CN104048907A - 密封圈老化测试装置 - Google Patents

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周明杰
汪辉
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Oceans King Lighting Science and Technology Co Ltd
Shenzhen Oceans King Lighting Engineering Co Ltd
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Oceans King Lighting Science and Technology Co Ltd
Shenzhen Oceans King Lighting Engineering Co Ltd
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Abstract

本发明公开了一种密封圈老化测试装置，其包括收容座、温度探头及温度计。收容座包括本体和盖体，密封圈放置于本体的内表面，盖体安装于本体上并遮盖密封圈。温度探头安装在盖体的内表面，温度计用于量测收容座内部的温度。其中，测试时，将收容座放入高温箱，温度计放在高温箱外，温度探头将探测到的收容座内部的温度传给温度计，使收容座内部的温度达到预定温度并保持一定的时间，以对密封圈进行老化测试。本发明提供的密封圈老化测试装置，通过将密封圈放入收容座内部，且通过温度探头探测收容座内部的温度并传给温度计，从而可以保证收容座内部的温度达到预定温度，进而保证了密封圈老化测试的准确性。

Description

密封圈老化测试装置
技术领域
本发明涉及照明灯具领域，尤其涉及密封圈老化测试装置。
背景技术
灯具外壳的各部件之间常通过密封圈来实现密封，以实现灯具的防水性能。但密封圈的材质为硅橡胶，而灯具的发热量大，会导致密封圈在高温下老化变脆最后成粉末状，使灯具防水性能失效而进水，所以灯具的密封圈是衡量灯具外壳防水可靠性的重要指标，故有必要对密封圈进行老化测试。
发明内部
本发明的目的在于提供一种密封圈老化测试装置。
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种密封圈老化测试装置，其包括收容座、温度探头及温度计，所述收容座包括本体和盖体，所述密封圈放置于所述本体的内表面，所述盖体安装于所述本体上并遮盖所述密封圈，所述温度探头安装在所述盖体的内表面，所述温度计用于量测所述收容座内部的温度，其中，测试时，将所述收容座放入高温箱，所述温度计放在所述高温箱外，所述温度探头将探测到的所述收容座内部的温度传给所述温度计，使所述收容座内部的温度达到预定温度并保持一定的时间，以对所述密封圈进行老化测试。
其中，所述密封圈老化测试装置还包括连接部，所述连接部安装在所述盖体的外表面并与所述温度探头连接。
其中，所述连接部为传感线。
其中，所述温度计与所述连接部连接，所述温度探头将探测到的所述收容座内部的温度通过所述连接部传给所述温度计。
其中，所述温度计为无线温度计，所述温度探头将探测到的所述收容座内部的温度直接传给所述温度计。
其中，所述温度计包括发光源，用于观察所述收容座的内表面是否有所述密封圈因为老化而释放出的硅粉。
其中，所述收容座内表面包括六个内表平面，所述发光源发出的光线照射于所述收容座内且与其中一个内表平面平行。。
其中，所述本体为可耐高温的钢化玻璃板。
其中，所述盖体为可耐高温的钢化玻璃罩。
本发明提供的密封圈老化测试装置，通过将密封圈放入收容座内部，且通过温度探头探测收容座内部的温度并传给温度计，从而可以保证收容座内部的温度达到预定温度，进而保证了密封圈老化测试的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案，下面将对实施方式中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明实施方式提供的密封圈老化测试装置的示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施方式中的附图，对本发明实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述。
请参考图1，为本发明实施方式提供的一种密封圈老化测试装置100，其包括收容座10、温度探头30、连接部40及温度计50。
收容座10为一个密封的容器，并包括本体12和盖体14。收容座10的内表面包括六个内表平面16。
本体12为一块可耐高温的钢化玻璃板。在本实施方式中，本体12为一块可耐温500℃以上的钢化玻璃板。密封圈放置于本体12的内表面。
盖体14安装于本体12上并遮盖密封圈。盖体14为可耐高温的钢化玻璃罩。在本实施方式中，盖体14为可耐温500℃以上的钢化玻璃罩。
在本实施方式中，盖体14包括5个平面。
