CN104457974A - 光线传感器的测试装置及测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明揭示了一种测试光线传感器的装置与方法，用以测试电子装置的光线传感器的性能，该测试光线传感器的装置包括一收容单元、设于收容单元内部的一光源、与光源连接的光源亮度控制单元及用于采集被测光线传感器输出值的数据采集模块，本发明通过光源亮度控制单元线性改变光源的亮度，并采集被测光线传感器输出值，根据该被测光线传感器输出值是否呈线性而判断该光线传感器的性能是否稳定或有异常。

Description

光线传感器的测试装置及测试方法

【技术领域】

本发明属于电子测试领域，特别是指用于测试光线传感器的测试装置。

【背景技术】

现有手机或平板终端设备基本会带有光线传感器，此已成为智能手机或平板的标配功能。

然而，由于一些性能方面的原因，一些光线传感器在一定的环境光下的输出并不稳定，导致开启自动调节背光亮度模式下屏背光有闪跳变的现象。正常打开自动调节背光亮度模式的手机工作原理是当光线传感器检测到外部环境亮度变亮时，软件控制背光芯片调亮背光亮度，已达到让消费者能清晰看清显示内容；而当环境亮度没变化时，光线传感器输出应该没有变化，继而背光亮度也不会调节。在以上问题中，环境亮度没变化时，而光线传感器输出有上下变化，导致背光亮度也在随之暗亮不断调节，让消费者感觉有闪屏现象，还以为是显示屏出现问题，从而导致退货或换货等，造成不必要的浪费。因此实有必要提供一种测试光线传感器的装置。

【发明内容】

本发明的目的在于提供一种光线传感器的测试装置及方法，用以对光线传感器的性能进行测试，避免因光线传感器的性能问题导致的闪屏等问题。

为实现上述目的，实施本发明的测试光线传感器的装置，用以测试电子装置的光线传感器的性能，该测试光线传感器的装置包括一收容单元、设于收容单元内部的一光源、与光源连接的光源亮度控制单元及用于采集被测光线传感器输出值的数据采集模块。

依据上述主要特征，该光源亮度控制单元包括串联的第一电阻、滑动变阻器、第二电阻及第三电阻、与第三电阻一端连接的可控硅、第一电容及第二电容，该可控硅的输出端与光源电源输入端连接，第一电容一端与滑动变阻器的输出端连接，而第二电容的一端与第二电容的输入端连接，并且第一电容与第二电容的另一端与光源电源输入端连接。

依据上述主要特征，该光源亮度控制单元包括数字可变电阻器，通过调节该数字可变电阻器的阻值调节光源的亮度。

依据上述主要特征，该数据采集模块为该电子装置中的电子存储卡。

为实现上述目的，本发明提供一种利用上述的测试光线传感器的装置测试光线传感器的方法，用以测试电子装置的光线传感器的性能，该方法包括如下步骤：

通过光源亮度控制单元线性改变光源的亮度；

采集被测光线传感器输出值；

根据该被测光线传感器输出值是否呈线性而判断该光线传感器的性能是否稳定或有异常。

与现有技术相比较，本发明利用光线传感器的特性，线性的改变光源的亮度，判断光线传感器输出的值是否呈线性，如此可以判断该光线传感器的性能是否稳定或有异常。

【附图说明】

图1为实施本发明的自动测试距离光线传感器的测试装置的组成框架图。

图2为图1中自动无极控制单元中的调光电路的电路示意图。

【具体实施方式】

请参阅图1所示，为实施本发明的测试光线传感器的装置，用以测试电子装置的光线传感器的性能，该测试光线传感器的装置包括一收容单元、设于收容单元内部的一光源、与光源连接的光源亮度控制单元及用于采集被测光线传感器输出值的数据采集模块。

在具体实施时，上述的收容单元为一盒体，材质可用铜、铝或者铁，其正面有盖子可以打开，关闭时密闭不透光。光源可为一照明灯(如LED灯)，设于该收容单元的顶部，并且该光源的供电线路从该收容单元引出并与光源亮度控制单元连接，该光源亮度控制单元提供该光源电源并对光源的输出强度进行控制。而该收容单元的底部用于放置设有光线传感器的手机或平板等电子装置，并且该电子装置与一数据采集模块连接，通过该数据采集模块读取该光线传感器的输出值以便对该光线传感器的性能进行分析。

本发明中最重要的模块为对光源的照明强度进行调整的光源亮度控制单元，以下对其结构及工作原理进行说明。

请参阅图2所示，为图1中所示的光源亮度控制单元的电路示意图。

该光源亮度控制单元包括串联的第一电阻R1、滑动变阻器W、第二电阻R2及第三电阻R3、与第三电阻R3一端连接的可控硅T1、第一电容C1及第二电容C2，该可控硅T1的输出端与光源电源输入端连接，第一电容C1一端与滑动变阻器W的输出端连接，而第二电容C2的一端与第二电容C2的输入端连接，并且第一电容C1与第二电容C2的另一端与光源电源输入端连接。该光源亮度控制单元采用220V的交流电供电，该220V的交流电源与第一电阻R1的一端及可控硅T1的一输入端连接。

