CN104330242A - Edfa瞬态特性测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明旨在提供一种能够对EDFA瞬态特性EDFA瞬态特性进行测试的，以提高EDFA网络传输稳定性的EDFA瞬态特性测试装置，它包括用于产生瞬态特性测试信号光源的信号光源发生单元、接收所述信号光源的待测EDFA、以及用于对待测EDFA进行瞬态特性测试的检测单元。
Description
技术领域
本发明涉及一种EDFA测试装置，具体涉及一种能够对掺铒光纤放大器（EDFA）的瞬态特性进行测试的EDFA瞬态特性测试装置。
背景技术
掺铒光纤放大器（EDFA）的出现加速了光通信得发展，EDFA其自身具有以下优点：对数据格式和速率透明、增益大、噪声小，可直接对光信号进行放大，同时省去了电再生中继器、节省成本、增益带宽大、扩大了传输容量。EDFA作为DWDM系统及未来高速系统、全光网络不可缺少的重要器件，必然需要适应光网络的新需求。例如在DWDM系统中，当输入EDFA的光信号强度放生较大变化，比如发生16dB的掉波或者上波时，并且瞬态持续时间在微秒级时，饵纤中的能量会瞬间转移到剩余的信号波长中，使该剩余信号波长产生过冲或者欠冲。过冲和欠冲在多级EDFA级联时会严重影响网络的稳定性，所以对EDFA的瞬态特性测试就变得非常重要。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的不足，适应现实需要，提供一种能够对EDFA瞬态特性进行测试的，以提高EDFA网络传输稳定性的EDFA瞬态特性测试装置。
为了实现本发明的目的，本发明所采用的技术方案为：
设计一种EDFA瞬态特性测试装置，它包括用于产生瞬态特性测试信号光源的信号光源发生单元、接收所述信号光源的待测EDFA、以及用于对待测EDFA进行瞬态特性测试的检测单元；所述检测单元包括：
第一波长选择光开关，用于接收待测EDFA的输出光信号，并过滤出待分析波长的光信号；
光电转换器，与第一波长选择光开关对应连接，将过滤出的待分析波长的光信号转换为电信号；
对数转换电路或跨导转换电路，与光电转换器对应连接；
数字示波器，接收对数转换电路或跨导转换电路输出的模拟电信号。
所述信号光源发生单元包括：
ASE光源，用于产生宽谱ASE光；
第二波长选择光开关，接收ASE光并产生两路多波长信号光源；
信号发生器，产生测试信号；
声光调制器，与信号发生器对应连接，并接收第二波长选择光开关所产生的两路多波长信号光源中的其中一路光信号，并同信号发生器产生的测试信号进行调制；
第一可调光衰减器，与声光调制器的输出端对应连接，接收声光调制器的输出信号，并产生一个单波信号；
第二可调光衰减器，接收第二波长选择光开关所产生的两路多波长信号光源中的另一路光信号，并产生一个多波信号；
光耦合器，将第一可调光衰减器和第二可调光衰减器输出的信号进行耦合，并将耦合后的信号用作瞬态特性测试的信号光源。
所述第一波长选择光开关为2X1波长选择光开关。
所述第二波长选择光开关为1X2波长选择光开关。
所述测试信号为经过方波信号调试的光信号。
本发明的有益效果在于：
1.本发明的EDFA瞬态特性测试装置可以准确的测试EDFA的瞬态特性，同时，并可以满足各种测试条件，能够测试出微秒级的瞬态变化，灵敏度高，准确可靠。
2. 本发明采用ASE光源和波长选择光开关产生多波光源，成本低廉、较易获得，且测试波长可任意选择。同时，采用波长选择光开关来滤出待检测波长，其滤波通道可灵活选择。
3.本发明的EDFA瞬态特性测试装置还具有结构简单、造作成本低、易于实现等优点。
附图说明
图1为本发明主要原理示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本发明进一步说明：
实施例1：一种EDFA瞬态特性测试装置，参见图1，它包括用于产生瞬态特性测试信号光源的信号光源发生单元、接收所述信号光源的待测EDFA、以及用于对待测EDFA进行瞬态特性测试的检测单元；
所述的信号光源发生单元包括：ASE光源，用于产生宽谱ASE光；
