CN104057730B - 一种耗材芯片读写处理系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种耗材芯片读写处理系统，其包含：构造有设备接口、芯片接口以及型号标记模块的测试头和构造有测试头接口、型号标记读取模块、型号匹配判断模块的芯片读写装置。当所述芯片读写装置与所述测试头连接时，所述型号标记读取模块读取所述型号标记模块标记的型号信息，所述型号匹配判断模块基于读取到的型号标记信息判断所述测试头与待读写处理的耗材芯片是否匹配。同时本发明还公开了一种耗材芯片读写处理方法。本发明的系统可以自动判断系统内所连接的测试头是否匹配需要读写处理的耗材芯片，从而在处理耗材芯片的设备提示操作失败时，用户能够明确地了解操作失败的具体原因。

Description

一种耗材芯片读写处理系统及方法

技术领域

本发明涉及加工工程技术领域，具体说涉及一种耗材芯片读写处理系统及方法。

背景技术

在现阶段，通常使用的打印耗材上都设置有耗材芯片，打印设备通过耗材芯片读取打印耗材的相关信息。由于在现有技术环境中，使用不同打印原理的打印设备必须使用相应的不同类型的打印耗材，如墨盒、硒鼓和碳粉盒等。并且即使是使用相同打印原理的打印设备由于其技术细节的不同也必须使用不同型号的打印耗材。因此随着打印机型号的逐渐增加，相应的打印耗材的型号也不断增加，配套的耗材芯片的种类也随之不断增加。

为了在同一种耗材芯片读写设备上实现对多种型号的耗材芯片进行读写处理的目的，需要根据耗材芯片的接口类型设置安装不同的连接器。在打印耗材生产中，上述连接器被称作测试头。一般情况下，用户先在读写设备上选择好需要读写处理的耗材芯片的型号，再连接测试头，然后将测试头连接到需要读写处理的耗材芯片的接口上。然而在某些情况下，当测试头连接到读写设备时，用户并不能确认连接的测试头是否匹配需要读写处理的耗材芯片的接口。从而导致在读写处理耗材芯片的过程中，如果读写设备提示操作失败，由于提示信息不明朗，用户无法确定操作失败的具体原因。操作失败的具体原因有可能是耗材芯片存在故障，也有可能是选择了错误的测试头。

通过对现有技术状况的描述，不难看出，基于现有技术，在读写处理耗材芯片的过程中用户无法明确操作失败的具体原因。针对这一问题，需要一种新的耗材芯片读写处理系统及方法从而可以在读写处理耗材芯片操作失败时更加明确的提示失败原因。

发明内容

针对在读写处理耗材芯片的过程中用户无法明确操作失败的具体原因这一问题，本发明提供了一种耗材芯片读写处理系统，其包含：

测试头，其包含设备接口、芯片接口以及型号标记模块；

芯片读写装置，其包含测试头接口、型号标记读取模块、型号匹配判断模块；

其中，当所述芯片读写装置与所述测试头连接时，所述型号标记读取模块读取所述型号标记模块标记的型号标记信息，所述型号匹配判断模块基于读取到的型号标记信息判断所述测试头与待读写处理的耗材芯片是否匹配；

如所述测试头与待读写处理的耗材芯片匹配则所述设备接口连接到所述测试头接口且所述芯片接口连接到需要读写处理的耗材芯片，从而实现所述耗材芯片与所述芯片读写装置之间的数据交互；

如所述测试头与待读写处理的耗材芯片不匹配则输出测试头选择错误的提示信息。

在一实施例中，所述型号标记读取模块的类型由所述型号标记模块的信息标记方式决定。

在一实施例中，当所述芯片读写装置与所述测试头连接时，所述型号标记模块直接连接到所述型号标记读取模块上。

在一实施例中，所述型号标记模块连接到所述设备接口上且所述型号标记读取模块连接到所述测试头接口上，所述型号标记读取模块基于所述测试头接口和所述设备接口之间的连接来读取所述型号标记模块标记的型号标记信息。

在一实施例中，所述型号标记模块包含至少一个用于输出高/低电平的型号标记信息输出端口，所述型号标记读取模块包含用于输入高/低电平的型号标记信息输入端口和用于读取高/低电平信号的型号标记解读单元，所述型号标记模块通过所述型号标记信息输出端口上的高/低电平组合来标记所述型号标记信息。

