CN104318936A - 集中式电子存储介质同步检测方法 - Google Patents
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Abstract
集中式电子存储介质同步检测方法，涉及一种电子存储介质同步检测方法。解决现有国内外数据检测技术普遍存在功能单一、检测速度不高、操作结果无法确定的问题。它包括如下步骤，步骤一：将电子存储介质接入设备接口，识别电子存储介质的磁盘信息；步骤二：当前设备接口的电子存储介质处于等待执行状态，该状态在液晶显示屏上显示；步骤三：利用SMART对电子存储介质的磁盘进行关键属性的全面分析，步骤四：利用字符对电子存储介质进行覆写操作，步骤五：对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，用来检测电子存储介质磁盘读取速率，步骤六：拔出或断开电子存储介质，完成对电子存储介质的检测。本发明主要应用在电子存储介质的检测领域。
Description
技术领域
本发明涉及一种电子存储介质同步检测方法。
背景技术
在公司和政府的日常采购中，电子数据存储介质统一由公司进行采购，采购数量巨大，只通过厂家的报告和外观无法辨别其真假和性能好坏。
假冒伪劣电子数据存储介质成本仅为正品价格的百分之五，其容量、性能等指标严重低于正品；存储在假冒伪劣电子数据存储介质中的电子数据极其容易被破坏或者丢失，且成功数据被恢复的概率仅为百分之三，使用假冒伪劣的电子数据存储介质严重影响了公司内部的正常办公，存在着潜在的信息安全风险
现阶段常见的数据检测方式为通过一些软件进行分项检测，检测内容比较分散，无法形成全面的检测报告，并且因为使用软件的不同检测准确率存在较大误差。在面对市面上多种接口的电子存储介质时，没有能统一兼容的设备。
现有国内外数据检测技术普遍存在功能单一、检测速度不高、并发操作数少、操作结果无法确定等问题。鉴于这种实际需求，本发明设计出能够频繁地同时(并发)对大量不同电子存储介质设备进行安全快速检测。
发明内容
本发明是为了解决现有国内外数据检测技术普遍存在功能单一、检测速度不高、操作结果无法确定的问题。本发明提供了一种集中式电子存储介质同步检测方法。
集中式电子存储介质同步检测方法，它包括如下步骤，
步骤一：将电子存储介质接入设备接口，识别电子存储介质的磁盘信息；
步骤二：当前设备接口的电子存储介质处于等待执行状态，该状态在液晶显示屏上显示；
步骤三：利用SMART对电子存储介质的磁盘进行关键属性的全面分析，在液晶显示屏上显示出具体分析结果，所述的关键属性包括底层数据读取错误率、重定位扇区计数、电机起转重试、终端校验出错、寻道性能、通信超时、重定位事件计数、等候重定的扇区计数和无法校正的扇区数量；
步骤四：利用字符对电子存储介质进行覆写操作，在操作结束后，在液晶显示屏上显示写入速度；
步骤五：对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，用来检测电子存储介质磁盘读取速率，读取完成后，获得的数据在液晶显示屏上用柱状图的表达形式显示出来；
步骤六：拔出或断开电子存储介质，在液晶显示屏上显示与电子存储介质相应的设备接口位置处于空闲状态，完成对电子存储介质的检测。
本发明带来的有益效果是，本发明兼容目前市场上各种接口的电子存储介质接入，如IDE/SATA/SAS/SCSI/USB3.0/USB2.0。本发明能同时(并发)对大量不同介质设备(IDE/SATA/SAS/SCSI/USB3.0/USB2.0)进行检测，支持28路储存介质同步操作，支持的最大硬盘超过10T。本发明提供各种用户自定义的检测方式，满足用户多角度，多用途，个性化，自定义式的检测需求。本发明从方便用户使用的角度出发，实现人机交互设计。被检测磁盘设备环绕触摸屏幕分布，并且在软件的交互界面相应位置呼应。本发明采用Windows7操作系统，软件逻辑架构设计充分考虑客户的需求，实现人性化处理，体现出软件的实用性和易用性。实用性体现在支持大部分的介质格式。易用性体现在对数据存储设备自动识别，即插即检并能输出完整的检测结果。
附图说明
图1为具体实施方式一所述的电子存储介质同步检测的流程图。
具体实施方式
具体实施方式一：参见图1说明本实施方式，本实施方式所述的集中式电子存储介质同步检测方法，它包括如下步骤，
步骤一：将电子存储介质接入设备接口，识别电子存储介质的磁盘信息；
步骤二：当前设备接口的电子存储介质处于等待执行状态，该状态在液晶显示屏上显示；
步骤三：利用SMART对电子存储介质的磁盘进行关键属性的全面分析，在液晶显示屏上显示出具体分析结果，所述的关键属性包括底层数据读取错误率、重定位扇区计数、电机起转重试、终端校验出错、寻道性能、通信超时、重定位事件计数、等候重定的扇区计数和无法校正的扇区数量；
步骤四：利用字符对电子存储介质进行覆写操作，在操作结束后，在液晶显示屏上显示写入速度；
步骤五：对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，用来检测电子存储介质磁盘读取速率，读取完成后，获得的数据在液晶显示屏上用柱状图的表达形式显示出来；
步骤六：拔出或断开电子存储介质，在液晶显示屏上显示与电子存储介质相应的设备接口位置处于空闲状态，完成对电子存储介质的检测。
本实施方式中，所有速度单位精度统一为小数点后两位，所有时间单位统一为00:00:00。支持的最大硬盘超过10T，以满足未来一段时间硬盘容量的增加。
本发明方法所对应的装置可以进行权限划分：系统管理员(负责系统配置，信息消除等操作，不应对管理员操作日志进行管理和创建安全审计员)、安全审计员(只能进行管理员自身操作日志的查询和管理)；管理员口令长度可设置，且至少为8位，复杂度至少为字母、数字的两者组合；具有管理员身份鉴别尝试次数限制功能，尝试次数可设置，且至多为5次。
