CN104020156A - 低检出限原子谱线分析仪 - Google Patents
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Abstract
低检出限原子谱线分析仪，主要包括：样品导入装置，高温等离子分解装置，光谱反射装置，波束衍射装置，波谱分离装置，光束筛选装置，信号转换装置，稳定传输装置，仪表显示装置；其中，高温等离子分解装置含有等离子发射电极，该电极材料为氧化锎合金，光谱反射装置含有双聚焦反射透镜，该反射透镜表面镀有两层厚度为1.6um的反射膜，该反射膜材料为偏磷酸溴化钔纳米复合膜，波束衍射装置含有六狭缝衍射器，七棱柱型偏光衍射透镜，半凹型透镜，其中，六狭缝衍射器含有六个缝宽为10um的衍射孔，六个衍射孔按照正六边形方式排列；上述三者排列方式为：直线串联排列，六狭缝衍射器位于前端，七棱柱型偏光衍射透镜居中，半凹型透镜置于后端。
Description
技术领域
本发明涉及谱线分析领域，尤其涉及低检出限原子谱线分析仪。
背景技术
原子谱线分析技术，在天体物理、气体放电和等离子体物理等领域内有广泛的应用。谱线分析主要是通过改变发光原子受所处环境物理状态引起谱线增宽，发光原子作无规热运动，运动的原子发出的光波产生多普勒频移，频移的大小依赖于原子运动速度沿观测方向的分量，趋近的原子发光频率增大，远离的原子发光频率减小；不同速度分量的原子发光频移大小不同。叠加的总效果造成谱线的多普勒增宽，其值与绝对温度的平方根成正比。通常多普勒增宽比自然宽度大2～3个量级。光源中众多的发光原子之间相互作用，干扰了原子的发光过程，造成谱线的增宽，或者是彼此碰撞阻断原子发光，或者是带电离子的电场对发光原子的斯塔克效应，增宽与原子的数密度有关。在天体、大气及一切其他光源中，辐射原子处在原子气体或电离气体中，由于各种粒子之间始终存在着相互作用，使得辐射原子的发射光谱线出现了增宽和移位的现象，这些都影响了原子谱线分析技术的精确度提高，因此，有必要对现有谱线分析技术加以改进。
发明内容
为了克服现有装置的不足之处，本发明采用的技术方案如下：
低检出限原子谱线分析仪，其特征在于，主要包括：
1--样品导入装置，2--高温等离子分解装置，3--光谱反射装置，
4--波束衍射装置，5--波谱分离装置，6--光束筛选装置，
7--信号转换装置，8--稳定传输装置，9--仪表显示装置；
其中，
高温等离子分解装置(2)含有等离子发射电极，该电极材料为氧化锎合金材料，
光谱反射装置(3)含有双聚焦反射透镜，该反射透镜表面镀有两层厚度为1.6um的反射膜，该反射膜材料为偏磷酸溴化钔纳米复合膜，
波束衍射装置(4)含有六狭缝衍射器，七棱柱型偏光衍射透镜，半凹型透镜，其中，六狭缝衍射器含有六个缝宽为10um的衍射孔，六个衍射孔按照正六边形的方式排列；上述三者排列方式为：直线串联排列，六狭缝衍射器位于前端，七棱柱型偏光衍射透镜居中，半凹型透镜置于后端。
样品导入装置(1)主要用于分析样品的导入和预加热处理，高温等离子分解装置(2)主要用于裂解等离子束的产生，为样品的高温处理提供原子分析能量，光谱反射装置(3)主要用于光束的传导路径调整与控制，便于光谱波段的分离，波束衍射装置(4)主要用于光谱衍射波段的产生，便于光谱的叠加分析，加强光谱特征分析波段的产生，波谱分离装置(5)主要用于光束衍射谱段分离，实现原子特征结构谱线分析量化，光束筛选装置(6)主要用于原子结构图谱特征筛选，便于原子特征谱线分析，信号转换装置(7)主要用于原子离子束分析信号的转换与传导，稳定传输装置(8)主要用于转换信号的波形稳定与变化幅度控制，仪表显示装置(9)主要用于原子谱线分析结果的显示与记录。
本发明与现有技术相比具有的有益效果是：
(1)通过高温等离子分解装置实现裂解等离子束的产生，为样品的高温处理提供原子分析能量；
(2)通过波束衍射装置光谱衍射波段进行的产生，便于光谱的叠加分析，加强光谱特征分析波段；
(3)通过波谱分离装置进行光束衍射谱段分离，实现原子特征结构谱线分析量化。
附图说明
图1是低检出限原子谱线分析仪的示意图
如图1所示，本发明所述的低检出限原子谱线分析仪，主要包括：
1--样品导入装置，2-高温等离子分解装置，3--光谱反射装置，
4--波束衍射装置，5--波谱分离装置，6--光束筛选装置，
7--信号转换装置，8--稳定传输装置，9--仪表显示装置；
下面结合附图对本发明的具体实施方式作进一步详细的描述。
具体实施方式
首先，通过样品导入装置(1)进行分析样品的导入和预加热处理，采用高温等离子分解装置(2)实现裂解等离子束的产生，为样品的高温处理提供原子分析能量，结合光谱反射装置(3)进行光束的传导路径调整与控制，便于光谱波段的分离，借助于波束衍射装置(4)实现光谱衍射波段的产生，便于光谱的叠加分析，加强光谱特征分析波段的产生，通过波谱分离装置(5)实现光束衍射谱段分离，实现原子特征结构谱线分析量化，采用光束筛选装置(6)进行原子结构图谱特征筛选，便于原子特征谱线分析，借助于信号转换装置(7)用于原子离子束分析信号的转换与传导，通过稳定传输装置(8)进行转换信号的波形稳定与变化幅度控制，最后，结合仪表显示装置(9)实现原子谱线分析结果的显示与记录。
Claims (1)
1.低检出限原子谱线分析仪，其特征在于，主要包括：
1--样品导入装置，2--高温等离子分解装置，3--光谱反射装置， 4--波束衍射装置，5--波谱分离装置，6--光束筛选装置， 7--信号转换装置，8--稳定传输装置，9--仪表显示装置；
其中，
高温等离子分解装置（2）含有等离子发射电极，该电极材料为氧化𨧀锎合金材料，
光谱反射装置（3）含有双聚焦反射透镜，该反射透镜表面镀有两层厚度为1.6um的反射膜，该反射膜材料为偏磷酸溴化钔𨭆纳米复合膜，
波束衍射装置（4）含有六狭缝衍射器，七棱柱型偏光衍射透镜，半凹型透镜，其中，六狭缝衍射器含有六个缝宽为10um的衍射孔，六个衍射孔按照正六边形的方式排列；上述三者排列方式为：直线串联排列，六狭缝衍射器位于前端，七棱柱型偏光衍射透镜居中，半凹型透镜置于后端。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201410230718.XA CN104020156A (zh) | 2014-05-29 | 2014-05-29 | 低检出限原子谱线分析仪 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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| CN201410230718.XA CN104020156A (zh) | 2014-05-29 | 2014-05-29 | 低检出限原子谱线分析仪 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN104020156A true CN104020156A (zh) | 2014-09-03 |
Family
ID=51437032
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN201410230718.XA Pending CN104020156A (zh) | 2014-05-29 | 2014-05-29 | 低检出限原子谱线分析仪 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN104020156A (zh) |
-
2014
- 2014-05-29 CN CN201410230718.XA patent/CN104020156A/zh active Pending
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication | ||
| WD01 | Invention patent application deemed withdrawn after publication |
Application publication date: 20140903 |