CN104254093A - 一种驻波反射点的检测方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种驻波反射点的检测方法，采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号；对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间；根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。本发明还同时公开了一种驻波反射点的检测装置。采用本发明技术方案，不用中断业务就能检测出驻波反射点所在位置，提高了驻波比故障诊断效率，降低了驻波比故障维护和检测成本。

Description

一种驻波反射点的检测方法及装置

技术领域

本发明涉及通信技术，尤其涉及一种驻波反射点的检测方法及装置。

背景技术

为了改善网络运营质量，网络优化已成为重要课题。根据移动网运行质量统计结果分析，造成移动通信质量指标下降的主要原因来自天馈系统，而在天馈系统中，最为重要的指标就是传输线的终端负载(如天线)与传输线的特性阻抗是否相匹配，通常用驻波比作为衡量指标。如果天馈系统的驻波比超过一定范围，会导致部分发射的功率反射回来，进而影响下行覆盖，甚至会损坏射频功放等，最终影响网络质量。

天馈系统的驻波比故障往往不易定位，即使发现了故障，也不能具体定位到具体是哪一段馈线出现了故障；需要工程人员携带驻波比测试仪上站处理，中断业务，并逐级排查驻波比故障所在位置，如此，不仅需耗费大量的人力和物力，增加了工程与维护成本，若长时间因排除驻波比故障而中断业务，会引起客户的投诉，降低客户的满意度。因此，在不中断业务的情况下对驻波比进行检测并找出驻波比故障点所在位置是当前亟待解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明的主要目的在于提供一种驻波反射点的检测方法及装置，能确定驻波反射点所在位置，提高驻波比故障诊断效率，降低驻波比故障维护和检测成本。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

本发明提供了一种驻波反射点的检测方法，所述方法包括：

采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号；

对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间；

根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。

上述方案中，所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间，包括：

对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号分别与所述基带信号进行相关，确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

上述方案中，所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间，包括：

对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号进行相关，确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

上述方案中，所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间，包括：

对所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关，确定所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间，将所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间减去发射通道时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

上述方案中，所述反射耦合点位于滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和滤波时延之和；

所述反射耦合点不在滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和两倍的滤波时延之和。

上述方案中，所述根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置，包括：

根据当前传输介质的相对传播常数λ_f确定反射耦合信号在当前传输介质中的传播的速度为λ_f×c，其中，c为光速；

所述驻波反射点的位置d_k＝v×t′_k＝λ_f×c×t′_k，其中，所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间为2t′_k。

上述方案中，所述方法还包括：

根据驻波反射点所在位置d_k、前向耦合功率与基带功率之比P₁、反射耦合功率与基带功率之比P₂，驻波反射点所在位置的函数C₃(d_k)为：其中，G为C′₂(k)的最大值，C′₂(k)＝C₂(k+Delt_f)，所述反射耦合信号与所述基带信号的相关函数 $C_2\left(k\right)=\underset{n=0}{\overset{N-1}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{REV}(n+k)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{BB}2\left(n\right)\right),$ k＝0，1，2……K-Delt_f-1，K为相关长度，Delt_f为C₂(k)为最大值时对应的k值，REV(n+k)为所述反射耦合信号的函数表达式，BB2(n)为所述基带信号的函数表达式。

本发明还提供了一种驻波反射点的检测装置，所述装置包括采集单元、数据处理单元、计算单元；其中，

所述采集单元，用于采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号；

所述数据处理单元，用于对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理；

所述计算单元，用于确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间；根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。

上述方案中，所述数据处理单元，还用于对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号分别与所述基带信号进行相关；

所述计算单元，还用于确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

上述方案中，所述数据处理单元还用于对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号进行相关；

所述计算单元，还用于确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

上述方案中，所述数据处理单元还用于对所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关；

所述计算单元，还用于确定所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间，将所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间减去发射通道时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

上述方案中，所述反射耦合点位于滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和滤波时延之和；

所述反射耦合点不在滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和两倍的滤波时延之和。

上述方案中，所述计算还用于：

根据当前传输介质的相对传播常数λ_f确定反射耦合信号在当前传输介质中的传播的速度为λ_f×c，其中，c为光速；

所述驻波反射点的位置d_k＝v×t′_k＝λ_f×c×t′_k，其中，所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间为2t′_k。

