CN104105273B - 检测发光二极管驱动电路的方法 - Google Patents
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Abstract
一种检测发光二极管驱动电路的方法；处理单元产生一个固定的频率，各自去驱动每串的场效晶体管，产生一个各自的电流值，经过电流侦测电阻获得每串的电流转换的电压值，再相互比较这些电压值，若有差异时，处理单元会自动产生不同的频率及不同的涟波电流，再继续相互比较每个串接分路电流，得到最接近最佳的电流，此时的驱动频率及涟波电流，可使发光二极管均亮，即此法在多并多串发光二极管灯中，其并联回路上串接的发光二极管不会因一个发光二极管损坏短路，或发光二极管正向电压差异大时，造成电流剧增，进而使此串发光二极管过亮及其它并联回路上串接的正常发光二极管不亮的情况发生，如此可使发光二极管灯具的使用寿命提高。
Description
技术领域
本发明涉及一种检测方法，特别是涉及一种检测发光二极管驱动电路的方法。
背景技术
目前市面上的发光二极管驱动器(LEDdriver)是定电流驱动，应用的LED灯具则是以并列LED阵列方式，易产生电位差，因为当LED并列在一起时，在不同分支流动的电流失配会导致出现电位差,所以组装LED灯具前要先做每个发光二极管(LED)的电压分级(binning),相同电压的LED先串联再并联后组合,如此才可为它们正常工作时创造一个良好的条件，但当一个LED损坏，造成短路，即破坏了整个正常工作环境，所有的驱动电流都将会流往其余的LED，导致过热，使整个LED如兵败如山倒般一个接一个加速损坏，因为LED的发光等级或亮度通常与正向电流的大小成正比，通过LED的电流不应该超过设备规定的额定电流，否则会造成永久伤害。
目前市面上的LED驱动器(LEDdriver)设计时考虑要稳定的电流，以提高LED的寿命，但若LED电压分级(binning)没做好误差大，或一串或多串的一个LED或多个LED损坏短路，会造成温度上升，LED寿命提早降低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种检测发光二极管驱动电路的方法。
本发明检测发光二极管驱动电路的方法,包含以下步骤：
（A）利用一处理单元产生一具有一驱动频率的信号去控制多个晶体管，使每一晶体管各自产生一电流流经一电流侦测电阻，而各自产生一正比于所对应晶体管产生电流的电压值；
（B）利用该处理单元比较该电流侦测电阻上的每一电压值的差异是否大于一预设值；
（C）若差异大于该预设值，则校正该处理单元所产生信号的该驱动频率，并回到步骤（A）；及
（D）若差异小于该预设值，则以该驱动频率作为一最佳的驱动频率，并以该最佳的驱动频率控制每一晶体管所产生的电流作为一最佳的涟波电流。
该处理单元包括一单片机。
该检测发光二极管驱动电路的方法还包含步骤（E）利用每一晶体管所产生的该最佳的涟波电流供应至所对应一发光二极管。
本发明的有益效果在于：有发光二极管损坏短路时，其它发光二极管亦能点亮，并使其保持均亮效果，提高其发光二极管灯具的使用寿命。
附图说明
图1是本发明的侦测最佳驱动频率与涟波电流的电路图；
图2是应用本发明最佳驱动频率的电路图；
图3是本发明的一种检测发光二极管驱动电路的方法的流程；
具体实施方式
下面结合附图及实施例对本发明进行详细说明。
如图1所示，硬件部分由包括一单片机(MCU)的处理单元1、一组电感5、51、52、电流侦测电阻2、场效晶体管(MOSFET)及二极管(Diode)组成，依此方式可节省LED驱动线路中复杂线路的成本，使多并多串的LED均亮，并有效提高其使用寿命。
当电源进入系统，单片机(MCU)会先产生一个标准固定的频率(frequency)，各自去驱动场效晶体管(MOSFET)4、场效晶体管(MOSFET)41、场效晶体管(MOSFET)42，产生一个各自的电流值，由电感5、电感51、电感52进入，经过电流侦测电阻2以获得N串的LED6、N-1串的LED61、N-2串的LED62的各自电压转换值，再相互比较这些电压值，若差异大时，单片机(MCU)会根据运算后再自动校正频率(frequency)，直到这些电流相互间最接近为止，而得到对此多并多串LED最接近最佳的驱动频率(drivingfrequency)与涟波电流(ripplecurrent)；二极管(Diode)3、二极管(Diode)31、二极管(Diode)32起到续流二极管(FlywheelDiode)作用。