在一实施例中，所述型号标记模块包含用于输出特定数值电压的型号标记信息输出端口，所述型号标记读取模块包含用于输入电压信号的型号标记信息输入端口和用于读取电压具体数值的型号标记解读单元，所述型号标记模块通过具体数值的电压信号来标记所述型号标记信息。

在一实施例中，所述型号标记模块包含存储单元且所述型号标记读取模块包含用于读取存储单元内部数据的读取单元。

在一实施例中，所述型号匹配判断模块基于待读写处理的耗材芯片的型号输出匹配的测试头型号信息。

在一实施例中，所述芯片读写装置还包括信息提示模块，其与所述型号匹配判断模块相连接以将所述型号匹配判断模块输出的匹配的测试头型号信息输出给用户并在所述测试头与待读写处理的耗材芯片不匹配时输出测试头选择错误提示信息给用户。

本发明还提供了一种采用上述耗材芯片读写处理系统的耗材芯片读写处理方法，其中，所述系统为设定好系统参数的系统，所述系统参数包括耗材芯片型号定义、测试头型号定义、耗材芯片型号与测试头型号匹配关系定义、测试头型号与型号标记信息对应关系定义；

其中，所述方法包括以下步骤：

步骤一，获取待读写处理的耗材芯片型号；

步骤二，基于所述系统参数以及所述待读写处理的耗材芯片型号确定匹配的测试头型号；

步骤三，连接测试头并读取当前连接的测试头的型号信息；

步骤四，判断所述当前连接的测试头的型号是否与所述匹配的测试头型号相同；

步骤五，当所述当前连接的测试头的型号与所述匹配的测试头型号相同时连接所述待读写处理的耗材芯片并对其进行读写处理操作。

步骤六，当所述当前连接的测试头的型号与所述匹配的测试头型号不相同时输出错误提示信息以及匹配的测试头型号。

与现有技术相比，本发明具有如下优点：

采用本发明的耗材芯片读写处理系统可以自动判断系统内所连接的测试头是否匹配需要读写处理的耗材芯片，从而当读写处理耗材芯片的设备提示操作失败时，用户能够明确地了解操作失败的具体原因。

同时，采用本发明的耗材芯片读写处理系统还能够根据需要读写处理的耗材芯片的型号，提醒用户连接相应型号的测试头，提高了用户体验。

本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述。并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的步骤来实现和获得。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例共同用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：

图1是根据本发明一实施例的系统结构框图；

图2是根据本发明一实施例的模块框图；

图3a-图3d是根据本发明一实施例的模块内部电路结构简图；

图4是根据本发明一实施例的模块内部电路结构简图；

图5是根据本发明一实施例的系统运行方法流程图。

具体实施方式

以下将结合附图及实施例来详细说明本发明的实施方式，借此本发明的实施人员可以充分理解本发明如何应用技术手段来解决技术问题，并达成技术效果的实现过程并依据上述实现过程具体实施本发明。需要说明的是，只要不构成冲突，本发明中的各个实施例以及各实施例中的各个特征可以相互结合，所形成的技术方案均在本发明的保护范围之内。

为了在同一种耗材芯片读写设备上实现对多种型号的耗材芯片进行读写处理的目的，需要根据耗材芯片的接口类型设置安装不同的测试头。但是在某些情况下，当测试头连接到读写设备时，用户并不能确认当前连接的测试头是否匹配待处理耗材芯片的接口类型。为解决这一问题，根据本发明的耗材芯片读写处理系统采用了可以自动识别测试头型号的设计。

如图1所示，根据本发明的耗材芯片读写处理系统100包括测试头110和芯片读写设备120(芯片读写装置)。测试头110是在耗材芯片101和芯片读写设备120之间起连接作用的连接件。芯片读写设备120可以对多种类型的耗材芯片进行读写处理。因为不同类型的耗材芯片的接口往往不同，所以从扩展性和兼容性上考虑，测试头110被设置为可更换式。这样当芯片读写设备120增加可以读写处理的耗材芯片类型时，无需对芯片读写设备120的结构进行改动，只需要增加一个相应的测试头类型即可。