上述方案中，所述计算单元还用于：

根据驻波反射点所在位置d_k、前向耦合功率与基带功率之比P₁、反射耦合功率与基带功率之比P₂，确定驻波反射点所在位置的函数C₃(d_k)为：其中，G为C′₂(k)的最大值，C′₂(k)＝C₂(k+Delt_f)，所述反射耦合信号与所述基带信号的相关函数 $C_2\left(k\right)=\underset{n=0}{\overset{N-1}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{REV}(n+k)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{BB}2\left(n\right)\right),$ k＝0，1，2……K-Delt_f-1，K为相关长度，Delt_f为C₂(k)为最大值时对应的k值，REV(n+k)为所述反射耦合信号的函数表达式，BB2(n)为所述基带信号的函数表达式。

本发明所提供的驻波反射点的检测方法及装置，采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号；对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间；根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。如此，本发明能确定驻波反射点的位置，进而可根据所述驻波反射点的位置分析得到驻波比故障位置。本发明不用中断业务，也不需要工程人员携带驻波比测试仪来定位驻波比故障所在位置，便可检测出基站设备和天馈系统之间的驻波比故障所在位置，提高了驻波比故障的诊断效率，实现了设备的驻波比故障自诊断功能，大大降低了维护和检测成本。

附图说明

图1为本发明实施例驻波反射点的检测方法的实现流程示意图；

图2为本发明实施例驻波反射点检测装置的组成结构示意图；

图3为本发明实施例一种在基站中应用所述驻波反射点检测装置的示意图；

图4为本发明实施例另一种在基站中应用所述驻波反射点检测装置的示意图。

具体实施方式

下面结合附图及具体实施例对本发明再作进一步详细的说明。

图1为本发明实施例驻波反射点的检测方法的实现流程示意图，如图1所示，该方法包括以下步骤：

步骤101：采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号；

这里，所述基带信号可以为全球移动通信系统(GSM，Global System forMobile communications)信号、或为通用移动通信系统(UMTS，Universal MobileTelecommunications System)信号、或为码分多址(CDMA，Code Division MultipleAccess)信号、或为长期演进(LTE，Long Term Evolution)信号等。

步骤102：对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间；

具体地，所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间，包括：

对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号分别与所述基带信号进行相关，确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

具体地，所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间，还包括：

对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号进行相关，确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

具体地，所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间，还包括：

对所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关，确定所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间，将所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间减去发射通道时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

这里，所述反射耦合点位于滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和滤波时延之和；

所述反射耦合点不在滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和两倍的滤波时延之和。

步骤103：根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。

具体地，根据当前传输介质的相对传播常数λ_f确定反射耦合信号在当前传输介质中的传播的速度为λ_f×c，其中，c为光速；

所述驻波反射点的位置d_k＝v×t′_k＝λ_f×c×t′_k，其中，所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间为2t′_k。

为了更形象地表示驻波反射点所在位置，可对各驻波反射点进行关联，进一步地，所述方法还包括：

根据驻波反射点所在位置d_k、前向耦合功率与基带功率之比P₁、反射耦合功率与基带功率之比P₂，驻波反射点所在位置的函数C₃(d_k)为：其中，G为C′₂(k)的最大值，C′₂(k)＝C₂(k+Delt_f)，所述反射耦合信号与所述基带信号的相关函数 $C_2\left(k\right)=\underset{n=0}{\overset{N-1}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{REV}(n+k)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{BB}2\left(n\right)\right),$ k＝0，1，2……K-Delt_f-1，K为相关长度，Delt_f表示C₂(k)为最大值时对应的k值，REV(n+k)为所述反射耦合信号的函数表达式，BB2(n)为所述基带信号的函数表达式。

图2为本发明实施例驻波反射点的检测装置的组成结构示意图，如图2所示，所述装置包括采集单元21、数据处理单元22和计算单元23；其中，

所述采集单元21，用于采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号；

所述数据处理单元22，用于对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理；

所述计算单元23，用于确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间；根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。

具体地，所述数据处理单元22，还用于对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号分别与所述基带信号进行相关；