第二波长选择光开关（1X2波长选择光开关），接收ASE光并产生两路多波长信号光源，两路多波长信号光源的每个波长的线宽由第二波长选择光开关（1X2波长选择光开关）的每个衰减通道带宽决定，通过设置1X2波长选择光开关的各个通道的电压来调节各个通道的光衰减值，以此来选择两臂输出的多波长信号光源的光信号波长，并且能对两臂输出的多波长信号光源的斜率根据测试需求进行调节；对产生的两路多波长信号光源，其一路用于进行强度调制，作为上下波通道，另外一路用作待检测通道。
信号发生器，产生测试要求的瞬态上下路波形的测试信号，用作调制信道，该测试信号为经过方波信号调试的光信号；
声光调制器，与信号发生器对应连接，接收第二波长选择光开关所产生的两路多波长信号光源中的其中一路光信号，并同信号发生器产生的测试信号进行调制；
第一可调光衰减器，与声光调制器的输出端对应连接，接收声光调制器的输出信号，并产生一个单波信号，；
第二可调光衰减器，接收第二波长选择光开关所产生的两路多波长信号光源中的另一路光信号，并产生一个多波信号；
光耦合器，将第一可调光衰减器和第二可调光衰减器输出的信号进行耦合，并将耦合后的信号用作瞬态特性测试的信号光源。
所述的检测单元包括：
第一波长选择光开关（2X1波长选择光开关），将经过光耦合器耦合后的信号光源经过待测EDFA后，直接经过该第一波长选择光开关，通过调节2X1的波长选择光开关的各个通道的衰减值来过滤出待分析波长的光信号，具体方法为：将待分析波长通道的衰减值调节到最小，并将其他波长信道的衰减值调节到最大；
光电转换器，与第一波长选择光开关对应连接，将过滤出的待分析波长的光信号滤出的转换为电信号；
对数转换电路或跨导转换电路，与光电转换器对应连接，可以对输入EDFA的信号光源和其EDFA的输出光信号进行探测；
数字示波器，接收对数转换电路或者跨导转换电路输出的模拟电信号，用该数字示波器所显示的波形进行检测分析其EDFA瞬态特性。
虽然，本发明的实施例公布的是较佳的实施例，但并不局限于此，本领域的普通技术人员，极易根据上述实施例，领会本发明的精神，并做出不同的引申和变化，但只要不脱离本发明的精神，都在本发明的保护范围内。
Claims (5)
1.一种EDFA瞬态特性测试装置，其特征在于：它包括用于产生瞬态特性测试信号光源的信号光源发生单元、接收所述信号光源的待测EDFA、以及用于对待测EDFA进行瞬态特性测试的检测单元；所述检测单元包括：
第一波长选择光开关，用于接收待测EDFA的输出光信号，并过滤出待分析波长的光信号；
光电转换器，与第一波长选择光开关对应连接，将过滤出的待分析波长的光信号转换为电信号；
对数转换电路或跨导转换电路，与光电转换器对应连接；
数字示波器，接收对数转换电路或跨导转换电路输出的模拟电信号。
2.如权利要求1所述的EDFA瞬态特性测试装置，其特征在于：所述信号光源发生单元包括：
ASE光源，用于产生宽谱ASE光；
第二波长选择光开关，接收ASE光并产生两路多波长信号光源；
信号发生器，产生测试信号；
声光调制器，与信号发生器对应连接，并接收第二波长选择光开关所产生的两路多波长信号光源中的其中一路光信号，并同信号发生器产生的测试信号进行调制；
第一可调光衰减器，与声光调制器的输出端对应连接，接收声光调制器的输出信号，并产生一个单波信号；
第二可调光衰减器，接收第二波长选择光开关所产生的两路多波长信号光源中的另一路光信号，并产生一个多波信号；
光耦合器，将第一可调光衰减器和第二可调光衰减器输出的信号进行耦合，并将耦合后的信号用作瞬态特性测试的信号光源。
3.如权利要求2所述的EDFA瞬态特性测试装置，其特征在于：所述第一波长选择光开关为2X1波长选择光开关。
4.如权利要求3所述的EDFA瞬态特性测试装置，其特征在于：所述第二波长选择光开关为1X2波长选择光开关。
5.如权利要求4所述的EDFA瞬态特性测试装置，其特征在于：所述测试信号为经过方波信号调试的光信号。
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| CN201410647429.XA CN104330242A (zh) | 2014-11-14 | 2014-11-14 | Edfa瞬态特性测试装置 |
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