CN104360130A - 一种磁隔离放大器输入电流的测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种磁隔离放大器运放输入电流的测试方法，包括以下步骤：选取与被测磁隔离放大器和集成电路测试仪相适配的电路转接板；利用选取的电路转接板将被测磁隔离放大器的运放端口与集成电路测试仪的运放端口对应连接；利用集成电路测试仪测试得到被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流和反相输入电流；利用公式计算得到被测磁隔离放大器的输入偏置电流和输入差分电流。本发明利用电路转接板将被测磁隔离放大器与集成电路测试仪连接起来，从而能够利用集成电路测试仪的运放测试程序测试出被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流和反向输入电流，再通过公式计算得到被测磁隔离放大器的输入偏置电流和输入差分电流，测试结果更加精确。

Description

一种磁隔离放大器输入电流的测试方法

技术领域

本发明涉及磁隔离放大器测试技术领域，具体是一种磁隔离放大器输入电流的测试方法。

背景技术

磁隔离放大器主要用于伺服驱动、传感检测、高共模电路系统中，将信号放大的作用，其输入、输出部分电气完全隔离，可提高电路系统对电源的抗干扰能力及系统的安全性。磁隔离放大器的输入电流包括输入偏置电流和输入差分电流，表征磁隔离放大器输入运放的基本特性，是选用磁隔离放大器输入运放的依据。

磁隔离放大器与普通放大器相比，体积尺寸较大，引脚功能不同，供电电源和供电方式也不同，磁隔离放大器输入运放是利用内置电源供电，无法像普通放大器那样直接采用集成电路测试仪对输入电流进行测试。目前，一般采用皮安表、纳伏表测试磁隔离放大器的输入电流，容易受多种因素干扰，测试结果重复性差，随机性较大。

发明内容

本发明的目的在于提供一种磁隔离放大器输入电流的测试方法，该方法采用集成电路测试仪对磁隔离放大器的输入电流进行测试，测试结果更加精确。

本发明的技术方案为：

一种磁隔离放大器输入电流的测试方法，包括以下顺序的步骤：

(1)选取与被测磁隔离放大器和集成电路测试仪相适配的电路转接板；

(2)利用选取的电路转接板将被测磁隔离放大器的运放端口与集成电路测试仪的运放端口对应连接；

(3)利用集成电路测试仪测试得到被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流和反相输入电流；

(4)利用以下公式计算得到被测磁隔离放大器的输入偏置电流和输入差分电流：

$I_b=\frac{1}{2}\×({\mathrm{Ib}}_{+}+{\mathrm{Ib}}_{-})$

I_D＝|(Ib₊-Ib_-)|

其中，I_b表示被测磁隔离放大器的输入偏置电流，I_D表示被测磁隔离放大器的输入差分电流，Ib₊表示被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流，Ib_-表示被测磁隔离放大器输入运放的反相输入电流。

所述的磁隔离放大器输入电流的测试方法，所述集成电路测试仪选用型号为M3000的集成电路测试仪。

由上述技术方案可知，本发明利用电路转接板将被测磁隔离放大器与集成电路测试仪连接起来，从而能够利用集成电路测试仪的运放测试程序测试出被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流和反向输入电流，再通过公式计算得到被测磁隔离放大器的输入偏置电流和输入差分电流，测试结果更加精确。

附图说明

图1是本发明的方法流程图；

图2是本发明的接线示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例进一步说明本发明。

如图1所示，一种磁隔离放大器输入电流的测试方法，包括以下顺序的步骤：

S1、选取与被测磁隔离放大器1和集成电路测试仪2相适配的电路转接板3，本实施例中，集成电路测试仪2采用M3000集成电路测试仪。

S2、利用选取的电路转接板3将被测磁隔离放大器1的运放端口与集成电路测试仪2的运放端口对应连接：

如图2所示，X1～X5为电路转接板上的连接腿，分别对应于被测磁隔离放大器1和集成电路测试仪2的五个运放端口，说明如下：

X1：同相输入端，被测磁隔离放大器1的同相输入端与集成电路测试仪2测试座的同相输入端对应；

X2：反相输入端，被测磁隔离放大器1的反相输入端与集成电路测试仪2测试座的反相端输入端对应；

X3：输出端，被测磁隔离放大器1的输出端与集成电路测试仪2测试座的输出端对应；

X4：电源电压正端，被测磁隔离放大器1的电源电压正端与集成电路测试仪2测试座的电压正端对应；

X5：电源电压负端，被测磁隔离放大器1的电源地端与集成电路测试仪2测试座的电压地端对应。

S3、利用集成电路测试仪2测试得到被测磁隔离放大器1输入运放的同相输入电流和反相输入电流：

调用集成电路测试仪2的相应专用运放测试程序，按运放测试程序操作，测试完成，得到被测磁隔离放大器1输入运放的同相输入电流Ib₊和反相输入电流Ib_-。

S4、利用公式(1)计算得到被测磁隔离放大器1的输入偏置电流I_b，利用公式(2)计算得到被测磁隔离放大器1的输入差分电流I_D：

$I_b=\frac{1}{2}\×({\mathrm{Ib}}_{+}+{\mathrm{Ib}}_{-})---\left(1\right)$

I_D＝|(Ib₊-Ib_-)|   (2)

以上所述实施方式仅仅是对本发明的优选实施方式进行描述，并非对本发明的范围进行限定，在不脱离本发明设计精神的前提下，本领域普通技术人员对本发明的技术方案作出的各种变形和改进，均应落入本发明的权利要求书确定的保护范围内。

Claims (2)

1.一种磁隔离放大器输入电流的测试方法，其特征在于，包括以下顺序的步骤：

(1)选取与被测磁隔离放大器和集成电路测试仪相适配的电路转接板；

(2)利用选取的电路转接板将被测磁隔离放大器的运放端口与集成电路测试仪的运放端口对应连接；

(3)利用集成电路测试仪测试得到被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流和反相输入电流；

(4)利用以下公式计算得到被测磁隔离放大器的输入偏置电流和输入差分电流：

$I_b=\frac{1}{2}\×({\mathrm{Ib}}_{+}+{\mathrm{Ib}}_{-})$

I_D＝|(Ib₊-Ib_-)|

其中，I_b表示被测磁隔离放大器的输入偏置电流，I_D表示被测磁隔离放大器的输入差分电流，Ib₊表示被测磁隔离放大器输入运放的同相输入电流，Ib_-表示被测磁隔离放大器输入运放的反相输入电流。

2.根据权利要求1所述的磁隔离放大器输入电流的测试方法，其特征在于，所述集成电路测试仪选用型号为M3000的集成电路测试仪。