CN104237773A - 触摸按键的测试系统及其方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供了一种触摸按键的测试系统，所述测试系统与一主机，该主机用于控制该测试系统的运行，所述测试系统包括：一测试治具以及一测试装置，该测试治具用于模拟人手触摸触摸按键的动作触摸触摸按键，该测试装置用于读取并计算所述触摸按键中触摸按键的触摸参数，并判断该触摸按键的状态。所述测试装置包括：一读取模块、一判断模块以及一状态确定模块。该测试系统通过测试治具触摸触摸按键，使用测试装置读取并计算所述触摸按键的触摸参数，并判断该触摸按键的状态，节省了测试过程中大量的人力和时间投入。本发明还提供了一种触摸按键的测试方法。

Description

触摸按键的测试系统及其方法
技术领域
本发明涉及一种触摸按键的测试系统及其方法，尤其涉及一种结合测试治具和测试装置的触摸按键测试系统及其方法。
背景技术
随着触控技术的飞速发展，应用触控技术的电子产品已经越来越多的进入人们的生活，给人们的日常生活带来了很大的便利。触摸按键作为触控技术的一个重要产物，其操作方便、反应灵敏、使用寿命长的特点克服了传统按键的不足，正在逐步取代传统按键的地位。
在带有触摸按键的电子产品生产过程中，存在检测组装到电子产品上的触摸按键是否能够正常工作的环节。现有技术中，对触摸按键的检测是通过对组装完成后的电子产品上的触摸按键进行逐个检测，最后得出所有触摸按键是否能够正常工作的结论。这样的测试方法不但费时费力，而且不利于成本控制，给生产工作的进行带来了极大的不便。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种能够快速准确测试触摸按键的测试系统及其测试方法。
本发明提供了一种触摸按键的测试系统，所述测试系统与一主机连接，该主机用于控制该测试系统的运行，该测试系统用于测试一具有触摸按键的电子装置，所述测试系统包括:
一测试治具，用于模拟人手触摸所述电子装置的触摸按键，以及
一测试装置，包括：
一读取模块，用于读取所述电子装置内记录的被触摸的触摸按键响应触摸操作产生的触摸参数；
一判断模块，用于计算所述读取模块读取的触摸参数与相应的标准参数之间的误差，并判断该误差是否小于一相应的预设误差值，以及
一状态确定模块，用于根据所述判断模块的判断结果确定被触摸的触摸按键的状态。
本发明还提供了一种用于测试电子装置上触摸按键的测试方法，该测试方法包括步骤：
a），触摸所述电子装置的触摸按键；
b），读取所述电子装置内记录的被触摸的触摸按键响应触摸操作产生的触摸参数；
c），判断所述被触摸的触摸按键的触摸参数与相应的标准参数之间的误差是否小于一预设误差值；
d），确定被触摸触摸按键的状态，其中若被触摸的触摸按键的触摸参数与相应的标准参数之间的误差小于预设误差值，则确定该被触摸触摸按键的状态为正常，反之，若被触摸的触摸按键的触摸参数与相应的标准参数之间的误差不小于预设误差值，则确定为异常。
本发明之一种触摸按键的测试系统及其方法，利用测试治具模拟人手触摸触摸按键的动作触摸触摸按键，并通过测试装置测试触摸按键的状态，不但节省了大量的时间和人力投入，而且提高了测试效率，对节约成本有很大的帮助，具有极大的应用价值。
附图说明
图1为本发明的一实施方式的系统组成图。
图2为利用图1中系统进行测试的方法流程图。
图3为图1中的显示模块显示标准参数的示意图。
图4为图1中的显示模块显示按键状态的示意图。
图5为图1中的显示模块显示触摸板正常状态的示意图。
图6为图1中的显示模块显示触摸板异常状态的示意图。
主要元件符号说明：
主机 10
测试系统 20
测试治具 21
测试装置 22
读取模块 221
存储模块 222
计算模块 223
判断模块 224
判定模块 225
显示模块 226
按键信息表 227
触摸板 30
触摸按键 31
一号触摸按键 311
二号触摸按键 312
三号触摸按键 313
寄存器 32