为实现测试头的连接功能，在本实施例中，测试头110包含连接耗材芯片101的芯片接口112和连接芯片读写设备120的设备接口113。在测试头110内部，芯片接口112和设备接口113相连。当系统运行时，设备接口113连接到芯片读写设备120且芯片接口112连接到需要读写处理的耗材芯片101，从而耗材芯片101与芯片读写设备120可以进行数据交互。

为了实现测试头110的型号识别，本发明的改进方案是在不同类型的测试头上，构建不同的型号标记(ID)信息。当测试头连接到芯片读写设备时，读写设备可以根据测试头的ID信息识别测试头的类型。在本实施例中，测试头110包含型号标记模块111。型号标记模块111的作用是标记测试头110的型号标记(ID)信息。型号标记模块111包含用于输出型号标记信息的型号标记信息输出端口。

与测试头110对应的，芯片读写设备120包含一个用以和测试头110连接的测试头接口124。为了识别测试头110的型号，芯片读写设备120还包含型号标记读取模块121。在设计系统硬件结构时，型号标记读取模块121的类型由型号标记模块111的信息标记方式决定。

在系统运行时，测试头110连接到芯片读写设备120，即测试头接口124连接到设备接口113。当测试头110连接到芯片读写设备120上时，型号标记读取模块121也同时连接到型号标记模块111上，从而型号标记读取模块121读取型号标记模块111标记的ID信息。在本实施例中，当测试头110连接到芯片读写设备120上时，型号标记读取模块121与型号标记模块111通过专有的接口连线直接相连。在本发明其他实施例中，型号标记读取模块121与型号标记模块111之间也可以使用其他的连接方式。在本发明另一实施例中，型号标记模块111连接到设备接口113上且型号标记读取模块121连接到测试头接口124上。当测试头110连接到芯片读写设备120上时，型号标记读取模块121通过测试头接口124和设备接口113之间的连接来读取型号标记模块111标记的信息。

芯片读写设备120还包含型号匹配判断模块122和信息提示模块123。型号匹配判断模块122和信息提示模块123相连。在型号匹配判断模块122中预先存储了耗材芯片型号与测试头型号的对应关系表。用户将待读写处理的耗材芯片型号输入到型号匹配判断模块122中，型号匹配判断模块122基于型号对应关系表判断应当使用何种型号的测试头并将判断结果输出到信息提示模块123中。信息提示模块123将判断结果转化为用户可以识别的信息。基于此用户可以直观的得知需要选用的测试头型号，用户体验得到了提高。

型号匹配判断模块122还与型号标记读取模块121相连。并且在型号匹配判断模块122中还预先存储了测试头型号与测试头型号ID的对应关系表。当测试头110连接到芯片读写设备120上时，型号标记读取模块121将读取到的测试头型号ID发送到型号匹配判断模块122。型号匹配判断模块122基于测试头型号与测试头型号ID的对应关系表得出当前接入的测试头型号，并判断当前接入的测试头型号与之前得到的匹配耗材芯片型号的测试头型号是否一致。在型号不一致时，型号匹配判断模块122通过信息提示模块123向用户发送测试头选择错误提示，通知用户安装正确的测试头。

假设用户需要利用芯片读写设备120对型号为K的耗材芯片101进行读写处理。并假设型号K的耗材芯片对应的测试头类型为P，测试头类型P的ID信息是01，另外一个测试头类型Q的ID信息是10。当用户选择了类型Q的测试头连接到芯片读写设备120时，芯片读写设备120通过读取测试头的ID信息，得知测试头的ID信息为10。芯片读写设备120基于测试头型号与测试头型号ID的对应关系表确认该测试头的类型为Q，并判断出类型Q与型号K的耗材芯片对应的类型P不一致。因此芯片读写设备120立刻提醒用户连接了错误的测试头。进一步的，还可以提示用户应当连接类型为P的测试头。

芯片读写设备120可以在测试头刚连接到设备时就判断测试头的类型是否准确，也可以在对耗材芯片进行读写处理时，先判断测试头的类型是否准确，若测试头不准确，就以明确告知测试头类型错误的方式提示用户。在此情况下如果之后操作中出现操作失败，则用户可以明确操作失败的原因不包含测试头选取错误。基于此用户能够明确地了解操作失败的具体原因。