相应地，所述计算单元23，还用于确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

具体地，所述数据处理单元22，还用于对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号进行相关；

相应地，所述计算单元23，还用于确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

具体地，所述数据处理单元22，还用于对所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关；

相应地，所述计算单元23，还用于确定所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间，将所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间减去发射通道时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

这里，所述反射耦合点位于滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和滤波时延之和；

所述反射耦合点不在滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和两倍的滤波时延之和。

具体地，所述计算单元23，还用于：

根据当前传输介质的相对传播常数λ_f确定反射耦合信号在当前传输介质中的传播的速度为λ_f×c，其中，c为光速；

所述驻波反射点的位置d_k＝v×t′_k＝λ_f×c×t′_k，其中，所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间为2t′_k。

具体地，所述计算单元23还用于：

根据驻波反射点所在位置d_k、前向耦合功率与基带功率之比P₁、反射耦合功率与基带功率之比P₂，确定驻波反射点所在位置的函数C₃(d_k)为：其中，G为C′₂(k)的最大值，C′₂(k)＝C₂(k+Delt_f)，所述反射耦合信号与所述基带信号的相关函数 $C_2\left(k\right)=\underset{n=0}{\overset{N-1}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{REV}(n+k)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{BB}2\left(n\right)\right),$ k＝0，1，2……K-Delt_f-1，K为相关长度，Delt_f表示C₂(k)为最大值时对应的k值，REV(n+k)为所述反射耦合信号的函数表达式，BB2(n)为所述基带信号的函数表达式。

本领域技术人员应当理解，图2中所示的驻波反射点检测装置中的各处理单元的实现功能可参照前述驻波反射点检测方法的相关描述而理解。本领域技术人员应当理解，图2所示的驻波反射点检测装置中各处理单元的功能可通过运行于处理器上的程序而实现，也可通过具体地逻辑电路而实现。

通讯设备正常运行状态下，如果基站至天馈系统间的线缆出现断点或故障，会引起驻波比检测值超过工程预设门限值，导致驻波比告警。如果需要确定引起驻波比告警的具体位置，可使用本发明所述装置进行驻波反射点检测，对采集到的发射耦合信号、反射耦合信号与和基带信号进行相关处理，确定出驻波反射点相对于滤波器输出端口的往返时间，再根据信号在介质传播的速度来确定出驻波反射点的位置，进而确定出驻波比告警的具体位置。

为了更好地说明本发明所述驻波反射点检测装置，现结合其具体应用进一步阐明。

图3为本发明实施例一种在基站中应用所述驻波反射点检测装置的系统示意图，如图3所示，在该系统中，包括驻波反射点检测装置、射频模块、功率放大器、滤波器、反馈射频模块和天馈模块；

具体地，所述驻波反射点检测装置，用于确定驻波反射点的位置；还用于将接收到的基带信号发送至射频模块。

这里，所述驻波反射点检测装置的具体组成结构与图2中的驻波反射点检测装置的组成结构相同；

所述射频模块，用于将基带信号转换为射频信号；具体转换过程与现有技术相同，在此不再赘述。

所述功率放大器，用于对所述射频模块输出的射频信号进行放大；所述功率放大器对射频信号进行放大的过程与现有技术相同，在此不再赘述。

所述滤波器，用于对功率放大器输出的射频信号进行滤波。

所述反馈射频模块，用于将功率放大器(或滤波器)耦合出的发射耦合信号和反射耦合信号转化为对应的数字信号，并发送至所述驻波反射点检测装置；

所述天馈模块，用于输出射频信号。

具体地，对功率放大器(或滤波器)耦合出的发射耦合信号和反射耦合信号的处理，可分为两种情况：

(1)、发射信号和反射信号经功率放大器(或滤波器)耦合后，通过一个通道将发射耦合信号和反射耦合信号输出至所述驻波反射点检测装置，即通过一个反馈射频模块输出发射耦合信号和反射耦合信号时，在此模式下，需要增加一个开关，如图4所示，所述开关可由所述驻波反射点检测装置中的采集单元来控制，以便所述驻波反射点检测装置根据需求采集发射耦合信号或反射耦合信号。

在此模式下，因只需增加一个开关，硬件成本较低；但软件处理相对复杂，在对发射耦合信号和反射耦合信号进行采集时，需分两次处理，每次均以基带信号为参考；具体地，可首先采集基带信号和发射耦合信号；然后采集基带信号和反射耦合信号。