由于采用220V的交流电源供电，可控硅T1会在每个电压交变(正悬波的0电位)时自动关断。由于第一电阻R1、滑动变阻器W、第一电容C1、第二电阻R2、第二电容C2、第三电阻R3的移相延时作用，使触发电流来得比较迟，这是因为电压通过电阻给电容充电，电容两端的电压相位会滞后产生延时，当滑动变阻器W的阻值调至最小时，第一电阻R1和第二电容C1组成第一级延时，第二电阻R2和第二电容C2组成第二级延时，但是由于第一电阻R1、第二电阻R2的阻值很小，当A端(第二电阻R2与第三电阻R3中间端)的电压上升时，可控硅T1的控制极仍能很快产生触发电流导通，让负载有电流通过；但是，当滑动变阻器W的阻值调节到最大时，第一电容C1、第二电容C2上的电压上升很慢，可控硅T1甚至在正半周结束了还没有导通，这样负载就没有电流通过。通过调节滑动变阻器W的阻值，可以调节可控硅在每个交流电半周期的导通时间的长短，从而达到调节光源消耗功率来起到调光的作用。

在具体实施时，可利用数字可变电阻器AD5272代替滑动变阻器W，利用软件方式调节变化时间及数字可变电阻器的阻值大小。同时，在具体实施时可将多个数字可变电阻器AD5272级联以扩大阻值调节范围。如可使用三个数字可变电阻器AD5272，以达到阻值可调节范围为三倍的单个的数字可变电阻器AD5272的阻值可调节范围。至于数字可变电阻器AD5272的具体的连接方式，现有技术中多有描述，此处不再详细说明。

对于改变数字可变电阻器AD5272的阻值，可利用如下的程序实现。

以上其中R_write(RLoop,i)，函数用于将序号为RLoop的单个AD5272的输出电阻值写入i对应的阻值，然后msleep一段时间100ms，此时间可以任意修改设置；然后再写入下一个电阻的阻值，当每个电阻的阻值写入到1023后，则会进入下一个循环，从1022递减开始写起，一直写到0；则sleep10s，此时间可任意修改设置，然后从头开始写起，从而实现调节光源消耗功率来起到调光的作用。

在具体实施时，该数据采集模块可为电子装置中的的电子存储卡(如T型电子卡)及其相关电路，通过设置在该电子装置的控制软件设置在工程模式下增加将光线传感器的测试数据输出到电子装置的T型电子卡。具体的测试数据的范例如下：

[32.816361]:0

[33.016419]:2

[33.216511]:4

[33.416752]:6

[33.616750]:8

[33.816782]:10

[34.016735]:12

[34.216752]:14

[34.416765]:16

[34.616348]:18

[34.816356]:20

[35.016330]:22

[35.216735]:24

[35.416761]:26

[35.616750]:28

其中上述的第一列(即括号中的值)为系统时间，第二列为光线传感器输出的值，其中第一行中的“0”表示光线传感器接收到的光亮度为0(即无光亮)，最后一行的“28”表示光线传感器接收到的光亮度值为28。

通过利用上述的光线传感器的测试装置，利用光线传感器的特性，线性的改变外部环境亮度从0到一个很大的值，看光线传感器输出的值是否呈线性，如以上数据是从0到2到4呈加2递增排列，这些数据可以在横坐标为时间、纵坐标为数值的坐标中显示为一直线。当哪个点没有落在此直线上就说明此时的读数为异常，说明光线传感器工作不稳定，有异常，从而可以筛选出有问题的电子装置。当然由于所用的光线传感器因不同生产厂家而有不同特性，所以可以通过调整该光源亮度控制单元中光源亮度的变化时间，以调节变化周期快慢。实施本发明的光线传感器的测试装置可解决人为测试光线传感器的误测率，能够客观评定光线传感器的状态，可应用在研发测试及工厂生产测试中。

本发明提供的利用上述的测试光线传感器的装置测试光线传感器的方法包括如下步骤：

通过光源亮度控制单元线性改变光源的亮度；

采集被测光线传感器输出值；

根据该被测光线传感器输出值是否呈线性而判断该光线传感器的性能是否稳定或有异常。

至于具体的实施细节，可参上述，此处不再详细说明。

与现有技术相比较，本发明利用光线传感器的特性，线性的改变光源的亮度，判断光线传感器输出的值是否呈线性，如此可以判断该光线传感器的性能是否稳定或有异常。

可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (5)

1.一种测试光线传感器的装置，用以测试电子装置的光线传感器的性能，其特征在于：该测试光线传感器的装置包括一收容单元、设于收容单元内部的一光源、与光源连接的光源亮度控制单元及用于采集被测光线传感器输出值的数据采集模块。

2.如权利要求1所述的测试光线传感器的装置，其特征在于：该光源亮度控制单元包括串联的第一电阻、滑动变阻器、第二电阻及第三电阻、与第三电阻一端连接的可控硅、第一电容及第二电容，该可控硅的输出端与光源电源输入端连接，第一电容一端与滑动变阻器的输出端连接，而第二电容的一端与第二电容的输入端连接，并且第一电容与第二电容的另一端与光源电源输入端连接。

3.如权利要求1所述的测试光线传感器的装置，其特征在于：该光源亮度控制单元包括数字可变电阻器，通过调节该数字可变电阻器的阻值调节光源的亮度。

4.如权利要求1所述的测试光线传感器的装置，其特征在于：该数据采集模块为该电子装置中的电子存储卡。

5.一种利用权利要求1所述的测试光线传感器的装置测试光线传感器的方法，用以测试电子装置的光线传感器的性能，其特征在于该方法包括如下步骤：

通过光源亮度控制单元线性改变光源的亮度；

采集被测光线传感器输出值；

根据该被测光线传感器输出值是否呈线性而判断该光线传感器的性能是否稳定或有异常。