一号寄存器 321
二号寄存器 322
三号寄存器 323
步骤 S1~S9
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面将结合附图，对本发明作进一步的详细说明。
请参阅图1，本发明提供了一种触摸按键的测试系统20，该测试系统与一主机10连接，该主机10用于控制该测试系统20的运行。该测试系统20用于测试一具有触摸按键的电子装置，在本实施方式中，该测试系统20与一触摸板30连接，用于测试所述触摸板30的各触摸按键是否异常。该触摸板30包括多个触摸按键31以及寄存器32。在本实施方式中，所述触摸按键31包括一号触摸按键311、二号触摸按键312和三号触摸按键313等，该触摸按键31为电容按键，每个电容按键均与一电容元件连接，当电容按键被触摸后，与其连接的电容元件开始充电，在其他实施方式中，所述触摸按键31可以是电阻按键或者电磁按键等。所述寄存器32包括多个与所述触摸按键31一一对应连接的寄存器，例如一号寄存器321、二号寄存器322和三号寄存器323，分别对应连接于一号触摸按键311、二号触摸按键312和三号触摸按键313。所述寄存器32用于在与其对应的触摸按键31被触摸时，记录该触摸按键31的触摸参数。在本实施方式中，该触摸参数是指电容按键被触摸后，与其连接的电容元件的充电时间。在其他实施方式中，该触摸参数可以为电容元件的充电电荷量或者完成充电后的电容值等。所述测试系统20包括一测试治具21以及一测试装置22，该测试装置22包括一读取模块221、一存储模块222、一判断模块223、一状态确定模块224、一判定模块225以及一显示模块226，该测试装置22为一具有多功能模块的控制装置，例如FPGA（现场可编程门阵列）芯片和MCU（微控制器）等。
所述测试治具21受主机10的控制模拟人手触摸触摸按键的动作触摸所述触摸按键31。在本实施方式中，测试治具21的每次触摸操作均同时触摸所述触摸板30上的所有触摸按键31。
所述读取模块221用于在所述触摸按键31被测试治具21触摸后，读取所述被触摸的触摸按键31对应的寄存器32中记录的该被触摸的触摸按键31响应触摸操作产生的触摸参数。在本实施方式中，该寄存器中记录的触摸参数为与该触摸按键31连接的电容元件的充电时间t1。
所述存储模块222用于存储所述触摸按键31的标准参数以及与每个标准参数对应的预设误差值。在本实施方式中，该存储模块222中存储的标准参数为与所述触摸按键31连接的电容元件在正常工作状态下的标准充电时间t2。
所述判断模块223用于计算所述读取模块221读取到的触摸参数与所述存储模块222中存储的相应标准参数之间的误差并判断该误差是否小于相应的预设误差值。
所述状态确定模块224用于根据判断模块223的判断结果确定每个触摸按键的状态。在本实施方式中，若该判断模块223的判断结果为所述误差小于相应的预设误差值，则相应的触摸按键状态为正常可用；若判断模块223的判断结果为所述误差不小于相应的预设误差值，则相应的触摸按键状态为异常。
所述判定模块225用于根据所述状态确定模块224确定的所有触摸按键的状态判断所述触摸板30的状态。在本实施方式中，当所述状态确定模块224确定触摸板30上的每个触摸按键状态均正常可用时，该判定模块225的判断结果为该触摸板30的状态为正常；当该触摸板30上有一个或者多个触摸按键处于异常状态时，该判定模块225的判断结果为该触摸板30的状态为异常。
所述显示模块226用于显示所述存储模块222存储的标准参数、判断模块224计算出的误差、状态确定模块224确定的触摸按键状态以及判定模块225的判断结果。
在其他实施方式中，所述触摸按键的测试系统20也可不使用所述测试治具21，可通过人工触摸的方式触摸所述触摸板30上的触摸按键31。
请参阅图2，为本发明一实施方式中用于所述触摸按键的测试系统20上的触摸按键测试方法流程图。该触摸按键的测试方法包括以下步骤：
步骤S1，显示模块226显示待测触摸按键的标准参数。
具体地，显示模块226显示所述存储模块222中存储的待测触摸按键的标准参数，如图3所示。在本实施方式中，显示模块226显示一按键信息表227，并在该案件信息表的标准参数一栏显示待测触摸按键的标准参数。该按键信息表227包括所述触摸按键31中待测触摸按键的编号、名称、状态、是否被触摸、标准参数以及误差百分比等信息。在图3中，由于触摸按键31中的触摸按键没有被触摸，所以“按键状态”和“触摸板状态”两栏均为空白，“是否按下”一栏均显示“否”，而“误差百分比”一栏均显示00.00%。当触摸按键正常可用时，“按键状态”一栏显示“正常”，否则显示“异常”，而当触摸按键被触摸时，“是否触摸”一栏显示“是”，否则显示“否”。在图3给出的范例中，01号“PLAY”按键的标准参数为1.55s，即与该01号按键连接的电容元件在正常工作状态下从被触摸下开始充电到充电完成所需的标准充电时间t2为1.55s。
步骤S2，测试治具21受所述主机10的控制模拟人手触摸所述触摸板30的所有触摸按键31。在本实施方式中，该测试治具21触摸触摸按键31具有操作时间T1，例如5s。在该操作时间T1中的一段时间内，例如第2~4s，该测试治具21持续触摸所述触摸按键31中的全部触摸按键，而在该操作时间T1的其他时间内，该测试治具21不与触摸按键接触。
步骤S3，读取模块221读取与所述被触摸的触摸按键31对应的寄存器32中记录的触摸参数。在本实施方式中，读取模块读取该触摸参数的操作具有读取时间T2，其中，T2远小于所述测试治具的操作时间T1。当该触摸按键31中的触摸按键被触摸后，与触摸按键对应连接的寄存器记录并存储该触摸按键的充电时间t1，读取模块221读取该寄存器中的充电时间t1。
步骤S4，判断模块223计算所述读取模块221读取到的触摸参数与存储模块222中的存储的标准参数之间的误差，并判断该误差是否小于相应的预设误差值。
具体地，在本实施方式中，所述存储模块222还存储有与待测触摸按键的标准参数一一对应的预设误差值，该预设误差值为根据实际情况预先设定的。该判断模块223首先根据所述存储模块222存储的标准充电时间t2与读取模块221读取到的充电时间t1计算t2与t1之间的误差Δt，以百分比的形式表示表示该误差Δt。
然后，该判断模块223判断误差Δt是否小于相应的预设误差值。
步骤S5，显示模块226显示所述判断模块223计算出的误差，如图4所示。在图4给出的范例中，01号“PLAY”按键的误差Δt为0.02%，即该按键的充电时间t1与标准充电时间t2的差与标准充电时间t2之间的比值为0.02%。
步骤S6，状态确定模块224根据所述判断模块223的判断结果确定被触摸的触摸按键31的状态。
具体地，当所述判断模块223的判断结果为误差Δt小于或等于所述预设误差值，该状态确定模块224确定相应的触摸按键状态为正常可用；当该判断模块223的判断结果为误差Δt大于所述预设误差值，该状态确定模块224确定相应的触摸按键状态为异常。
步骤S7，显示模块226显示被触摸的触摸按键31的状态，如图4所示。
具体地，当所述状态确定模块224确定触摸按键的状态为正常可用时，显示模块226在对应按键的“按键状态”一栏中显示“正常”；当该状态确定模块224确定触摸按键的状态为异常时，显示模块226在对应按键的“按键状态”一栏显示“异常”。在图4给出的范例中，04号“STOP”触摸按键的状态为“正常”，而05号“MENU”触摸按键的状态为“异常”。
步骤S8，判定模块225根据所述状态确定模块224确定的待测触摸按键的状态判断触摸板30的状态。在本实施方式中，若待测触摸按键均正常可用，则该触摸板30正常可用；若有一个或者多个触摸按键处于异常状态，则该触摸板30的状态为异常。
步骤S9，显示模块226显示所述触摸板30的状态，如图5和图6所示。在图5给出的范例中，由于待测触摸按键的状态均为“正常”，故触摸板30的状态也为“正常”，在图6给出的范例中，由于05号“MENU”触摸按键处于异常状态，故触摸板30的状态为“异常”。
本发明之一种触摸按键的测试系统及其方法，利用测试治具模拟人手触摸触摸按键，并通过测试装置检测并确定待测触摸按键的状态，不但节省了大量的时间和人力投入，而且提高了测试效率，对节约成本有很大的帮助，具有极大的应用价值。
本技术领域的普通技术人员应当认识到，以上的实施方式仅是用来说明本发明，而并非用作为对本发明的限定，只要在本发明的实质精神范围之内，对以上实施方式所作的适当改变和变化都落在本发明要求保护的范围之内。

Claims (10)

1.一种触摸按键的测试系统，所述测试系统与一主机连接，该主机用于控制该测试系统的运行，该测试系统用于测试一具有触摸按键的电子装置，其特征在于，所述测试系统包括:
一测试治具，用于模拟人手触摸所述电子装置的触摸按键，以及
一测试装置，包括：
一读取模块，用于读取所述电子装置内记录的被触摸的触摸按键响应触摸操作产生的触摸参数；
一判断模块，用于计算所述读取模块读取的触摸参数与相应的标准参数之间的误差，并判断该误差是否小于一相应的预设误差值，以及
一状态确定模块，用于根据所述判断模块的判断结果确定被触摸的触摸按键的状态。
2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试装置还包括：
一判定模块，用于根据所述状态确定模块确定的触摸按键的状态判断一触摸板的状态，以及
一显示模块，用于显示所述判定模块的判断结果。
3.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试治具受所述主机的控制同时触摸一触摸板上的所有触摸按键。
4.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试治具具有操作时间T1，所述读取模块具有读取时间T2，该操作时间T1远大于读取时间T2。
5.如权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述显示模块还显示一按键信息表，并在该按键信息表中显示所述触摸按键的标准参数、误差以及按键状态。
6.一种触摸按键的测试装置，用于测试一具有触摸按键的电子装置，其特征在于，所述测试装置包括:
一读取模块，用于读取所述电子装置内记录的被触摸的触摸按键响应触摸操作产生的触摸参数；
一判断模块，用于计算所述读取模块读取的触摸参数与相应的标准参数之间的误差，并判断该误差是否小于一相应的预设误差值，以及
一状态确定模块，用于根据所述判断模块的判断结果确定被触摸的触摸按键的状态。
7.如权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括：
一判定模块，用于根据所述状态确定模块确定的触摸按键的状态判断一触摸板的状态，以及
一显示模块，用于显示所述判定模块的判断结果。
8.一种用于测试电子装置上触摸按键的测试方法，其特征在于，该测试方法包括步骤：
a），触摸所述电子装置的触摸按键；
b），读取所述电子装置内记录的被触摸的触摸按键响应触摸操作产生的触摸参数；
c），判断所述被触摸的触摸按键的触摸参数与相应的标准参数之间的误差是否小于一预设误差值；
d），确定被触摸触摸按键的状态，其中若被触摸的触摸按键的触摸参数与相应的标准参数之间的误差小于预设误差值，则确定该被触摸触摸按键的状态为正常，反之，若被触摸的触摸按键的触摸参数与相应的标准参数之间的误差不小于预设误差值，则确定为异常。
9.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，在步骤c）之后还包括步骤：
e），确定所述电子装置的触摸板的状态；
f），显示该触摸板的状态。
10.如权利要求8所述的测试方法，其特征在于，当所述触摸按键的状态均为正常可用时，所述触摸板的状态为正常可用；当有一个或者多个触摸按键的状态为异常时，该触摸板的状态为异常。
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