如图2所示，于指定量产并串数的多并多串的LED66时，先依图1所示的检测LED驱动电路的方法模拟LED正向电压有差异时，所计算出的最佳驱动频率(drivingfrequency)及涟波电流(ripplecurrent)，依此驱动频率(drivingfrequency)及涟波电流(ripplecurrent)，做为图2多并多串的LED66中每串的运作驱动频率(drivingfrequency)与涟波电流(ripplecurrent)，LED驱动电路21可设定工作频率(frequency)为计算出的最佳驱动频率(drivingfrequency)的±10%的范围内，如此方式量产可节省图1LED驱动线路中包括单片机(MCU)、电感、二极管(Diode)的复杂线路成本，并可达到使多串多并的LED66灯具均亮、使用寿命延长的目的。
此单片机(MCU)在多并多串LED正向合成电压差异大时，会产生不同的频率(frequency)及不同的涟波电流(ripplecurrent)，再互相比较多并多串LED灯中的每个串接分路电流，得到最接近最佳的电流，LED可以不需电压分级(binning)，也不会因的LED损坏影响灯具的寿命，而会使LED均亮、LED灯具的使用寿命提高。
在此更进一步说明，参阅图3，本发明一种检测发光二极管驱动电路的方法，包括以下步骤：
（A）利用一处理单元1产生一具有一驱动频率的信号去控制多个晶体管4、41、42，使每一晶体管各自产生一电流流经一电流侦测电阻2，而各自产生一正比于所对应晶体管产生电流的电压值，该处理单元1包括一单片机。
（B）利用该处理单元1比较该电流侦测电阻2上的每一电压值间的差异是否大于一预设值。
（C）若差异大于该预设值，则校正该处理单元1所产生信号的该驱动频率，并回到步骤（A）。
（D）若差异小于该预设值，则以该驱动频率作为一最佳的驱动频率，并以该最佳的驱动频率控制每一晶体管所产生的电流作为一最佳的涟波电流。
（E）利用每一晶体管4、41、42所产生的该最佳的涟波电流供应至所对应一发光二极管6、61、62。
本发明可于指定量产并串数的多并多串的LED时，先模拟LED正向电压有差异时，所计算出最接近最佳的驱动频率(drivingfrequency)及涟波电流(ripplecurrent)，依此测得的驱动频率(drivingfrequency)的±10%及涟波电流(ripplecurrent)的±10%，做为此指定并串数的多并多串的LED灯具中LED驱动器(LEDdriver)的参考参数，以调整每串的驱动频率(drivingfrequency)及涟波电流(ripplecurrent)，在此范围值，达到LED均亮的目的。
Claims (4)
1.一种检测发光二极管驱动电路的方法；其特征在于：包含以下步骤：
（A）利用一处理单元产生一具有一驱动频率的信号去控制多个晶体管，使每一晶体管各自产生一电流流经一电流侦测电阻，而各自产生一正比于所对应晶体管产生电流的电压值；
（B）利用该处理单元比较该电流侦测电阻上的每一电压值的差异是否大于一预设值；
（C）若差异大于该预设值，则校正该处理单元所产生信号的该驱动频率，并回到步骤（A）；及
（D）若差异小于该预设值，则以该驱动频率作为一最佳的驱动频率。
2.根据权利要求1所述的检测发光二极管驱动电路的方法，其特征在于：该处理单元包括一单片机。
3.根据权利要求1所述的检测发光二极管驱动电路的方法，其特征在于：该步骤（D）中还包括以该最佳的驱动频率控制每一晶体管所产生的电流作为一最佳的涟波电流。
4.根据权利要求3所述的检测发光二极管驱动电路的方法，其特征在于：该检测发光二极管驱动电路的方法还包含：
（E）利用每一晶体管所产生的该最佳的涟波电流供应至所对应一发光二极管。
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