CN104483262A - 一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机 - Google Patents

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查旭明
王宁昌
徐西鹏
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Abstract

本发明公开了一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,包括被测试试件、微动摩擦头、基座系统、超声振动系统和测力系统;超声振动系统装接在基座系统;微动摩擦头固接在超声振动系统;测力系统装接在基座系统;被测试试件固接在测力系统;通过基座系统调节被测试试件与微动摩擦头的相对位置;通过超声振动系统实现微动摩擦头与被测试试件间发生微动摩擦;通过测力系统检测微动摩擦头与被测试试件间力的动态变化。本发明利用超声振动发生器提供微小可控的振幅,振动方向与接触平面垂直,从而实现高频微米级振幅的切向微动摩擦测试,同时设备结构简单,测量精度高,使用成本低,维护简便。

Description

一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机
技术领域
本发明涉及一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机。
背景技术
微动是指在存在振动的条件下,发生在紧密配合表面之间的微米量级相对运动。微动过程中伴随摩擦磨损现象,造成接触面的咬合,形成应力腐蚀,加速裂纹扩展,从而使零件的疲劳寿命显著降低。微动摩擦研究中用到的微动摩擦试验机可以分为三类:机械式、电磁式和电液伺服式。机械式试验机结构简单、振幅和频率较为稳定、成本较低,但振动频率低,难以实现微小位移的精确控制;电磁式试验机通过变频器可以实现较大频率范围的测试,但系统刚度不足,激振力较小,稳定性较差;电液伺服式试验机的综合性能好,但是设备体积大、使用成本高。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足之处,提供了一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,利用超声振动发生器提供微小可控的振幅,振动方向与接触平面垂直,从而实现高频微米级振幅的切向微动摩擦测试,同时设备结构简单,测量精度高,使用成本低,维护简便。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案之一是:
一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,包括被测试试件5及与被测试试件5发生微动摩擦的微动摩擦头6;还包括基座系统、超声振动系统和测力系统;
所述基座系统包括光学平板1,X轴滑台3,Y轴滑台2和Z轴滑台11;Y轴滑台2滑动装接在光学平板1上且可沿Y轴方向滑动;X轴滑台3滑动装接在Y轴滑台2上且可沿X轴方向滑动;Z轴滑台11滑动装接在光学平板1上且可沿Z轴方向滑动;所述X轴方向、Y轴方向与Z轴方向两两垂直;
所述超声振动系统包括超声发生器9,超声变幅杆8和连接杆7;超声变幅杆8装接在Z轴滑台11,超声发生器9传动连接超声变幅杆8;连接杆7固接在超声变幅杆8上;所述微动摩擦头6固接在连接杆7上;
所述测力系统包括力传感器4,电荷放大器和数据采集卡;力传感器4固接在X轴滑台3上,该电荷放大器信号连接力传感器4,该数据采集卡信号连接电荷放大器;所述被测试试件5固接在力传感器4;
通过X轴滑台3、Y轴滑台2和Z轴滑台11使被测试试件5和微动摩擦头6可在X轴方向、Y轴方向与Z轴方向上移动从而调节被测试试件5与微动摩擦头6的相对位置;通过超声发生器9产生超声振动并通过超声变幅杆8和连接杆7传递至微动摩擦头6以使微动摩擦头6发生振动从而实现微动摩擦头6与被测试试件5间发生微动摩擦;通过测力系统检测微动摩擦头6与被测试试件5间力的动态变化。
