电子装置内部的存储器。
5.如权利要求1所述的系统，其特征在于，该处理器将该扫描信息烧录至该主板的接口对应连接的存储器中包括：该处理器将扫描信息存储至该处理器的一变化信息存储区中，并将该扫描信息与该存储器中的头部分存储区中的产品项目名称、测试阶段名称关联。
6.如权利要求5所述的电子装置，其特征在于，该处理器还在某一主板每次测试后将该对应的主板烧录信息同时存储于该存储器的变化信息存储区中且与对应主板扫描信息关联；该处理器并响应一恢复操作而将存储器中的主板烧录信息烧录至待恢复的电子装置的主板中。
7.一种测试方法，包括：
在主板测试阶段时接收扫描输入的序列号、类别号、物理地址在内的扫描信息，而将主板烧录信息与该扫描信息关联存储而烧录至主板；
将该扫描信息烧录至该主板的接口对应连接的存储器中；以及
在后续测试阶段中从该存储器中读取该扫描信息，而进行后续测试阶段的测试。
8.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该方法还包括步骤：
将各个测试阶段中的主板烧录信息与扫描信息关联后烧录至存储器中；以及
响应一恢复操作而将存储器中的主板烧录信息烧录至待恢复的电子装置的主板中。
9.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该步骤“将该扫描信息烧录至该主板的接口对应连接的存储器中”包括：
将该扫描信息烧录至该主板的接口对应连接的存储器中；以及
根据当前测试的电子装置进行测试的测试阶段以及所属的产品项目而将该扫描信息与该产品项目名称与测试阶段名称关联起来。
10.如权利要求7所述的方法，其特征在于，该步骤“在后续测试阶段中从该存储器中读取该扫描信息，而进行后续测试阶段的测试”包括：
从存储器中读取该扫描信息后，将后续测试阶段获得的主板烧录信息与该扫描信息关联后烧录至主板中。
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| CN105893192A (zh) * | 2015-11-17 | 2016-08-24 | 乐视致新电子科技（天津）有限公司 | 一种记录测试数据的方法及装置 |
| CN109710145A (zh) * | 2018-12-06 | 2019-05-03 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种基于存储产品的vpd信息烧录方法及系统 |
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Legal Events
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| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20150520 |
|
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |