CN104155046B - 内置式压力测试方法 - Google Patents
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Abstract
本发明的内置式压力测试方法属压力检测技术领域,该方法是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的方法,其采用的测试仪有壳体及测试电路,外筒及内壁的线圈与内筒及外壁的线圈构成四桥式电容信号输入端,测试电路分别联接内外筒并置于内筒中,采用上端盖与上护盖以及下端盖与下护盖使内外筒上下联接一体,形成仪器内置与外界隔绝、免除外界有害干扰、保持测试高端性能的仪器密封结构,优点有:其外筒本身作电容电极并接地,可保护电路,外筒与上下端盖间采用无螺纹式接触端面且填充硅胶密封,避免受力不均匀,提高测试仪的精度,通过缠绕在内外筒的线圈形成四桥臂的测试电路,有效提高在恶劣环境下免除干扰、保持测试高端性能的能力,这种内置式压力测试方法与测试仪值得采用和推广。
Description
技术领域
本发明公开的内置式压力测试方法属压力检测技术领域,具体涉及的是一种密闭防护抗干扰的内置式压力测试方法。
背景技术
在恶劣环境下的压力测试,如火炮膛内压力的测试,测试环境有以下特点,膛内的压力、温度和火炸药燃爆的颗粒都直接作用在测试系统的外表面,测试环境的瞬时压力可以达到GPa级,温度达3000℃。这种环境对测试系统的要求较高,由于测试系统需要放入测试环境中,所以测试系统在系统功耗和整体结构上要严格控制。为适用于在火药燃烧区域内具有高温、高压的特殊环境下进行瞬态压力测试,特别是爆炸场内的压力(如电热化学炮膛内压力、弹底压力、火炮膛内压力、油井射空压力等)测试,压力测试方法所采用的压力测试仪不仅要求耐高温、抗高冲击振动、适应高低温环境,同时还要具有微小体积、低功耗、高可靠性、高精度等特点。
内置式压力测试方法是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的方法,采用的内置式压力测试仪具有如下优点:1)结构简单;2)动态响应好;3)温度稳定性好;4)抗电磁干扰能力强。适用于爆炸场内极端恶劣的测试环境,为解决在恶劣环境下的压力测试提供了有效的测试方法。
发明内容
本发明的目的是:向社会提供这种密闭防护抗干扰的内置式压力测试方法。
本发明的技术方案是这样的:这种内置式压力测试方法,是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的方法,所述采用的内置式压力测试仪包括有壳体及其内的测试电路,具体有:外筒、内筒、上端盖、下端盖、上护盖、下护盖、测试电路、缠绕在外筒内壁上部的线圈、缠绕在内筒外壁下部的线圈,技术特点在于:所述的内置式压力测试仪的外筒以及内壁上部的线圈与内筒以及外壁下部的线圈构成电容式信号输入端,其测试电路分别联接内外筒并置于内筒中,采用上端盖与上护盖以及下端盖与下护盖使内外筒上下联接一体,形成仪器内置与外界隔绝、免除外界有害干扰、保持测试高端性能的仪器密封结构。所述的压力测试仪形成仪器内置与外界隔绝是因为压力测试仪的壳体(外筒)是一个四周密闭的导体,壳体内部为一空心薄圆筒(内筒)。在径向方向上,靠近内外筒两端处,通过上下端盖盖里面与内外筒之间的紧密连接结构,使内筒、外筒与上下端盖盖里面之间紧密配合,并起到了屏蔽与绝缘的作用。在轴向方向上,用上下护盖分别与上下端盖压紧,达到与内筒绝缘、与外筒紧密固定连接的作用。测试电路、电池等均放入圆柱形内筒中。外筒由于受到压力发生形变,而内筒不会发生形变。所述的免除外界有害干扰,保持测试高端性能的仪器密封结构是因为这种结构的外筒可以承受瞬时的超高温高压、抗高冲击振动、屏蔽电磁干扰,内筒及其内部组成也不会受到任何影响,即该压力测试仪可以在强辐射、强磁场、高压力和高低温等恶劣的环境中工作,可以承受很大的温度变化,抗电磁干扰能力强,可以对带磁工件进行测量。
根据以上所述的内置式压力测试方法,技术特点还有:a.所述的内筒同轴线地套装在外筒中,在外筒的上端圆环面上和下端圆环面上分别设置有凹形圆环槽,在上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上均分别设置有与外筒的上端圆环面上和下端圆环面上设置的凹形圆环槽相互尺寸严密配套的同轴线圆环状凸棱,在上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上均分别设置有与内筒的上端圆环面端面和下端圆环面端面相互尺寸严密配套的同轴线凹形圆环槽,外筒的上端圆环面上和下端圆环面上分别设置的凹形圆环槽与上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上分别设置的圆环状凸棱间相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,内筒的上端圆环面端面和下端圆环面端面与上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上分别设置的凹形圆环槽间相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,形成压力测试仪的第一道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构。所述的这第一道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构内外隔绝了瞬时的超高温高压、高冲击振动,免除了电磁干扰。b.所述的上护盖和下护盖的中心部位均设置成圆口状,所述的上端盖和下端盖的中心部位向外均设置成外凸圆平台,上端盖上的外凸圆平台和上护盖上的圆口同轴线地相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,同样下端盖上的外凸圆平台和下护盖上的圆口同轴线地相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,在上护盖下端部内壁和下护盖上端部内壁均设置有螺纹结构,在外筒的外壁上下端部均设置有螺纹结构,外筒的外壁上下端部的螺纹结构分别与上护盖下端部内壁和下护盖上端部内壁的螺纹结构同轴线地形成紧密螺纹连接结构,当外筒上端部和上护盖的螺纹结构紧密连接一体、外筒下端部和下护盖的螺纹结构紧密连接一体时,内外筒上端部和上端盖与上护盖之间、内外筒下端部和下端盖与下护盖之间更加紧密密封,形成压力测试仪的第二道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构。所述的第二道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构内外隔绝瞬时的超高温高压、高冲击振动,免除了电磁干扰。
根据以上所述的内置式压力测试方法,技术特点还有:a.所述的内筒为一薄壁圆筒,选择材料为45号钢,内筒作为电容正电极联接置于内筒的测试电路的正端。所述的这种45号钢为优质碳素结构用钢,具有较高的强度和较好的切削加工性。所述的外筒为高强度圆筒壳体,选择材料为18Ni马氏体时效钢,外筒作为电容负电极联接置于内筒的测试电路的负端即地端,并作为该压力测试仪的电磁屏蔽壳体,也是压力测试仪内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构的一部分。所述的这种18Ni马氏体时效钢是以无碳(或微碳)马氏体为基体,靠某些合金元素时效性产生的金属离子间电作用强化形成的一种高强度钢,其屈服极限可达2000MPa,具有较高的强度和优良的韧性。b.所述的上端盖、下端盖、上护盖、下护盖均选择材料为18Ni马氏体时效钢。所述的上端盖、下端盖、上护盖、下护盖均与外筒形成紧密密封电联接结构。所述的上端盖、下端盖、上护盖、下护盖均与外筒形成紧密密封电联接结构并且共同构成该仪器严密的电磁屏蔽壳体,这种结构可以有效地使测试仪承受瞬时的超高温高压、抗高冲击振动、屏蔽电磁干扰。所述的内筒上下圆环端面分别与上端盖盖里面上和下端盖盖里面上的同轴线凹形圆环槽形成电绝缘紧密密封联接结构。所述的这种电绝缘紧密密封联接的具体结构是:在测试仪的上端盖的盖里面上及下端盖的盖里面上的凹形圆环槽均涂有绝缘漆,这些凹形圆环槽绝缘漆与内筒上下端圆环端面形成相互尺寸严密配合的电绝缘紧密密封联接。这同样也是压力测试仪内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构的一部分。
根据以上所述的内置式压力测试方法,技术特点还有:所述的内筒下部外壁和外筒上部内壁缠绕的线圈选择采用罗哥夫斯基柔性线圈。所述的缠绕在外筒内壁上端的柔性线圈分别与外筒形成固定电容、与内筒形成可变电容,所述的缠绕在内筒外壁下端的柔性线圈分别与外筒形成可变电容、与内筒形成固定电容,所述的四个电容形成四个桥臂的电桥电路,该电桥电路作为压力测试仪的桥式电容信号输入端。关于四个桥臂的电桥电路结构请参见本发明的说明书附图2。
根据以上所述的内置式压力测试方法,详细技术特点还有:所述的四个桥臂的电桥电路为瞬态单次充放电的测试电路,该测试电路通过电路中四电容电压变化不再相等产生电压差信号作为该压力测试仪的桥式电容信号输入端,该输入端联接放大电路,放大电路联接A/D转换电路,A/D转换电路联接存储电路。本发明的四个桥臂的电桥电路只需瞬态一次充放电过程即可完成采样和测试过程。
根据以上所述的内置式压力测试方法,详细技术特点还有:a.所述的该压力测试仪电源电路为恒压源电源电路,该恒压源电源电路选择采用运算放大芯片OPA340为主构成,满足基于低功耗的设计要求。b.所述的该压力测试仪的放大电路选择采用能休眠节能的仪表放大芯片INA331为主构成,符合所述的内置式压力测试仪的低功耗要求。
本发明的内置式压力测试方法优点有:1.这种内置式压力测试方法,是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的方法,该方法可靠、实用、效果好;2.该内置式压力测试仪的外筒本身就是压力敏感元件,用来保护电路并作为电容器的敏感电极;3.该测试仪壳体与上下端盖之间采用无螺纹式端面密封,避免了因为螺纹而造成的仪器受到膛压时的受力不均匀问题,从而提高本测试仪的精度,并且节约因为螺纹而占用的空间,从而减小仪器的体积;4.该测试仪壳体与上下端盖之间的接触环的外环面填充硅胶,紧固壳体与上下端盖之间的连接,达到更好的密闭效果;5.通过测试仪的内外筒与缠绕在其上面的柔性线圈形成的四个电容构成四个桥臂的电桥电路,作为测试电路有效提高了测试仪在恶劣环境下免除干扰,保持测试高端性能的能力。这种内置式压力测试方法及采用的测试仪值得采用和推广。
附图说明
本发明的说明书附图共有4幅:
图1为内置式压力测试仪实体结构示意图;
图2为桥式微小电容测试电路原理图;
图3为恒压源电路图;
图4为放大电路图。
在各图中采用了统一标号,即同一物件在各图中用同一标号。在各图中:1.上护盖;2.上端盖;3.外筒;4.内筒;5.下端盖;6.下护盖;7.缠绕在外筒内壁上端的柔性线圈;8.缠绕在内筒外壁下端的柔性线圈;9.测试电路;10.恒压源;11.输入电压;12.输出电压信号;13.放大电路;OPA340是运算放大芯片;INA331是仪表放大芯片;R1~R6均是电阻;C1~C6均是电容;S1~S2均是开关;Ui是输入电压;Uo是输出电压。
具体实施方式
本发明的内置式压力测试方法非限定实施例如下:
实施例一.内置式压力测试方法
该例的这种内置式压力测试方法,是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的方法,该例采用的内置式压力测试仪包括有壳体及其内的测试电路,该压力测试仪具体结构由图1~图4联合示出,图1是内置式压力测试仪实体结构示意图,在图1中:1是上护盖,2是上端盖,3是外筒,4是内筒,5是下端盖,6是下护盖,7是缠绕在外筒内壁上端的柔性线圈,8是缠绕在内筒外壁下端的柔性线圈,9是测试电路。该例的压力测试仪的外筒3以及内壁上部的线圈7与内筒4以及外壁下部的线圈8构成电容式信号输入端,其测试电路9分别联接内外筒并置于内筒4中,采用上端盖2与上护盖1以及下端盖5与下护盖6使内外筒上下联接一体,形成仪器内置与外界隔绝、免除外界有害干扰、保持测试高端性能的仪器密封结构。该例的压力测试仪形成仪器内置与外界隔绝是因为压力测试仪的壳体(外筒3)是一个四周密闭的导体,壳体内部为一空心薄圆筒(内筒4)。在径向方向上,靠近内外筒两端处,通过上下端盖盖里面与内外筒之间的紧密连接结构,使内筒4、外筒3与上下端盖盖里面之间紧密配合,并起到了屏蔽与绝缘的作用。在轴向方向上,用上下护盖分别与上下端盖压紧,达到与内筒4绝缘、与外筒3紧密固定连接的作用。测试电路、电池等均放入圆柱形内筒4中。外筒3由于受到压力发生形变,而内筒4不会发生形变。所述的免除外界有害干扰,保持测试高端性能的仪器密封结构是因为这种结构的外筒3可以承受瞬时的超高温高压、抗高冲击振动、屏蔽电磁干扰,内筒4及其内部组成也不会受到任何影响,即该压力测试仪可以在强辐射、强磁场、高压力和高低温等恶劣的环境中工作,可以承受很大的温度变化,抗电磁干扰能力强,可以对带磁工件进行测量。该例的内筒4与外筒3同轴线地套装在外筒3中,在外筒3的上端圆环面上和下端圆环面上分别设置有凹形圆环槽,在上端盖2的盖里面上和下端盖5的盖里面上均分别设置有与外筒3的上端圆环面上和下端圆环面上设置的凹形圆环槽相互尺寸严密配套的同轴线圆环状凸棱,在上端盖2的盖里面上和下端盖5的盖里面上均分别设置有与内筒4的上端圆环面端面和下端圆环面端面相互尺寸严密配套的同轴线凹形圆环槽,外筒3的上端圆环面上和下端圆环面上分别设置的凹形圆环槽与上端盖2的盖里面上和下端盖5的盖里面上分别设置的圆环状凸棱间相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,内筒4的上端圆环面端面和下端圆环面端面与上端盖2的盖里面上和下端盖5的盖里面上分别设置的凹形圆环槽间相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,形成该压力测试仪的第一道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构。该例的这第一道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构内外隔绝了瞬时的超高温高压、高冲击振动,免除了电磁干扰。该例的上护盖1和下护盖6的中心部位均设置成圆口状,该例的上端盖2和下端盖5的中心部位向外均设置成外凸圆平台,上端盖2上的外凸圆平台和上护盖1上的圆口同轴线地相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,同样下端盖5上的外凸圆平台和下护盖6上的圆口同轴线地相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,在上护盖1下端部内壁和下护盖6上端部内壁均设置有螺纹结构,在外筒3的外壁上下端部均设置有螺纹结构,外筒3的外壁上下端部的螺纹结构分别与上护盖1下端部内壁和下护盖6上端部内壁的螺纹结构同轴线地形成紧密螺纹连接结构,当外筒3上端部和上护盖1的螺纹结构紧密连接一体、外筒3下端部和下护盖6的螺纹结构紧密连接一体时,内外筒上端部和上端盖2与上护盖1之间、内外筒下端部和下端盖5与下护盖6之间更加紧密密封,形成本压力测试仪的第二道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构。该例的第二道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构内外隔绝瞬时的超高温高压、高冲击振动,免除了电磁干扰。该例的内筒4为一薄壁圆筒,选择材料为45号钢,内筒4作为电容正电极联接置于内筒4中测试电路的正端。该例的这种45号钢为优质碳素结构用钢,具有较高的强度和较好的切削加工性。该例的外筒3为高强度圆筒壳体,选择材料为18Ni马氏体时效钢,外筒3作为电容负电极联接置于内筒3的测试电路的负端即地端,并作为本压力测试仪的电磁屏蔽壳体,也是该压力测试仪内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构的一部分。