为便于识别，每个型号的测试头都具有唯一的测试头ID信息，或者进一步的每个测试头都可以具有唯一的测试头ID信息。测试头ID信息可以是任意的数字或字符的组合。在本实施例中，测试头ID信息是一组简单的2进制代码。型号标记模块111利用比较简单的电路设计来实现测试头ID的标记。如图2所示，型号标记模块111包含电压输入端口VCC、接地端口GND、型号标记信息输出端口A01和A02。型号标记模块111通过端口A01和端口A02的输出电压来表示测试头的ID信息。

与之对应的型号标记读取模块121包含两个信息读取端口，并且在型号标记读取模块121内部构建有用来读取高电平或低电平信号的电路。在本实施例中，型号标记读取模块121通过常规的数字信号接口检测测试头的ID信息。

型号标记模块111的内部电路连接关系如图3a-图3d所示。R1与R2是固定电阻值的电阻。当端口A01或端口A02通过电阻R1或电阻R2连接到电压输入端口VCC时，端口A01或端口A02的输出电位为高电平，符合数字电路定义的“1”；当端口A01或端口A02通过电阻R1或电阻R2连接到接地端口GND时，端口A01或端口A02的输出电位为低电平，符合数字电路定义的“0”。通过端口A01和端口A02的输出电平信号组合，这两个端口可以输出四种信号状态。

如图3a所示，端口A01和端口A02连接到电压输入端口VCC，两个端口都输出高电平，从而端口信号为11。如图3b所示，端口A01连接到电压输入端口VCC，端口A02连接到接地端口GND，端口A01输出高电平，端口A02输出低电平，从而端口信号为10。如图3c所示，端口A01连接到接地端口GND，端口A02连接电压输入端口VCC，端口A01输出低电平，端口A02输出高电平，从而端口信号为01。如图3d所示，端口A01和端口A02连接到接地端口GND，两个端口都输出低电平，从而端口信号为00。将每种端口信号定义为一种型号的测试头ID信息。从而本实施例中的型号标记模块111可以表示四种型号的测试头。

当然的，在本发明其他实施例中，可以通过增加型号标记模块111的型号标记信息输出端口的数目的方式来增加型号标记模块111所能表示的测试头型号数目。与之相应的，型号标记读取模块121也需要增加相应的信息读取端口。当然，型号标记读取模块121包含的信息读取端口的数目可以大于型号标记模块111的型号标记信息输出端口的数目。

显然在上述方案中，随着测试头类型的增多会导致识别用的端口增多，从而造成设计复杂化。在本发明的另一实施例中，采用了一种改进的方法。如图4所示，在此实施例中型号标记模块111包含一个型号标记信息输出端口A03。在型号标记模块111内部：电阻R3一端连接到电源端口VCC，一端连接到端口A03；电阻R4一端连接到接地端口GND，一端连接到端口A03。显而易见，在电源端口VCC接入电压不变的情况下，改变电阻R3或电阻R4的电阻值，端口A03的输出电压就会随之改变。将端口A03的不同输出电压定义为不同型号的测试头ID信息。同时相应的在型号标记读取模块121内构建电压读取端口和电压值测量单元。从而芯片读写设备120可以根据型号标记模块111输出的电压值来辨别测试头型号。

假设电源端口VCC输入电压为3.3V，电阻R3电阻值为10K欧姆，电阻R4电阻值为1K欧姆。则经过简单的计算可以得出端口A03的输出电压为0.3V。保持电源端口VCC输入电压不变，R3电阻值不变，令R4电阻值分别为2K欧姆、3K欧姆、4K欧姆。则端口A03的输出电压分别为0.56V、0.76V、0.94V。将上述四个电压值分别定义为四种不同型号的测试头ID信息。则芯片读写设备120就可以根据读取到的电压值判断当前连接的测试头的型号。

从而理论上讲本实施例中的型号标记模块111可以表示的测试头型号数目不受限制。但是由于受现有技术限制，型号标记读取模块121的电压值读取有精度和数值限制。在实际运行中，需要根据具体情况设定测试头型号对应的电压值定义。