一实施例中:所述微动摩擦头6为滑动摩擦头或滚动摩擦头;所述滑动摩擦头之顶端形状为带圆头的圆锥,圆头半径R=0.008~0.21mm,圆锥角θ=55°~125°;所述滚动摩擦头之顶端设有直径为0.3~9.525mm的滚珠。
一实施例中:所述被测试试件5经过研磨抛光处理以使其表面粗糙度不大于Ra0.1μm,该被测试试件5用超声清洗机清洗后固接在力传感器4。
一实施例中:所述连接杆7为带锥度螺钉;所述连接杆7螺接在超声变幅杆8上。
一实施例中:所述X轴滑台3由步进电机驱动,其步进精度优于11μm;所述Y轴滑台2由步进电机驱动,其步进精度优于11μm;所述Z轴滑台11由步进电机驱动,其步进精度优于0.35μm。
一实施例中:所述力传感器4的性能参数为:测力范围为-105N~105N,测力精度高于0.0025N,采样频率高于8KHz;
一实施例中:所述超声发生器9的性能参数为:振动频率f=18~42KHz,振幅范围为0~22μm。
一实施例中:所述微动摩擦头6信号连接力传感器4。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案之二是:
一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机的使用方法,包括:
1)通过X轴滑台3和Y轴滑台2调整被测试试件5在X轴方向与Y轴方向上的位置使其正对微动摩擦头6;
2)通过Z轴滑台11调整微动摩擦头6在Z轴方向上的位置使其对被测试试件5施加微动摩擦载荷;
3)启动超声振动系统以使微动摩擦头6发生振动,从而实现微动摩擦头6与被测试试件5发生微动摩擦;
4)通过测力系统检测微动摩擦头6与被测试试件5间微动摩擦过程中摩擦力的动态变化,得到微动摩擦测试数据。
一实施例中:所述步骤2)中,微动摩擦头6对被测试试件5施加微动摩擦载荷的方法包括:
21)通过Z轴滑台11调整微动摩擦头6在Z轴方向上的位置使其靠近被测试试件5,至肉眼无法分辨两者相对位置后用塞尺确定两者相对位置,继续通过Z轴滑台11调整两者相对位置至塞尺最小尺寸;
22)启动测力系统,每次以Z轴滑台11的最小位移移动Z轴滑台11并通过测力系统检测微动摩擦头6与被测试试件5间接触力的实时变化;当接触力到达临界值Ncrit时,停止移动Z轴滑台11,此时即认为微动摩擦头6对被测试试件5施加微动摩擦载荷。
本技术方案与背景技术相比,它具有如下优点:
本发明提供的一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,利用超声振动发生器提供微小可控的振幅,振动方向与接触平面垂直,从而实现高频微米级振幅的微动摩擦测试,获得摩擦系数、磨损状态等物理量,同时设备结构简单,使用成本低。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。
图1所示为本发明的一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机示意图。
附图标记:1.光学平板;2.Y轴滑台;3.X轴滑台;4.力传感器;5.被测试试件;6.微动摩擦头;7.连接杆;8.超声变幅杆;9.超声发生器;10.变幅杆支架;11.Z轴滑台。
具体实施方式
下面通过实施例具体说明本发明的内容:
请查阅图1,一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,包括被测试试件5及与被测试试件5发生微动摩擦的微动摩擦头6;还包括基座系统、超声振动系统和测力系统;
所述基座系统包括光学平板1,X轴滑台3,Y轴滑台2和Z轴滑台11;Y轴滑台2滑动装接在光学平板1上且可沿Y轴方向滑动;X轴滑台3滑动装接在Y轴滑台2上且可沿X轴方向滑动;Z轴滑台11滑动装接在光学平板1上且可沿Z轴方向滑动;所述X轴方向、Y轴方向与Z轴方向两两垂直;
所述超声振动系统包括超声发生器9,超声变幅杆8和连接杆7;超声变幅杆8通过变幅杆支架10装接在Z轴滑台11,超声发生器9传动连接超声变幅杆8;连接杆7固接在超声变幅杆8上;所述微动摩擦头6固接在连接杆7上;
所述测力系统包括力传感器4,电荷放大器和数据采集卡;力传感器4固接在X轴滑台3上,该电荷放大器信号连接力传感器4,该数据采集卡信号连接电荷放大器;所述被测试试件5固接在力传感器4;