所述的这种18Ni马氏体时效钢是以无碳(或微碳)马氏体为基体,靠某些合金元素时效性产生的金属离子间电作用强化形成的一种高强度钢,其屈服极限可达2000MPa,具有较高的强度和优良的韧性。该例的上端盖2、下端盖5、上护盖1、下护盖6均选择材料为18Ni马氏体时效钢。该例的上端盖2、下端盖5、上护盖1、下护盖6均与外筒3形成紧密密封电联接结构。该例的上端盖2、下端盖5、上护盖1、下护盖6均与外筒3形成紧密密封电联接结构并且共同构成该仪器严密的电磁屏蔽壳体,这种结构可以有效地使测试仪承受瞬时的超高温高压、抗高冲击振动、屏蔽电磁干扰。该例的内筒4上下圆环端面分别与上端盖2盖里面上和下端盖5盖里面上的同轴线凹形圆环槽形成电绝缘紧密密封联接结构。该例的这种电绝缘紧密密封联接的具体结构是:在测试仪的上端盖2的盖里面上及下端盖5的盖里面上的凹形圆环槽均涂有绝缘漆,这些凹形圆环槽绝缘漆与内筒4上下端圆环端面形成相互尺寸严密配合的电绝缘紧密密封联接。这同样也是压力测试仪内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构的一部分。该例的内筒4下部外壁和外筒3上部内壁缠绕的线圈选择采用罗哥夫斯基柔性线圈。该例的缠绕在外筒3内壁上端的柔性线圈分别与外筒3形成固定电容、与内筒4形成可变电容,该例的缠绕在内筒4外壁下端的柔性线圈分别与外筒3形成可变电容、与内筒4形成固定电容,所述的该四个电容形成四个桥臂的电桥电路,该电桥电路作为压力测试仪的桥式电容信号输入端。该例的四个桥臂的电桥电路为瞬态单次充放电测试电路,该测试电路通过电路中四电容电压变化不再相等产生电压差信号作为该压力测试仪的桥式电容信号输入端,该输入端联接放大电路,放大电路联接A/D转换电路,A/D转换电路联接存储电路。本发明的四个桥臂的电桥电路只需瞬态一次充放电过程即可完成采样和测试过程。该例的四个桥臂的电桥电路结构请参见本发明的说明书附图2。图2示出桥式微小电容测试电路原理图,在图2中:10是恒压源,11是输入电压,12是输出电压信号,13是放大电路。该例的压力测试仪电源电路为恒压源电源电路,该恒压源电源电路选择采用运算放大芯片OPA340为主构成,满足基于低功耗的设计要求,其中图2中之10即是图3示出的恒压源电路。该例的压力测试仪的放大电路选择采用能休眠节能的仪表放大芯片INA331为主构成,符合所述的内置式压力测试仪的低功耗要求。图2中之13即是图4示出的放大电路。该例采用的外筒、内筒、上端盖、下端盖、上护盖、下护盖的结构尺寸、测试电路及其线圈匝数、电路芯片等材料的选择均应根据测试目的、需要进行设计计算而定,还可经过试验验证完善。
实施例二.内置式压力测试方法
该例的内置式压力测试方法是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的方法,该例的内置式压力测试仪具体结构可用图1~图4等联合示出,该例的内置式压力测试方法与实施例一的内置式压力测试方法不同点有:该例采用的内置式压力测试仪的测量电路均可采用公知和商售的电子元器件组装制作,只要能实现测量电路之功能的均可使用。该例的内置式压力测试方法其余未述的,全同于实施例一中所述的,不再重述。
Claims (6)
1.一种内置式压力测试方法,是采用内置式压力测试仪以免除不利环境对测试影响的方法,所述采用的内置式压力测试仪包括有壳体及其内的测试电路,具体有:外筒、内筒、上端盖、下端盖、上护盖、下护盖、测试电路、缠绕在外筒内壁上部的线圈、缠绕在内筒外壁下部的线圈,特征在于:所述的内置式压力测试仪的外筒以及内壁上部的线圈与内筒以及外壁下部的线圈构成电容式信号输入端,其测试电路分别联接内外筒并置于内筒中,采用上端盖与上护盖以及下端盖与下护盖使内外筒上下联接一体,形成仪器内置与外界隔绝、免除外界有害干扰、保持测试高端性能的仪器密封结构。
2.根据权利要求1所述的内置式压力测试方法,特征在于:
a.所述的内筒同轴线地套装在外筒中,在外筒的上端圆环面上和下端圆环面上分别设置有凹形圆环槽,在上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上均分别设置有与外筒的上端圆环面上和下端圆环面上设置的凹形圆环槽相互尺寸严密配套的同轴线圆环状凸棱,在上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上均分别设置有与内筒的上端圆环面端面和下端圆环面端面相互尺寸严密配套的同轴线凹形圆环槽,外筒的上端圆环面上和下端圆环面上分别设置的凹形圆环槽与上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上分别设置的圆环状凸棱间相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,内筒的上端圆环面端面和下端圆环面端面与上端盖的盖里面上和下端盖的盖里面上分别设置的凹形圆环槽间相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,形成压力测试仪的第一道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构;
b.所述的上护盖和下护盖的中心部位均设置成圆口状,所述的上端盖和下端盖的中心部位向外均设置成外凸圆平台,上端盖上的外凸圆平台和上护盖上的圆口同轴线地相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,同样下端盖上的外凸圆平台和下护盖上的圆口同轴线地相互尺寸严密配套相互嵌入安装连接一体,在上护盖下端部内壁和下护盖上端部内壁均设置有螺纹结构,在外筒的外壁上下端部均设置有螺纹结构,外筒的外壁上下端部的螺纹结构分别与上护盖下端部内壁和下护盖上端部内壁的螺纹结构同轴线地形成紧密螺纹连接结构,当外筒上端部和上护盖的螺纹结构紧密连接一体、外筒下端部和下护盖的螺纹结构紧密连接一体时,内外筒上端部和上端盖与上护盖之间、内外筒下端部和下端盖与下护盖之间更加紧密密封,形成压力测试仪的第二道内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构。
3.根据权利要求2所述的内置式压力测试方法,特征在于:
a.所述的内筒为一薄壁圆筒,选择材料为45号钢,内筒作为电容正电极联接置于内筒的测试电路的正端;所述的外筒为高强度圆筒壳体,选择材料为18Ni马氏体时效钢,外筒作为电容负电极联接置于内筒的测试电路的负端即地端,并作为压力测试仪的电磁屏蔽壳体,也是压力测试仪内外隔绝的、免除干扰的、保持测试高端性能的仪器密封结构的一部分;
b.所述的上端盖、下端盖、上护盖、下护盖均选择材料为18Ni马氏体时效钢;所述的上端盖、下端盖、上护盖、下护盖均与外筒形成紧密密封电联接结构;所述的内筒上下圆环端面分别与上端盖盖里面上和下端盖盖里面上的同轴线凹形圆环槽形成电绝缘紧密密封联结接构。
4.根据权利要求3所述的内置式压力测试方法,特征在于:所述的内筒下部外壁和外筒上部内壁缠绕的线圈选择采用罗哥夫斯基柔性线圈;所述的缠绕在外筒内壁上端的柔性线圈分别与外筒形成固定电容、与内筒形成可变电容,所述的缠绕在内筒外壁下端的柔性线圈分别与外筒形成可变电容、与内筒形成固定电容,所述的四个电容形成四个桥臂的电桥电路,电桥电路作为压力测试仪的桥式电容信号输入端。
5.根据权利要求4所述的内置式压力测试方法,特征在于:所述的四个桥臂的电桥电路为瞬态单次充放电的测试电路,该测试电路通过电路中四电容电压变化不再相等产生电压差信号作为压力测试仪的桥式电容信号输入端,该输入端联接放大电路,放大电路联接A/D转换电路,A/D转换电路联接存储电路。
6.根据权利要求5所述的内置式压力测试方法,特征在于:
a.所述的压力测试仪的电源电路为恒压源电源电路,该恒压源电源电路选择采用运算放大芯片OPA340为主构成;
b.所述的压力测试仪的放大电路选择采用能休眠节能的仪表放大芯片INA331为主构成。
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