CN104297660A - Cmos图像传感器产品的cp测试装置 - Google Patents

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冯建中
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Abstract

本发明公开了一种CMOS图像传感器产品的CP测试装置，包括探针卡，探针卡上设有自动对焦的镜头组件，自动对焦的镜头组件包括镜头，镜头连接有自动马达，自动马达通过FPC柔性电路板与所述探针卡连接。可以自动控制镜头的焦距，极大的提高了调试的效率、降低了测试的成本。

Description

CMOS图像传感器产品的CP测试装置
技术领域
本发明涉及一种WAFER测试装置，尤其涉及一种CMOS图像传感器产品的CP测试装置。
背景技术
如图1所示，CMOS图像传感器产品的WAFER测试(CP测试),需要在探针卡(PROBE CARD)上安装镜头(PUPIL LENS)，才能保证测试的准确性。
现有技术中的方式是固定焦距的镜头，调试效率低、测试成本高。
发明内容
本发明的目的是提供一种调试效率高、测试成本低的CMOS图像传感器产品的CP测试装置。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的：
本发明的CMOS图像传感器产品的CP测试装置，包括探针卡，所述探针卡上设有自动对焦的镜头组件，所述自动对焦的镜头组件包括镜头，所述镜头连接有自动马达，所述自动马达与所述探针卡连接。
由上述本发明提供的技术方案可以看出，本发明实施例提供的CMOS图像传感器产品的CP测试装置，由于探针卡上设有自动对焦的镜头组件，提高了调试的效率、降低了测试的成本。
附图说明
图1为现有技术中CMOS图像传感器产品的CP测试装置的探针卡的组装结构示意图；
图2为本发明实施例中自动对焦的镜头组件的结构示意图。
图中：1、镜头，2、自动马达，3、FPC柔性电路板，4、探针卡。
具体实施方式
下面将对本发明实施例作进一步地详细描述。
本发明的CMOS图像传感器产品的CP测试装置，其较佳的具体实施方式如图2所示：
包括探针卡，所述探针卡上设有自动对焦的镜头组件，所述自动对焦的镜头组件包括镜头，所述镜头连接有自动马达，所述自动马达与所述探针卡连接。
所述自动马达通过FPC柔性电路板与所述探针卡连接。
本发明的CMOS图像传感器产品的CP测试装置，将固定焦距的镜头换成自动对焦的镜头组件，通过FPC柔性电路板，将控制信号引到探针卡上，可以自动控制镜头的焦距，极大的提高了调试的效率、降低了测试的成本。
以上所述，仅为本发明较佳的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明披露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。

Claims (2)

1.一种CMOS图像传感器产品的CP测试装置，其特征在于，包括探针卡，所述探针卡上设有自动对焦的镜头组件，所述自动对焦的镜头组件包括镜头，所述镜头连接有自动马达，所述自动马达与所述探针卡连接。
2.根据权利要求1所述的CMOS图像传感器产品的CP测试装置，其特征在于，所述自动马达通过FPC柔性电路板与所述探针卡连接。
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PB01 Publication
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RJ01 Rejection of invention patent application after publication

Application publication date: 20150121

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