(2)、发射信号和反射信号经功率放大器(或滤波器)耦合后，所述驻波反射点检测装置同时采集发射耦合信号和反射耦合信号。在此情况下，系统中需多加入一个反馈射频模块，也就是说，所述系统中应有两个反馈射频模块，分别对发射耦合信号和反射耦合进行处理。

在此模式下，所述驻波反射点检测装置能同时对发射耦合信号和反射耦合信号进行并行处理，进而使软件处理相对简单；由于需多加入一个反馈射频模块，使得硬件链路相对复杂，成本偏高。

下面以图4所示的在基站中应用所述驻波反射点检测装置的系统为例，来说明确定驻波反射点所在位置的具体流程：

A：所述驻波反射点检测装置对基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号进行采集；

具体地，所述驻波反射点检测的采集单元可通过控制开关，首先采集基带信号和发射耦合信号；然后采集基带信号和反射耦合信号。

B：对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，而确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间；根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。

具体地，所述驻波反射点检测装置的数据处理单元执行步骤B时，处理流程包括：

B1：将采集到的发射耦合信号和基带信号进行相关处理；

设相关长度为K，可确定出所述发射耦合信号和所述基带信号的相关函数为：

$C_1\left(k\right)=\underset{n=0}{\overset{N-1}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{FWD}(n+k)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{BB}1\left(n\right)\right),$

其中，k＝0，1，2……K-1，Delt_f表示C₁(k)为最大值时对应的k值；FWD(n+k)为所述发射耦合信号的函数表达式，BB1(n)为所述基带信号的函数表达式；conj( )为共轭函数；

记前向耦合功率与基带功率之比为P₁，则P₁为：

$P_1=\frac{\underset{n=\mathrm{Delt}\_f}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{FWD}(n-\mathrm{Delt}\_f)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{FWD}(n-\mathrm{Delt}\_f)\right)}{\underset{n=\mathrm{Delt}\_f}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{BB}1\left(n\right)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{BB}1\left(n\right)\right)}.$

B2：将采集的反射耦合信号和基带信号进行相关处理，得到二者的相关函数 $C_2\left(k\right)=\underset{n=0}{\overset{N-1}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{REV}(n+k)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{BB}2\left(n\right)\right);$

其中，k＝0，1，2……K-1，K为相关长度，REV(n+k)为所述反射耦合信号的函数表达式，BB2(n)为所述基带信号的函数表达式；将C₂(k)函数取最大值对应的k记为Delt_f2；只保留k≥Delt_f部分时，C₂(k)可记为C′₂(k)，则C′₂(k)＝C₂(k+Delt_f)，其中k＝0，1，2……K-Delt_f-1；

记反射耦合功率与基带功率之比为P₂，则P₂为：

$P_2=\frac{\underset{n=\mathrm{Delt}\_f2}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{REV}(n-\mathrm{Delt}\_f2)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{REV}(n-\mathrm{Delt}\_f2)\right)}{\underset{n=\mathrm{Delt}\_f2}{\overset{N}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{BB}2\left(n\right)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{BB}2\left(n\right)\right)}.$

B3：假设采样速率为fs，将C′₂(k)函数变量k转换为时间函数为t_k，则 $t_k=k\×\frac{1}{\mathrm{fs}}.$

B4：设滤波器的时延值τ1，则驻波反射点到滤波器输出端口的时间为 ${t_k}^{\′}=\frac{t_k-2\×\mathrm{\τ}1}{2};$

显然，所述驻波反射点到滤波器输出端口的往返时间为2t′_k。

B5：根据当前传输介质的相对传播常数和驻波反射点到滤波器输出端口的时间t′_k，可求得函数C′₂(k)自变量为k时，驻波反射点所在位置也即反射耦合信号所处滤波器至天馈模块的反射点的位置d_k＝v×t′_k＝λ_f×c×t′_k，其中λ_f为当前传输介质的相对传播常数。

B6：根据d_k、P₁和P₂，确定驻波反射点所在位置的函数C₃(d_k)，其中， $C_3\left(d_k\right)\sqrt{{C^{\′}}_2\left(k\right)/G\×\frac{P_2}{P_1}},$ G为C′₂(k)中的最大值。