通过X轴滑台3、Y轴滑台2和Z轴滑台11使被测试试件5和微动摩擦头6可在X轴方向、Y轴方向与Z轴方向上移动从而调节被测试试件5与微动摩擦头6的相对位置;通过超声发生器9产生超声振动并通过超声变幅杆8和连接杆7传递至微动摩擦头6以使微动摩擦头6发生振动从而实现微动摩擦头6与被测试试件5间发生微动摩擦;通过测力系统检测微动摩擦头6与被测试试件5间力的动态变化。
本实施例之中,所述微动摩擦头6为滑动摩擦头或滚动摩擦头;所述滑动摩擦头之顶端形状为带圆头的圆锥,圆头半径R=0.01~0.2mm,圆锥角θ=60°~120°;所述滚动摩擦头之顶端设有直径为1~4mm的滚珠;所述微动摩擦头6的材质根据试验需要选择。
本实施例之中,所述被测试试件5经过研磨抛光处理以使其表面粗糙度达到Ra0.1μm,该被测试试件5用超声清洗机清洗后固接在力传感器4;所述被测试试件5的材质根据试验需要选择。
本实施例之中,所述连接杆7为带锥度螺钉;其螺纹的锥度部分在螺钉的尾部,超声变幅杆8端面上设有螺纹孔,带锥度螺钉的锥度部分与该螺纹孔内锥面适配以使连接杆7螺接在超声变幅杆8上。
本实施例之中,所述X轴滑台3由步进电机驱动,其步进精度优于10μm;所述Y轴滑台2由步进电机驱动,其步进精度优于10μm;所述Z轴滑台11由步进电机驱动,其步进精度优于0.3μm。
本实施例之中,所述力传感器4的性能参数为:测力范围为-100N~100N,测力精度高于0.002N,采样频率高于10KHz;所述超声发生器9的性能参数为:振动频率f=20~40KHz,振幅范围为0~20μm。
本实施例之中,所述微动摩擦头6信号连接力传感器4。
本发明的实际使用方式如下:
1)通过X轴滑台3和Y轴滑台2调整被测试试件5在X轴方向与Y轴方向上的位置使其正对微动摩擦头6;
2)通过Z轴滑台11调整微动摩擦头6在Z轴方向上的位置使其对被测试试件5施加微动摩擦载荷;所述微动摩擦头6对被测试试件5施加微动摩擦载荷的方法如21)-22)所示:
21)通过Z轴滑台11调整微动摩擦头6在Z轴方向上的位置使其靠近被测试试件5,至肉眼无法分辨两者相对位置后用塞尺确定两者相对位置,继续通过Z轴滑台11调整两者相对位置至塞尺最小尺寸;
22)启动测力系统,每次以Z轴滑台11的最小位移移动Z轴滑台11并通过测力系统检测微动摩擦头6与被测试试件5间接触力的实时变化;当接触力到达临界值Ncrit时,停止移动Z轴滑台11,此时即认为微动摩擦头6对被测试试件5施加微动摩擦载荷;所述临界值Ncrit=0.005~0.02N,根据被测试试件5的材料强度确定,材料硬度越大,Ncrit越高,本实施例之中,Ncrit=0.01N;
3)启动超声振动系统以使微动摩擦头6发生振动,从而实现微动摩擦头6与被测试试件5发生微动摩擦;
4)通过测力系统检测微动摩擦头6与被测试试件5间微动摩擦过程中摩擦力的动态变化,得到微动摩擦测试数据。
以上所述,仅为本发明较佳实施例而已,故不能依此限定本发明实施的范围,即依本发明专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰,皆应仍属本发明涵盖的范围内。

Claims (10)

1.一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,其特征在于:包括被测试试件(5)及与被测试试件(5)发生微动摩擦的微动摩擦头(6);还包括基座系统、超声振动系统和测力系统;
所述基座系统包括光学平板(1),X轴滑台(3),Y轴滑台(2)和Z轴滑台(11);Y轴滑台(2)滑动装接在光学平板(1)上且可沿Y轴方向滑动;X轴滑台(3)滑动装接在Y轴滑台(2)上且可沿X轴方向滑动;Z轴滑台(11)滑动装接在光学平板(1)上且可沿Z轴方向滑动;所述X轴方向、Y轴方向与Z轴方向两两垂直;
所述超声振动系统包括超声发生器(9),超声变幅杆(8)和连接杆(7);超声变幅杆(8)装接在Z轴滑台(11),超声发生器(9)传动连接超声变幅杆(8);连接杆(7)固接在超声变幅杆(8)上;所述微动摩擦头(6)固接在连接杆(7)上;
所述测力系统包括力传感器(4),电荷放大器和数据采集卡;力传感器(4)固接在X轴滑台(3)上,该电荷放大器信号连接力传感器(4),该数据采集卡信号连接电荷放大器;所述被测试试件(5)固接在力传感器(4);