温度探头30安装在盖体14的内表面，用于探测收容座10内部的温度并传给温度计50。
连接部40安装在盖体14的外表面并与温度探头30连接，用于将温度探头30探测的温度传给温度计50。在本实施方式中，连接部40为传感线。
温度计50用于测量温度，并与连接部40连接，从而可以监控收容座10内部的温度。
在本实施方式中，温度计50为有线温度计。温度探头30探测收容座10内部的温度并通过连接部40传给温度计50，以监控收容座10内部的温度是否达到预定温度。
在其它实施方式中，温度计50为无线温度计。温度探头30将探测到的收容座10内部的温度直接传给温度计50。
在本实施方式中，预定温度为灯具在正常工作时密封圈的最高温度，如100℃。
温度计50包括发光源52，用于观察收容座10的内表面是否有密封圈因为老化而释放出的硅粉。在本实施方式中，发光源52为电筒。使用时，发光源52发出的光线照射于收容座10内且与其中一个内表平面16平行。
安装时，密封圈放置于本体12的内表面，盖体14安装于本体12上并遮盖密封圈，温度探头30安装在盖体14的内表面，连接部40安装在盖体14的外表面并与温度探头30连接，温度计50与连接部40连接，从而收容座10、温度探头30、连接部40及温度计50便组装为密封圈老化测试装置100。
测试时，将收容座10放入高温箱，温度计50放在高温箱外，温度探头30将探测到的收容座10内部的温度传给温度计50，使收容座10内部的温度达到预定温度并保持一定的时间，以对密封圈进行老化测试。
在本实施方式中，使收容座10内部的温度达到100℃并保持4小时。收容座10内部的温度通过温度探头30和连接部40传给温度计50。测试后，用温度计50上的发光源52照射收容座10，以查看收容座10的内表面是否有硅粉释放，以判断密封圈的密封性能。如有硅粉释放，则密封圈的老化测试不符合要求，即密封圈在高温下易老化变脆，密封性能较差。否则，密封圈的老化测试符合要求，即密封圈在高温下难老化变脆，具有良好的密封性能。
在其它实施方式中，收容座10内部的温度通过温度探头30直接传给温度计50。
因本发明的密封圈放入收容座内部，且通过温度探头探测收容座内部的温度并传给温度计，从而可以保证收容座内部的温度达到预定温度，进而保证了密封圈老化测试的准确性。
因密封圈在使用之前就做了老化测试，从而在使用过程中，不会因密封圈在高温下老化变脆而失去密封性能，从而灯具的外壳具有较好的防水性能，即保证了灯具外壳防水性能的可靠性。
因收容座10为一个密封的容器，即密封圈置于一个密封的容器内，密封圈在老化过程所释放出的硅粉全部粘在收容座10的内表面，从而保证了密封圈老化测试的准确性。而且发光源52发出的光线照射于所述收容座10内且与其中一个内表平面16平行，可以清楚的观察出收容座10的内表面是否有密封圈释放出的硅粉，进一步提高了密封圈老化测试的准确性。
因预定温度为灯具在正常工作时密封圈的最高温度，从而密封圈老化测试时的温度与密封圈工作时的温度一致，进而保证了密封圈老化测试的准确性。
以上所述是本发明的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种密封圈老化测试装置，其特征在于，所述密封圈老化测试装置包括收容座、温度探头及温度计，所述收容座包括本体和盖体，所述密封圈放置于所述本体的内表面，所述盖体安装于所述本体上并遮盖所述密封圈，所述温度探头安装在所述盖体的内表面，所述温度计用于量测所述收容座内部的温度，其中，测试时，将所述收容座放入高温箱，所述温度计放在所述高温箱外，所述温度探头将探测到的所述收容座内部的温度传给所述温度计，使所述收容座内部的温度达到预定温度并保持一定的时间，以对所述密封圈进行老化测试。
2.根据权利要求1所述的密封圈老化测试装置，其特征在于，所述密封圈老化测试装置还包括连接部，所述连接部安装在所述盖体的外表面并与所述温度探头连接。
3.根据权利要求2所述的密封圈老化测试装置，其特征在于，所述连接部为传感线。
4.根据权利要求2所述的密封圈老化测试装置，其特征在于，所述温度计与所述连接部连接，所述温度探头将探测到的所述收容座内部的温度通过所述连接部传给所述温度计。
5.根据权利要求1所述的密封圈老化测试装置，其特征在于，所述温度计为无线温度计，所述温度探头将探测到的所述收容座内部的温度直接传给所述温度计。
6.根据权利要求4或5所述的密封圈老化测试装置，其特征在于，所述温度计包括发光源，用于观察所述收容座的内表面是否有所述密封圈因为老化而释放出的硅粉。
7.根据权利要求6所述的密封圈老化测试装置，其特征在于，所述收容座内表面包括六个内表平面，所述发光源发出的光线照射于所述收容座内且与其中一个内表平面平行。
8.根据权利要求1所述的密封圈老化测试装置，其特征在于，所述本体为可耐高温的钢化玻璃板。
9.根据权利要求8所述的密封圈老化测试装置，其特征在于，所述盖体为可耐高温的钢化玻璃罩。
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