强大的适应性。自动兼容目前市场上绝大部分的存储设备接口，包括SATA接口、SAS接口、IDE接口、SCSI接口、USB接口。各端口所执行的操作在并发时速度不相互影响。各端口在功能执行期间，磁盘意外被拔出时软件应正确及时地做出相应的处理，使该端口能快速地被重新分配使用并且信息栏应给出相应的提示。避免出现因软件原因导致的操作系统异常，增强专用机软件的容错能力。对需要进行参数配置的地方，对用户的输入要求进行有效合理的控制，以使相应功能配置简单明了。当硬盘有坏扇区或者弱扇区时，软件进行相应的提示。
本发明方法所对应的装置，具有人机交互功能：环绕屏幕周围的分布设计，在软件的交互界面相应位置呼应，采用触摸屏的方式，使软件界面容易点击和操作；在检测操作的不同阶段，软件界面上都能够明确加以区别；检测过程信息及时反馈给用户，让用户了解当前状态、进度，界面应显示速度、已用时间、剩余时间、如有异常(如遇到坏扇区、磁盘被意外移除)信息栏有提示。
具体实施方式二：本实施方式与具体实施方式一所述的集中式电子存储介质同步检测方法的区别在于，所述的电子存储介质为硬盘、U盘或存储卡，
当电子存储介质为硬盘时，步骤五中对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，该读取性能测试采用数据测试包实现，数据测试包的大小按0.5KB到8192.0KB进行读取测试；
当电子存储介质为U盘时，步骤五中对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，该读取性能测试采用数据测试包实现，数据测试包的大小按1.0KB到8192.0KB进行读取测试；
当电子存储介质为存储卡时，步骤五中对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，该读取性能测试采用数据测试包实现，数据测试包的大小按2.0KB到8192.0KB进行读取测试。
具体实施方式三：本实施方式与具体实施方式一所述的集中式电子存储介质同步检测方法的区别在于，该方法还包括报告单管理步骤，报告单管理步骤的具体过程为，每次检测结束后都自动产生相应的报告，报告中的内容包括硬盘容量、转速、数据缓存、平均读取速度、平均写入速度和SMART检测数据。
Claims (3)
1.集中式电子存储介质同步检测方法，其特征在于，它包括如下步骤，
步骤一：将电子存储介质接入设备接口，识别电子存储介质的磁盘信息；
步骤二：当前设备接口的电子存储介质处于等待执行状态，该状态在液晶显示屏上显示；
步骤三：利用SMART对电子存储介质的磁盘进行关键属性的全面分析，在液晶显示屏上显示出具体分析结果，所述的关键属性包括底层数据读取错误率、重定位扇区计数、电机起转重试、终端校验出错、寻道性能、通信超时、重定位事件计数、等候重定的扇区计数和无法校正的扇区数量；
步骤四：利用字符对电子存储介质进行覆写操作，在操作结束后，在液晶显示屏上显示写入速度；
步骤五：对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，用来检测电子存储介质磁盘读取速率，读取完成后，获得的数据在液晶显示屏上用柱状图的表达形式显示出来；
步骤六：拔出或断开电子存储介质，在液晶显示屏上显示与电子存储介质相应的设备接口位置处于空闲状态，完成对电子存储介质的检测。
2.根据权利要求1所述的集中式电子存储介质同步检测方法，其特征在于，所述的电子存储介质为硬盘、U盘或存储卡，
当电子存储介质为硬盘时，步骤五中对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，该读取性能测试采用数据测试包实现，数据测试包的大小按0.5KB到8192.0KB进行读取测试；
当电子存储介质为U盘时，步骤五中对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，该读取性能测试采用数据测试包实现，数据测试包的大小按1.0KB到8192.0KB进行读取测试；
当电子存储介质为存储卡时，步骤五中对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，该读取性能测试采用数据测试包实现，数据测试包的大小按2.0KB到8192.0KB进行读取测试。
3.根据权利要求1所述的集中式电子存储介质同步检测方法，其特征在于，该方法还包括报告单管理步骤，报告单管理步骤的具体过程为，每次检测结束后都自动产生相应的报告，报告中的内容包括硬盘容量、转速、数据缓存、平均读取速度、平均写入速度和SMART检测数据。
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| CN105893231A (zh) * | 2016-05-06 | 2016-08-24 | 思创数码科技股份有限公司 | 一种基于smart的预测硬盘亚健康指标的方法及装置 |
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2014
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| CN105893231B (zh) * | 2016-05-06 | 2019-02-05 | 思创数码科技股份有限公司 | 一种基于smart的预测硬盘亚健康指标的方法及装置 |
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