通过上述步骤B1-B6，所述驻波反射点检测装置的数据处理单元即可确定出各个驻波反射点以及各驻波反射点之间的关联函数，进而便于工程人员对所述驻波反射点数据进行分析。

以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (14)

1.一种驻波反射点的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号；

对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间；

根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间，包括：

对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号分别与所述基带信号进行相关，确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间，包括：

对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号进行相关，确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理，确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间，包括：

对所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关，确定所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间，将所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间减去发射通道时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述反射耦合点位于滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和滤波时延之和；

所述反射耦合点不在滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和两倍的滤波时延之和。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置，包括：

根据当前传输介质的相对传播常数λ_f确定反射耦合信号在当前传输介质中的传播的速度为λ_f×c，其中，c为光速；

所述驻波反射点的位置d_k＝v×t′_k＝λ_f×c×t′_k，其中，所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间为2t′_k。

7.根据权利要求1至6任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

根据驻波反射点所在位置d_k、前向耦合功率与基带功率之比P₁、反射耦合功率与基带功率之比P₂，驻波反射点所在位置的函数C₃(d_k)为：其中，G为C′₂(k)的最大值，C′₂(k)＝C₂(k+Delt_f)，所述反射耦合信号与所述基带信号的相关函数 $C_2\left(k\right)=\underset{n=0}{\overset{N-1}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{REV}(n+k)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{BB}2\left(n\right)\right),$ k＝0，1，2……K-Delt_f-1，K为相关长度，Delt_f为C₂(k)为最大值时对应的k值，REV(n+k)为所述反射耦合信号的函数表达式，BB2(n)为所述基带信号的函数表达式。

8.一种驻波反射点的检测装置，其特征在于，所述装置包括采集单元、数据处理单元、计算单元；其中，

所述采集单元，用于采集基带信号、所述基带信号对应射频信号的发射耦合信号及反射耦合信号；

所述数据处理单元，用于对采集的所述发射耦合信号、所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关处理；

所述计算单元，用于确定所述反射耦合信号的驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间；根据所述往返时间和当前传输介质的相对传播常数确定所述驻波反射点的位置。

9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述数据处理单元，还用于对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号分别与所述基带信号进行相关；

所述计算单元，还用于确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

10.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述数据处理单元还用于对所述反射耦合信号和所述发射耦合信号进行相关；

所述计算单元，还用于确定所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间，并将所述反射耦合信号相对于所述发射耦合信号的往返时间减去两倍的滤波时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

11.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述数据处理单元还用于对所述反射耦合信号和所述基带信号进行相关；

所述计算单元，还用于确定所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间，将所述驻波反射点相对于所述基带信号的往返时间减去发射通道时延作为所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间。

12.根据权利要求11所述的装置，其特征在于，所述反射耦合点位于滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和滤波时延之和；

所述反射耦合点不在滤波所述射频信号的输出端口时，所述发射通道时延包括射频处理时延、功率放大时延和两倍的滤波时延之和。

13.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述计算还用于：

根据当前传输介质的相对传播常数λ_f确定反射耦合信号在当前传输介质中的传播的速度为λ_f×c，其中，c为光速；

所述驻波反射点的位置d_k＝v×t′_k＝λ_f×c×t′_k，其中，所述驻波反射点相对于滤波所述射频信号的输出端口的往返时间为2t′_k。

14.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，所述计算单元还用于：

根据驻波反射点所在位置d_k、前向耦合功率与基带功率之比P₁、反射耦合功率与基带功率之比P₂，确定驻波反射点所在位置的函数C₃(d_k)为：其中，G为C′₂(k)的最大值，C′₂(k)＝C2(k+Delt_f)，所述反射耦合信号与所述基带信号的相关函数 $C_2\left(k\right)=\underset{n=0}{\overset{N-1}{\mathrm{\Σ}}}\mathrm{REV}(n+k)\×\mathrm{conj}\left(\mathrm{BB}2\left(n\right)\right),$ k＝0，1，2……K-Delt_f-1，K为相关长度，Delt_f为C₂(k)为最大值时对应的k值，REV(n+k)为所述反射耦合信号的函数表达式，BB2(n)为所述基带信号的函数表达式。