在图2、图3a-图3d、图4描述的实施例中，型号标记模块由简单电路构成。在本发明其他实施例中，型号标记模块还可以采用存储单元。与之对应的，型号标记读取模块内需要构建相应的接口和对应存储单元的读取单元。在这种情况下，由于存储单元的存储容量比较大，因此存数单元中可以存放更多的与测试头有关的信息。例如测试头状态、使用年限等等。基于上述信息，芯片读取设备可以进一步的了解所安装的测试头状态，从而根据实际情况选择更加有效的耗材芯片读写处理方式或是更换更加匹配的测试头。

在上述本发明的实施例中，型号标记读取模块采用独立的接口与型号标记模块相连。在本发明其他实施例中，型号标记读取模块也可以利用测试头接口连接到测试头并通过设备接口读取型号标记模块内的ID信息。即型号标记模块连接到设备接口上且型号标记读取模块连接到测试头接口上，型号标记读取模块基于测试头接口和设备接口之间的连接来读取型号标记模块标记的型号标记信息。当然的，在这种情况下，测试头和芯片读写设备内的模块连接方式将与图1所示不同，需要做相应的改变。

同时，型号标记模块的ID信息标记方式和与其对应的型号标记读取模块的ID信息读取方式也不限于上述实施例所描述的方式。设计人员可以基于实际情况采用其他的信息标记和读取方式。需要指出的是，在本发明中，任何可以标记ID信息的介质都可以用做构建型号标记模块。例如在测试头上喷涂条形代码构建型号标记模块，并在型号标记读取模块内构建相应的条形码读取单元。

接下来通过一系列步骤流程来描述采用本发明的耗材芯片读写处理系统的耗材芯片读写处理方法。当然的，本发明的耗材芯片读写处理系统在投入正常运行前，需要对系统做系统参数设定。在实际运行中系统需要设定的参数很多，在这里我们只针对和本发明所解决的技术问题有关的参数设定做描述。在本发明的一实施例中，系统参数设定包括耗材芯片型号定义、测试头型号定义、耗材芯片型号与测试头型号匹配关系定义以及测试头型号与ID信息对应关系定义。不难理解，根据实际情况的不同，系统参数还包括其他不同的参数。并且，在实际使用过程中，我们可以直接使用参数设定完成的系统。

本发明的耗材芯片读写处理方法采用设定好系统参数的系统来处理耗材芯片。图5是根据本发明一实施例的运行流程图。需要指出的是，附图的流程图中示出的步骤可以在包含诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行。虽然在流程图中示出了执行各步骤的逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。如图5所示，系统首先进入步骤S520，系统的芯片读写装置获取待读写处理的耗材芯片的型号。在本实施例中，芯片读写装置是通过用户输入的耗材芯片型号来获取待读写处理的耗材芯片的型号。在本发明其他实施例中，芯片读写装置也可以采取其他方式获取待读写处理的耗材芯片的型号。

在获取待读写处理的耗材芯片的型号之后，芯片读写装置进行步骤S530。其基于内部系统参数以及上述确定了的耗材芯片型号来确定需要匹配安装的测试头的型号。然后芯片读写装置将需要匹配安装的测试头的型号输出给用户或是其他装置。

接下来在步骤S540中，芯片读写装置与测试头连接。紧接着系统进行步骤S550。芯片读写装置在步骤S550中读取测试头的型号信息，并随后进行步骤S560。在步骤S560中，芯片读写装置基于步骤S530中确定了的测试头型号以及读取到的测试头型号信息判断安装的测试头型号是否和耗材芯片型号匹配。如果两者型号匹配，则进行步骤S570，耗材芯片读写处理步骤。在步骤S570中，系统连接到待读写处理的耗材芯片，执行读写操作。如果两者型号不匹配，则系统进行步骤S580，输出错误提示信息给用户。接着进行步骤S590，更换正确型号的测试头。在这之后系统再次从步骤S550开始执行上述流程，确认更换的测试头是否正确。系统循环进行测试头类型的确认判断并更换测试头，直到测试头确认判断结果为是。

这里需要指出的是，在本实施例中，耗材芯片在步骤S570中才会连接到测试头。但是在实际操作中，耗材芯片可以在其它步骤中连接到测试头，例如在本发明的另一实施例中，在步骤S540中，在芯片读写装置与测试头连接的同时耗材芯片也与测试头相连接。