通过X轴滑台(3)、Y轴滑台(2)和Z轴滑台(11)使被测试试件(5)和微动摩擦头(6)可在X轴方向、Y轴方向与Z轴方向上移动从而调节被测试试件(5)与微动摩擦头(6)的相对位置;通过超声发生器(9)产生超声振动并通过超声变幅杆(8)和连接杆(7)传递至微动摩擦头(6)以使微动摩擦头(6)发生振动从而实现微动摩擦头(6)与被测试试件(5)间发生微动摩擦;通过测力系统检测微动摩擦头(6)与被测试试件(5)间力的动态变化。
2.根据权利要求1所述的一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,其特征在于:所述微动摩擦头(6)为滑动摩擦头或滚动摩擦头;所述滑动摩擦头 之顶端形状为带圆头的圆锥,圆头半径R=0.008~0.21mm,圆锥角θ=55°~125°;所述滚动摩擦头之顶端设有直径为0.3~9.525mm的滚珠。
3.根据权利要求1所述的一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,其特征在于:所述被测试试件(5)经过研磨抛光处理以使其表面粗糙度不大于Ra0.1μm,该被测试试件(5)用超声清洗机清洗后固接在力传感器(4)。
4.根据权利要求1所述的一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,其特征在于:所述连接杆(7)为带锥度螺钉;所述连接杆(7)螺接在超声变幅杆(8)上。
5.根据权利要求1所述的一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,其特征在于:所述X轴滑台(3)由步进电机驱动,其步进精度优于11μm;所述Y轴滑台(2)由步进电机驱动,其步进精度优于11μm;所述Z轴滑台(11)由步进电机驱动,其步进精度优于0.35μm。
6.根据权利要求1所述的一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,其特征在于:所述力传感器(4)的性能参数为:测力范围为-105N~105N,测力精度高于0.0025N,采样频率高于8KHz。
7.根据权利要求1所述的一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,其特征在于:所述超声发生器(9)的性能参数为:振动频率f=18~42KHz,振幅范围为0~22μm。
8.根据权利要求1所述的一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机,其特征在于:所述微动摩擦头(6)信号连接力传感器(4)。
9.根据权利要求1所述的一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机的使用方法,其特征在于:包括:
1)通过X轴滑台(3)和Y轴滑台(2)调整被测试试件(5)在X轴方向 与Y轴方向上的位置使其正对微动摩擦头(6);
2)通过Z轴滑台(11)调整微动摩擦头(6)在Z轴方向上的位置使其对被测试试件(5)施加微动摩擦载荷;
3)启动超声振动系统以使微动摩擦头(6)发生振动,从而实现微动摩擦头(6)与被测试试件(5)发生微动摩擦;
4)通过测力系统检测微动摩擦头(6)与被测试试件(5)间微动摩擦过程中摩擦力的动态变化,得到微动摩擦测试数据。
10.根据权利要求9所述的一种超声振动实现微位移的微动摩擦试验机的使用方法,其特征在于:所述步骤2)中,微动摩擦头(6)对被测试试件(5)施加微动摩擦载荷的方法包括:
21)通过Z轴滑台(11)调整微动摩擦头(6)在Z轴方向上的位置使其靠近被测试试件(5),至肉眼无法分辨两者相对位置后用塞尺确定两者相对位置,继续通过Z轴滑台(11)调整两者相对位置至塞尺最小尺寸;
22)启动测力系统,每次以Z轴滑台(11)的最小位移移动Z轴滑台(11)并通过测力系统检测微动摩擦头(6)与被测试试件(5)间接触力的实时变化;当接触力到达临界值Ncrit时,停止移动Z轴滑台(11),此时即认为微动摩擦头(6)对被测试试件(5)施加微动摩擦载荷。
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