在本实施例中，系统在步骤S530中，确认需要安装的测试头型号时会同时把需要匹配安装的测试头的型号通知给用户。在本发明其他实施例中，可以根据实际情况设定系统通知的方式和时间，例如仅在判断测试头安装错误后才提示用户正确的测试头型号。

虽然本发明所公开的实施方式如上，但所述的内容只是为了便于理解本发明而采用的实施方式，并非用以限定本发明。本发明所述方法还可有其他多种实施例，在不背离本发明实质的情况下，熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变或变形，但这些相应的改变或变形都应属于本发明的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种耗材芯片读写处理系统，其特征在于，所述系统包含：

测试头，其包含设备接口、芯片接口以及型号标记模块；

芯片读写装置，其包含测试头接口、型号标记读取模块、型号匹配判断模块；

其中，当所述芯片读写装置与所述测试头连接时，所述型号标记读取模块读取所述型号标记模块标记的型号标记信息，所述型号匹配判断模块基于读取到的型号标记信息判断所述测试头与待读写处理的耗材芯片是否匹配；

如所述测试头与待读写处理的耗材芯片匹配则所述设备接口连接到所述测试头接口且所述芯片接口连接到需要读写处理的耗材芯片，从而实现所述耗材芯片与所述芯片读写装置之间的数据交互；

如所述测试头与待读写处理的耗材芯片不匹配则输出测试头选择错误的提示信息。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述型号标记读取模块的类型由所述型号标记模块的信息标记方式决定。

3.如权利要求1所述的系统，其特征在于，当所述芯片读写装置与所述测试头连接时，所述型号标记模块直接连接到所述型号标记读取模块上。

4.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述型号标记模块连接到所述设备接口上且所述型号标记读取模块连接到所述测试头接口上，所述型号标记读取模块基于所述测试头接口和所述设备接口之间的连接来读取所述型号标记模块标记的型号标记信息。

5.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述型号标记模块包含至少一个用于输出高/低电平的型号标记信息输出端口，所述型号标记读取模块包含用于输入高/低电平的型号标记信息输入端口和用于读取高/低电平信号的型号标记解读单元，所述型号标记模块通过所述型号标记信息输出端口上的高/低电平组合来标记所述型号标记信息。

6.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述型号标记模块包含用于输出特定数值电压的型号标记信息输出端口，所述型号标记读取模块包含用于输入电压信号的型号标记信息输入端口和用于读取电压具体数值的型号标记解读单元，所述型号标记模块通过具体数值的电压信号来标记所述型号标记信息。

7.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述型号标记模块包含存储单元且所述型号标记读取模块包含用于读取存储单元内部数据的读取单元。

8.如权利要求1-7中任一项所述的系统，其特征在于，所述型号匹配判断模块基于待读写处理的耗材芯片的型号输出匹配的测试头型号信息。

9.如权利要求8所述的系统，其特征在于，所述芯片读写装置还包括信息提示模块，其与所述型号匹配判断模块相连接以将所述型号匹配判断模块输出的匹配的测试头型号信息输出给用户并在所述测试头与待读写处理的耗材芯片不匹配时输出测试头选择错误提示信息给用户。

10.一种采用如权利要求1-9中任一项所述的系统的耗材芯片读写处理方法，其中，所述系统为设定好系统参数的系统，所述系统参数包括耗材芯片型号定义、测试头型号定义、耗材芯片型号与测试头型号匹配关系定义、测试头型号与型号标记信息对应关系定义；

其中，所述方法包括以下步骤：

步骤一，获取待读写处理的耗材芯片型号；

步骤二，基于所述系统参数以及所述待读写处理的耗材芯片型号确定匹配的测试头型号；

步骤三，连接测试头并读取当前连接的测试头的型号信息；

步骤四，判断所述当前连接的测试头的型号是否与所述匹配的测试头型号相同；

步骤五，当所述当前连接的测试头的型号与所述匹配的测试头型号相同时连接所述待读写处理的耗材芯片并对其进行读写处理操作；

步骤六，当所述当前连接的测试头的型号与所述匹配的测试头型号不相同时输出错误提示信息以及匹配的测试头型号。